JPH046900B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH046900B2 JPH046900B2 JP57077746A JP7774682A JPH046900B2 JP H046900 B2 JPH046900 B2 JP H046900B2 JP 57077746 A JP57077746 A JP 57077746A JP 7774682 A JP7774682 A JP 7774682A JP H046900 B2 JPH046900 B2 JP H046900B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- abnormal signal
- frame
- signal
- container
- photographed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
- G01N21/9027—Dirt detection in containers in containers after filling
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0078—Testing material properties on manufactured objects
- G01N33/0081—Containers; Packages; Bottles
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、透明又は半透明の液体充填密封容器
の不良品自動検査方法に関し、更に詳しくは、例
えば薬液を封入したアンプルまたはバイエル中の
異物の有無をテレビカメラを用いて自動的に検査
する方法に関する。
の不良品自動検査方法に関し、更に詳しくは、例
えば薬液を封入したアンプルまたはバイエル中の
異物の有無をテレビカメラを用いて自動的に検査
する方法に関する。
従来の技術及び発明が解決しようとする課題
従来から、アンプル等の被検査物をテレビカメ
ラの視野内に位置させることによつて検査する方
法は既に行われている。しかしながら、この種の
従来の検査方法では、密封した容器中に充填せる
液体含有物に含む異物と共に容器自体に持つキズ
をも区別することなく、それらの存在を全く同一
にみてテレビカメラで異常電圧信号として取らえ
ている。そのため、検出すべき液体含有物に含む
異物が微少になればなる程、容器の表面に持つ微
細キズが混同されてこれらが同時に検出されるこ
ととなる。この場合、液体含有物に含む異物の検
出精度が悪くなり、時には液体含有物に異物を含
まない容器でも、その容器の表面に微細キズがあ
る場合には、液体含有物に異物があるものとして
検出され、正常なものではないとして区別される
こととなる。その結果、検査の不良率が異常に大
きくなる等の不具合が生じていた。
ラの視野内に位置させることによつて検査する方
法は既に行われている。しかしながら、この種の
従来の検査方法では、密封した容器中に充填せる
液体含有物に含む異物と共に容器自体に持つキズ
をも区別することなく、それらの存在を全く同一
にみてテレビカメラで異常電圧信号として取らえ
ている。そのため、検出すべき液体含有物に含む
異物が微少になればなる程、容器の表面に持つ微
細キズが混同されてこれらが同時に検出されるこ
ととなる。この場合、液体含有物に含む異物の検
出精度が悪くなり、時には液体含有物に異物を含
まない容器でも、その容器の表面に微細キズがあ
る場合には、液体含有物に異物があるものとして
検出され、正常なものではないとして区別される
こととなる。その結果、検査の不良率が異常に大
きくなる等の不具合が生じていた。
本発明は上記従来の欠点を除去すべく、微細キ
ズを持つ密封した透明容器中に充填せる液体含有
物に含む微少異物の存在を検査する場合に、誤認
混同され易い容器の微細キズと、検出すべき液体
の微少異物とを区別して、液体に含有される微少
異物のみをより高い精度で確実に検出することが
できるようにした透明又は半透明の密封容器の充
填液体に含む微少異物の存在検査方法を新規に提
供することを目的とするものである。
ズを持つ密封した透明容器中に充填せる液体含有
物に含む微少異物の存在を検査する場合に、誤認
混同され易い容器の微細キズと、検出すべき液体
の微少異物とを区別して、液体に含有される微少
異物のみをより高い精度で確実に検出することが
できるようにした透明又は半透明の密封容器の充
填液体に含む微少異物の存在検査方法を新規に提
供することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
上記した目的を達成するため、本発明は、微細
キズを持つ密封した容器中に充填せる液体含有物
に含む微少異物の存在を検査する方法において、 容器中の液体含有物を旋回させ乍ら、該容器を
検査区域の固定位置に設けたテレビカメラの前方
を大略一定速度で通過させながら、該テレビカメ
ラで一定間隔をおいて上記容器の少くとも3位置
以上の位置で順次容器を走査して、検査マスク範
囲内の各撮影コマの映像信号をとらえ、 上記各映像信号から、液体含有物に含まれる微
少異物を検出するに十分な低感動のレベルを基準
として第1異常信号を取り出すと同時に、容器の
微細キズを検出するに十分で上記レベルよりも一
段と高い高感度のレベルを基準として第2異常信
号を取り出し、 上記撮影コマのうちで最も多くの第2異常信号
を持つ撮影コマを特定の撮影コマとし、該特定の
撮影コマの第2異常信号と、全ての撮影コマの第
1異常信号とを比較して、第1異常信号が第2異
常信号と撮影コマの中で異なる領域にあるとき
は、当該第1異常信号をして液体含有物中に微少
異物が有ると判定するようにしたことを特徴とす
る密封容器充填液体に含む微少異物の存在検査方
法を提供するものである。
キズを持つ密封した容器中に充填せる液体含有物
に含む微少異物の存在を検査する方法において、 容器中の液体含有物を旋回させ乍ら、該容器を
検査区域の固定位置に設けたテレビカメラの前方
を大略一定速度で通過させながら、該テレビカメ
ラで一定間隔をおいて上記容器の少くとも3位置
以上の位置で順次容器を走査して、検査マスク範
囲内の各撮影コマの映像信号をとらえ、 上記各映像信号から、液体含有物に含まれる微
少異物を検出するに十分な低感動のレベルを基準
として第1異常信号を取り出すと同時に、容器の
微細キズを検出するに十分で上記レベルよりも一
段と高い高感度のレベルを基準として第2異常信
号を取り出し、 上記撮影コマのうちで最も多くの第2異常信号
を持つ撮影コマを特定の撮影コマとし、該特定の
撮影コマの第2異常信号と、全ての撮影コマの第
1異常信号とを比較して、第1異常信号が第2異
常信号と撮影コマの中で異なる領域にあるとき
は、当該第1異常信号をして液体含有物中に微少
異物が有ると判定するようにしたことを特徴とす
る密封容器充填液体に含む微少異物の存在検査方
法を提供するものである。
さらに、本発明は、上記特定の撮影コマとし
て、最も多くも第2異常信号をもつ撮影コマに代
えて、全ての撮影コマから任意に選定した1枚の
撮影コマを特定の撮影コマとし、あるいは任意に
選定した2以上の撮影コマの合成コマを特定の撮
影コマとし、この特定の撮影コマに含まれる第2
異常信号の領域を基準として、全ての撮影コマの
第1異常信号の領域を比較し、上記合成され第2
異常信号の領域外に第1異常信号が有る場合に、
液体含有物中に微少異物が有ると判定するように
している。
て、最も多くも第2異常信号をもつ撮影コマに代
えて、全ての撮影コマから任意に選定した1枚の
撮影コマを特定の撮影コマとし、あるいは任意に
選定した2以上の撮影コマの合成コマを特定の撮
影コマとし、この特定の撮影コマに含まれる第2
異常信号の領域を基準として、全ての撮影コマの
第1異常信号の領域を比較し、上記合成され第2
異常信号の領域外に第1異常信号が有る場合に、
液体含有物中に微少異物が有ると判定するように
している。
実施例
以下、本発明を図面に示す実施例により詳細に
説明する。
説明する。
第1図は、アンプルの検査装置を示し、薬液を
封入してその中の異物の存在が検査されるアンプ
ルAが、フイーダー1から供給スターホイール2
を介してその供給位置から回転円盤3の円周周辺
に等間隔で設けたアンプルホルダー4の上に順次
1個づつ供給される。回転円盤3は等角速度で連
続して低速度で時計方向に回転される一方、その
一定の半径上に設けたアンプルホルダー4が、特
定の回転位置で、そのホルダーを中心に回転装置
5により高速度に回転され、アンプルA中の薬液
に旋回が与えられる。アンプルAが検査区域内に
入るとアンプルホルダー4の回転が停止されてア
ンプルAがアンプルホルダー4上にみかけ上固定
されるが、アンプルA中の薬液は慣性で旋回を続
けて検査区域中を通過する。検査区域の中央で、
回転円盤の前方の一定位置にテレビカメラ6と照
明ランプ7が備えられて、該照明ランプ7で照明
したアンプルAの全体がテレビカメラ6で撮えら
れるようにする。テレビカメラ6の画面は十分大
きくて、アンプルAが回転円盤と共に検査区域内
を移動する間に一定間隔をおいて少くとも3位置
以上の位置でアンプル全体が撮影されるようにし
ている。たとえば一つのアンブルAが検査区域内
に入つた初期位置から回転円盤と共に移動して検
査区域外に出る前の最終位置までの一定距離の間
で等間隔の12の位置で夫々アンプル全体の映像を
テレビカメラにより撮影して、合計12コマの撮影
した映像信号を得るようにいている。
封入してその中の異物の存在が検査されるアンプ
ルAが、フイーダー1から供給スターホイール2
を介してその供給位置から回転円盤3の円周周辺
に等間隔で設けたアンプルホルダー4の上に順次
1個づつ供給される。回転円盤3は等角速度で連
続して低速度で時計方向に回転される一方、その
一定の半径上に設けたアンプルホルダー4が、特
定の回転位置で、そのホルダーを中心に回転装置
5により高速度に回転され、アンプルA中の薬液
に旋回が与えられる。アンプルAが検査区域内に
入るとアンプルホルダー4の回転が停止されてア
ンプルAがアンプルホルダー4上にみかけ上固定
されるが、アンプルA中の薬液は慣性で旋回を続
けて検査区域中を通過する。検査区域の中央で、
回転円盤の前方の一定位置にテレビカメラ6と照
明ランプ7が備えられて、該照明ランプ7で照明
したアンプルAの全体がテレビカメラ6で撮えら
れるようにする。テレビカメラ6の画面は十分大
きくて、アンプルAが回転円盤と共に検査区域内
を移動する間に一定間隔をおいて少くとも3位置
以上の位置でアンプル全体が撮影されるようにし
ている。たとえば一つのアンブルAが検査区域内
に入つた初期位置から回転円盤と共に移動して検
査区域外に出る前の最終位置までの一定距離の間
で等間隔の12の位置で夫々アンプル全体の映像を
テレビカメラにより撮影して、合計12コマの撮影
した映像信号を得るようにいている。
アンプルが検査区域内に入つた時、照明装置7
により夫々の撮影位置でアンプル全体が大略均一
に照明されて、アンプルAの映像がテレビカメラ
6で取らえられる。テレビカメラ6は各位置での
アンプルAの映像を取らえて、その映像信号を制
御回路11に出力している。制御回路11では下
記に詳記する如き手順でテレビカメラの映像信号
から照明で浮き出されるようになる。薬液に含む
異物の有無を判別し、異物が存在した場合に発生
する異常信号を検出してアンプルの排除機構8へ
送る。排除機構8では電磁装置(図示せず)によ
り制御回路11から異常信号を受けた時にそれに
対応するアンプルAを通常の良品の通路9から排
除して、不良品として不良品受け10へ取り出す
ようにしている。
により夫々の撮影位置でアンプル全体が大略均一
に照明されて、アンプルAの映像がテレビカメラ
6で取らえられる。テレビカメラ6は各位置での
アンプルAの映像を取らえて、その映像信号を制
御回路11に出力している。制御回路11では下
記に詳記する如き手順でテレビカメラの映像信号
から照明で浮き出されるようになる。薬液に含む
異物の有無を判別し、異物が存在した場合に発生
する異常信号を検出してアンプルの排除機構8へ
送る。排除機構8では電磁装置(図示せず)によ
り制御回路11から異常信号を受けた時にそれに
対応するアンプルAを通常の良品の通路9から排
除して、不良品として不良品受け10へ取り出す
ようにしている。
上記制御回路11による検査方法を第2図を参
照して概略的に説明すると、第2図に示す如
く、1回の検査範囲L内で検査すべきアンプルA
を、該アンプルAの検査マスク20の範囲で12個
の連続した撮影コマの画面として取り出している
(第2図−1)上記12個の各撮影コマ12の画
面、即ち、検査マスク20の範囲の映像信号(走
査線)13を第2図に示すように連続した上下
5本(NO1〜NO5)の走査線を1組として、検
査マスク20の内部をI行、行……と40行のブ
ロツクに分ける一方、左右方向には16列に区切
り、各行の各列に1つを番地指定するようにして
いる。よつて、本実施例では1番地から640番地
に検査マスク20(各撮影コマ)の内部が縦横に
区切られることとなる。この640個の番地毎に後
述するクリツプ回路の特定の感度レベルで異常信
号をとらえるようにしている。異常信号は、第2
図−2および−3に示すように、各映像信号
(走査線)13から微少異物を検出するに十分な
低感度のレベルGLを基準として取り出される第
1異常信号X1と、微細キズを除去するために上
記レベルよりも一段と高い高感度のレベルGHを
基準として取り出される第2異常信号X2とから
なる。上記異常信号X1,X2は夫々第2図−1
に示すように、各走査線で0,1信号で取り出し
たものを連続した5本の走査線毎に圧縮して取り
出し、第2図−2に示すように各番地の異常信
号X1、第2異常信号X2の有無を検出している。
照して概略的に説明すると、第2図に示す如
く、1回の検査範囲L内で検査すべきアンプルA
を、該アンプルAの検査マスク20の範囲で12個
の連続した撮影コマの画面として取り出している
(第2図−1)上記12個の各撮影コマ12の画
面、即ち、検査マスク20の範囲の映像信号(走
査線)13を第2図に示すように連続した上下
5本(NO1〜NO5)の走査線を1組として、検
査マスク20の内部をI行、行……と40行のブ
ロツクに分ける一方、左右方向には16列に区切
り、各行の各列に1つを番地指定するようにして
いる。よつて、本実施例では1番地から640番地
に検査マスク20(各撮影コマ)の内部が縦横に
区切られることとなる。この640個の番地毎に後
述するクリツプ回路の特定の感度レベルで異常信
号をとらえるようにしている。異常信号は、第2
図−2および−3に示すように、各映像信号
(走査線)13から微少異物を検出するに十分な
低感度のレベルGLを基準として取り出される第
1異常信号X1と、微細キズを除去するために上
記レベルよりも一段と高い高感度のレベルGHを
基準として取り出される第2異常信号X2とから
なる。上記異常信号X1,X2は夫々第2図−1
に示すように、各走査線で0,1信号で取り出し
たものを連続した5本の走査線毎に圧縮して取り
出し、第2図−2に示すように各番地の異常信
号X1、第2異常信号X2の有無を検出している。
上記したように、各番地の異常信号X1,X2を
検出する撮影コマ12として第2図4に示すよう
に12枚をメモリしている。
検出する撮影コマ12として第2図4に示すよう
に12枚をメモリしている。
上記のメモリされた12枚の撮影コマ12のうち
から、第2図に示すように、特定の撮影コマ1
2Mを選定し、該特定の撮影コマ12Mにおける
第2異常信号X2と、全ての12枚の撮影コマ12
の映像信号における第1異常信号X1を比較して、
第1異常信号X1が特定の撮影コマ12Mの第2
異常信号X2と撮影コマの異なる領域にあるとき
は、当該第1異常信号X1′を取り出してアンプル
A内の液体中に微少異物が混入していると判定
し、当該アンプルAを排除する処置を行なう信号
を出力するようにしている。
から、第2図に示すように、特定の撮影コマ1
2Mを選定し、該特定の撮影コマ12Mにおける
第2異常信号X2と、全ての12枚の撮影コマ12
の映像信号における第1異常信号X1を比較して、
第1異常信号X1が特定の撮影コマ12Mの第2
異常信号X2と撮影コマの異なる領域にあるとき
は、当該第1異常信号X1′を取り出してアンプル
A内の液体中に微少異物が混入していると判定
し、当該アンプルAを排除する処置を行なう信号
を出力するようにしている。
尚、上記比較基準となる第2異常信号X2を有
する特定の撮影コマ12Mは、12枚の全撮影コマ
のうちで、最も多くの第2異常信号X2を有する
撮影コマあるいは、任意に選定した1枚あるいは
2枚以上の撮影コマを合成したもののいずれでも
良い。
する特定の撮影コマ12Mは、12枚の全撮影コマ
のうちで、最も多くの第2異常信号X2を有する
撮影コマあるいは、任意に選定した1枚あるいは
2枚以上の撮影コマを合成したもののいずれでも
良い。
上記検査を行うための制御回路11としては、
種々の構成が考えられるが、その第1実施例を第
3図のブロツク図および第4図のフローチヤート
に示す。第5図は第4図のフローチヤートに基づ
いて各撮影コマ12を順次処理した一例の展開を
示す。
種々の構成が考えられるが、その第1実施例を第
3図のブロツク図および第4図のフローチヤート
に示す。第5図は第4図のフローチヤートに基づ
いて各撮影コマ12を順次処理した一例の展開を
示す。
第3図に示す制御回路11では、従来周知の如
く発振器21で得られるクロツクパルスを分週器
よりなる周期信号回路22を介して垂直周期信号
(VS)と水平周期信号(HS)を発生して、それ
らをテレビカメラ6に送ると同時に、該テレビカ
メラ6の映像画面からアンプルの映像を上下左右
を区劃した検査マスク20の範囲で取り出すため
の電気マスク回路23、及び各回路における動作
の制御タイミングを一致させるように周期をとる
制御装置24へ送られる。電気マスク回路23と
制御装置24における初期タイミングはアンプル
Aがテレビカメラ6の特定位置に撮し出されるの
と同期してアンプルAの位置を検出する位置検出
器25の検出信号で行う。電気マスク回路23は
左右領域内で一定巾の各番地の列指示をする列番
地回路と、上下領域内で一定巾の各番地の行指示
をする行番地回路よりなり、それらの番地信号は
クリツプ回路26,27及びシフトレジスター制
御回路28を介してシフトレジスター回路29,
30と、ラツチ回路31,32と、制御装置24
へ送られる。スリツプ回路は、一対の高感度クリ
ツプ回路26と低感度クリツプ回路7を備え、高
感度クリツプ回路26は、それと直列に順次シフ
