JPH04110686A - 遅延線とこれを用いた超音波診断装置 - Google Patents
遅延線とこれを用いた超音波診断装置Info
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- JPH04110686A JPH04110686A JP2228141A JP22814190A JPH04110686A JP H04110686 A JPH04110686 A JP H04110686A JP 2228141 A JP2228141 A JP 2228141A JP 22814190 A JP22814190 A JP 22814190A JP H04110686 A JPH04110686 A JP H04110686A
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 15
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 3
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 3
- 244000007853 Sarothamnus scoparius Species 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- GNLJOAHHAPACCT-UHFFFAOYSA-N 4-diethoxyphosphorylmorpholine Chemical compound CCOP(=O)(OCC)N1CCOCC1 GNLJOAHHAPACCT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電気信号により遅延時間が制御できると共に
少ないセクション数で構成でき、かつその制御回路が簡
易にできる遅延線及びこの遅延線を整相回路内の遅延線
として用いダイナミックフォーカスを可能とする超音波
診断装置に関する。
少ないセクション数で構成でき、かつその制御回路が簡
易にできる遅延線及びこの遅延線を整相回路内の遅延線
として用いダイナミックフォーカスを可能とする超音波
診断装置に関する。
超音波診断装置は、探触子により被検体に超音波を送受
波し、体内からの反射波信号に基づいて被検体内部の情
報を得るようになっている。ここで、被検体内部の深さ
の異なる各部のいすLの場所においても高い分解能の画
像が得られるようにするため、体内からの反射波の受信
に際し、受渡の焦点を時間の経過と共に動的に変化させ
るダイナミックフォーカスが行われる。このとき、上記
受波の焦点合わせは、幅の狭い短冊状に形成された振動
子素子を複数個配列した探触子、あるいは同心円状に配
置した複数のリング状振動子素子から成る探触子の上記
それぞれの振動子素子からの受渡信号を、遅延線を用い
て適宜遅延して加算することによって行われる。この回
路は一般に整相回路と呼ばれている。そして、受波の焦
点位置は上記の各々の遅延線の遅延時間により定まるの
で、ダイナミックフォーカスは、複数の受渡信号に与え
るべき遅延時間を体内からの反射波の発生深度に応して
動的に変更することによって実現される。
波し、体内からの反射波信号に基づいて被検体内部の情
報を得るようになっている。ここで、被検体内部の深さ
の異なる各部のいすLの場所においても高い分解能の画
像が得られるようにするため、体内からの反射波の受信
に際し、受渡の焦点を時間の経過と共に動的に変化させ
るダイナミックフォーカスが行われる。このとき、上記
受波の焦点合わせは、幅の狭い短冊状に形成された振動
子素子を複数個配列した探触子、あるいは同心円状に配
置した複数のリング状振動子素子から成る探触子の上記
それぞれの振動子素子からの受渡信号を、遅延線を用い
て適宜遅延して加算することによって行われる。この回
路は一般に整相回路と呼ばれている。そして、受波の焦
点位置は上記の各々の遅延線の遅延時間により定まるの
で、ダイナミックフォーカスは、複数の受渡信号に与え
るべき遅延時間を体内からの反射波の発生深度に応して
動的に変更することによって実現される。
上記の遅延時間の変更は、従来より遅延線に適切な間隔
でタップを設け、これらのタップを電子スイッチを用い
て選択切り換えて行っている。この場合、上記電子スイ
ッチの切り換え時にノイズが発生して、遅延線を介して
受波信号に混入することがあり、診断情報に誤った信号
が出現することがあった。そこで、このような現象を改
善するために、上記電子スイッチとしてノイズの発生の
少ないスイッチを用いればよいが、このような電子スイ
ッチは高価であるので遅延線のそれぞれのタップ毎に多
数設けると価格が上昇して経済的でないという欠点があ
った。
でタップを設け、これらのタップを電子スイッチを用い
て選択切り換えて行っている。この場合、上記電子スイ
ッチの切り換え時にノイズが発生して、遅延線を介して
受波信号に混入することがあり、診断情報に誤った信号
が出現することがあった。そこで、このような現象を改
善するために、上記電子スイッチとしてノイズの発生の
少ないスイッチを用いればよいが、このような電子スイ
ッチは高価であるので遅延線のそれぞれのタップ毎に多
数設けると価格が上昇して経済的でないという欠点があ
った。
以上のような問題点に対処して、タップ切換スイッチを
備えた遅延線をそれぞれ有し焦点区間を互いに異ならせ
た二系統の整相回路を交互に使用すると共に、一方の整
相回路が使用されている間に他方の整相回路のタップを
切り換えるようにした装置が特開昭56−112234
号公報で提案されている。この公報に記載された従来の
超音波診断装置は、第13図に示すように、複数の振動
子素子11、12.・・・l inが配列され超音波を
送受波するアレー型の探触子2と、この探触子2の各振
動素子11〜1oからの受波信号に所定の遅延時間を与
えて位相を揃え加算して出力する二系統の整相回路3,
3′と、これらの整相回路3,3′内の各遅延線の終端
抵抗の信号を増幅する増幅器4゜4′と、上記二系統の
整相回路3,3′からの出力信号を交互に切り換えるた
めの電子スイッチ5と、上記各整相回路3,3′で整相
された信号を検波、圧縮する検波器6と、この検波器6
からの出力信号を画像として表示する表示装置7とを備
えて成っていた。ここで、上記二系統の整相回路3.3
′は、それぞれ上記探触子2の各振動子素子11〜1イ
からの受波信号を入力して増幅する定電流源出力型の増
幅器81 e 82g・・・18n;81821、・・
、8r17 と、遅延線9.9′ と、これらの遅延線
9,9′に適宜の間隔で設けられたタップを選択切り換
えする電子スイッチから成るタップ切換スイッチ101
.10z、−、10n; 101102′、・・・、1
