JPH0469581A - 半導体集積回路の試験回路 - Google Patents
半導体集積回路の試験回路Info
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- JPH0469581A JPH0469581A JP2182378A JP18237890A JPH0469581A JP H0469581 A JPH0469581 A JP H0469581A JP 2182378 A JP2182378 A JP 2182378A JP 18237890 A JP18237890 A JP 18237890A JP H0469581 A JPH0469581 A JP H0469581A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 57
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- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業−４−の利用分野）
本発明は、半導体集積回路の試験回路に関し、特にコン
デンサーの充放電特性を利用する試験回路に関する。
デンサーの充放電特性を利用する試験回路に関する。
［従来の技術］
従来、定バイアスの回路、例えば直流電源の交流成分の
除去等を目的どするコンデンサーを付加した回路におい
て電気的特性の測定試験を短時間で行う場合、接続する
容量は測定値に大きな影響を及ぼさない範囲でできる限
り小さい容量値を選択し、さらに試験を行う前に、例え
ば第３図、第４図に示すようにコンデンサー２２又は２
６に電流バッファ２０、あるいはバイアス用ｉｊ７変電
源２５を切換器２１又は２４を通して接続して急速にコ
ンデンサー２２又は２６を充電し、試験時には切換器２
１又は２４にてコンデンサー２２又は２６を充電回路よ
り切り放すことにより、コンデンサー２２又は２６の過
渡現象による出力応答の立ち」−がりの遅延を小さくし
て試験時間の短縮を図るという方法がとられている。
除去等を目的どするコンデンサーを付加した回路におい
て電気的特性の測定試験を短時間で行う場合、接続する
容量は測定値に大きな影響を及ぼさない範囲でできる限
り小さい容量値を選択し、さらに試験を行う前に、例え
ば第３図、第４図に示すようにコンデンサー２２又は２
６に電流バッファ２０、あるいはバイアス用ｉｊ７変電
源２５を切換器２１又は２４を通して接続して急速にコ
ンデンサー２２又は２６を充電し、試験時には切換器２
１又は２４にてコンデンサー２２又は２６を充電回路よ
り切り放すことにより、コンデンサー２２又は２６の過
渡現象による出力応答の立ち」−がりの遅延を小さくし
て試験時間の短縮を図るという方法がとられている。
図中、１８．２３は試験回路端子、＋９はコンデンサー
２２を端子１８に切替接続する切換器である。ところで
、コンデンサーの充放電特性を利用している回路におい
てはこのような方法は適用することができない。そのた
め、コンデンサーの充放電特性を利用している回路につ
いては効果的な方法は示されていない。
２２を端子１８に切替接続する切換器である。ところで
、コンデンサーの充放電特性を利用している回路におい
てはこのような方法は適用することができない。そのた
め、コンデンサーの充放電特性を利用している回路につ
いては効果的な方法は示されていない。
電気回路において短時間で電気的特性を試験する場合、
接続されているコンデンサーの充放電による過渡現象に
より入力信号に対する出力信号の応答が遅くなる。その
結果として試験時間の伸長を招く。従来ではこのような
欠点を改善すべく、前述のような方法が用いられている
が、コンデンサーの充放電特性を利用する回路、例えば
フィルター回路などについては従来のコンデンサーを強
制的に充電する方法は用いることができないため、試験
時間短縮の効果的な方法は示されていない。
接続されているコンデンサーの充放電による過渡現象に
より入力信号に対する出力信号の応答が遅くなる。その
結果として試験時間の伸長を招く。従来ではこのような
欠点を改善すべく、前述のような方法が用いられている
が、コンデンサーの充放電特性を利用する回路、例えば
フィルター回路などについては従来のコンデンサーを強
制的に充電する方法は用いることができないため、試験
時間短縮の効果的な方法は示されていない。
本発明の目的はコンデンサーの充放電特性を利用する回
路においても短時間での測定試験を可能にした半導体集
積回路の試験回路を提供することにある。
路においても短時間での測定試験を可能にした半導体集
積回路の試験回路を提供することにある。
［課題を解決するための手段］
前記目的を達成するため、本発明に係る半導体集積回路
の試験回路においては、容量の異なるコンデンサーの対
と、切換器とを有する半導体集積回路の試験回路であっ
て、 大容量のコンデンサーは、回路特性上本来接続すべきコ
ンデンサーとして用いるものであり、小容量のコンデン
サーは、大容量のコンデンサーに並列に配置され、試験
時に付加するものであり、 切換器は、大容量のコンデンサーと小容量のコンデンサ
ーとを任意に切替えるものである。
の試験回路においては、容量の異なるコンデンサーの対
と、切換器とを有する半導体集積回路の試験回路であっ
て、 大容量のコンデンサーは、回路特性上本来接続すべきコ
ンデンサーとして用いるものであり、小容量のコンデン
サーは、大容量のコンデンサーに並列に配置され、試験
時に付加するものであり、 切換器は、大容量のコンデンサーと小容量のコンデンサ
