JPH0468807A - 遅延線およびこれを用いた超音波診断装置 - Google Patents
遅延線およびこれを用いた超音波診断装置Info
- Publication number
- JPH0468807A JPH0468807A JP2177430A JP17743090A JPH0468807A JP H0468807 A JPH0468807 A JP H0468807A JP 2177430 A JP2177430 A JP 2177430A JP 17743090 A JP17743090 A JP 17743090A JP H0468807 A JPH0468807 A JP H0468807A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay line
- variable capacitance
- variable
- delay
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 29
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、制御端子に印加する電気信号により遅延時間
を連続的に変化できる遅延線及びこの遅延線を整相回路
内の遅延線として用いダイナミックフォーカスを可能と
した超音波診断装置に関する。
を連続的に変化できる遅延線及びこの遅延線を整相回路
内の遅延線として用いダイナミックフォーカスを可能と
した超音波診断装置に関する。
超音波診断装置は、探触子により被検体に超音波を送受
波し、体内からの反射波信号に基づいて被検体内部の情
報を得るようになっている。ここで、被検体内部の深さ
の異なる各部のいずれの場所においても高い分解能の画
像が得られるようにするため1体内からの反射波の受信
に際し、受渡の焦点を時間の経過と共に動的に変化させ
るダイナミックフォーカスが行われる。このとき、上記
受波の焦点合わせは、幅の狭い短冊状に形成された振動
子素子を複数個配列した探触子、あるいは同心円状に配
置した複数のリング状振動子素子から成る探触子の上記
それぞれの振動子素子からの受渡信号を、遅延線を用い
て適宜遅延して加算することによって行われる。この回
路は一般に整相回路と呼ばれている。そして、受渡の焦
点位置は上記の各々の遅延線の遅延時間により定まるの
で、ダイナミックフォーカスは、複数の受波信号に与え
るべき遅延時間を体内からの反射波の発生深度に応じて
動的に変更することによって実現される。
波し、体内からの反射波信号に基づいて被検体内部の情
報を得るようになっている。ここで、被検体内部の深さ
の異なる各部のいずれの場所においても高い分解能の画
像が得られるようにするため1体内からの反射波の受信
に際し、受渡の焦点を時間の経過と共に動的に変化させ
るダイナミックフォーカスが行われる。このとき、上記
受波の焦点合わせは、幅の狭い短冊状に形成された振動
子素子を複数個配列した探触子、あるいは同心円状に配
置した複数のリング状振動子素子から成る探触子の上記
それぞれの振動子素子からの受渡信号を、遅延線を用い
て適宜遅延して加算することによって行われる。この回
路は一般に整相回路と呼ばれている。そして、受渡の焦
点位置は上記の各々の遅延線の遅延時間により定まるの
で、ダイナミックフォーカスは、複数の受波信号に与え
るべき遅延時間を体内からの反射波の発生深度に応じて
動的に変更することによって実現される。
上記の遅延時間に変更は、遅延線に適切な間隔でタップ
を設け、これらのタップを電子スイッチを用いて選択切
り換えを行う、この場合、上記電子スイッチの切り換え
時にノイズが発生して、遅延線を介して受波信号に混入
することがあり、診断情報に誤った信号が出現すること
があった。そこで、このような現象を改善するために、
上記電子スイッチとしてノイズの発生の少ないスイッチ
を用いればよいが、このような電子スイッチは高価であ
るので遅延線のそれぞれのタップ毎に多数設けると価格
が上昇して経済的でないという欠点があった。
を設け、これらのタップを電子スイッチを用いて選択切
り換えを行う、この場合、上記電子スイッチの切り換え
時にノイズが発生して、遅延線を介して受波信号に混入
することがあり、診断情報に誤った信号が出現すること
があった。そこで、このような現象を改善するために、
上記電子スイッチとしてノイズの発生の少ないスイッチ
を用いればよいが、このような電子スイッチは高価であ
るので遅延線のそれぞれのタップ毎に多数設けると価格
が上昇して経済的でないという欠点があった。
これに対して、従来は、上記のようなタップ付遅延線に
代わって、インダクタとキャパシタとを備えて成る集中
定数形遅延線における上記キャパシタを、可変容量ダイ
オードで構成した可変遅延線が提案されている。以下、
これについてその構成の思考過程を追いながら説明する
。まず、第6図に従来から多くの用途に用いられている
集中定数形遅延線の構成を示す。この集中定数形遅延線
1は、−点鎖線で目先で示すように、インダクタL/2
.L/2とキャパシタCとを有して成る単位部分2を多
数、例えば10段従属接続して構成されている。上記の
単位部分2は、第7図(a)または(b)に示すように
T型の対称回路とされており、同図(a)の回路は定に
形低域フィルタと呼ばれるものであり、同図(b)は回
路は上記(a)に示した二つのインダクタL/2が電磁
結合しているためその結果得られる等価回路であり、誘
導m形低域フィルタと呼ばれるものである。
代わって、インダクタとキャパシタとを備えて成る集中
定数形遅延線における上記キャパシタを、可変容量ダイ
オードで構成した可変遅延線が提案されている。以下、
これについてその構成の思考過程を追いながら説明する
。まず、第6図に従来から多くの用途に用いられている
集中定数形遅延線の構成を示す。この集中定数形遅延線
1は、−点鎖線で目先で示すように、インダクタL/2
.L/2とキャパシタCとを有して成る単位部分2を多
数、例えば10段従属接続して構成されている。上記の
単位部分2は、第7図(a)または(b)に示すように
T型の対称回路とされており、同図(a)の回路は定に
形低域フィルタと呼ばれるものであり、同図(b)は回
路は上記(a)に示した二つのインダクタL/2が電磁
結合しているためその結果得られる等価回路であり、誘
導m形低域フィルタと呼ばれるものである。
ここで、第7図(a)の定に形低域う′イルタにおいて
、フィルタの両端は特性インピーダンスRo=fi77
で−で終端されているものと複室する。