0n’ とから成る。なお、第13図において、符号1
1は電子スイッチ5及びタップ切換スイッチ101〜1
0−、10f’ 〜100を切り換え制御するための制
御器である。
備えた遅延線をそれぞれ有し焦点区間を互いに異ならせ
た二系統の整相回路を交互に使用すると共に、一方の整
相回路が使用されている間に他方の整相回路のタップを
切り換えるようにした装置が特開昭56−112234
号公報で提案されている。この公報に記載された従来の
超音波診断装置は、第13図に示すように、複数の振動
子素子11、12.・・・l inが配列され超音波を
送受波するアレー型の探触子2と、この探触子2の各振
動素子11〜1oからの受波信号に所定の遅延時間を与
えて位相を揃え加算して出力する二系統の整相回路3,
3′と、これらの整相回路3,3′内の各遅延線の終端
抵抗の信号を増幅する増幅器4゜4′と、上記二系統の
整相回路3,3′からの出力信号を交互に切り換えるた
めの電子スイッチ5と、上記各整相回路3,3′で整相
された信号を検波、圧縮する検波器6と、この検波器6
からの出力信号を画像として表示する表示装置7とを備
えて成っていた。ここで、上記二系統の整相回路3.3
′は、それぞれ上記探触子2の各振動子素子11〜1イ
からの受波信号を入力して増幅する定電流源出力型の増
幅器81 e 82g・・・18n;81821、・・
、8r17 と、遅延線9.9′ と、これらの遅延線
9,9′に適宜の間隔で設けられたタップを選択切り換
えする電子スイッチから成るタップ切換スイッチ101
.10z、−、10n; 101102′、・・・、1
0n’ とから成る。なお、第13図において、符号1
1は電子スイッチ5及びタップ切換スイッチ101〜1
0−、10f’ 〜100を切り換え制御するための制
御器である。
このように構成された超音波診断装置においては、上記
それぞれのタップ切換スイッチ101〜10n及び10
1′〜10n′の切り換えは、それらが属する整相回路
3または3′の出力端(4゜4′)が電子スイッチ5の
切り換えにより次段(6)から切り離されている間に行
われるので、上記タップ切換スイッチ101〜10nま
たは101〜10. の動作により発生するノイズが
次段以降の信号に混入することはない。従って、多数必
要とされる上記タップ切換スイッチ101〜10゜及び
101′〜10r1′は、ノイズが発生してもよい安価
なスイッチで間にあわせることができる。
それぞれのタップ切換スイッチ101〜10n及び10
1′〜10n′の切り換えは、それらが属する整相回路
3または3′の出力端(4゜4′)が電子スイッチ5の
切り換えにより次段(6)から切り離されている間に行
われるので、上記タップ切換スイッチ101〜10nま
たは101〜10. の動作により発生するノイズが
次段以降の信号に混入することはない。従って、多数必
要とされる上記タップ切換スイッチ101〜10゜及び
101′〜10r1′は、ノイズが発生してもよい安価
なスイッチで間にあわせることができる。
このとき、各整相回路3,3′からの出力信号を交互に
切り換える電子スイッチ5は、常に信号が流れている部
分を切り換えるので、ノイズの発生の少ない高価なスイ
ッチを用いなければならないが、その個数がわずかであ
ることから特に価格が上昇するものではなく、全体とし
てはコスト上昇を抑えることができる。これにより、ダ
イナミックフォーカス時の各タップ切換スイッチ101
〜10、または101′〜10.’ の切り換えにより
発生するノイズの影響を受けないようにしていた。
切り換える電子スイッチ5は、常に信号が流れている部
分を切り換えるので、ノイズの発生の少ない高価なスイ
ッチを用いなければならないが、その個数がわずかであ
ることから特に価格が上昇するものではなく、全体とし
てはコスト上昇を抑えることができる。これにより、ダ
イナミックフォーカス時の各タップ切換スイッチ101
〜10、または101′〜10.’ の切り換えにより
発生するノイズの影響を受けないようにしていた。
しかし、このような従来の超音波診断装置においては、
第13図に示すように、二系統の整相回路3,3′を用
意することから、高価な遅延線9゜9′ を二系統分必
要とし、回路規模が大きくなると共に、コストも上昇す
るものであった。さらに、上記二系統の整相回路3,3
′からの信号に感度差があると、出力側の電子スイッチ
5の切り換えにより、表示装置7に表示される画像に明
暗の段差が発生することとなるので、使用部品について
は特性バラツキの少ないものを選択して用いる必要があ
り、そのために多くの調整時間を要し、また、使用でき
る部品の歩留りが悪く、これ等はコスト上昇の原因とな
るものであった。なお、」二記二系統の整相回路3,3
′の感度差が少なくなっても、各系統の焦点の位置が異
なることから受信感度も異なることとなり、やはり出力
側の電子スイッチ5の切り換えにより、表示装置7に表
示される画像に明暗の段差が発生することとなるもので
あった。
第13図に示すように、二系統の整相回路3,3′を用
意することから、高価な遅延線9゜9′ を二系統分必
要とし、回路規模が大きくなると共に、コストも上昇す
るものであった。さらに、上記二系統の整相回路3,3
′からの信号に感度差があると、出力側の電子スイッチ
5の切り換えにより、表示装置7に表示される画像に明
暗の段差が発生することとなるので、使用部品について
は特性バラツキの少ないものを選択して用いる必要があ
り、そのために多くの調整時間を要し、また、使用でき
る部品の歩留りが悪く、これ等はコスト上昇の原因とな
るものであった。なお、」二記二系統の整相回路3,3
′の感度差が少なくなっても、各系統の焦点の位置が異
なることから受信感度も異なることとなり、やはり出力
側の電子スイッチ5の切り換えにより、表示装置7に表
示される画像に明暗の段差が発生することとなるもので
あった。
そこで、本発明は、このような問題点を解決することが
できる超音波診断装置及びこの超音波診断装置に用いる
ため改良した遅延線を提供することを目的とする。
できる超音波診断装置及びこの超音波診断装置に用いる
ため改良した遅延線を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明による遅延線は、集
中定数インダクタとキャパシタとを備えて成る二次のオ
ールパス形遅延線において、二種のキャパシタを、逆電
圧の変化率に対する容量の変化率が等しい可変容量ダイ
オードで構成したものである。
中定数インダクタとキャパシタとを備えて成る二次のオ
ールパス形遅延線において、二種のキャパシタを、逆電
圧の変化率に対する容量の変化率が等しい可変容量ダイ
オードで構成したものである。
また、上記遅延線の関連発明としての超音波診断装置は
、複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探触
子と、二の探触子の各振動子素子からの受渡信号に所定
の遅延時間を与える遅延線を有しこれらの遅延線で位相
が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回路と、
この整相回路で整相された信号を検波する検波器と、こ
の検波器からの出力信号を画像として表示する表示装置
とを備えて成る超音波診断装置において、上記整相回路
内の遅延線として、集中定数インダクタとキャパシタと
を備えて成る二次のオールパス形遅延線における二種の
キャパシタを、逆電圧の変化率を対する容量の変化率が
等しい可変容量ダイオードで構成した遅延線を用いたも
のである。
、複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探触
子と、二の探触子の各振動子素子からの受渡信号に所定
の遅延時間を与える遅延線を有しこれらの遅延線で位相
が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回路と、
この整相回路で整相された信号を検波する検波器と、こ
の検波器からの出力信号を画像として表示する表示装置
とを備えて成る超音波診断装置において、上記整相回路
内の遅延線として、集中定数インダクタとキャパシタと
を備えて成る二次のオールパス形遅延線における二種の
キャパシタを、逆電圧の変化率を対する容量の変化率が
等しい可変容量ダイオードで構成した遅延線を用いたも
のである。
上記のように構成された遅延線は、集中定数インダクタ
とキャパシタとを備えて成る二次のオールパス形遅延線
において上記キャパシタを可変容量ダイオードで構成し
たことにより、少ないセクション数で小形化を図ると共
に、遅延時間を制御する電気信号として1系統のみでよ
いため、その周辺制御回路構成を簡単にすることができ
る。
とキャパシタとを備えて成る二次のオールパス形遅延線
において上記キャパシタを可変容量ダイオードで構成し
たことにより、少ないセクション数で小形化を図ると共
に、遅延時間を制御する電気信号として1系統のみでよ
いため、その周辺制御回路構成を簡単にすることができ
る。
また、上記のように構成された超音波診断装置は、その
整相回路内の遅延線として、上記の1系統の電気信号に
より遅延時間が制御できると共に少ないセクション数で
小形化を図ることができる遅延線を用いることにより、
小形かつ高性能の一系統の整相回路だけでダイナミック
フォーカスを実現できると共に、装置全体を小形かつ安
価とすることができる。
整相回路内の遅延線として、上記の1系統の電気信号に
より遅延時間が制御できると共に少ないセクション数で
小形化を図ることができる遅延線を用いることにより、
小形かつ高性能の一系統の整相回路だけでダイナミック
フォーカスを実現できると共に、装置全体を小形かつ安
価とすることができる。
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明による遅延線の実施例を示す回路図であ
る。この遅延線は、従来の可変型の遅延線に比し、使用
できる周波数の上限を高くした可変型の遅延線を実現す
るものであるが、まず、その構成を考えるに至った思考
過程を第3図〜第7図を参照しながら説明する。
る。この遅延線は、従来の可変型の遅延線に比し、使用
できる周波数の上限を高くした可変型の遅延線を実現す
るものであるが、まず、その構成を考えるに至った思考
過程を第3図〜第7図を参照しながら説明する。
第3図に集中定数形遅延線で誘導M形と呼ばれているも
のの回路図を示す。この誘導M形遅延線は、インダクタ
L/2.L/2.・・・と、キャパシタC,C,・・・
とを備えて成り、各区間(セクション)内のインダクタ
L/2は互いに結合している。
のの回路図を示す。この誘導M形遅延線は、インダクタ
L/2.L/2.・・・と、キャパシタC,C,・・・
とを備えて成り、各区間(セクション)内のインダクタ
L/2は互いに結合している。
そして、この第3図に示した誘導M最遅延線の等価回路
を示すと第4図のようになる。ここで、値mはインダク
タL/2の結合状態により与えられる定数で、例えばm
=1.27 の場合に最も優れた特性が得られる。こ
の場合、必要な遅延量τに対するセクション数Nは、次
式で与えられる。
を示すと第4図のようになる。ここで、値mはインダク
タL/2の結合状態により与えられる定数で、例えばm
=1.27 の場合に最も優れた特性が得られる。こ
の場合、必要な遅延量τに対するセクション数Nは、次
式で与えられる。
なお、f CnはNセクションを接続したときのカット
オフ周波数である。従って、誘導M最遅延線の縦続セク
ション数Nの増加は、遅延量τの3/2乗に比例して急
速に増加することがわかる。このことから、上記誘導M
最遅延線においては、遅延量τが大きくなるに従って急
速に大形化することとなる。
オフ周波数である。従って、誘導M最遅延線の縦続セク
ション数Nの増加は、遅延量τの3/2乗に比例して急
速に増加することがわかる。このことから、上記誘導M
最遅延線においては、遅延量τが大きくなるに従って急
速に大形化することとなる。
これに対して、第5図に示すように集中定数インダクタ
とキャパシタとを備えて成る二次のオールパス形遅延線
が提供されており、この二次のオールパス形遅延線を用
いると遅延時間周波数特性の改善を図ることができる。
とキャパシタとを備えて成る二次のオールパス形遅延線
が提供されており、この二次のオールパス形遅延線を用
いると遅延時間周波数特性の改善を図ることができる。
なお、上記の誘導M最遅延線または二次のオールパス形
遅延線を構成するインダクタ及びキャパシタにおいてと
るべき回路定数は、第4図または第5図に示すとおりで
ある。
遅延線を構成するインダクタ及びキャパシタにおいてと
るべき回路定数は、第4図または第5図に示すとおりで
ある。
ここで、第3図に示す誘導M最遅延線と、第5図に示す
二次のオールバス形遅延線とにおいて、遅延時間TDと
周波数帯域幅、fBとの積である遅延帯域幅積To、f
B及びこの遅延帯域幅積Tojsあたりに必要な遅延線
のセクション数Nを表わすN/TosBの関係を示すと
、第6図のようになる( rNHK技術月報」昭和43
年5月 第25頁)。
二次のオールバス形遅延線とにおいて、遅延時間TDと
周波数帯域幅、fBとの積である遅延帯域幅積To、f
B及びこの遅延帯域幅積Tojsあたりに必要な遅延線
のセクション数Nを表わすN/TosBの関係を示すと
、第6図のようになる( rNHK技術月報」昭和43
年5月 第25頁)。
第6図において、実線Aは誘導M最遅延線の場合を示し
ており、破線Bは二次のオールパス形遅延線の場合を示
している。この第6図から、同じ遅延帯域幅積TofB
なら、必要な遅延線のセクション数Nは、二次のオール
パス形遅延線の方が少なくてよいので、遅延線を小形化
すると共に信号の伝送損失を少なくするためにも、上記
二次のオールパス形遅延線の方が適していることがわか
る。
ており、破線Bは二次のオールパス形遅延線の場合を示
している。この第6図から、同じ遅延帯域幅積TofB
なら、必要な遅延線のセクション数Nは、二次のオール
パス形遅延線の方が少なくてよいので、遅延線を小形化
すると共に信号の伝送損失を少なくするためにも、上記
二次のオールパス形遅延線の方が適していることがわか
る。
しかし、従来の可変型の遅延線は、第7図に示すように
、前述の第3図に示した誘導M型遅延線におけるキャパ
シタC,C,・・・を、逆電圧により接合容量が変化す
る可変容量ダイオードVCで構成したものが用いられて
いる。このような誘導M最遅延線に基づいて構成された
可変型の遅延線においては、第6図を参照して説明した
ように、必要とする遅延時間TDと周波数帯域幅JBの
積TDfBが大きくなる程、必要な遅延線のセクション
数Nが増加し、遅延線の小形化及び信号の伝送損失の低
減等の点で不利であった。
、前述の第3図に示した誘導M型遅延線におけるキャパ
シタC,C,・・・を、逆電圧により接合容量が変化す
る可変容量ダイオードVCで構成したものが用いられて
いる。このような誘導M最遅延線に基づいて構成された
可変型の遅延線においては、第6図を参照して説明した
ように、必要とする遅延時間TDと周波数帯域幅JBの
積TDfBが大きくなる程、必要な遅延線のセクション
数Nが増加し、遅延線の小形化及び信号の伝送損失の低
減等の点で不利であった。
そこで、本発明においては、第5図に示した集中定数イ
ンダクタとキャパシタとを備えて成る二次のオールパス
形遅延線における上記キャパシタを、可変容量ダイオー
ドで構成することにより、第1図に示す本発明による可
変型の遅延線12が実現される。第1図においては、第
5図における一方のキャパシタ2Cの部分を可変容量ダ
イオードV C1で構成し、他方のキャパシタC/6の
部分を他の可変容量ダイオードV C2で構成している
。そして、上記それぞれの可変容量ダイオードVCI、
VC2は、抵抗r1.r2を介して印加される制御電圧
Vl、V2によって制御されるようになっている。なお
、これらの抵抗rl、r2は、上記可変容量ダイオード
VCi、VC2の静電容量を制御する回路を介して各セ
クションに信号が流れ、セクション相互間で干渉するの
を防止するために設けたものである。
ンダクタとキャパシタとを備えて成る二次のオールパス
形遅延線における上記キャパシタを、可変容量ダイオー
ドで構成することにより、第1図に示す本発明による可
変型の遅延線12が実現される。第1図においては、第
5図における一方のキャパシタ2Cの部分を可変容量ダ
イオードV C1で構成し、他方のキャパシタC/6の
部分を他の可変容量ダイオードV C2で構成している
。そして、上記それぞれの可変容量ダイオードVCI、
VC2は、抵抗r1.r2を介して印加される制御電圧
Vl、V2によって制御されるようになっている。なお
、これらの抵抗rl、r2は、上記可変容量ダイオード
VCi、VC2の静電容量を制御する回路を介して各セ
クションに信号が流れ、セクション相互間で干渉するの
を防止するために設けたものである。
上記一方の可変容量ダイオードV C1は、制御電圧V
を変えることにより、その容量を変えて遅延線12の遅
延時間を制御する。この際、良好な遅延時間の周波数特
性を保つためには、他方の可変容量ダイオードV C2
の容量が上記一方の可変容量ダイオードVCIの容量が
1/12に保たれている必要がある。従って、このよう
な動作条件を満たすように制御電圧v1とv2を与えれ
ばよい。ここで、上記可変容量ダイオードvCよ及びV
C2の逆電圧と容量の特性曲線がそれぞれ同じ関数で
記述されるような関係にあると、制御電圧■1と■2は
、第1図に示すように同じ信号源電圧、例えば■1を用
い可変容量ダイオードV C1へそのvlを供給し、可
変容量ダイオードV C2へは係数器Kを用いて分圧し
て生成した■2を供給する簡単な構成であって、可変容
量ダイオードV CxとV Ctの容量比が1/12な
る最適値に保ったままその大きさを変えることができる
。このように、制御電圧源として■1と■2のそれぞれ
が、遅延時間の最適制御を行うために独立して信号を発
生する回路を備えなくてもよい。
を変えることにより、その容量を変えて遅延線12の遅
延時間を制御する。この際、良好な遅延時間の周波数特
性を保つためには、他方の可変容量ダイオードV C2
の容量が上記一方の可変容量ダイオードVCIの容量が
1/12に保たれている必要がある。従って、このよう
な動作条件を満たすように制御電圧v1とv2を与えれ
ばよい。ここで、上記可変容量ダイオードvCよ及びV
C2の逆電圧と容量の特性曲線がそれぞれ同じ関数で
記述されるような関係にあると、制御電圧■1と■2は
、第1図に示すように同じ信号源電圧、例えば■1を用
い可変容量ダイオードV C1へそのvlを供給し、可
変容量ダイオードV C2へは係数器Kを用いて分圧し
て生成した■2を供給する簡単な構成であって、可変容
量ダイオードV CxとV Ctの容量比が1/12な
る最適値に保ったままその大きさを変えることができる
。このように、制御電圧源として■1と■2のそれぞれ
が、遅延時間の最適制御を行うために独立して信号を発
生する回路を備えなくてもよい。
上記の可変容量ダイオードは逆電圧の大きさによりその
接合容量CJが変化する。可変容量ダイオードの容量C
は、C” CJ + Ccで表わされる。
接合容量CJが変化する。可変容量ダイオードの容量C
は、C” CJ + Ccで表わされる。
通常、ストレス容量Ccはかなり小さいので、C〜CJ
となる。C4の値は簡単に次のごとく表すことができ
る。
となる。C4の値は簡単に次のごとく表すことができ
る。
CJCC(VR+φ) 〜VR−(2)ここに ■R
:ダイオードの逆方向電圧φ :接触電位差 γ :容量変化率 γは接合の種類によって異なり、傾斜接合で1/2、階
段接合で1/2、超階段接合で1/2以上(3〜4)と
なる。接合容量と逆電圧VRの関係を両対数のグラフに
示すと第9図(電波新聞社発行、電子部品ハンドブック
、160頁)のようになる。γが大きい程逆電圧の変化
に対する接合容量の変化率は大きくなる。市販されてい
る可変容量ダイオードの逆電圧と接合容量の変化率はγ
の値が異なるため、第10図のごとき様々な特性を示す
。可変容量ダイオードV C1とVC2が異なる品種で
あってもγが同じなら、φの値、Ccの値が異なってい
ても、第1図においては、係数器Kを演算増幅器で構成
し、そのオフセット電圧を調整すること、ストレイ容量
Ccの調整用キャパシタCo を設けてそれを調整する
などにより同じ制御信号で最適の遅延時間の制御ができ
ることが明らかである。
:ダイオードの逆方向電圧φ :接触電位差 γ :容量変化率 γは接合の種類によって異なり、傾斜接合で1/2、階
段接合で1/2、超階段接合で1/2以上(3〜4)と
なる。接合容量と逆電圧VRの関係を両対数のグラフに
示すと第9図(電波新聞社発行、電子部品ハンドブック
、160頁)のようになる。γが大きい程逆電圧の変化
に対する接合容量の変化率は大きくなる。市販されてい
る可変容量ダイオードの逆電圧と接合容量の変化率はγ
の値が異なるため、第10図のごとき様々な特性を示す
。可変容量ダイオードV C1とVC2が異なる品種で
あってもγが同じなら、φの値、Ccの値が異なってい
ても、第1図においては、係数器Kを演算増幅器で構成
し、そのオフセット電圧を調整すること、ストレイ容量
Ccの調整用キャパシタCo を設けてそれを調整する
などにより同じ制御信号で最適の遅延時間の制御ができ
ることが明らかである。
第1図において、可変容量ダイオードV C1とV C
xが逆電圧と静電容量の特性曲線が同じであるため同じ
逆電圧でVC2の静電容量が常にV C1のそれの1/
12にするためには、V C1とVCzの可変容量ダイ
オードとして同品種のもので且つ並列接続する個数を異
なるものとすることにより実現できる。第11図と第1
2図にその実施例を示す。第11図は第1図の各セクシ
ョンの可変容量ダイオードV C1に相当するものとし
て陰極を共通接続した可変容量ダイオード対を12組を
用い、第1図のVCzに相当するものとして陰極を共通
接続した上記と同じ品種の可変容量ダイオード対を1組
用いている。このような構成により1系統の遅延時間制
御信号Vを変化させるのみで、(ロ)点と(ハ)点間の
静電容量は、(イ)点と(ニ)点間の静電容量の1/1
2となり最適の遅延特性を達成している。
xが逆電圧と静電容量の特性曲線が同じであるため同じ
逆電圧でVC2の静電容量が常にV C1のそれの1/
12にするためには、V C1とVCzの可変容量ダイ
オードとして同品種のもので且つ並列接続する個数を異
なるものとすることにより実現できる。第11図と第1
2図にその実施例を示す。第11図は第1図の各セクシ
ョンの可変容量ダイオードV C1に相当するものとし
て陰極を共通接続した可変容量ダイオード対を12組を
用い、第1図のVCzに相当するものとして陰極を共通
接続した上記と同じ品種の可変容量ダイオード対を1組
用いている。このような構成により1系統の遅延時間制
御信号Vを変化させるのみで、(ロ)点と(ハ)点間の
静電容量は、(イ)点と(ニ)点間の静電容量の1/1
2となり最適の遅延特性を達成している。
第12図の実施例は、全ての可変容量ダイオードは同品
種とし第1図の可変容量ダイオードV C1に相当する
ものとして、図のごとく1本の可変容量ダイオードの静
電容量Cなる3本の可変容量ダイオードを並列にしだも
の2組(総静電容量は6C)を用意し、それら2組の可
変容量ダイオード群を点Aにてそれぞれ陽極と陰極を接
続し、それぞれ絶対値の等しい逆電圧を印加するため、
極性の異なる制御電圧を抵抗ri を介して印加する構
成となっている。ここで、3本の可変容量ダイオード群
2組の静電容量の和より十分大きいバイパスコンデンサ
COを設けである。上記の2組の可変容量ダイオードの
逆電圧は、絶対値は等しいが極性の異なるものを与える
ため、演算増幅器からなるインバータ■を設けである。
種とし第1図の可変容量ダイオードV C1に相当する
ものとして、図のごとく1本の可変容量ダイオードの静
電容量Cなる3本の可変容量ダイオードを並列にしだも
の2組(総静電容量は6C)を用意し、それら2組の可
変容量ダイオード群を点Aにてそれぞれ陽極と陰極を接
続し、それぞれ絶対値の等しい逆電圧を印加するため、
極性の異なる制御電圧を抵抗ri を介して印加する構
成となっている。ここで、3本の可変容量ダイオード群
2組の静電容量の和より十分大きいバイパスコンデンサ
COを設けである。上記の2組の可変容量ダイオードの
逆電圧は、絶対値は等しいが極性の異なるものを与える
ため、演算増幅器からなるインバータ■を設けである。
2本の可変容量ダイオードを直列接続したものにおける
点Bと圧Vの大きさにかかわらず成立するため最適の遅
延特性が達成される。
点Bと圧Vの大きさにかかわらず成立するため最適の遅
延特性が達成される。
第11図および第12図の可変遅延線の各セクションの
可変容量ダイオードとして、各々の素子が最も近いもの
となるようにするため、同じ構造の可変容量ダイオード
を同一のシリコン基板上に作成し、相互に必要な配線を
した素子を用いると小型にして目的とする効果が容易に
達成される。
可変容量ダイオードとして、各々の素子が最も近いもの
となるようにするため、同じ構造の可変容量ダイオード
を同一のシリコン基板上に作成し、相互に必要な配線を
した素子を用いると小型にして目的とする効果が容易に
達成される。
なお、第1図、第11図および第12図において、符号
Rは可変容量ダイオードVCI、VC2に陰極の直流電
位を接地電位と同じにするための抵抗で、遅延線12の
信号源抵抗及び終端抵抗の一部となり、後述の電子制御
可変抵抗器13と並列に接続されている。また、符号C
は直流阻止用のコンデンサである。さらに、符号Tは高
周波トランスであり、その二次巻線の一端はコンデンサ
Cを介して電子制御可変抵抗器13に接続され、他端は
上記遅延線12に接続されている。従って、上記遅延線
12は、電子制御可変抵抗器13で定まる信号源抵抗を
有する定電圧信号源で駆動されることになる。
Rは可変容量ダイオードVCI、VC2に陰極の直流電
位を接地電位と同じにするための抵抗で、遅延線12の
信号源抵抗及び終端抵抗の一部となり、後述の電子制御
可変抵抗器13と並列に接続されている。また、符号C
は直流阻止用のコンデンサである。さらに、符号Tは高
周波トランスであり、その二次巻線の一端はコンデンサ
Cを介して電子制御可変抵抗器13に接続され、他端は
上記遅延線12に接続されている。従って、上記遅延線
12は、電子制御可変抵抗器13で定まる信号源抵抗を
有する定電圧信号源で駆動されることになる。
また、本発明の遅延線12は、可変容量ダイオードVC
I、VC2あるいはVCの逆電圧の大きさによりその容
量を変化させると、遅延時間と共に特性インピーダンス
も変化する。このことから、信号の入出力端でインピー
ダンスの不整合による反射が生じないように、信号源抵
抗と終端抵抗は、遅延時間の制御に対応して常に上記遅
延線12と整合するように変化させる必要がある。その
ため、上記信号源抵抗と終端抵抗の部分には、電気信号
により抵抗値が変化する電子制御可変抵抗器]−3がそ
れぞれ設けである。この電子制御可変抵抗器13は、第
2図に示すように、可変利得増幅器14の利得Gをその
制御電圧Vcgにより変えて、その入力抵抗を連続的に
変化させることができるものである。
I、VC2あるいはVCの逆電圧の大きさによりその容
量を変化させると、遅延時間と共に特性インピーダンス
も変化する。このことから、信号の入出力端でインピー
ダンスの不整合による反射が生じないように、信号源抵
抗と終端抵抗は、遅延時間の制御に対応して常に上記遅
延線12と整合するように変化させる必要がある。その
ため、上記信号源抵抗と終端抵抗の部分には、電気信号
により抵抗値が変化する電子制御可変抵抗器]−3がそ
れぞれ設けである。この電子制御可変抵抗器13は、第
2図に示すように、可変利得増幅器14の利得Gをその
制御電圧Vcgにより変えて、その入力抵抗を連続的に
変化させることができるものである。
以下に、この電子制御可変抵抗器13の動作を第2図を
参照して説明する。第2図の回路は、電圧利得Gが制御
電圧Vcgで制御できる可変利得増幅器14に一定抵抗
R1で帰還を施してその回路の抵抗値を可変としたもの
である。上記のような可変利得増幅器14は、よく用い
られているギルバードセルなどにより実現でき、制御電
圧Verと電圧利得Gは一定の関係にあり、周囲温度の
変化による利得Gの変動が小さく実用的である。ここで
、上記可変利得増幅器14の入力端15から見たインピ
ーダンスを求める。このとき、可変利得増幅器14の入
力インピーダンスは無限大で、出力インピーダンスは零
とし、入力端ISにおける入力電圧をE 1. n、電
流をi、出力端16における出力電圧をE。llt と
すると、次式が成り立つ。
参照して説明する。第2図の回路は、電圧利得Gが制御
電圧Vcgで制御できる可変利得増幅器14に一定抵抗
R1で帰還を施してその回路の抵抗値を可変としたもの
である。上記のような可変利得増幅器14は、よく用い
られているギルバードセルなどにより実現でき、制御電
圧Verと電圧利得Gは一定の関係にあり、周囲温度の
変化による利得Gの変動が小さく実用的である。ここで
、上記可変利得増幅器14の入力端15から見たインピ
ーダンスを求める。このとき、可変利得増幅器14の入
力インピーダンスは無限大で、出力インピーダンスは零
とし、入力端ISにおける入力電圧をE 1. n、電
流をi、出力端16における出力電圧をE。llt と
すると、次式が成り立つ。
E+n Ri−Eout=○ −(3
)E out = G−E in−(4)この第(3
)式と第(4)式からEouiを消去すると、E 1n
= 1 ・・・(5)
1+G となる。そして、この入力電圧E1..の式を電流iで
偏微分すると、入力端15から見たインピーダンスZ
t nは次式のようになる。
)E out = G−E in−(4)この第(3
)式と第(4)式からEouiを消去すると、E 1n
= 1 ・・・(5)
1+G となる。そして、この入力電圧E1..の式を電流iで
偏微分すると、入力端15から見たインピーダンスZ
t nは次式のようになる。
δ i 1+G
この第(6)式にかおいて利得Gを変えると、入力端1
5から見たインピーダンスZL11は変化することとな
る。すなわち、第2図に示す回路の入力端15と対地間
の抵抗は、制御電圧V c gにより制御可能となる。
5から見たインピーダンスZL11は変化することとな
る。すなわち、第2図に示す回路の入力端15と対地間
の抵抗は、制御電圧V c gにより制御可能となる。
例えば、利得GをOから4まで変化させると、入力端1
5におけるインピーダンスZ I nは、Rから0.2
Rまで変化することとなる。
5におけるインピーダンスZ I nは、Rから0.2
Rまで変化することとなる。
第8図は、第1図、第11図、第12図に示す遅延線1
2の関連発明としての超音波診断装置の実施例を示すブ
ロック図である。この超音波診断装置は、電子セクタ走
査形とされており、例えば短冊状に形成された複数の振
動子素子11.12゜・・・、1、が−列状に配列さ九
超音波を送受波する探触子2と、この探触子2の各振動
子素子11〜1nからの受波信号を入力し時間と共に利
得を増加させ検診深度に応じて信号強度を補正する複数
の可変利得増幅器17t、 172.・・・、17oと
、これら各可変利得増幅器171〜17.からの出力信
号に所定の遅延時間を与えて位相を揃え加算して出力す
る整相回路18と、この整相回路18で整相された信号
を検波する検波器6と、この検波器6からの出力信号を
画像として表示する表示装置7とを備えて成る。そいて
、上記整相回路18は、探触子2の各振動子素子11〜
1oで受波するエコー信号のチャンネル数の分だけ並列
に設けられ各可変利得増幅器171〜17nからの出力
信号に所定の遅延時間を与える複数の遅延回路19工。
2の関連発明としての超音波診断装置の実施例を示すブ
ロック図である。この超音波診断装置は、電子セクタ走
査形とされており、例えば短冊状に形成された複数の振
動子素子11.12゜・・・、1、が−列状に配列さ九
超音波を送受波する探触子2と、この探触子2の各振動
子素子11〜1nからの受波信号を入力し時間と共に利
得を増加させ検診深度に応じて信号強度を補正する複数
の可変利得増幅器17t、 172.・・・、17oと
、これら各可変利得増幅器171〜17.からの出力信
号に所定の遅延時間を与えて位相を揃え加算して出力す
る整相回路18と、この整相回路18で整相された信号
を検波する検波器6と、この検波器6からの出力信号を
画像として表示する表示装置7とを備えて成る。そいて
、上記整相回路18は、探触子2の各振動子素子11〜
1oで受波するエコー信号のチャンネル数の分だけ並列
に設けられ各可変利得増幅器171〜17nからの出力
信号に所定の遅延時間を与える複数の遅延回路19工。
192、・・・、19nと、これらの遅延回路191〜
19、の出力側にそれぞれ接続され各遅延回路191〜
19.からの出力信号の電圧を定電流信号源に変換する
電圧/電流変換回路201,202゜・・・、20□と
、nチャンネルの入力信%線及びmチャンネルの出力信
号線が図示のように交差しその交点にそれぞれアナログ
スイッチ21,21゜・が配設されたクロスポイントス
イッチ22と、このクロスポイントスイッチ22の出力
信号線に適宜の間隔でmチャンネル分設けたタップがそ
れぞれ接続されたタップ付LC遅延線23とから成る。
19、の出力側にそれぞれ接続され各遅延回路191〜
19.からの出力信号の電圧を定電流信号源に変換する
電圧/電流変換回路201,202゜・・・、20□と
、nチャンネルの入力信%線及びmチャンネルの出力信
号線が図示のように交差しその交点にそれぞれアナログ
スイッチ21,21゜・が配設されたクロスポイントス
イッチ22と、このクロスポイントスイッチ22の出力
信号線に適宜の間隔でmチャンネル分設けたタップがそ
れぞれ接続されたタップ付LC遅延線23とから成る。
なお、上記タップ付LC遅延線23の両端部に接続され
た抵抗Rは、該タップ付LC遅延線23に特性インピー
ダンスとインピーダンスマツチングをとった終端抵抗で
ある。また、前記可変利得増幅器171〜17□の動作
は、制御部24からの制御信号S1で制御されるように
なっている。
た抵抗Rは、該タップ付LC遅延線23に特性インピー
ダンスとインピーダンスマツチングをとった終端抵抗で
ある。また、前記可変利得増幅器171〜17□の動作
は、制御部24からの制御信号S1で制御されるように
なっている。
ここで、本実施例においては、上記整相回路18内の遅
延回路191〜19.、としては、第1図に示す回路構
成とされその制御端子に入力する制御電圧V 1 y
V 21 V cgにより遅延時間が連続的に変えられ
る遅延線12を備えた遅延回路が用いられている。この
遅延回路191〜19nは、制御部24からの制御信号
S23により、時間と共に超音波ビームの収束点を深い
所へ移動するようにその収束位置が制御されるようにな
っている。そして、上記タップ付LC遅延線23の終端
抵抗Rに現われる信号電圧は、上記各遅延回路191〜
19nにより適宜遅延を与えられた後、さらにクロスポ
イントスイッチ22により選択されたタップ位置に対応
した遅延時間に相当する遅延が与えられ、それぞれの信
号が加算される。従って、上記の遅延回路191〜19
Ilは、タップ付LC遅延線23のタップ間隔で決まる
遅延時間の分解能をさらに細分してその遅延時間の分解
能を上げるという役割も持っている。このとき、上記タ
ップ付LC遅延線23の遅延時間は、主に超音波ビーム
の偏向方向を設定するための役割を行うこととなる。な
お。
延回路191〜19.、としては、第1図に示す回路構
成とされその制御端子に入力する制御電圧V 1 y
V 21 V cgにより遅延時間が連続的に変えられ
る遅延線12を備えた遅延回路が用いられている。この
遅延回路191〜19nは、制御部24からの制御信号
S23により、時間と共に超音波ビームの収束点を深い
所へ移動するようにその収束位置が制御されるようにな
っている。そして、上記タップ付LC遅延線23の終端
抵抗Rに現われる信号電圧は、上記各遅延回路191〜
19nにより適宜遅延を与えられた後、さらにクロスポ
イントスイッチ22により選択されたタップ位置に対応
した遅延時間に相当する遅延が与えられ、それぞれの信
号が加算される。従って、上記の遅延回路191〜19
Ilは、タップ付LC遅延線23のタップ間隔で決まる
遅延時間の分解能をさらに細分してその遅延時間の分解
能を上げるという役割も持っている。このとき、上記タ
ップ付LC遅延線23の遅延時間は、主に超音波ビーム
の偏向方向を設定するための役割を行うこととなる。な
お。
上記遅延回路19+〜19nとタップ付LC遅延線23
との併用により、タップ付LC遅延線23のタップ間隔
はある程度粗にしても問題なく、クロスポイントスイッ
チ22のアナログスイッチ21の数を少なくすることが
できる。また、上記クロスポイントスイッチ22の動作
は、制御部24からの制御信号S8で制御されるように
なっている。
との併用により、タップ付LC遅延線23のタップ間隔
はある程度粗にしても問題なく、クロスポイントスイッ
チ22のアナログスイッチ21の数を少なくすることが
できる。また、上記クロスポイントスイッチ22の動作
は、制御部24からの制御信号S8で制御されるように
なっている。
さらに、上記の各遅延回路191〜19nは、必要に応
じて複数段を縦続接続したものを用いてもよい。
じて複数段を縦続接続したものを用いてもよい。
このような構成により、本実施例の電子セクタ走査形の
超音波診断装置においては、整相回路18内の各遅延回
路191〜19nがその制御端子への1系統の制御信号
S2の入力だけで遅延時間が連続的に変えられ、且つそ
の周波数−遅延時間の特性が優れているので、一系統の
整相回路18だけで超音波ビームの収束点を連続的に移
動するダイナミックフォーカスが高い超音波周波数にわ
たり高性能且つ小形で実現できる。
超音波診断装置においては、整相回路18内の各遅延回
路191〜19nがその制御端子への1系統の制御信号
S2の入力だけで遅延時間が連続的に変えられ、且つそ
の周波数−遅延時間の特性が優れているので、一系統の
整相回路18だけで超音波ビームの収束点を連続的に移
動するダイナミックフォーカスが高い超音波周波数にわ
たり高性能且つ小形で実現できる。
上記第8図に示す実施例は電子セクタ走査形の装置に本
発明の遅延回路を適用したものである力1、本発明の遅
延回路は電子リニア走査形の装置にも適用できる。
発明の遅延回路を適用したものである力1、本発明の遅
延回路は電子リニア走査形の装置にも適用できる。
本発明による遅延線(第1図、第11図および第12図
参照)は以上のように構成されたので、従来の可変型の
遅延線(第7図参照)より少なし1セクシヨン数で同じ
周波数遅延時間特性が得られる。従って、信号の伝送損
失が少ないと共に小形化した可変型の遅延線を実現する
ことができる。
参照)は以上のように構成されたので、従来の可変型の
遅延線(第7図参照)より少なし1セクシヨン数で同じ
周波数遅延時間特性が得られる。従って、信号の伝送損
失が少ないと共に小形化した可変型の遅延線を実現する
ことができる。
さらに、その制御端子へ1系統の電気信号(制御信号)
の入力だけで遅延時間を連続的に変化させることができ
る。
の入力だけで遅延時間を連続的に変化させることができ
る。
また、本発明による超音波診断装置(第8図参照)は以
上のように構成されたので、整相回路18内の遅延回路
191〜19nとして第1図、第11図あるいは第12
図に示す回路構成の遅延線12を備えた遅延回路を用い
ることにより、その制御端子に印加する電気信号だけで
遅延時間を連続的に変化させて所望の位置に超音波ビー
ムの収束点を移動することができる。従って、従来の整
相回路内の遅延線のようにノイズが発生することがない
ので、二系統の整相回路を設けて交互に使用する必要は
なく、一系統の整相回路(18)だけでダイナミックフ
ォーカスを実現することができる。このことから、回路
規模を小さくすることができ、装置を小形化できると共
にコスト低下を図ることができる。また、従来のような
二系統の整相回路からの信号を切り換えて表示するので
はなく、一系統の整相回路からの信号をそのまま表示装
置7に表示するだけであるので、画像に明暗の段差が発
生することなく、均一な画質の画像が得られ、診断をや
り易くすることができる。
上のように構成されたので、整相回路18内の遅延回路
191〜19nとして第1図、第11図あるいは第12
図に示す回路構成の遅延線12を備えた遅延回路を用い
ることにより、その制御端子に印加する電気信号だけで
遅延時間を連続的に変化させて所望の位置に超音波ビー
ムの収束点を移動することができる。従って、従来の整
相回路内の遅延線のようにノイズが発生することがない
ので、二系統の整相回路を設けて交互に使用する必要は
なく、一系統の整相回路(18)だけでダイナミックフ
ォーカスを実現することができる。このことから、回路
規模を小さくすることができ、装置を小形化できると共
にコスト低下を図ることができる。また、従来のような
二系統の整相回路からの信号を切り換えて表示するので
はなく、一系統の整相回路からの信号をそのまま表示装
置7に表示するだけであるので、画像に明暗の段差が発
生することなく、均一な画質の画像が得られ、診断をや
り易くすることができる。
第1図は本発明の一実施例による遅延線の回路図、第2
図は第1図中の電子制御可変抵抗器の内部構成を示す回
路図、第3図乃至第7図及び第9図、第10図は本発明
を創作するに至った思考過程を説明するための従来技術
の回路図及びグラフ、第8図は第1図に示す遅延線を組
み込んだ関連発明としての超音波診断装置の一実施例の
構成を示すブロック図、第11図及び第12図は本発明
の遅延線のその他の実施例の回路図、第13図は従来の
超音波診断装置の構成を示すブロック図である。 1・・・振動子素子、2・・・探触子、6・・・検波器
、7表示装置、12・・・遅延線、171〜17・・・
可変利得増幅器、18・・・整相回路、191〜19n
・・・遅延回路、24−・・制御部、V C、V Cl
、 V C2・・可変容量ダイオード、V 、 Vi
、 V2. Vcg・−fI’N&aE圧、第3図 箒4図 箒 図 第乙図 第7圓 q 困 茶 固
図は第1図中の電子制御可変抵抗器の内部構成を示す回
路図、第3図乃至第7図及び第9図、第10図は本発明
を創作するに至った思考過程を説明するための従来技術
の回路図及びグラフ、第8図は第1図に示す遅延線を組
み込んだ関連発明としての超音波診断装置の一実施例の
構成を示すブロック図、第11図及び第12図は本発明
の遅延線のその他の実施例の回路図、第13図は従来の
超音波診断装置の構成を示すブロック図である。 1・・・振動子素子、2・・・探触子、6・・・検波器
、7表示装置、12・・・遅延線、171〜17・・・
可変利得増幅器、18・・・整相回路、191〜19n
・・・遅延回路、24−・・制御部、V C、V Cl
、 V C2・・可変容量ダイオード、V 、 Vi
、 V2. Vcg・−fI’N&aE圧、第3図 箒4図 箒 図 第乙図 第7圓 q 困 茶 固
Claims (4)
- 1.集中定数インダクタとキヤパシタとを備えて成る二
次のオールパス形遅延線における二種のキヤパシタを、
逆電圧の変化率に対し静電容量の変化率が同じ可変容量
ダイオードで構成したことを特徴とする遅延線。 - 2.上記1項記載の遅延線におけるキヤパシタとして、
逆電圧の変化に対する静電容量の変化特性が同じ一種類
の可変容量ダイオードを複数個組合せた構成としたこと
を特徴とする遅延線。 - 3.複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探
触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に所
定の遅延時間を与える遅延線を有しこれらの遅延線で位
相が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回路と
、この整相回路で整相された信号を検波する検波器と、
この検波器からの出力信号を画像として表示する表示装
置とを備えて成る超音波診断装置において、上記整相回
路内の遅延線として、上記請求項1に記載の遅延線を用
いたことを特徴とする超音波診断装置。 - 4.複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探
触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に所
定の遅延時間を与える遅延線を有しこれらの遅延線で位
相が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回路と
、この整相回路で整相された信号を検波する検波器と、
この検波器からの出力信号を画像として表示する表示装
置とを備えて成る超音波診断装置において、上記整相回
路内の遅延線として、上記請求項2に記載の遅延線を用
いたことを特徴とする超音波診断装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2228141A JPH04110686A (ja) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | 遅延線とこれを用いた超音波診断装置 |
| US07/727,053 US5146192A (en) | 1990-07-06 | 1991-07-08 | Delay circuit of ultrasonic diagnostic apparatus using delay line comprising variable capacitance diode and inductor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2228141A JPH04110686A (ja) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | 遅延線とこれを用いた超音波診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04110686A true JPH04110686A (ja) | 1992-04-13 |
Family
ID=16871865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2228141A Pending JPH04110686A (ja) | 1990-07-06 | 1990-08-31 | 遅延線とこれを用いた超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04110686A (ja) |
-
1990
- 1990-08-31 JP JP2228141A patent/JPH04110686A/ja active Pending
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