ーとを任意に切替えるものである。
本発明について添付図面を参照して説明する。
（実施例１）
第１図は本発明の実施例１を示すブロック図である。
第１図の回路ブロック２は、入力端子１から入力された
交流信号が多少変動しても出力端子３に現われる交流信
号はある一定の周波数に固定されるという回路である。
交流信号が多少変動しても出力端子３に現われる交流信
号はある一定の周波数に固定されるという回路である。
抵抗４には大きな容量値を持つ回路特性上本来接続して
おくべきコンデンサー７と、コンデンサー７より小さい
容量値を持つ試験付加用コンデンサー６が切換器５を通
して接続される。本実施例では、測定上、１μＦ以上の
コンデンサーを大容量のコンデンサー７とする。
おくべきコンデンサー７と、コンデンサー７より小さい
容量値を持つ試験付加用コンデンサー６が切換器５を通
して接続される。本実施例では、測定上、１μＦ以上の
コンデンサーを大容量のコンデンサー７とする。
８はコンデンサーである。第１図の回路においては、ど
の位の周波数の変動まで出力が固定されるかは、コンデ
ンサー７の値によって決まる。他のブロック測定の際に
は発振周波数の正確な発振器を使用するため、この回路
の入力信号の周波数のずれはほとんどない。したがって
、入力信号に対する出力周波数の調整範囲は狭くてよく
、切換器５は容量値の小さいコンデンサー６側に切り換
えておくことにより過渡応答による出力応答の遅れを、
コンデンサー７を接続したときよりも短くすることがで
き、測定時間の短縮が図れる。また、この回路ブロック
２の入力信号に対する出力周波数の調整範囲を測定する
ときには、切換器５をコンデンサー７側に切り換えてお
くことにより本来の特性を測定することができる。
の位の周波数の変動まで出力が固定されるかは、コンデ
ンサー７の値によって決まる。他のブロック測定の際に
は発振周波数の正確な発振器を使用するため、この回路
の入力信号の周波数のずれはほとんどない。したがって
、入力信号に対する出力周波数の調整範囲は狭くてよく
、切換器５は容量値の小さいコンデンサー６側に切り換
えておくことにより過渡応答による出力応答の遅れを、
コンデンサー７を接続したときよりも短くすることがで
き、測定時間の短縮が図れる。また、この回路ブロック
２の入力信号に対する出力周波数の調整範囲を測定する
ときには、切換器５をコンデンサー７側に切り換えてお
くことにより本来の特性を測定することができる。
（実施例２）
第２図は本発明の実施例２を示すブロック図である。
第２図の回路はよく使われる増幅器である。増幅器は、
演算増幅器１６と、前記演算増幅器１６の非反転入力端
子に接続された抵抗１５と、前記演算増幅器１６の反転
入力端子と入力端子９の間に接続された抵抗１０と、出
力端子１７と前記演算増幅器１６の反転入力端子の間に
接続された帰還抵抗１４で構成され、前記帰還抵抗１４
には、並列に接続された特性上必要とされる容量値を持
つコンデンサー１３と、これに並列に接続された小さい
容量値を持つコンデンサー１２と、切換器１１とを有す
る。本実施例では、測定上、１μＦ以上のコンデンサー
を大容量のコンデンサー１３とする。第２図の増幅回路
の周波数特性は、帰還抵抗１４の抵抗値と、帰還抵抗１
４に接続されたコンデンサーの容量値によって決定され
る。周波数特性に関係する試験以外では、切換器１１を
容量値の小さいコンデンサー１２側にして試験を行うこ
とによりコンデンサーの過渡応答による出力応答の遅れ
を小さくし試験時間を短縮することができる。周波数特
性に関係する試験においては、切換器１１を本来特性上
必要とされる容量値を持つ″７ンデンサー１３側に切り
換λることにより本来の特性を試験することがｉｉｙ能
となる。
演算増幅器１６と、前記演算増幅器１６の非反転入力端
子に接続された抵抗１５と、前記演算増幅器１６の反転
入力端子と入力端子９の間に接続された抵抗１０と、出
力端子１７と前記演算増幅器１６の反転入力端子の間に
接続された帰還抵抗１４で構成され、前記帰還抵抗１４
には、並列に接続された特性上必要とされる容量値を持
つコンデンサー１３と、これに並列に接続された小さい
容量値を持つコンデンサー１２と、切換器１１とを有す
る。本実施例では、測定上、１μＦ以上のコンデンサー
を大容量のコンデンサー１３とする。第２図の増幅回路
の周波数特性は、帰還抵抗１４の抵抗値と、帰還抵抗１
４に接続されたコンデンサーの容量値によって決定され
る。周波数特性に関係する試験以外では、切換器１１を
容量値の小さいコンデンサー１２側にして試験を行うこ
とによりコンデンサーの過渡応答による出力応答の遅れ
を小さくし試験時間を短縮することができる。周波数特
性に関係する試験においては、切換器１１を本来特性上
必要とされる容量値を持つ″７ンデンサー１３側に切り
換λることにより本来の特性を試験することがｉｉｙ能
となる。
［発明の効果１
以上説明したように本発明によれ５ば、コンデン勺・−
の充放電特性を利用する回路ζ、おいても短時間（・・
の測定試験がｑ能であり、か°、）試験回路も簡１ｔな
構成のイ＼］加回路を有する回路で構成できるという効
果を治”する。
の充放電特性を利用する回路ζ、おいても短時間（・・
の測定試験がｑ能であり、か°、）試験回路も簡１ｔな
構成のイ＼］加回路を有する回路で構成できるという効
果を治”する。
第１図は本発明の実施例１を示寸ゾ［〕ツク図、第２図
は本発明の実施例２を示すブ［ｌツク図、第：３図及び
第４図は従来例を示−イブロック図である。 １、！Ｊ・・・入力端子・ ２・・・回路ゾＤ