、フィルタの両端は特性インピーダンスRo=fi77
で−で終端されているものと複室する。
いま、入力として理想的なステップ電圧を加えると、出
力電圧の遅延時間txは、 ts=:1.o’7 F7ε となる、そして、この単位部分2が第6図に示すように
n個従属接続されている場合の全体の遅延時間t−は、 ta=n @ ts となる、また、単位部分2として第7図(b)に示す誘
導i形低域フィルタを用いると、遅延時間と立ち上がり
時間との比が同じ場合は、同図(a′)に示す定に形低
域フィルタを用いるのと比べて従属接続する区間数nが
約り6%少なくてよい、このとき、同図(b)において
例えばm=1.27とすると、伝達信号の波形のオーバ
ーシュートは、必要な区間数で最適値となる。そして、
第7図(a)または(b)のいずれの形のフィルタを用
いても、そのキャパシタCの容量を変えることにより、
遅延時間を可変とすることができる。
力電圧の遅延時間txは、 ts=:1.o’7 F7ε となる、そして、この単位部分2が第6図に示すように
n個従属接続されている場合の全体の遅延時間t−は、 ta=n @ ts となる、また、単位部分2として第7図(b)に示す誘
導i形低域フィルタを用いると、遅延時間と立ち上がり
時間との比が同じ場合は、同図(a′)に示す定に形低
域フィルタを用いるのと比べて従属接続する区間数nが
約り6%少なくてよい、このとき、同図(b)において
例えばm=1.27とすると、伝達信号の波形のオーバ
ーシュートは、必要な区間数で最適値となる。そして、
第7図(a)または(b)のいずれの形のフィルタを用
いても、そのキャパシタCの容量を変えることにより、
遅延時間を可変とすることができる。
このような集中定数形遅延線のキャパシタの容量を変え
るようにしたものとして、特公昭60−45830号に
記載されたものが一例としてあげられる。ここでは、第
8図に示す可変遅延線3が提案されている。この可変遅
延線3は、第6図に示す集中定数形遅延線1におけるキ
ャパシタCを、逆電圧の大きさにより静電容量が変化す
る可変容量ダイオードVCで構成したものである。そし
て、上記それぞれの可変容量ダイオードVCは、制御端
子4から印加される逆電圧Ecによって制御されるよう
になっている。上記各可変容量ダイオードVCの共通線
に接続されたキャパシタCは、VCの静電容量より十分
大きいバイパスキャパシタで、高周波信号に対しては可
変容量ダイオードVCの陽極は接地されているのと等価
である。このように構成された可変遅延線3は、制御端
子4に印加される逆電圧Ecにより、可変容量ダイオー
ドVCの静電容量を変えて遅延時間を制御するようにな
っていたい 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし、このような従来の可変遅延線3においては、上
記のように可変容量ダイオードVCの静電容量を変えて
遅延時間を制御した場合、該可変遅延線の特性インピー
ダンスも同時に変化するため、一定の抵抗Rで終端した
だけでは不整合となる問題点が生ずるものであった。ま
た、フェライトコアを利用したインダクタとセラミック
キャパシタとを備えた通常の固定遅延線では、信号の出
力電圧の歪率は、入力信号レベルの大きさにかかわらず
、1%以下と小さいが、上記の可変遅延線3では、入力
信号レベルが大きくなると高周波信号電圧自身で可変容
量ダイオードVCの静電容量が変わるため、信号がかな
り歪むという問題点が生ずるものであった。この点に関
し、第9図は、第8図に示した回路において、例えば固
定キャパシタCの容量が100pFで逆電圧Ecを1v
〜8vで変えると静電容量が20pF〜500PFで変
化する可変容量ダイオードVCを備えて成る10段構成
の可変遅延線3における実測データを示しており、この
可変遅延線3においては、第9図に示す測定結果から明
らかなように、入力信号レベルが小さい場合は歪率は約
3%と小さいが、入力信号レベルが大きくなると歪率は
20%以上にも達するものであった。このような可変遅
延線3を超音波診断装置の整相回路に適用した場合は、
その超音波診断装置の性能が劣化することがあった。
るようにしたものとして、特公昭60−45830号に
記載されたものが一例としてあげられる。ここでは、第
8図に示す可変遅延線3が提案されている。この可変遅
延線3は、第6図に示す集中定数形遅延線1におけるキ
ャパシタCを、逆電圧の大きさにより静電容量が変化す
る可変容量ダイオードVCで構成したものである。そし
て、上記それぞれの可変容量ダイオードVCは、制御端
子4から印加される逆電圧Ecによって制御されるよう
になっている。上記各可変容量ダイオードVCの共通線
に接続されたキャパシタCは、VCの静電容量より十分
大きいバイパスキャパシタで、高周波信号に対しては可
変容量ダイオードVCの陽極は接地されているのと等価
である。このように構成された可変遅延線3は、制御端
子4に印加される逆電圧Ecにより、可変容量ダイオー
ドVCの静電容量を変えて遅延時間を制御するようにな
っていたい 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし、このような従来の可変遅延線3においては、上
記のように可変容量ダイオードVCの静電容量を変えて
遅延時間を制御した場合、該可変遅延線の特性インピー
ダンスも同時に変化するため、一定の抵抗Rで終端した
だけでは不整合となる問題点が生ずるものであった。ま
た、フェライトコアを利用したインダクタとセラミック
キャパシタとを備えた通常の固定遅延線では、信号の出
力電圧の歪率は、入力信号レベルの大きさにかかわらず
、1%以下と小さいが、上記の可変遅延線3では、入力
信号レベルが大きくなると高周波信号電圧自身で可変容
量ダイオードVCの静電容量が変わるため、信号がかな
り歪むという問題点が生ずるものであった。この点に関
し、第9図は、第8図に示した回路において、例えば固
定キャパシタCの容量が100pFで逆電圧Ecを1v
〜8vで変えると静電容量が20pF〜500PFで変
化する可変容量ダイオードVCを備えて成る10段構成
の可変遅延線3における実測データを示しており、この
可変遅延線3においては、第9図に示す測定結果から明
らかなように、入力信号レベルが小さい場合は歪率は約
3%と小さいが、入力信号レベルが大きくなると歪率は
20%以上にも達するものであった。このような可変遅
延線3を超音波診断装置の整相回路に適用した場合は、
その超音波診断装置の性能が劣化することがあった。
そこで、本発明は、このような問題点を解決することが
できる遅延線及びこの遅延線を用いた超音波診断装置を
提供することを目的とする。
できる遅延線及びこの遅延線を用いた超音波診断装置を
提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明による遅延線は、イ
ンダクタとキャパシタとを有して成る単位部分を多数従
属接続して成る遅延線における上記単位部分のキャパシ
タを、逆電圧の大きさにより静電容量が変化する複数個
の可変容量ダイオードを一組とすると共にこれらの可変
容量ダイオードをそれらに印加される高周波信号電圧の
位相が互いに逆になるように接続して、上記複数個の可
変容量ダイオードのうちの一方が高周波信号電圧により
動作点が移動してその静電容量が増加するときには他方
はその静電容量が減少するように動作すべく構成すると
共に、上記各単位部分の極性が同じ複数個の可変容量ダ
イオードの一端をそれぞれ共通接続し、これらの共通接
続点に可変容量ダイオードの逆電圧を印加して遅延時間
を制御すべく構成したものである。
ンダクタとキャパシタとを有して成る単位部分を多数従
属接続して成る遅延線における上記単位部分のキャパシ
タを、逆電圧の大きさにより静電容量が変化する複数個
の可変容量ダイオードを一組とすると共にこれらの可変
容量ダイオードをそれらに印加される高周波信号電圧の
位相が互いに逆になるように接続して、上記複数個の可
変容量ダイオードのうちの一方が高周波信号電圧により
動作点が移動してその静電容量が増加するときには他方
はその静電容量が減少するように動作すべく構成すると
共に、上記各単位部分の極性が同じ複数個の可変容量ダ
イオードの一端をそれぞれ共通接続し、これらの共通接
続点に可変容量ダイオードの逆電圧を印加して遅延時間
を制御すべく構成したものである。
また、上記遅延線の関連発明としての超音波診断装置は
、複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探触
子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に所定
の遅延時間を与える遅延線を有しこれらの遅延線で位相
が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回路と、
この整相回路で整相された信号を検波する検波器と、こ
の検波器からの出力信号を画像として表示する表示装置
とを備えて成る超音波診断装置において、上記整相回路
内の遅延線として、インダクタとキャパシタとを有して
成る単位部分を多数従属接続して成る遅延線における上
記単位部分のキャパシタを、逆電圧の大きさにより静電
容量が変化する複数個の可変容量ダイオードを一組とす
ると共にこれらの可変容量ダイオードをそれらに印加さ
れる高周波信号電圧の位相が互いに逆になるように接続
して、上記複数個の可変容量ダイオードのうちの一方が
高周波信号電圧により動作点が移動してその静電容量が
増加するときには他方はその静電容量が減少するように
動作すへく構成すると共に、上記各単位部分の極性が同
じ複数個の可変容量ダイオードの一端をそれぞれ共通接
続し、これらの共通接続点に可変容量ダイオードの逆電
圧を印加して遅延時間を制御すべく構成した遅延線を用
いたものである。
、複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探触
子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に所定
の遅延時間を与える遅延線を有しこれらの遅延線で位相
が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回路と、
この整相回路で整相された信号を検波する検波器と、こ
の検波器からの出力信号を画像として表示する表示装置
とを備えて成る超音波診断装置において、上記整相回路
内の遅延線として、インダクタとキャパシタとを有して
成る単位部分を多数従属接続して成る遅延線における上
記単位部分のキャパシタを、逆電圧の大きさにより静電
容量が変化する複数個の可変容量ダイオードを一組とす
ると共にこれらの可変容量ダイオードをそれらに印加さ
れる高周波信号電圧の位相が互いに逆になるように接続
して、上記複数個の可変容量ダイオードのうちの一方が
高周波信号電圧により動作点が移動してその静電容量が
増加するときには他方はその静電容量が減少するように
動作すへく構成すると共に、上記各単位部分の極性が同
じ複数個の可変容量ダイオードの一端をそれぞれ共通接
続し、これらの共通接続点に可変容量ダイオードの逆電
圧を印加して遅延時間を制御すべく構成した遅延線を用
いたものである。
上記のように構成された遅延線は、インダクタとキャパ
シタとを有して成る単位部分を多数従属接続して成る遅
延線において上記単位部分のキャパシタを、逆電圧の大
きさにより静電容量が変化する複数個の可変容量ダイオ
ードを一組とすると共にこれらの可変容量ダイオードを
それらに印加される高周波信号電圧の位相が互いに逆に
なるように接続したことにより、上記複数個の可変容量
ダイオードのうちの一方が高周波信号電圧により動作点
が移動してその静電容量が増加するときには他方はその
静電容量が減少するように動作する。
シタとを有して成る単位部分を多数従属接続して成る遅
延線において上記単位部分のキャパシタを、逆電圧の大
きさにより静電容量が変化する複数個の可変容量ダイオ
ードを一組とすると共にこれらの可変容量ダイオードを
それらに印加される高周波信号電圧の位相が互いに逆に
なるように接続したことにより、上記複数個の可変容量
ダイオードのうちの一方が高周波信号電圧により動作点
が移動してその静電容量が増加するときには他方はその
静電容量が減少するように動作する。
これにより、電気信号により遅延時間が制御できると共
に出力信号の歪率を小さくするものである。
に出力信号の歪率を小さくするものである。
また、上記のように構成された超音波診断装置は、その
整相回路内の遅延線として、上記の電気信号により遅延
時間が制御できると共に出力信号の歪率を小さくするこ
とができる遅延線を用いることにより、高性能の一系統
の整相回路だけでダイナミックフォーカスを実現するこ
とができる。
整相回路内の遅延線として、上記の電気信号により遅延
時間が制御できると共に出力信号の歪率を小さくするこ
とができる遅延線を用いることにより、高性能の一系統
の整相回路だけでダイナミックフォーカスを実現するこ
とができる。
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明による遅延線の実施例を示す回路図であ
る。この遅延線6は、従来の可変遅延線(第8図参照)
に比し出力信号の歪率を小さくできる可変型の遅延線を
実現するもので、第1図に示すように、インダクタLと
キャパシタとを有して成る単位部分7を多数従属接続し
て成る遅延線における上記単位部分のキャパシタを、逆
電圧の大きさにより静電容量が変化する複数個の可変容
量ダイオードV C1# V Czを一組とすると共に
これらの可変容量ダイオードV C1、V Cxをそれ
らに印加される高周波信号電圧の位相が互いに逆になる
ように接続して構成したものである。第1図においては
、単位部分7の一方の可変容量ダイオードV C1の陰
極と、他方の可変容量ダイオードV Czの陽極とはイ
ンダクタL、Lの接続点に接続されており、上記一方の
可変容量ダイオードV C1が印加された高周波信号電
圧により動作点が移動してその静電容量が増加したとき
には、他方の可変容量ダイオードV Czはその静電容
量が減少するように動作すべく構成されている。これに
より、二個の可変容量ダイオードV CtとVCzの組
合わせの全体としては、静電容量の変化が少なくなるよ
うにされていた。また、各単位部分の可変容量ダイオー
ドV C1の陽極とVCzの陰極のそれぞれは他の単位
部分の可変容量ダイオードV C1の陽極およびVCz
の陰極とインダクタ側で共通接続され、可変容量ダイオ
ードV C1eVCzに逆電圧E cx t E cz
を印加する制御信号線9.9′から構成されている。こ
の逆電圧ECt。
る。この遅延線6は、従来の可変遅延線(第8図参照)
に比し出力信号の歪率を小さくできる可変型の遅延線を
実現するもので、第1図に示すように、インダクタLと
キャパシタとを有して成る単位部分7を多数従属接続し
て成る遅延線における上記単位部分のキャパシタを、逆
電圧の大きさにより静電容量が変化する複数個の可変容
量ダイオードV C1# V Czを一組とすると共に
これらの可変容量ダイオードV C1、V Cxをそれ
らに印加される高周波信号電圧の位相が互いに逆になる
ように接続して構成したものである。第1図においては
、単位部分7の一方の可変容量ダイオードV C1の陰
極と、他方の可変容量ダイオードV Czの陽極とはイ
ンダクタL、Lの接続点に接続されており、上記一方の
可変容量ダイオードV C1が印加された高周波信号電
圧により動作点が移動してその静電容量が増加したとき
には、他方の可変容量ダイオードV Czはその静電容
量が減少するように動作すべく構成されている。これに
より、二個の可変容量ダイオードV CtとVCzの組
合わせの全体としては、静電容量の変化が少なくなるよ
うにされていた。また、各単位部分の可変容量ダイオー
ドV C1の陽極とVCzの陰極のそれぞれは他の単位
部分の可変容量ダイオードV C1の陽極およびVCz
の陰極とインダクタ側で共通接続され、可変容量ダイオ
ードV C1eVCzに逆電圧E cx t E cz
を印加する制御信号線9.9′から構成されている。こ
の逆電圧ECt。
Eczによって可変容量ダイオードの静電容量は変わり
、遅延時間が制御される。なお、Eczは正電位でEc
zは負電位であるためEatに対応した大きさのEcz
を与えるため反転、増幅器14が設けられている。
、遅延時間が制御される。なお、Eczは正電位でEc
zは負電位であるためEatに対応した大きさのEcz
を与えるため反転、増幅器14が設けられている。
なお、第1図において、符号Rは遅延線6の入力端また
は出力端をそれぞれ接地するための抵抗を示しており、
上記遅延線3の信号源抵抗または終端抵抗の一部となる
もので、この抵抗Rの接地により各組の可変容量ダイオ
ードV C1の陽極と、V Czの陰極の直流電位は接
地レベルと同じにされている。また、符号Cは直流阻止
用のコンデンサを、符号Coは十分大きいバイパスコン
デンサを示している。
は出力端をそれぞれ接地するための抵抗を示しており、
上記遅延線3の信号源抵抗または終端抵抗の一部となる
もので、この抵抗Rの接地により各組の可変容量ダイオ
ードV C1の陽極と、V Czの陰極の直流電位は接
地レベルと同じにされている。また、符号Cは直流阻止
用のコンデンサを、符号Coは十分大きいバイパスコン
デンサを示している。
また1本発明の遅延線6は、各組の可変容量ダイオード
V C1g V Czの逆電圧の大きさによりその静電
容量を変化させると、遅延時間と共に特性インピーダン
スも変化する。このことから、信号の入出力端でインピ
ーダンスの不整合による反射が生じないように、信号源
抵抗と終端抵抗は、遅延時間の制御に対応して常に上記
遅延線6と整合するように変化させる必要がある。この
ため、上記信号源抵抗と終端抵抗の部分には、電気信号
により抵抗値が変化する電子制御可変抵抗器1oがそれ
ぞれ設けである。この電子制御可変抵抗器10は、第2
図に示すように、可変利得増幅器11の利得Gをその制
御電圧Vctにより変えて、そのへ力抵抗を連続的に変
化させることができるものである。
V C1g V Czの逆電圧の大きさによりその静電
容量を変化させると、遅延時間と共に特性インピーダン
スも変化する。このことから、信号の入出力端でインピ
ーダンスの不整合による反射が生じないように、信号源
抵抗と終端抵抗は、遅延時間の制御に対応して常に上記
遅延線6と整合するように変化させる必要がある。この
ため、上記信号源抵抗と終端抵抗の部分には、電気信号
により抵抗値が変化する電子制御可変抵抗器1oがそれ
ぞれ設けである。この電子制御可変抵抗器10は、第2
図に示すように、可変利得増幅器11の利得Gをその制
御電圧Vctにより変えて、そのへ力抵抗を連続的に変
化させることができるものである。
以下に、この電子制御可変抵抗器10の動作を第2図を
参照して説明する。第2図の回路は、電圧利得Gが制御
電圧Vcgで制御できる可変利得増幅器11に一定抵抗
Rfで帰還を施してその回路の抵抗値を可変としたもの
である。上記のような可変利得増幅器11は、よく用い
られているギルバードセルなどにより実現でき、制御電
圧V。5と電圧利得Gは一定の関係にあり、周囲温度の
変化による利得Gの変動が小さく実用的である。ここで
、上記可変利得増幅器11の入力端12から見たインピ
ーダンスを求める。このとき、可変利得増幅器11の入
力インピーダンスは無限大で、出力インピーダンスは零
とし、入力端12における入力電圧をEin、電流をi
、出力端13における出力電圧をEoutとすると、次
式が成り立つ。
参照して説明する。第2図の回路は、電圧利得Gが制御
電圧Vcgで制御できる可変利得増幅器11に一定抵抗
Rfで帰還を施してその回路の抵抗値を可変としたもの
である。上記のような可変利得増幅器11は、よく用い
られているギルバードセルなどにより実現でき、制御電
圧V。5と電圧利得Gは一定の関係にあり、周囲温度の
変化による利得Gの変動が小さく実用的である。ここで
、上記可変利得増幅器11の入力端12から見たインピ
ーダンスを求める。このとき、可変利得増幅器11の入
力インピーダンスは無限大で、出力インピーダンスは零
とし、入力端12における入力電圧をEin、電流をi
、出力端13における出力電圧をEoutとすると、次
式が成り立つ。
Ein −R?i −Eout== O−(1’)Eo
ut= −G−Ein −(2)こ
の第(1)式と第(2)式からE outを消去すると 1+G となる。そして、この入力電圧Einの式を電流iで偏
微分すると、入力端12から見たインピーダンスZin
は次式のようになる。
ut= −G−Ein −(2)こ
の第(1)式と第(2)式からE outを消去すると 1+G となる。そして、この入力電圧Einの式を電流iで偏
微分すると、入力端12から見たインピーダンスZin
は次式のようになる。
δi 1+G
この第(4)式において利得Gを変えると、入力端12
からみたインピーダンスZinは変化することとなる。
からみたインピーダンスZinは変化することとなる。
すなわち、第2図に示す回路の入力端12と対地間の抵
抗は、制御電圧V c gにより制御可能となる。例え
ば、利得GをOから4まで変化させると、入力@12に
おけるインピーダンスZinは、Rfから0.2Rfま
で変化することとなる。
抗は、制御電圧V c gにより制御可能となる。例え
ば、利得GをOから4まで変化させると、入力@12に
おけるインピーダンスZinは、Rfから0.2Rfま
で変化することとなる。
次に、このように構成された遅延線6の動作について、
可変容量ダイオードの静特性曲線を用いて説明すると1
次のようになる。第3図に可変容量ダイオードの静特性
曲線を示す。ここで、前記可変容量ダイオードVC1,
VCzの逆電圧として、第1図において制御端子8に電
圧Ecを印加すると、可変容量ダイオードV C1+
V Czの全体としての動作点は、第3図の静特性曲線
上のP点となるとする。そして、遅延線6に高周波信号
電圧が印加されて、各組の可変容量ダイオードV Cl
とV C2に振幅■なる高周波信号電圧が印加されると
、互いに逆接続された個々の可変容量ダイオードV C
s及びV Czには、振幅V/2なる高周波信号電圧が
印加される。この場合、各々の可変容量ダイオードV
C!またはV C2の動作点は、P点からそれぞれ点P
′または点P′へ、あるいは点P′または点P′へと互
いに反対方向へ移動する。
可変容量ダイオードの静特性曲線を用いて説明すると1
次のようになる。第3図に可変容量ダイオードの静特性
曲線を示す。ここで、前記可変容量ダイオードVC1,
VCzの逆電圧として、第1図において制御端子8に電
圧Ecを印加すると、可変容量ダイオードV C1+
V Czの全体としての動作点は、第3図の静特性曲線
上のP点となるとする。そして、遅延線6に高周波信号
電圧が印加されて、各組の可変容量ダイオードV Cl
とV C2に振幅■なる高周波信号電圧が印加されると
、互いに逆接続された個々の可変容量ダイオードV C
s及びV Czには、振幅V/2なる高周波信号電圧が
印加される。この場合、各々の可変容量ダイオードV
C!またはV C2の動作点は、P点からそれぞれ点P
′または点P′へ、あるいは点P′または点P′へと互
いに反対方向へ移動する。
従って、一方の可変容量ダイオード、例えばVClの静
電容量がΔC′だけ増加すると、他方の可変容量ダイオ
ードV Czの静電容量はΔC′だけ減少し、上記二個
の可変容量ダイオードVC□。
電容量がΔC′だけ増加すると、他方の可変容量ダイオ
ードV Czの静電容量はΔC′だけ減少し、上記二個
の可変容量ダイオードVC□。
V Cxを逆接続した全体としての静電容量が高周波信
号電圧により変調を受けて変化する量は、−個の可変容
量ダイオードを設けた場合に比べて低減される。この結
果、第1図に示す可変型の遅延線6においては、高周波
信号の波形歪が低減されることとなる。
号電圧により変調を受けて変化する量は、−個の可変容
量ダイオードを設けた場合に比べて低減される。この結
果、第1図に示す可変型の遅延線6においては、高周波
信号の波形歪が低減されることとなる。
第4図は本発明の遅延線の第二の実施例を示す回路図で
ある。この実施例における遅延線6′は。
ある。この実施例における遅延線6′は。
インダクタLとキャパシタとを有して成る単位部分の上
記キャパシタを、逆電圧の大きさにより静電容量が変化
する二個の可変容量ダイオードVC3とV Caとを並
列接続して構成すると共に、上記二個の可変容量ダイオ
ードV Cs、 V C4の静電容量を変えるための逆
電圧として正負両方用意したものである。すなわち、第
4図に示すように、方の可変容量ダイオードVC3と他
方の可変容量ダイオードVC4とを、インダクタL側で
その陰極及び陽極を接続し、それぞれの陽極及び陰極は
配線によるリアクタンス分を少なくするため、それぞれ
の可変容量ダイオードの近くに配置したコンデンサCδ
、C4を介して直ちに接地しである。
記キャパシタを、逆電圧の大きさにより静電容量が変化
する二個の可変容量ダイオードVC3とV Caとを並
列接続して構成すると共に、上記二個の可変容量ダイオ
ードV Cs、 V C4の静電容量を変えるための逆
電圧として正負両方用意したものである。すなわち、第
4図に示すように、方の可変容量ダイオードVC3と他
方の可変容量ダイオードVC4とを、インダクタL側で
その陰極及び陽極を接続し、それぞれの陽極及び陰極は
配線によるリアクタンス分を少なくするため、それぞれ
の可変容量ダイオードの近くに配置したコンデンサCδ
、C4を介して直ちに接地しである。
このとき、上記コンデンサC3,C4は、高周波信号電
圧に対してインピーダンスが十分小さくなるような大き
い値としてあり、上記二個の可変容量ダイオードVCa
、VCaの一端は高周波信号に対しそのまま接地したの
と同等の効果が得られるようになっている。また、各組
の可変容量ダイオードV Caの陰極と、VC4の陽極
はそれぞれ共通接続され、制御端子8aから逆電圧Ec
が印加されるが、上記制御端子8aから各組の可変容量
ダイオードV Ca 、 V C4へ向かう制御信号線
9a。
圧に対してインピーダンスが十分小さくなるような大き
い値としてあり、上記二個の可変容量ダイオードVCa
、VCaの一端は高周波信号に対しそのまま接地したの
と同等の効果が得られるようになっている。また、各組
の可変容量ダイオードV Caの陰極と、VC4の陽極
はそれぞれ共通接続され、制御端子8aから逆電圧Ec
が印加されるが、上記制御端子8aから各組の可変容量
ダイオードV Ca 、 V C4へ向かう制御信号線
9a。
9a’のうち一方の制御信号線9a’ にはインバータ
14が挿入されているので、絶対値は等しいが極性の異
なる逆電圧Ecまたは−Ecが、それぞれ他方の可変容
量・ダイオードV C4の陰極または一方の可変容量ダ
イオードV Csの陽極に印加されることとなる。この
とき、第3図に示した静特性曲線において、点Pが動作
点となる。
14が挿入されているので、絶対値は等しいが極性の異
なる逆電圧Ecまたは−Ecが、それぞれ他方の可変容
量・ダイオードV C4の陰極または一方の可変容量ダ
イオードV Csの陽極に印加されることとなる。この
とき、第3図に示した静特性曲線において、点Pが動作
点となる。
ここで、高周波信号電圧の振幅をV/2とすると、各組
の可変容量ダイオードV Ca 、 V C4のそれぞ
れの動作点は、第3図においてP点から点P′または点
P′へ、あるいは点P1または点P′へと互いに反対方
向へ移動する。これにより、一方の可変容量ダイオード
V Caの静電容量が増加すると、他方の可変容量ダイ
オードV、Caの静電容量は減少する方向に動作するた
め、二個の可変容量ダイオードV Ca 、 V Ca
を並列接続したものにおいては、全体として高周波信号
により変調されてその静電容量が変化する量は、−個の
可変容量ダイオードを設けた場合に比べて低減される。
の可変容量ダイオードV Ca 、 V C4のそれぞ
れの動作点は、第3図においてP点から点P′または点
P′へ、あるいは点P1または点P′へと互いに反対方
向へ移動する。これにより、一方の可変容量ダイオード
V Caの静電容量が増加すると、他方の可変容量ダイ
オードV、Caの静電容量は減少する方向に動作するた
め、二個の可変容量ダイオードV Ca 、 V Ca
を並列接続したものにおいては、全体として高周波信号
により変調されてその静電容量が変化する量は、−個の
可変容量ダイオードを設けた場合に比べて低減される。
なお、第4図において、符号C′は結合コンデンサを示
しており、この結合コンデンサC′は、可変容量ダイオ
ードV Ca 、 V Caの動作点を定める直流電位
が信号源または終端部の回路から影響されないように設
けたものである。また、トランジスタQと抵抗Reは、
高周波信号電圧を電流に変換する回路であり、他のトラ
ンジスタQ2と抵抗Rcからベース接地回路により定電
流源として遅延線6′を駆動するようになっている。
しており、この結合コンデンサC′は、可変容量ダイオ
ードV Ca 、 V Caの動作点を定める直流電位
が信号源または終端部の回路から影響されないように設
けたものである。また、トランジスタQと抵抗Reは、
高周波信号電圧を電流に変換する回路であり、他のトラ
ンジスタQ2と抵抗Rcからベース接地回路により定電
流源として遅延線6′を駆動するようになっている。
第5図は第1図または第4図に示す遅延線6゜6′の関
連発明としての超音波診断装置の実施例を示すブロック
図である。この超音波診断装置は、超音波を利用して被
検体の診断部位について断層像を得るもので、電子リニ
ア走査形とされており、例えば短冊状に形成された複数
の振動子素子161゜162、・・・ 16nが一列状
に配列され超音波を送受波する探触子17と、この探触
子17の各振動子素子161〜1−6nのうち一群の振
動子素子のみを順次選択して切り換えるスイッチ群18
と、このスイッチ群18を介して上記探触子17の各振
動子素子161〜16.のうちの一群からの受波信号を
入力し時間と共に利得を増加させ検診深度に応じて信号
強度を補正する複数の増幅器19a〜19eと、この各
増幅器19a〜19eからの出力信号に所定の遅延時間
を与える複数の遅延回路20a〜20eを有しこれらの
遅延回路20a〜20eで位相が揃えられた受波信号を
加算する加算器21を備えた整相回路22と、この整相
回路22が整相された信号を検波する検波器23と、こ
の検波器23からの出力信号を画像として表示する表示
装置24とを備えて成る。なお、第5図においては、ス
イッチ群18は5個の振動子素子群を一端方から順次選
択してそれぞれ次段の増幅器19a〜19eに接続する
ようになっており、上記5個の振動子素子群を順次切り
換えて並進させるようになっている。従って、増幅器は
5個(198〜19e)設けられている6また、上記増
幅器19a〜19eの動作は、制御部25からの制御信
号S1で制御されるようになっている。
連発明としての超音波診断装置の実施例を示すブロック
図である。この超音波診断装置は、超音波を利用して被
検体の診断部位について断層像を得るもので、電子リニ
ア走査形とされており、例えば短冊状に形成された複数
の振動子素子161゜162、・・・ 16nが一列状
に配列され超音波を送受波する探触子17と、この探触
子17の各振動子素子161〜1−6nのうち一群の振
動子素子のみを順次選択して切り換えるスイッチ群18
と、このスイッチ群18を介して上記探触子17の各振
動子素子161〜16.のうちの一群からの受波信号を
入力し時間と共に利得を増加させ検診深度に応じて信号
強度を補正する複数の増幅器19a〜19eと、この各
増幅器19a〜19eからの出力信号に所定の遅延時間
を与える複数の遅延回路20a〜20eを有しこれらの
遅延回路20a〜20eで位相が揃えられた受波信号を
加算する加算器21を備えた整相回路22と、この整相
回路22が整相された信号を検波する検波器23と、こ
の検波器23からの出力信号を画像として表示する表示
装置24とを備えて成る。なお、第5図においては、ス
イッチ群18は5個の振動子素子群を一端方から順次選
択してそれぞれ次段の増幅器19a〜19eに接続する
ようになっており、上記5個の振動子素子群を順次切り
換えて並進させるようになっている。従って、増幅器は
5個(198〜19e)設けられている6また、上記増
幅器19a〜19eの動作は、制御部25からの制御信
号S1で制御されるようになっている。
ここで1本発明においては、上記整相回路22内の遅延
回路20a〜20eとしては、第1図または第4図に示
す回路構成とされその制御端子8に入力する電気信号(
逆電圧Ec)により遅延時間が連続的に変えられる遅延
線6または6′を備えた遅延回路が用いられている。こ
の遅延回路20a〜20eは、第5図においては、5個
設けられ、制御部25からの制御信号S2 (第1図
または第4図における制御端子8に印加される逆電圧E
c)により、時間と共に超音波ビームの収束点を深い所
へ移動するようにその収束位置が制御されるようになっ
ている。
回路20a〜20eとしては、第1図または第4図に示
す回路構成とされその制御端子8に入力する電気信号(
逆電圧Ec)により遅延時間が連続的に変えられる遅延
線6または6′を備えた遅延回路が用いられている。こ
の遅延回路20a〜20eは、第5図においては、5個
設けられ、制御部25からの制御信号S2 (第1図
または第4図における制御端子8に印加される逆電圧E
c)により、時間と共に超音波ビームの収束点を深い所
へ移動するようにその収束位置が制御されるようになっ
ている。
このような構成により、本実施例の電子リニア走査形の
超音波診断装置においては、整相回路22内の各遅延回
路20a〜20eがその制御端子への電気信号の入力だ
けで遅延時間が連続的に変えられるので、一系統の整相
回路22だけで超音波ビームの収束点を連続的に移動す
るダイナミックフォーカスが実現できる。
超音波診断装置においては、整相回路22内の各遅延回
路20a〜20eがその制御端子への電気信号の入力だ
けで遅延時間が連続的に変えられるので、一系統の整相
回路22だけで超音波ビームの収束点を連続的に移動す
るダイナミックフォーカスが実現できる。
本発明による遅延線(第1図または第4図参照)は以上
のように構成されたので、その制御端子8に印加する電
気信号だけで遅延時間を連続的に変化させることができ
る。従って、従来のような遅延線を適宜の間隔で設けら
れたタップを電子スイッチを用いて選択切り換えをする
ことなく、その切り換え時にノイズが発生するようなこ
とを完全に防止することができる。このことから、他の
回路部品等にノイズが混入するのを防止して、装置とし
ての信頼性を向上することができる。また、上記遅延線
の単位部分を構成する複数個の可変容量ダイオードのう
ちの一方が高周波信号電圧により動作点が移動してその
静電容量が増加するときには他方はその静電容量が減少
するように動作することにより、出力信号の歪率を小さ
くすることができる。すなわち、信号が遅延線を通過す
る際の伝送歪を小さくすることができる。
のように構成されたので、その制御端子8に印加する電
気信号だけで遅延時間を連続的に変化させることができ
る。従って、従来のような遅延線を適宜の間隔で設けら
れたタップを電子スイッチを用いて選択切り換えをする
ことなく、その切り換え時にノイズが発生するようなこ
とを完全に防止することができる。このことから、他の
回路部品等にノイズが混入するのを防止して、装置とし
ての信頼性を向上することができる。また、上記遅延線
の単位部分を構成する複数個の可変容量ダイオードのう
ちの一方が高周波信号電圧により動作点が移動してその
静電容量が増加するときには他方はその静電容量が減少
するように動作することにより、出力信号の歪率を小さ
くすることができる。すなわち、信号が遅延線を通過す
る際の伝送歪を小さくすることができる。
また、本発明による超音波診断装置(第5図参照)は以
上のように構成されたので、その整相回路22内の遅延
回路20a〜20eとして、上記の電気信号による遅延
時間が制御できると共に出力信号の歪率を小さくするこ
とができる遅延線を用いることにより、制御端子に印加
する電気信号だけで遅延時間を連続的に変化させて所望
の位置に超音波ビームの収束点を移動することができる
。
上のように構成されたので、その整相回路22内の遅延
回路20a〜20eとして、上記の電気信号による遅延
時間が制御できると共に出力信号の歪率を小さくするこ
とができる遅延線を用いることにより、制御端子に印加
する電気信号だけで遅延時間を連続的に変化させて所望
の位置に超音波ビームの収束点を移動することができる
。
また、高性能の一系統の整相回路22だけでダイナミッ
クフォーカスを実現することができる。そして、この整
相回路22内の遅延回路20a〜20eを構成する遅延
線での信号の波形歪が少ないことから、超音波診断装置
の診断能を向上することができる。
クフォーカスを実現することができる。そして、この整
相回路22内の遅延回路20a〜20eを構成する遅延
線での信号の波形歪が少ないことから、超音波診断装置
の診断能を向上することができる。
第1図は本発明による遅延線の実施例を示す回路図、第
2図は電子制御可変抵抗器の内部構成を示す回路図、第
3図は可変容量ダイオードの静特性曲線を示すグラフ、
第4図は本発明の遅延線の第二の実施例を示す回路図、
第5図は本発明の遅延線の関連発明としての超音波診断
装置の実施例を示すブロック図、第6図〜第8図は従来
の遅延線を示す回路図、第9図は第8図に示した遅延線
における入力信号レベルと歪率との関係を示す実測デー
タのグラフである。 6.6′・・・遅延線、7・・・単位部分、8・・・制
御端子、1o・・・電子制御可変抵抗器、16t〜16
n・振動子素子、17・・・探触子、18・・スイッチ
群、19a〜19e・・・増IIi器、20a〜20e
・・・遅延回路、21・・・加算器、22・−・整相回
路、23・・・検波器、24・・表示装置、L・・・イ
ンダクタ、V C1〜V C4・・・可変容量ダイオー
ド、 Ec r Ecl、 Ecz・・・逆電第 32 ↓t 眠超 (V) 夢 図 第 ■
2図は電子制御可変抵抗器の内部構成を示す回路図、第
3図は可変容量ダイオードの静特性曲線を示すグラフ、
第4図は本発明の遅延線の第二の実施例を示す回路図、
第5図は本発明の遅延線の関連発明としての超音波診断
装置の実施例を示すブロック図、第6図〜第8図は従来
の遅延線を示す回路図、第9図は第8図に示した遅延線
における入力信号レベルと歪率との関係を示す実測デー
タのグラフである。 6.6′・・・遅延線、7・・・単位部分、8・・・制
御端子、1o・・・電子制御可変抵抗器、16t〜16
n・振動子素子、17・・・探触子、18・・スイッチ
群、19a〜19e・・・増IIi器、20a〜20e
・・・遅延回路、21・・・加算器、22・−・整相回
路、23・・・検波器、24・・表示装置、L・・・イ
ンダクタ、V C1〜V C4・・・可変容量ダイオー
ド、 Ec r Ecl、 Ecz・・・逆電第 32 ↓t 眠超 (V) 夢 図 第 ■
Claims (2)
- 1.インダクタとキヤパシタとを有して成る単位部分を
多数従属接続して成る遅延線における上記単位部分のキ
ヤパシタを、逆電圧の大きさにより静電容量が変化する
複数個の可変容量ダイオードを一組とすると共にこれら
の可変容量ダイオードをそれらに印加される高周波信号
電圧の極性が互いに逆になるように接続して一方の可変
容量ダイオードが高周波信号電圧による動作点が移動し
てその静電容量が増加するときは他方の可変容量ダイオ
ードの静電容量が減少するように動作すべく構成すると
共に、上記各単位部分の極性が同じ複数個の可変容量ダ
イオードの一端をそれぞれ共通接続し、これらの共通接
続点に可変容量ダイオードの逆電圧を印加して遅延時間
を制御すべく構成したことを特徴とする遅延線。 - 2.複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探
触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に所
定の遅延時間を与える遅延線を有しこれらの遅延線で位
相が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回路を
備えて成る超音波診断装置において、上記整相回路内の
遅延線として、上記(1)項記載の遅延線を用いたこと
を特徴とする超音波診断装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2177430A JPH0468807A (ja) | 1990-07-06 | 1990-07-06 | 遅延線およびこれを用いた超音波診断装置 |
| US07/727,053 US5146192A (en) | 1990-07-06 | 1991-07-08 | Delay circuit of ultrasonic diagnostic apparatus using delay line comprising variable capacitance diode and inductor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2177430A JPH0468807A (ja) | 1990-07-06 | 1990-07-06 | 遅延線およびこれを用いた超音波診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0468807A true JPH0468807A (ja) | 1992-03-04 |
Family
ID=16030804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2177430A Pending JPH0468807A (ja) | 1990-07-06 | 1990-07-06 | 遅延線およびこれを用いた超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0468807A (ja) |
-
1990
- 1990-07-06 JP JP2177430A patent/JPH0468807A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4015223A (en) | HF Antenna matching device | |
| CN102263542B (zh) | 移相器及其功率放大器和核磁共振成像设备 | |
| WO2013062784A2 (en) | Rf power measurement with bi-directional bridge | |
| US4536666A (en) | Trigger coupling circuit for providing a plurality of coupling modes | |
| JPH0468807A (ja) | 遅延線およびこれを用いた超音波診断装置 | |
| Talman et al. | Integrated circuit for high-frequency ultrasound annular array | |
| US11677146B2 (en) | Programmable analog beamformer | |
| US5318034A (en) | Electrically adjustable delay circuit and ultrasonic diagnosis apparatus | |
| JPH0311810A (ja) | 遅延線及びこの遅延線を用いた超音波診断装置 | |
| EP0472406A1 (en) | High speed low power DC offsetting circuit | |
| JPH05329154A (ja) | 超音波診断装置の遅延回路 | |
| JPH04263506A (ja) | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 | |
| JPH0352311A (ja) | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 | |
| JPH04177909A (ja) | 遅延線及びこの遅延線を用いた超音波診断装置 | |
| EP0624960A2 (en) | A method and apparatus for imparting a linear frequency response to a signal | |
| CN100359800C (zh) | 高频装置 | |
| JP3118049B2 (ja) | 遅延回路及びそれを用いた超音波診断装置 | |
| CA1190607A (en) | Signal cuber | |
| JPH03196709A (ja) | 可変遅延回路及びこの可変遅延回路を用いた超音波診断装置 | |
| JPH02300686A (ja) | 遅延線及びこの遅延線を用いた超音波診断装置 | |
| JPH02300685A (ja) | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 | |
| JPH05235696A (ja) | 可変遅延回路及びそれを用いた超音波診断装置 | |
| JPH04180747A (ja) | 超音波診断装置 | |
| JPH04122247A (ja) | 超音波診断装置 | |
| JPH04110686A (ja) | 遅延線とこれを用いた超音波診断装置 |