トレジスター回路29とラツチ回路31と、記憶
回路33と、最大判定回路35と、マスター記憶
回路36に接続する一方、低感度クリツプ回路2
7は、それと直列に順次シフトレジスター回路3
0と、ラツチ回路32と、記憶回路34接続し
て、最後に両者を共に比較回路37へ接続してい
る。さらに、該比較回路37はそれと直列に不良
品判定回路38と排除機構8が接続される。
く発振器21で得られるクロツクパルスを分週器
よりなる周期信号回路22を介して垂直周期信号
(VS)と水平周期信号(HS)を発生して、それ
らをテレビカメラ6に送ると同時に、該テレビカ
メラ6の映像画面からアンプルの映像を上下左右
を区劃した検査マスク20の範囲で取り出すため
の電気マスク回路23、及び各回路における動作
の制御タイミングを一致させるように周期をとる
制御装置24へ送られる。電気マスク回路23と
制御装置24における初期タイミングはアンプル
Aがテレビカメラ6の特定位置に撮し出されるの
と同期してアンプルAの位置を検出する位置検出
器25の検出信号で行う。電気マスク回路23は
左右領域内で一定巾の各番地の列指示をする列番
地回路と、上下領域内で一定巾の各番地の行指示
をする行番地回路よりなり、それらの番地信号は
クリツプ回路26,27及びシフトレジスター制
御回路28を介してシフトレジスター回路29,
30と、ラツチ回路31,32と、制御装置24
へ送られる。スリツプ回路は、一対の高感度クリ
ツプ回路26と低感度クリツプ回路7を備え、高
感度クリツプ回路26は、それと直列に順次シフ
トレジスター回路29とラツチ回路31と、記憶
回路33と、最大判定回路35と、マスター記憶
回路36に接続する一方、低感度クリツプ回路2
7は、それと直列に順次シフトレジスター回路3
0と、ラツチ回路32と、記憶回路34接続し
て、最後に両者を共に比較回路37へ接続してい
る。さらに、該比較回路37はそれと直列に不良
品判定回路38と排除機構8が接続される。
上記第2図に示す如く、テレビカメラ6から取
り出されるアンプルの映像信号は、第2図−
2,3に示すように、クリツプ回路26,27で
テレビカメラ6の映像画面に写る光学的異常信号
を予め設定した高感度と低感度の一定の基準
GH,GLで電気信号としてとらえて、この各行
毎へ各列における異常信号をシフトレジスター回
路29,30で各番地毎にシフトし、ラツチ回路
31,32で順次ラツチしながら記憶回路33,
34で記憶させる。低感度クリツプ回路27はア
ンプルの映像信号からアンプル液の中に含まれる
異物を検出する最低の基準GLとして低感度のク
リツプレベルを持つもので、このレベル以下の映
像信号が来る時は出力は0となり、このレベル以
上の映像信号が入る時は出力は1となる。高感度
クリツプ回路26はアンプルの映像信号からアン
プルが持つキズが動いてもキヤンセルし得る範囲
内の高感度のクリツプレベルGH、たとえばテレ
ビカメラ6の絞りの感度でみて上記低感度のクリ
ツプレベルGLより1絞り分だけ感度を上げた、
上記低感度のクリツプレベルより約2倍位の高感
度のクリツプレベルを持つもので、このレベル以
下の映像信号が来る時は出力は0となり、このレ
ベル以上の映像信号が入る時は出力は1となる。
したがつて、テレビカメラ6からとり出されるア
ンプルの映像信号は第2図−1に示すように、
低感度クリツプ回路27の低感度クリツプレベル
GLで各番地毎に、0,1の信号に処理されると
同時に、高感度クリツプ回路26の高感度クリツ
プレベルGHで0,1の信号に処理されてとり出
される。このように低感度クリツプ回路27と高
感度クリツプ回路26でとり出される信号は、
夫々対応して備えるシフトレジスター回路29,
30で各番地毎に順次シフトしながら各ラツチ回
路31,32でラツチして、それらの信号を各撮
影コマについて行列の番地毎に0,1信号として
記憶回路33,34で記憶する。したがつて、記
憶回路33,34には、全撮影コマ12について
各撮影コマ毎の行列番地における0,1信号を記
憶する。たとえば、記憶回路33には第2図−
2に示す如き行列に一連の0,1信号として記憶
される。
り出されるアンプルの映像信号は、第2図−
2,3に示すように、クリツプ回路26,27で
テレビカメラ6の映像画面に写る光学的異常信号
を予め設定した高感度と低感度の一定の基準
GH,GLで電気信号としてとらえて、この各行
毎へ各列における異常信号をシフトレジスター回
路29,30で各番地毎にシフトし、ラツチ回路
31,32で順次ラツチしながら記憶回路33,
34で記憶させる。低感度クリツプ回路27はア
ンプルの映像信号からアンプル液の中に含まれる
異物を検出する最低の基準GLとして低感度のク
リツプレベルを持つもので、このレベル以下の映
像信号が来る時は出力は0となり、このレベル以
上の映像信号が入る時は出力は1となる。高感度
クリツプ回路26はアンプルの映像信号からアン
プルが持つキズが動いてもキヤンセルし得る範囲
内の高感度のクリツプレベルGH、たとえばテレ
ビカメラ6の絞りの感度でみて上記低感度のクリ
ツプレベルGLより1絞り分だけ感度を上げた、
上記低感度のクリツプレベルより約2倍位の高感
度のクリツプレベルを持つもので、このレベル以
下の映像信号が来る時は出力は0となり、このレ
ベル以上の映像信号が入る時は出力は1となる。
したがつて、テレビカメラ6からとり出されるア
ンプルの映像信号は第2図−1に示すように、
低感度クリツプ回路27の低感度クリツプレベル
GLで各番地毎に、0,1の信号に処理されると
同時に、高感度クリツプ回路26の高感度クリツ
プレベルGHで0,1の信号に処理されてとり出
される。このように低感度クリツプ回路27と高
感度クリツプ回路26でとり出される信号は、
夫々対応して備えるシフトレジスター回路29,
30で各番地毎に順次シフトしながら各ラツチ回
路31,32でラツチして、それらの信号を各撮
影コマについて行列の番地毎に0,1信号として
記憶回路33,34で記憶する。したがつて、記
憶回路33,34には、全撮影コマ12について
各撮影コマ毎の行列番地における0,1信号を記
憶する。たとえば、記憶回路33には第2図−
2に示す如き行列に一連の0,1信号として記憶
される。
上記した異常信号X1,X2と容器のキズおよび
液体中の異物との関係は、第5図に示す通りであ
り、例えば、仮に、第5図Aに示す位置に高感
度クリツプ回路26で検出され得る容器キズがあ
ると共に、第5図Bに示す位置に高感度クリツ
プ回路26で検出され得る異物がある場合、第5
図Cに示す撮影コマには第2異常信号X2が斜
線で示す実線枠の領域内で得られる。同様に低感
度クリツプ回路27で検出され得る容器キズが第
5図Dに示す位置にあると共に液体中の異物が
第5図Eに示す位置にある場合、第5図Fに示
す撮影コマには第1異常信号X1が実線枠で囲
まれる領域内で得られる。
液体中の異物との関係は、第5図に示す通りであ
り、例えば、仮に、第5図Aに示す位置に高感
度クリツプ回路26で検出され得る容器キズがあ
ると共に、第5図Bに示す位置に高感度クリツ
プ回路26で検出され得る異物がある場合、第5
図Cに示す撮影コマには第2異常信号X2が斜
線で示す実線枠の領域内で得られる。同様に低感
度クリツプ回路27で検出され得る容器キズが第
5図Dに示す位置にあると共に液体中の異物が
第5図Eに示す位置にある場合、第5図Fに示
す撮影コマには第1異常信号X1が実線枠で囲
まれる領域内で得られる。
他の撮影コマ〜でも同様で、高感度クリツ
プ回路26により第5図Cで示すように、各撮影
コマ内で斜線で示す枠内で第2異常信号X2がえ
られると共に、第5図Fに示す実線枠内の領域で
第1異常信号X1が得られる。尚、第5図A,B
および第5図D,Eは高感度および低感度で検出
され得る実際の容器のキズの位置および異物の位
置を示すものである。
プ回路26により第5図Cで示すように、各撮影
コマ内で斜線で示す枠内で第2異常信号X2がえ
られると共に、第5図Fに示す実線枠内の領域で
第1異常信号X1が得られる。尚、第5図A,B
および第5図D,Eは高感度および低感度で検出
され得る実際の容器のキズの位置および異物の位
置を示すものである。
高感度クリツプ回路26に接続された記憶回路
33の全撮影コマ〜の0,1信号は、次の最
大判定回路35へ送られ、該最大判定回路35で
各撮影コマの0,1信号を相互に比較して全撮影
コマの中で1信号が最も多い、いいかえると第5
図Cの〜の撮影コマのうちで第2異常信号
X2の枠の面積(斜線面積)が最大の撮影コマ、
即ち第5図Cの撮影コマを1つ選出して、該特
定の撮影コマの第2異常信号X2の位置をマスタ
ー記憶回路36に記憶する。このようにしてマス
ター記憶回路36で記憶された最大数の第2異常
信号X2を持つ特定の撮影コマ12Mにおける行
列毎の一連の0,1信号が比較回路37にとり出
される。この比較回路37において、これに入力
される低感度クリツプ回路27を通した全撮影コ
マにおける行列毎の一連の第1異常信号X1と、
上記マスター記憶回路36で記憶されている特定
撮影コマにおける行列毎の一連の0,1信号とが
順次比較される。即ち、第5図F〜に示すよ
うに、実線枠で示す第1異常信号X1の領域と、
斜線を点線枠で囲んだ特定撮影コマの第2異常信
号X2の領域とを比較して、行列毎の0,1信号
を比較し、もし第2異常信号X2の領域外に第1
異常信号X1が1つでも存在する場合(第5図F
中に黒く塗りつぶした部分が存在する場合)に
は、液体中に異物が有ると判定している。この異
物判定が不良品判定回路38へ出力が出され、排
除機構8の電磁装置で該当するアンプルAが不良
品として良品の通路9から不良品受け10へ取り
出される。
33の全撮影コマ〜の0,1信号は、次の最
大判定回路35へ送られ、該最大判定回路35で
各撮影コマの0,1信号を相互に比較して全撮影
コマの中で1信号が最も多い、いいかえると第5
図Cの〜の撮影コマのうちで第2異常信号
X2の枠の面積(斜線面積)が最大の撮影コマ、
即ち第5図Cの撮影コマを1つ選出して、該特
定の撮影コマの第2異常信号X2の位置をマスタ
ー記憶回路36に記憶する。このようにしてマス
ター記憶回路36で記憶された最大数の第2異常
信号X2を持つ特定の撮影コマ12Mにおける行
列毎の一連の0,1信号が比較回路37にとり出
される。この比較回路37において、これに入力
される低感度クリツプ回路27を通した全撮影コ
マにおける行列毎の一連の第1異常信号X1と、
上記マスター記憶回路36で記憶されている特定
撮影コマにおける行列毎の一連の0,1信号とが
順次比較される。即ち、第5図F〜に示すよ
うに、実線枠で示す第1異常信号X1の領域と、
斜線を点線枠で囲んだ特定撮影コマの第2異常信
号X2の領域とを比較して、行列毎の0,1信号
を比較し、もし第2異常信号X2の領域外に第1
異常信号X1が1つでも存在する場合(第5図F
中に黒く塗りつぶした部分が存在する場合)に
は、液体中に異物が有ると判定している。この異
物判定が不良品判定回路38へ出力が出され、排
除機構8の電磁装置で該当するアンプルAが不良
品として良品の通路9から不良品受け10へ取り
出される。
次に、上記の如き第3図の制御回路11の動作
を第4図,,,のフローチヤートに従つ
て一連の流れとして説明する。なお、第3図乃
至中乃至は夫々の接続点を示す。
を第4図,,,のフローチヤートに従つ
て一連の流れとして説明する。なお、第3図乃
至中乃至は夫々の接続点を示す。
先づで電源(START)をONして動作を開
始し、始めにの位置検出器(PD)で検査すべ
きアンプルの初期位置を検出する。次にで電気
マスク係数(nv)、水平周期信号係数(nh)、電
気マスク行番係数(nl)、電気マスク行目及び列
番の係数Mの初期条件を設定する。この場合、ア
ンプルAは一時的に回転させられてのち回転円盤
上に定置されて、アンプルAのケース自体は一定
位置に停止するが、アンプル内の薬液は慣性によ
り旋回を続けている。したがつて、もしケースに
微細キズがあり、薬液に微少異物が存在すれば、
キズは回転円盤3と一体的に回転する一方、異物
はアンプルA内を自在に変位して瞬時も止まるこ
とがない。の垂直同期信号(vs)で順次撮影す
べき撮影コマの行列の番地の寸法を決めて、で
当該撮影コマに応じた垂直電気マスクの各位置信
号(VP)を決める一方、同様にの水平同期信
号(HS)で、撮影コマの行列の番地の寸法を決
めて、で当該撮影コマに応じた水平電気マスク
の各位置信号(HP)を決める。したがつて、
ととで検査マスク20(撮影コマ12)の撮影
範囲と行列で指定される各番地毎の撮影位置が決
まることになる。次に、予めのクリツプに上記
検査マスク20の中でアンプルを走査した映像信
号から異常な信号をとり出すための一定のレベル
信号レベルとして感度の高いシユミツトレベル
(GH)を設定する一方、のクリツプにはそれ
よりも感度が低くアンプル液中の異物を検出する
最低基準としてのシユミツトレベルGLを設定し
ておく。のクリツプに上記検査マスクの中でア
ンプルを走査した映像信号の走査線が投入される
と、前記第2図で説明したように、該走査線の中
で上記設定レベルより下にある信号は0(正常)
とし、上にある信号は1(異常)として、クリツ
プ処理し、走査線の各番地毎の0,1信号をの
シフトレジスター(SR)で一時記憶される。
のクリツプに上記走査線が投入されると、該走査
線の中で上記設定レベルより下にある信号は0
(正常)とし、上にある信号は1(異常)としてク
リツプ処理し、走査線の各番地毎の0,1信号を
′のシフトレジスターSRで一時記憶される。
,′では夫々のシフトレジスター,′が
0,1の信号を走査線の各番地に応じて一定の間
隔でシフトしながらレジストし、,′でシフ
トして押し出した信号をラツチして、,′で
一定の数の0.1信号を、前記第2図−1に示す
ように、上記検査マスタの一本毎の水平走査線に
ついて全番地にわたる0.1信号、たとえば一回の
走査線が16分割した番地に区分される場合には16
個の0.1信号がラツチされるようになる。では
上記の如き1走査線毎の番地区分した0.1信号が
一定の本数集積され、たとえば順次連続した上下
5本の走査線の0.1信号が同一番地毎に集積され
て1ブロツクとし、各ブロツクの各番地に1つで
も1信号があれば当該ブロツクの番地を1信号が
あるものとして表示するようにしている。これが
第2図−2で示す各1行の0,1信号として
の記憶素子(SRGH)の中に、の高感度クリ
ツプで検出した各番地毎の0,1信号が各行毎に
記憶されると同時にの記憶素子(SRGL)の中
にの低感度クリツプで検出した各番地毎の0,
1信号が各行毎に記憶されるようになる。,
の記憶素子では夫々前者は高感度クリツプGHで
検出した各番地毎の0,1信号(MA,nv,n1)
が、また後者は低感度クリツプGLで検出した各
番地毎の0,1信号(MB,nv,n1)が、12個の
撮影コマ毎に全行数、即ち、第2図の例では40行
分が記憶される。
始し、始めにの位置検出器(PD)で検査すべ
きアンプルの初期位置を検出する。次にで電気
マスク係数(nv)、水平周期信号係数(nh)、電
気マスク行番係数(nl)、電気マスク行目及び列
番の係数Mの初期条件を設定する。この場合、ア
ンプルAは一時的に回転させられてのち回転円盤
上に定置されて、アンプルAのケース自体は一定
位置に停止するが、アンプル内の薬液は慣性によ
り旋回を続けている。したがつて、もしケースに
微細キズがあり、薬液に微少異物が存在すれば、
キズは回転円盤3と一体的に回転する一方、異物
はアンプルA内を自在に変位して瞬時も止まるこ
とがない。の垂直同期信号(vs)で順次撮影す
べき撮影コマの行列の番地の寸法を決めて、で
当該撮影コマに応じた垂直電気マスクの各位置信
号(VP)を決める一方、同様にの水平同期信
号(HS)で、撮影コマの行列の番地の寸法を決
めて、で当該撮影コマに応じた水平電気マスク
の各位置信号(HP)を決める。したがつて、
ととで検査マスク20(撮影コマ12)の撮影
範囲と行列で指定される各番地毎の撮影位置が決
まることになる。次に、予めのクリツプに上記
検査マスク20の中でアンプルを走査した映像信
号から異常な信号をとり出すための一定のレベル
信号レベルとして感度の高いシユミツトレベル
(GH)を設定する一方、のクリツプにはそれ
よりも感度が低くアンプル液中の異物を検出する
最低基準としてのシユミツトレベルGLを設定し
ておく。のクリツプに上記検査マスクの中でア
ンプルを走査した映像信号の走査線が投入される
と、前記第2図で説明したように、該走査線の中
で上記設定レベルより下にある信号は0(正常)
とし、上にある信号は1(異常)として、クリツ
プ処理し、走査線の各番地毎の0,1信号をの
シフトレジスター(SR)で一時記憶される。
のクリツプに上記走査線が投入されると、該走査
線の中で上記設定レベルより下にある信号は0
(正常)とし、上にある信号は1(異常)としてク
リツプ処理し、走査線の各番地毎の0,1信号を
′のシフトレジスターSRで一時記憶される。
,′では夫々のシフトレジスター,′が
0,1の信号を走査線の各番地に応じて一定の間
隔でシフトしながらレジストし、,′でシフ
トして押し出した信号をラツチして、,′で
一定の数の0.1信号を、前記第2図−1に示す
ように、上記検査マスタの一本毎の水平走査線に
ついて全番地にわたる0.1信号、たとえば一回の
走査線が16分割した番地に区分される場合には16
個の0.1信号がラツチされるようになる。では
上記の如き1走査線毎の番地区分した0.1信号が
一定の本数集積され、たとえば順次連続した上下
5本の走査線の0.1信号が同一番地毎に集積され
て1ブロツクとし、各ブロツクの各番地に1つで
も1信号があれば当該ブロツクの番地を1信号が
あるものとして表示するようにしている。これが
第2図−2で示す各1行の0,1信号として
の記憶素子(SRGH)の中に、の高感度クリ
ツプで検出した各番地毎の0,1信号が各行毎に
記憶されると同時にの記憶素子(SRGL)の中
にの低感度クリツプで検出した各番地毎の0,
1信号が各行毎に記憶されるようになる。,
の記憶素子では夫々前者は高感度クリツプGHで
検出した各番地毎の0,1信号(MA,nv,n1)
が、また後者は低感度クリツプGLで検出した各
番地毎の0,1信号(MB,nv,n1)が、12個の
撮影コマ毎に全行数、即ち、第2図の例では40行
分が記憶される。
つぎに、最大判定回路35として、マズ高感度
クリツプGHで検出した全撮影コマの0,1信号
が各撮影コマ毎にで取り出されて、各撮影コマ
毎にのカウンター(ME)で各1行毎の第2異
常信号X2の1信号を数をカウントし、(MF,
nv)で1行毎の1信号の総数をとらえ、かつ
のカウンター(n1)で1枚の撮影コマの中にあ
る1信号の全数がカウントされる。この後、の
比較素子(MG−MF,nv)で順次1枚目の撮影
コマの第2異常信号X2の全1信号数と次枚目の
撮影コマの第2異常信号X2の全1信号の数が比
較されて、の記憶素子(MFMAX)で大きい
方の撮影コマの全1信号の数を記憶させ、次にこ
の大きい方の撮影コマの全1信号の数と更に次の
撮影コマの全1信号の数とが順次比較され、次々
とこのような比較が各撮影コマの間で23のカウ
ンターnvの係数により全撮影コマの間で行われ
る。このようにして、全撮影コマの中で一枚の撮
影コマ(検査マスク範囲)に含む第2異常信号
X2の全1信号の数が最も大きいもの
(MFMAX)が21で判定して選出される。
クリツプGHで検出した全撮影コマの0,1信号
が各撮影コマ毎にで取り出されて、各撮影コマ
毎にのカウンター(ME)で各1行毎の第2異
常信号X2の1信号を数をカウントし、(MF,
nv)で1行毎の1信号の総数をとらえ、かつ
のカウンター(n1)で1枚の撮影コマの中にあ
る1信号の全数がカウントされる。この後、の
比較素子(MG−MF,nv)で順次1枚目の撮影
コマの第2異常信号X2の全1信号数と次枚目の
撮影コマの第2異常信号X2の全1信号の数が比
較されて、の記憶素子(MFMAX)で大きい
方の撮影コマの全1信号の数を記憶させ、次にこ
の大きい方の撮影コマの全1信号の数と更に次の
撮影コマの全1信号の数とが順次比較され、次々
とこのような比較が各撮影コマの間で23のカウ
ンターnvの係数により全撮影コマの間で行われ
る。このようにして、全撮影コマの中で一枚の撮
影コマ(検査マスク範囲)に含む第2異常信号
X2の全1信号の数が最も大きいもの
(MFMAX)が21で判定して選出される。
上記のようにして選出した全撮影コマの中で最
大数の第2異常信号X2の1信号を持つ特定の撮
影コマ12Mが選定され(第5図のCでは第6枚
目の64個の1信号を持つものが選定され)、通常、
この選定された特定撮影コマがマスターコマと呼
ばれる。このマスターコマの各行毎の0,1信号
がのカウンターで全行数とり出されて、〓〓の記
憶素子に上記特定のマスターと呼ばれる撮影コマ
の全行数にわたる各番地毎の0,1信号(MH
n1)が取り出される。このようにして、〓〓の記
憶素子には高感度クリツプ26で検出した第2異
常信号X2の1信号が最も多く含む特定のマスタ
ー撮影コマの全行数にわたる0,1信号(MH
n1)が各番地毎に記憶される。一方、〓〓の記憶
素子には低感度クリツプで0,1信号を検出した
全撮影コマが各撮影コマ毎に夫々の全行数にわた
る0,1信号(MB,nv,n1)が各番地毎に記憶
される。即ち、検査マスク範囲で、第1異常信号
X1の有無が各番地毎にメモリされる。つづいて、
比較回路37として、〓〓の加算素子で、の記憶
素子から順次入力される低感度クリツプで0,1
信号を検出した全撮影コマ各撮影コマ毎に夫々の
各番地について取り出す。この取り出した各撮影
コマの各番地毎の0,1信号に、〓〓の記憶素子か
ら入力される最大数の第2異常信号X2を持つマ
スター撮影コマの各番地毎の0,1信号(MH
n1)が加算されて、全撮影コマ数に相当するコ
マ数の0,1信号(MI)が記憶される。さらに、
これらの〓〓の0,1信号(MI)が〓〓の比較素子
(MI MH,n1)に順次入力される一方、〓〓には
今一度〓〓の記憶素子からマスター撮影コマの各番
地毎の0,1信号(MH n1)が入力され、両者
が比較(排他OR)されて、の記憶素子から取
り出される全撮影コマの各撮影コマ毎に各撮影コ
マにおける各番地毎の1信号が上記マスター撮影
コマにおける1信号(MH n1)がある各番地内
にあるか、または上記マスター撮影コマにおける
1信号がある各番地の外の番地にあるかを判断す
る。〓〓の比較素子では〓〓の各撮影コマにおける1
信号と〓〓のマスター撮影コマにおける1信号とが
各番地毎に、〓〓のカウンターで各撮影コマの全行
にわたつて行われ、これが各撮影コマ毎に〓〓のカ
ウンターで全撮影コマにわたつて行われる。この
ようにして、〓〓での各撮影コマにおける1信号
が、対応する〓〓のマスター撮影コマにおける1信
号の番地外にある時は、たとえその1信号が1個
であつても、〓〓で不良品としての信号を出して排
除機構8を作動するようになる。
大数の第2異常信号X2の1信号を持つ特定の撮
影コマ12Mが選定され(第5図のCでは第6枚
目の64個の1信号を持つものが選定され)、通常、
この選定された特定撮影コマがマスターコマと呼
ばれる。このマスターコマの各行毎の0,1信号
がのカウンターで全行数とり出されて、〓〓の記
憶素子に上記特定のマスターと呼ばれる撮影コマ
の全行数にわたる各番地毎の0,1信号(MH
n1)が取り出される。このようにして、〓〓の記
憶素子には高感度クリツプ26で検出した第2異
常信号X2の1信号が最も多く含む特定のマスタ
ー撮影コマの全行数にわたる0,1信号(MH
n1)が各番地毎に記憶される。一方、〓〓の記憶
素子には低感度クリツプで0,1信号を検出した
全撮影コマが各撮影コマ毎に夫々の全行数にわた
る0,1信号(MB,nv,n1)が各番地毎に記憶
される。即ち、検査マスク範囲で、第1異常信号
X1の有無が各番地毎にメモリされる。つづいて、
比較回路37として、〓〓の加算素子で、の記憶
素子から順次入力される低感度クリツプで0,1
信号を検出した全撮影コマ各撮影コマ毎に夫々の
各番地について取り出す。この取り出した各撮影
コマの各番地毎の0,1信号に、〓〓の記憶素子か
ら入力される最大数の第2異常信号X2を持つマ
スター撮影コマの各番地毎の0,1信号(MH
n1)が加算されて、全撮影コマ数に相当するコ
マ数の0,1信号(MI)が記憶される。さらに、
これらの〓〓の0,1信号(MI)が〓〓の比較素子
(MI MH,n1)に順次入力される一方、〓〓には
今一度〓〓の記憶素子からマスター撮影コマの各番
地毎の0,1信号(MH n1)が入力され、両者
が比較(排他OR)されて、の記憶素子から取
り出される全撮影コマの各撮影コマ毎に各撮影コ
マにおける各番地毎の1信号が上記マスター撮影
コマにおける1信号(MH n1)がある各番地内
にあるか、または上記マスター撮影コマにおける
1信号がある各番地の外の番地にあるかを判断す
る。〓〓の比較素子では〓〓の各撮影コマにおける1
信号と〓〓のマスター撮影コマにおける1信号とが
各番地毎に、〓〓のカウンターで各撮影コマの全行
にわたつて行われ、これが各撮影コマ毎に〓〓のカ
ウンターで全撮影コマにわたつて行われる。この
ようにして、〓〓での各撮影コマにおける1信号
が、対応する〓〓のマスター撮影コマにおける1信
号の番地外にある時は、たとえその1信号が1個
であつても、〓〓で不良品としての信号を出して排
除機構8を作動するようになる。
上記したように、第1実施例においては、微細
キズを持つ密封した透明アンプル中に充填せる薬
液に含む微少異物の存在を検査するために、アン
プル中の薬液を旋回させ乍ら、該アンプルを検査
区域の固定位置に設けたテレビカメラの前方を大
略一定速度で通過させて、該テレビカメラで一定
間隔をおいた上記アンプルの少くとも3位置以上
の位置で順次容器を走査して、検査マスク内の各
撮影コマの撮影信号の中から異常信号を上記微少
異物を検出するに十分な低感度レベルGLと、該
低感度レベルよりも一段と感度の高い上記微細キ
ズを含む得る高感度レベルGHとで夫々とらえ
て、後者の高感度レベルの中で異物信号の最も多
いものを選定し、かつ該選出したものにおける異
物信号の配置の外に前者の低感度レベルでとらえ
た各撮影コマの中の異物信号が位置する場合に、
当該信号のみ取り出すように制御回路(論理回
路)11で処理をし、上記当該信号をのみを異常
信号として取り出し、液体含有物中に含む微少異
物と判定するようにして、アンプルのキズと薬液
の異物を分離して薬液異物の存在のみを検査する
ことができる。
キズを持つ密封した透明アンプル中に充填せる薬
液に含む微少異物の存在を検査するために、アン
プル中の薬液を旋回させ乍ら、該アンプルを検査
区域の固定位置に設けたテレビカメラの前方を大
略一定速度で通過させて、該テレビカメラで一定
間隔をおいた上記アンプルの少くとも3位置以上
の位置で順次容器を走査して、検査マスク内の各
撮影コマの撮影信号の中から異常信号を上記微少
異物を検出するに十分な低感度レベルGLと、該
低感度レベルよりも一段と感度の高い上記微細キ
ズを含む得る高感度レベルGHとで夫々とらえ
て、後者の高感度レベルの中で異物信号の最も多
いものを選定し、かつ該選出したものにおける異
物信号の配置の外に前者の低感度レベルでとらえ
た各撮影コマの中の異物信号が位置する場合に、
当該信号のみ取り出すように制御回路(論理回
路)11で処理をし、上記当該信号をのみを異常
信号として取り出し、液体含有物中に含む微少異
物と判定するようにして、アンプルのキズと薬液
の異物を分離して薬液異物の存在のみを検査する
ことができる。
本発明は上記第1実施例に限定されず、制御回
路11として他に種々の態様が考えられる。
路11として他に種々の態様が考えられる。
次に制御回路11′の第2実施例を第6図に示
すブロツク図と、第7図に示すフローチヤートで
説明する。第2実施例が上記第1実施例と相異す
る点は、全ての撮影コマの中から特定の撮影コマ
を任意に指定して、該特定の撮影コマの第2異常
信号X2を全ての撮影コマの第1異常信号X1と比
較することにより異物存否を検査するようにした
ものである。したがつて、第6図のブロツク図
が、第3図にブロツク図と異なる構成は、第3図
の最大判定回路35をなくして、その代りに最大
指定回路39を設けたことである。
すブロツク図と、第7図に示すフローチヤートで
説明する。第2実施例が上記第1実施例と相異す
る点は、全ての撮影コマの中から特定の撮影コマ
を任意に指定して、該特定の撮影コマの第2異常
信号X2を全ての撮影コマの第1異常信号X1と比
較することにより異物存否を検査するようにした
ものである。したがつて、第6図のブロツク図
が、第3図にブロツク図と異なる構成は、第3図
の最大判定回路35をなくして、その代りに最大
指定回路39を設けたことである。
すなわち、第3図の最大判定回路38では全撮
影コマの中で第2異常信号X2の1信号が最も多
い撮影コマを各撮影コマの第2異常信号X2の1
信号の数を順次比較して自動的に選出するのに対
して、第2実施例の第6図の最大指定回路39で
は、全撮影コマの中で特定の撮影コマ12Rを人
為的に指定して次のマスター記憶回路36で記憶
させるようにする。特定の撮影コマ12Rを指定
するのは、全撮影コマをテレビカメラ6でモニタ
ーして人が経験的に特定の撮影コマを指定しても
よく、また全撮影コマの中で経験的に1信号の数
が最も多いと考えられる例えば中央に位置する撮
影コマを特定の撮影コマと指定してもよい。ま
た、該指定する特定の撮影コマは1枚の撮影コマ
でも良いし、あるいは、2以上の複数枚の撮影コ
マを合成した合成撮影コマを設け、該合成撮影コ
マを特定の撮影コマとしてもよい。
影コマの中で第2異常信号X2の1信号が最も多
い撮影コマを各撮影コマの第2異常信号X2の1
信号の数を順次比較して自動的に選出するのに対
して、第2実施例の第6図の最大指定回路39で
は、全撮影コマの中で特定の撮影コマ12Rを人
為的に指定して次のマスター記憶回路36で記憶
させるようにする。特定の撮影コマ12Rを指定
するのは、全撮影コマをテレビカメラ6でモニタ
ーして人が経験的に特定の撮影コマを指定しても
よく、また全撮影コマの中で経験的に1信号の数
が最も多いと考えられる例えば中央に位置する撮
影コマを特定の撮影コマと指定してもよい。ま
た、該指定する特定の撮影コマは1枚の撮影コマ
でも良いし、あるいは、2以上の複数枚の撮影コ
マを合成した合成撮影コマを設け、該合成撮影コ
マを特定の撮影コマとしてもよい。
上記した特定の撮影コマを任意に選定する操作
を第7図のフローチヤートでみると、第1実施例
の第4図に示すフローチヤート中の→〓〓のステ
ツプがなくなつて、〓〓のマスター記憶素子(MG
n1)に〓〓で指定した特定の撮影コマの各番地毎
の高感度クリツプGHで検出した全0,1信号が
記憶回路より取り出され、次いで、該マスター
記憶素子〓〓の全0,1信号が加算素子器26と比較
素子器〓〓に入力されるようになる。
を第7図のフローチヤートでみると、第1実施例
の第4図に示すフローチヤート中の→〓〓のステ
ツプがなくなつて、〓〓のマスター記憶素子(MG
n1)に〓〓で指定した特定の撮影コマの各番地毎
の高感度クリツプGHで検出した全0,1信号が
記憶回路より取り出され、次いで、該マスター
記憶素子〓〓の全0,1信号が加算素子器26と比較
素子器〓〓に入力されるようになる。
第2実施例の他の構成及び作用は第1実施例の
それと全く同一であるので省略する。上記したよ
うに、第2実施例では一つの撮影コマを任意に選
定してもよいし、これを任意に複数個の撮影コ
マ、例えば初期、中央、終期の撮影コマを選定し
て、これらを人為的に合成して一つの撮影コマを
得るようにしてもよい。
それと全く同一であるので省略する。上記したよ
うに、第2実施例では一つの撮影コマを任意に選
定してもよいし、これを任意に複数個の撮影コ
マ、例えば初期、中央、終期の撮影コマを選定し
て、これらを人為的に合成して一つの撮影コマを
得るようにしてもよい。
さらに、上記第2実施例の変形例として種々の
態様の制御回路が考えられる。次に、制御回路1
1′の変形例を第8図に示すブロツク図と、第9
図に示すフローチヤートで説明する。
態様の制御回路が考えられる。次に、制御回路1
1′の変形例を第8図に示すブロツク図と、第9
図に示すフローチヤートで説明する。
上記変形例は、第6図、第7図に示す第2実施
例と瞹味設定回路41を設ける一方、不良品判定
回路38と並列に再検査判定回路42を設けてい
る。該再検査回路42に附属する回路として異物
判定VD枚数回路43と、検知ビツト数集計回路
44と、検知ビツト数判定回路45を設ける。第
6図の最大指定回路と同様に、第8図の特定指定
回路40は全撮影コマの中で特定の全撮影コマ1
2Rを人為的に指定して選択し、次に、瞹味設定
回路41で上記特定撮影コマの映像を一対のシフ
ト回路46,47で夫々1ビツトずつ左右にシフ
トしてこれらをOR合成回路48でOR合成して
いる。このようにして、任意に選定した撮影コマ
で異常信号を1ビツトずつ左右へ拡大したものを
特定の撮影コマ(マスターコマ)として、マスタ
ー記憶回路36に記憶させる。これを第9図のフ
ローチヤートでみると、特定撮影コマ指定〓〓とマ
スター記憶素子〓〓に加えて、1ビツト右ローテイ
ドシフト素子47と1ビツト左ローテイドシフト
素子46を設け、次いでOR合成素子48でその
合成(MF・n1)を得て、それが加算素子と比較
素子器に入力されるようになる。
例と瞹味設定回路41を設ける一方、不良品判定
回路38と並列に再検査判定回路42を設けてい
る。該再検査回路42に附属する回路として異物
判定VD枚数回路43と、検知ビツト数集計回路
44と、検知ビツト数判定回路45を設ける。第
6図の最大指定回路と同様に、第8図の特定指定
回路40は全撮影コマの中で特定の全撮影コマ1
2Rを人為的に指定して選択し、次に、瞹味設定
回路41で上記特定撮影コマの映像を一対のシフ
ト回路46,47で夫々1ビツトずつ左右にシフ
トしてこれらをOR合成回路48でOR合成して
いる。このようにして、任意に選定した撮影コマ
で異常信号を1ビツトずつ左右へ拡大したものを
特定の撮影コマ(マスターコマ)として、マスタ
ー記憶回路36に記憶させる。これを第9図のフ
ローチヤートでみると、特定撮影コマ指定〓〓とマ
スター記憶素子〓〓に加えて、1ビツト右ローテイ
ドシフト素子47と1ビツト左ローテイドシフト
素子46を設け、次いでOR合成素子48でその
合成(MF・n1)を得て、それが加算素子と比較
素子器に入力されるようになる。
また、再検査判定回路42は、検査したアンプ
ルを、不良品判定回路38と同様に、再検査すべ
きと判定した場合は、良品のアンプルと区分けし
て排除回路8で排除するものである。比較回路3
7でマスター記憶回路36の出力とGL記憶回路
34の出力を比較回路37のOR合成回路49で
OR合成し、比較器50で上記OR合成出力から
マスター記憶回路36の出力を減算演算して、当
該撮影コマを異物有かまたは異物無かを判定し、
次に、異物有と判定した撮影コマの枚数を異物判
定VD枚数で計算して、その数が特定数(x)よ
り多い時は不良品と判定し、その数が0ではなく
て特定数(x)より少ない時は再検査判定回路4
2をONさせて排除回路8を動作する。この場
合、撮影コマの異物判定のコマの枚数が0である
時のみ良品と判定される。なお、再検査判定回路
42は、上記マスター記憶回路36で記憶される
マスター撮影コマの異物と判定されるビツト数を
検知ビツト数集計回路44で計数し、その数が検
知ビツト数判定回路で特定数(y1)より多い時
は、再検査判定回路42をONして良品を含む全
てん再検査品を全て再検査品と判定するようにす
る。これは、マスター撮影コマの精度が悪い時に
全てを再検査品とするものである。
ルを、不良品判定回路38と同様に、再検査すべ
きと判定した場合は、良品のアンプルと区分けし
て排除回路8で排除するものである。比較回路3
7でマスター記憶回路36の出力とGL記憶回路
34の出力を比較回路37のOR合成回路49で
OR合成し、比較器50で上記OR合成出力から
マスター記憶回路36の出力を減算演算して、当
該撮影コマを異物有かまたは異物無かを判定し、
次に、異物有と判定した撮影コマの枚数を異物判
定VD枚数で計算して、その数が特定数(x)よ
り多い時は不良品と判定し、その数が0ではなく
て特定数(x)より少ない時は再検査判定回路4
2をONさせて排除回路8を動作する。この場
合、撮影コマの異物判定のコマの枚数が0である
時のみ良品と判定される。なお、再検査判定回路
42は、上記マスター記憶回路36で記憶される
マスター撮影コマの異物と判定されるビツト数を
検知ビツト数集計回路44で計数し、その数が検
知ビツト数判定回路で特定数(y1)より多い時
は、再検査判定回路42をONして良品を含む全
てん再検査品を全て再検査品と判定するようにす
る。これは、マスター撮影コマの精度が悪い時に
全てを再検査品とするものである。
これを第9図のフローチヤートでみると、〓〓の
積算素子でマスター撮影コマの異物数を計数し、
かつ、第1比較素子〓〓で特定数(x=δ1)に対す
る不良品を判定し、かつ、第2比較素子〓〓で特定
数(x=δ2)で不良品を判定し、それ以外のもの
(MH≧δ1,M1≦δ2)を再検査品と判定する。
尚、この変形例の他の構成及び作用は第2実施例
のと全く同一であるので省略する。
積算素子でマスター撮影コマの異物数を計数し、
かつ、第1比較素子〓〓で特定数(x=δ1)に対す
る不良品を判定し、かつ、第2比較素子〓〓で特定
数(x=δ2)で不良品を判定し、それ以外のもの
(MH≧δ1,M1≦δ2)を再検査品と判定する。
尚、この変形例の他の構成及び作用は第2実施例
のと全く同一であるので省略する。
発明の効果
上記したように、本発明は、微細キズを持つ密
封したアンプル中に充填せる液体含有物に含む微
少異物の存在を電気的に検出する装置として、ア
ンプル中の液体含有物を旋回させるための機構
と、前方を大略一定速度で通過するアンプルを検
査区域で撮影する固定位置に設けたテレビカメラ
と、該テレビカメラで一定間隔をおいた上記アン
プルの少くとも3位置以上の位置で順次アンプル
を走査してその検査マスク範囲で各撮影コマの映
像信号をとらえ、かつアンプルの各撮影コマの該
各映像信号から微少異物を検出するに十分な低感
度のレベルを基準として第1異常信号を取り出す
と同時に、微細キズを除去するために上記レベル
よりも一段と高い高感度のレベルを基準として第
2異常信号を取り出して、順次の電圧信号を作る
ための機構と、上記第1及び第2の異常信号を
夫々各撮影コマの基盤状に区劃した対応番地にお
ける論理“1”信号に交換するための制御回路
と、該変換した論理“1”の電圧信号を夫々一時
記憶させるための記憶装置と各撮影コマを相互に
比較して第2異常信号の中に最も多くの論理
“1”信号を含む特定の撮影コマを選出してその
電圧信号を一時記憶させるための記憶装置と、該
記憶装置に記憶した電圧信号を順次送出すための
制御装置と、上記記憶装置から特定の撮影コマに
おける第2異常信号の論理“1”信号と他の各撮
影コマの夫々における第1異常信号をとり出して
両信号の論理“1”信号を結合して順次、対応番
地毎に両者の論理和をとつてのち、該論理和と上
記特定の撮影コマにおける第2異常信号の論理
“1”信号との論理排他オアをとる演算をして、
該演算値に上記両信号が互に所定の関係を有しな
い論理“1”信号の出る時排除信号を生ずるよう
にした論理演算回路と、前記カメラと前記記憶装
置とを同期せしめ正確に取り出した関係で前記2
つの電圧信号を前記論理演算回路に送るための制
御同期回路とよりなる装置を用いて、 微細キズを持つ密封したアンプル中に充填せる
液体含有物に含む微少異物の存在を電気的に検出
する方法として、 アンプル中の液体含有物を旋回させ乍ら、該ア
ンプルを検査区域の固定位置に設けたテレビカメ
ラの前方を大略一定速度で通過させて、該テレビ
カメラで一定間隔をおいた上記アンプルの少くと
も3位置以上の位置で順次アンプルを走査してそ
の各撮影コマの映像信号をとらえ、該各映像信号
から微少異物を検出するに十分な低感度のレベル
を基準として第1異常信号を取り出すと同時に、
微細キズを除去するために上記レベルよりも一段
と高い高感度のレベルを基準として第2異常信号
を取り出し、上記第1及び第2の異常信号を夫々
各撮影コマの基盤状に区劃した対応番地における
論理“1”信号に変換して、一時記憶させ、各撮
影コマを相互に比較して第2異常信号の中に最も
多くの論理“1”信号を含む特定の撮影コマを選
出して一時記憶させ、カメラと上記記憶装置の出
力の周期をとりながら、上記記憶装置から特定の
撮影コマにおける第2異常信号の論理“1”信号
と他の各撮影コマの夫々における第1異常信号を
とり出して、両信号の論理“1”信号を順次、対
応番地毎に両者の論理和をとつてのち、論理和と
上記特定の撮影コマにおける第2異常信号の論理
“1”信号との論理排他オアをとる論理演算をし
て、該デジタル演算値に論理“1”信号が出る時
に当該論理“1”信号をして液体含有物中に微少
異物が有と判定する工程よりなるものであるた
め、下記の利点を有する。
封したアンプル中に充填せる液体含有物に含む微
少異物の存在を電気的に検出する装置として、ア
ンプル中の液体含有物を旋回させるための機構
と、前方を大略一定速度で通過するアンプルを検
査区域で撮影する固定位置に設けたテレビカメラ
と、該テレビカメラで一定間隔をおいた上記アン
プルの少くとも3位置以上の位置で順次アンプル
を走査してその検査マスク範囲で各撮影コマの映
像信号をとらえ、かつアンプルの各撮影コマの該
各映像信号から微少異物を検出するに十分な低感
度のレベルを基準として第1異常信号を取り出す
と同時に、微細キズを除去するために上記レベル
よりも一段と高い高感度のレベルを基準として第
2異常信号を取り出して、順次の電圧信号を作る
ための機構と、上記第1及び第2の異常信号を
夫々各撮影コマの基盤状に区劃した対応番地にお
ける論理“1”信号に交換するための制御回路
と、該変換した論理“1”の電圧信号を夫々一時
記憶させるための記憶装置と各撮影コマを相互に
比較して第2異常信号の中に最も多くの論理
“1”信号を含む特定の撮影コマを選出してその
電圧信号を一時記憶させるための記憶装置と、該
記憶装置に記憶した電圧信号を順次送出すための
制御装置と、上記記憶装置から特定の撮影コマに
おける第2異常信号の論理“1”信号と他の各撮
影コマの夫々における第1異常信号をとり出して
両信号の論理“1”信号を結合して順次、対応番
地毎に両者の論理和をとつてのち、該論理和と上
記特定の撮影コマにおける第2異常信号の論理
“1”信号との論理排他オアをとる演算をして、
該演算値に上記両信号が互に所定の関係を有しな
い論理“1”信号の出る時排除信号を生ずるよう
にした論理演算回路と、前記カメラと前記記憶装
置とを同期せしめ正確に取り出した関係で前記2
つの電圧信号を前記論理演算回路に送るための制
御同期回路とよりなる装置を用いて、 微細キズを持つ密封したアンプル中に充填せる
液体含有物に含む微少異物の存在を電気的に検出
する方法として、 アンプル中の液体含有物を旋回させ乍ら、該ア
ンプルを検査区域の固定位置に設けたテレビカメ
ラの前方を大略一定速度で通過させて、該テレビ
カメラで一定間隔をおいた上記アンプルの少くと
も3位置以上の位置で順次アンプルを走査してそ
の各撮影コマの映像信号をとらえ、該各映像信号
から微少異物を検出するに十分な低感度のレベル
を基準として第1異常信号を取り出すと同時に、
微細キズを除去するために上記レベルよりも一段
と高い高感度のレベルを基準として第2異常信号
を取り出し、上記第1及び第2の異常信号を夫々
各撮影コマの基盤状に区劃した対応番地における
論理“1”信号に変換して、一時記憶させ、各撮
影コマを相互に比較して第2異常信号の中に最も
多くの論理“1”信号を含む特定の撮影コマを選
出して一時記憶させ、カメラと上記記憶装置の出
力の周期をとりながら、上記記憶装置から特定の
撮影コマにおける第2異常信号の論理“1”信号
と他の各撮影コマの夫々における第1異常信号を
とり出して、両信号の論理“1”信号を順次、対
応番地毎に両者の論理和をとつてのち、論理和と
上記特定の撮影コマにおける第2異常信号の論理
“1”信号との論理排他オアをとる論理演算をし
て、該デジタル演算値に論理“1”信号が出る時
に当該論理“1”信号をして液体含有物中に微少
異物が有と判定する工程よりなるものであるた
め、下記の利点を有する。
即ち、本発明に係わる密封容器充填液体に含む
微少異物の存在を検査する方法では、容器を停止
する一方、液体を回転して、それらを一定位置に
固定したテレビカメラの映像として取らえその映
像信号の中から異常信号をとり出して上記異物の
存在を検査する場合に、容器が持つ微細なキズは
異物を検査する感度よりもより高いレベルの感度
で取らえる固定信号として区別し、上記固定信号
の該当領域外で検出される各撮影コマの異物を検
出する感度で取らえる異常信号、すなわち、いわ
ゆる浮遊信号のみを異物の異常信号として取らえ
るようにしたものであるから、高感度で検出でき
る容器のキズを除いて、検出に必要な低感度で異
物を正確かつ確実に検出することが出来る。した
がつて、検出すべき液体の異物の形状が微少にな
つても、誤認混同され易い容器の微細なキズと区
別してより早い処理速度で、かつ高い感度で確実
に検出でき、この種異物の電気的な自動連続検査
方法としてその実用的価値の大なるものである。
微少異物の存在を検査する方法では、容器を停止
する一方、液体を回転して、それらを一定位置に
固定したテレビカメラの映像として取らえその映
像信号の中から異常信号をとり出して上記異物の
存在を検査する場合に、容器が持つ微細なキズは
異物を検査する感度よりもより高いレベルの感度
で取らえる固定信号として区別し、上記固定信号
の該当領域外で検出される各撮影コマの異物を検
出する感度で取らえる異常信号、すなわち、いわ
ゆる浮遊信号のみを異物の異常信号として取らえ
るようにしたものであるから、高感度で検出でき
る容器のキズを除いて、検出に必要な低感度で異
物を正確かつ確実に検出することが出来る。した
がつて、検出すべき液体の異物の形状が微少にな
つても、誤認混同され易い容器の微細なキズと区
別してより早い処理速度で、かつ高い感度で確実
に検出でき、この種異物の電気的な自動連続検査
方法としてその実用的価値の大なるものである。
第1図は本発明の方法の実施に用いる装置の概
略図、第2図は本発明の方法の概略の説明図、第
3図は第1図の装置に用いる制御回路の第1実施
例の構成を示すブロツク図、第4図は第3図の回
路のフローチヤート図、第5図は第4図のフロー
チヤートの説明図、第6図は第1図の装置に用い
る制御回路の第2実施例の構成を示すブロツク
図、第7図は第6図の回路のフローチヤート図、
第8図は第6図の変形例を示すブロツク図、第9
図乃至は第8図の回路のフローチヤート図で
ある。 6……カメラ、26……GHクリツパー回路、
27……GLクリツパー回路、35……最大判定
回路、37……比較回路、38……不良品判定回
路、8……排除機構、39……最大指定回路。
略図、第2図は本発明の方法の概略の説明図、第
3図は第1図の装置に用いる制御回路の第1実施
例の構成を示すブロツク図、第4図は第3図の回
路のフローチヤート図、第5図は第4図のフロー
チヤートの説明図、第6図は第1図の装置に用い
る制御回路の第2実施例の構成を示すブロツク
図、第7図は第6図の回路のフローチヤート図、
第8図は第6図の変形例を示すブロツク図、第9
図乃至は第8図の回路のフローチヤート図で
ある。 6……カメラ、26……GHクリツパー回路、
27……GLクリツパー回路、35……最大判定
回路、37……比較回路、38……不良品判定回
路、8……排除機構、39……最大指定回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 微細キズを持つ密封した容器中に充填せる液
体含有物に含む微少異物の存在を検査する方法に
して、 容器中の液体含有物を旋回させ乍ら、該容器を
検査区域の固定位置に設けたテレビカメラの前方
を大略一定速度で通過させながら、該テレビカメ
ラで一定間隔をおいて上記容器の少くとも3位置
以上の位置で順次容器を走査して、検査マスク範
囲内の各撮影コマの映像信号をとらえ、 上記各映像信号から、液体含有物に含まれる微
少異物を検出するに十分な低感度のレベルを基準
として第1異常信号を取り出すと同時に、容器の
微細キズを検出するに十分で上記レベルよりも一
段と高い高感度のレベルを基準として第2異常信
号を取り出し、 上記撮影コマのうちで最も多くの第2異常信号
を持つ撮影コマを特定の撮影コマとし、該特定の
撮影コマの第2異常信号と、全ての撮影コマの第
1異常信号とを比較して、第1異常信号が第2異
常信号と撮影コマの中で異なる領域にあるとき
は、当該第1異常信号をして液体含有物中に微少
異物が有ると判定するようにしたことを特徴とす
る密封容器充填液体に含む微少異物の存在検査方
法。 2 微細キズを持つ密封した容器中に充填せる液
体含有物に含む微少異物の存在を検査する方法に
して、 容器中の液体含有物を旋回させ乍ら、該容器を
検査区域の固定位置に設けたテレビカメラの前方
を大略一定速度で通過させながら、該テレビカメ
ラで一定間隔をおいて上記容器の少くとも3位置
以上の位置で順次容器を走査して、検査マスク範
囲内の各撮影コマの映像信号をとらえ、 上記各映像信号から、液体含有物に含まれる微
少異物を検出するに十分な低感度のレベルを基準
として第1異常信号を取り出すと同時に、容器の
微細キズを検出するに十分で上記第1異常信号レ
ベルよりも一段と高い高感度のレベルを基準とし
て第2異常信号を取り出し、 上記全ての撮影コマの中から任意に選定した1
枚の撮影コマを特定の撮影コマとし或いは任意に
選定した2以上の撮影コマの合成コマを特定の撮
影コマとし、上記特定の撮影コマの第2異常信号
と、全ての撮影コマの第1異常信号とを比較し
て、第1異常信号が第2異常信号と撮影コマの中
で異なる領域にあるときは、当該第1異常信号を
して液体含有物中に微少異物が有ると判定するよ
うにしたことを特徴とする密封容器充填液体に含
む微少異物の存在検査方法。 3 特許請求の範囲第1項もしくは第2項に記載
の方法にして、上記第1異常信号を取り出す高感
度のレベルは、テレビカメラの絞りの感度でみて
上記第2異常信号を取り出す低感度のレベルより
1絞りだけ感度を上げたものとして設定するよう
にしたことを特徴とするもの。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57077746A JPS58195143A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 密封容器充填液体に含む微少異物の存在検査方法 |
| US06/491,533 US4549205A (en) | 1982-05-10 | 1983-05-04 | Ampoule inspecting method |
| EP83104420A EP0094567A1 (en) | 1982-05-10 | 1983-05-05 | Ampoule inspecting method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57077746A JPS58195143A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 密封容器充填液体に含む微少異物の存在検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58195143A JPS58195143A (ja) | 1983-11-14 |
| JPH046900B2 true JPH046900B2 (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=13642472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57077746A Granted JPS58195143A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 密封容器充填液体に含む微少異物の存在検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58195143A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE794504A (fr) * | 1972-01-26 | 1973-05-16 | Emhart Corp | Procede et dipositif pour inspecter des conteneurs transparents contenant un liquide |
-
1982
- 1982-05-10 JP JP57077746A patent/JPS58195143A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58195143A (ja) | 1983-11-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4549205A (en) | Ampoule inspecting method | |
| US4136930A (en) | Method and apparatus for detecting foreign particles in full beverage containers | |
| JPS5937451A (ja) | 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置 | |
| EP0343664B1 (en) | Apparatus for detecting defects on bottle sidewalls | |
| CN109297984B (zh) | 一种泡罩包装缺陷检测方法、装置及设备 | |
| HU220571B1 (hu) | Eljárás és berendezés folyadékkal töltött tartályok vizsgálatához | |
| JP2008510971A (ja) | 注入済みの複数の容器において異物または不良を検出する方法および装置 | |
| JPH04166751A (ja) | びんの欠陥検査方法 | |
| US4804273A (en) | Method and apparatus for particulate matter detection | |
| JP2018205199A (ja) | 異物検査装置及び方法 | |
| JP2004257937A (ja) | 異物検査装置および検査方法 | |
| JPH0634573A (ja) | 瓶検査装置 | |
| JPH046900B2 (ja) | ||
| JPH0321866B2 (ja) | ||
| JPS58190707A (ja) | 表面検査方法 | |
| JPH046901B2 (ja) | ||
| JPH04216445A (ja) | 瓶検査装置 | |
| JPH0634575A (ja) | 瓶検査方法 | |
| JPH0275941A (ja) | 検びん装置 | |
| KR100304646B1 (ko) | 병검사장치및그방법 | |
| JPS62201335A (ja) | 周期性パタ−ンの斑検査方法 | |
| JP7639938B2 (ja) | 異物検査装置 | |
| JPS6248438B2 (ja) | ||
| JPS5950218B2 (ja) | パタ−ン検査装置 | |
| FR2493989A1 (fr) | Procede et appareil de detection de defauts dans des bouteilles en verre en utilisant des proximites d'evenements |