ツク３．１７・・・出力端子 ４．１０．１５・
・・ｉｔ抗５、 ＩＩ、 ＋９．２１．．２４・・・切
換器６．１２・・・小容量の試験用付加コンデンリ・−
２０・・・電流バッファ
は本発明の実施例２を示すブ［ｌツク図、第：３図及び
第４図は従来例を示−イブロック図である。 １、！Ｊ・・・入力端子・ ２・・・回路ゾＤ
ツク３．１７・・・出力端子 ４．１０．１５・
・・ｉｔ抗５、 ＩＩ、 ＋９．２１．．２４・・・切
換器６．１２・・・小容量の試験用付加コンデンリ・−
２０・・・電流バッファ
Claims (1)
- （１）容量の異なるコンデンサーの対と、切換器とを有
する半導体集積回路の試験回路であって、大容量のコン
デンサーは、回路特性上本来接続すべきコンデンサーと
して用いるものであり、小容量のコンデンサーは、大容
量のコンデンサーに並列に配置され、試験時に付加する
ものであり、 切換器は、大容量のコンデンサーと小容量のコンデンサ
ーとを任意に切替えるものであることを特徴とする半導
体集積回路の試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2182378A JP2982236B2 (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | 半導体集積回路の試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2182378A JP2982236B2 (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | 半導体集積回路の試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0469581A true JPH0469581A (ja) | 1992-03-04 |
| JP2982236B2 JP2982236B2 (ja) | 1999-11-22 |
Family
ID=16117267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2182378A Expired - Fee Related JP2982236B2 (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | 半導体集積回路の試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2982236B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004088365A (ja) * | 2002-08-26 | 2004-03-18 | Murata Mfg Co Ltd | 直流増幅回路および直流増幅回路の直流電圧測定方法 |
| JP2004151035A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Sharp Corp | 半導体装置の検査方法および装置 |
| US8374460B2 (en) | 2008-07-29 | 2013-02-12 | Ricoh Company, Ltd. | Image processing unit, noise reduction method, program and storage medium |
| CN107861042A (zh) * | 2017-10-25 | 2018-03-30 | 北京国联万众半导体科技有限公司 | 一种用于宽禁带半导体功率器件的测试方法 |
| JP2018060887A (ja) * | 2016-10-04 | 2018-04-12 | ローム株式会社 | 半導体集積回路装置及びそのスクリーニング方法並びにオペアンプ |
-
1990
- 1990-07-10 JP JP2182378A patent/JP2982236B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004088365A (ja) * | 2002-08-26 | 2004-03-18 | Murata Mfg Co Ltd | 直流増幅回路および直流増幅回路の直流電圧測定方法 |
| JP2004151035A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Sharp Corp | 半導体装置の検査方法および装置 |
| US8374460B2 (en) | 2008-07-29 | 2013-02-12 | Ricoh Company, Ltd. | Image processing unit, noise reduction method, program and storage medium |
| JP2018060887A (ja) * | 2016-10-04 | 2018-04-12 | ローム株式会社 | 半導体集積回路装置及びそのスクリーニング方法並びにオペアンプ |
| CN107861042A (zh) * | 2017-10-25 | 2018-03-30 | 北京国联万众半导体科技有限公司 | 一种用于宽禁带半导体功率器件的测试方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2982236B2 (ja) | 1999-11-22 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |