JPH0470015B2 - - Google Patents
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- JPH0470015B2 JPH0470015B2 JP58081062A JP8106283A JPH0470015B2 JP H0470015 B2 JPH0470015 B2 JP H0470015B2 JP 58081062 A JP58081062 A JP 58081062A JP 8106283 A JP8106283 A JP 8106283A JP H0470015 B2 JPH0470015 B2 JP H0470015B2
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- measurement
- subgroup
- radiation
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T12/00—Tomographic reconstruction from projections
- G06T12/20—Inverse problem, i.e. transformations from projection space into object space
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2211/00—Image generation
- G06T2211/40—Computed tomography
- G06T2211/421—Filtered back projection [FBP]
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S378/00—X-ray or gamma ray systems or devices
- Y10S378/901—Computer tomography program or processor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
被検物の一平面中の放射減衰分布を検出するコ
ンピユータ・トモグラフイ装置であつて、 − 放射源から発散しかつ平面中に存在する多数
の測定通路に沿つて、中心点を通りかつ360゜に
わたり規則的に分布する多数の方向から前記被
検物を照射するための透過性放射の平坦扇状ビ
ームを発生する少なくとも一個の当該放射源を
具え； − 各方向に対し、多数の発散測定通路に沿つて
被検物内に生じる放射の減衰の尺度である一群
の測定データを供給するために測定通路に沿つ
て被検物を通過した放射を検出する一連の検出
器を具え、この場合、前記放射源から放出され
前記中心点を通る中心ビームは、放射源と一連
の検出器の中心を通る線と、２つの隣接する測
定通路のなす角の1/4に等しい角度をなし、一
方、測定通路には、該測定通路に対して直角で
かつ中心点を通線に沿つて測つた最大幅ａを有
し； さらに演算装置を具え、該演算装置は − 測定データを記憶し、平行な測定通路に沿つ
て測定された測定データの下位群を検出するた
めのメモリと； − 測定データの各下位群の測定データのコンボ
リユーシヨン処理或いはフーリエ変換、周波数
濾波及びフーリエ逆変換の処理を実行するため
の濾波装置と； − 濾波された測定データの各下位群の値を像マ
トリツクスを構成するメモリのメモリ・セルの
マトリツクスに分布させて加えるための逆投影
装置と； − 前記像マトリツクスの内容を表示するための
表示装置とを有する コンピユータ・トモグラフイ装置に関する。
ンピユータ・トモグラフイ装置であつて、 − 放射源から発散しかつ平面中に存在する多数
の測定通路に沿つて、中心点を通りかつ360゜に
わたり規則的に分布する多数の方向から前記被
検物を照射するための透過性放射の平坦扇状ビ
ームを発生する少なくとも一個の当該放射源を
具え； − 各方向に対し、多数の発散測定通路に沿つて
被検物内に生じる放射の減衰の尺度である一群
の測定データを供給するために測定通路に沿つ
て被検物を通過した放射を検出する一連の検出
器を具え、この場合、前記放射源から放出され
前記中心点を通る中心ビームは、放射源と一連
の検出器の中心を通る線と、２つの隣接する測
定通路のなす角の1/4に等しい角度をなし、一
方、測定通路には、該測定通路に対して直角で
かつ中心点を通線に沿つて測つた最大幅ａを有
し； さらに演算装置を具え、該演算装置は − 測定データを記憶し、平行な測定通路に沿つ
て測定された測定データの下位群を検出するた
めのメモリと； − 測定データの各下位群の測定データのコンボ
リユーシヨン処理或いはフーリエ変換、周波数
濾波及びフーリエ逆変換の処理を実行するため
の濾波装置と； − 濾波された測定データの各下位群の値を像マ
トリツクスを構成するメモリのメモリ・セルの
マトリツクスに分布させて加えるための逆投影
装置と； − 前記像マトリツクスの内容を表示するための
表示装置とを有する コンピユータ・トモグラフイ装置に関する。
このようなコンピユータ・トモグラフイ装置は
US−PS4051379から公知であり、この公知の技
術によれば、検出器列を中心点とＸ線放射源とを
通る中心線に対し非対称に配設して分解能を上げ
ている。この場合、互いに部分的に重畳する（反
対方向）平行な測定通路に沿つて測定した測定デ
ータを下位群（サブグループ）に分けてこれらを
例えばUS−PS3983398に説明されている方法で
さらに処理する。このとき、これら測定データを
さらに処理する前に各方向から測定した測定デー
タを蓄積することが必要である。この放射源は
（重畳する）平行な測定通路のある下位群に関連
する全ての測定データを検出し、然る後この下位
群の測定データをフイルタで波して逆投影出来
るように中心点の回りに回転する必要があつた。
分解能を高めるため、所要の蓄積スペースを増大
し、測定データの処理開始時点を遅延させ及び下
位群当りの測定通路数を２倍にすることによつて
演算回数を多くしている。
US−PS4051379から公知であり、この公知の技
術によれば、検出器列を中心点とＸ線放射源とを
通る中心線に対し非対称に配設して分解能を上げ
ている。この場合、互いに部分的に重畳する（反
対方向）平行な測定通路に沿つて測定した測定デ
ータを下位群（サブグループ）に分けてこれらを
例えばUS−PS3983398に説明されている方法で
さらに処理する。このとき、これら測定データを
さらに処理する前に各方向から測定した測定デー
タを蓄積することが必要である。この放射源は
（重畳する）平行な測定通路のある下位群に関連
する全ての測定データを検出し、然る後この下位
群の測定データをフイルタで波して逆投影出来
るように中心点の回りに回転する必要があつた。
分解能を高めるため、所要の蓄積スペースを増大
し、測定データの処理開始時点を遅延させ及び下
位群当りの測定通路数を２倍にすることによつて
演算回数を多くしている。
本発明の目的は測定データの処理を開始する前
の待ち時間を短かくし、波（フイルタリング：
filtering）処理を遥かに（２倍）速く実行し及び
高分解能の像を得るコンピユータ・トモグラフイ
装置を提供することにある。
の待ち時間を短かくし、波（フイルタリング：
filtering）処理を遥かに（２倍）速く実行し及び
高分解能の像を得るコンピユータ・トモグラフイ
装置を提供することにある。
この目的を達成するために、本発明のコンピユ
ータトモグラフイ装置は次のような特徴を有す
る。すなわち、前記演算装置は各測定方向に対し
360゜にわたり測定された測定データの群から測定
データの二個の下位群を検出し、この場合、一方
の下位群の測定データは他方の下位群の測定デー
タが測定される方向とは反対の方向で測定され、
一方、一つの下位群中の二つの隣接する測定デー
タと関連する二つの測定通路間の距離は最大でも
ａとしかつａ／２よりも大きく； 前記濾波装置は周波数（2a）-1に対し最大とな
り及び周波数０及び１／ａに対し零点となる周波
数応答曲線を有し； 前記逆投影装置は濾波された値の補間距離ａ／
２で差し込み処理された各対の下位群を前記像マ
トリツクスに分布すると共に、これら下位群を該
像マトリツクスに加えるようになしてあり； 前記像マトリツクスのメモリ・セルの個数を発
散放射のビームによつて決まる検出器の個数より
も大としたことを特徴とする。
ータトモグラフイ装置は次のような特徴を有す
る。すなわち、前記演算装置は各測定方向に対し
360゜にわたり測定された測定データの群から測定
データの二個の下位群を検出し、この場合、一方
の下位群の測定データは他方の下位群の測定デー
タが測定される方向とは反対の方向で測定され、
一方、一つの下位群中の二つの隣接する測定デー
タと関連する二つの測定通路間の距離は最大でも
ａとしかつａ／２よりも大きく； 前記濾波装置は周波数（2a）-1に対し最大とな
り及び周波数０及び１／ａに対し零点となる周波
数応答曲線を有し； 前記逆投影装置は濾波された値の補間距離ａ／
２で差し込み処理された各対の下位群を前記像マ
トリツクスに分布すると共に、これら下位群を該
像マトリツクスに加えるようになしてあり； 前記像マトリツクスのメモリ・セルの個数を発
散放射のビームによつて決まる検出器の個数より
も大としたことを特徴とする。
本発明によるコンピユータ・トモグラフイ装置
においては、放射源が中心点に対し発散放射ビー
ムが形成する頂角よりも大きく回転した時には既
に下位群の波処理が開始している。これがため
測定データの複数のグループを蓄積するための蓄
積スペースは遥かに少なくすることが出来る（Ａ
分の一とすることが出来る）。また、下位群当り
の測定データの個数を半分としたので、演算時間
も短かく出来る（二分の一とすることが出来る）。
コンピユータ・トモグラフイ装置の波特性を
（コンボリユーシヨン）波装置及び逆投影装置
の周波数応答曲線によつて決める。この波装置
の周波数応答曲線は周波数０と１／ａに対して零
点を有し、この場合ａは下位群内の二つの測定通
路間の最大距離である。この最大距離ａは測定通
路に対し直角でかつ中心を通る線に沿つて測られ
た測定通路の最大幅に等しい。周波数応答曲線は
周波数（2a）-1に対して最大値を有する。従来に
おいては平行及び逆平行測定通路に沿つて測定さ
れた測定データを同時に波する波装置の周波
数応答曲線Ｑ(R)はＲ１／ａの周波数に対しＱ(R)
＝｜Ｒ｜によつて定まる。直線補間法を使用する
場合には、逆投影装置の周波数応答曲線は、Ｒを
像マトリツクスで像形成するための周波数とする
と、sin c2（π・１／２・ａ・Ｒ）で表わせる。従つ て、この場合には、周波数Ｒ＝２／ａのとき零点
となる。全体の周波数伝達関数は上述した二つの
周波数応答曲線の積で決まる。
においては、放射源が中心点に対し発散放射ビー
ムが形成する頂角よりも大きく回転した時には既
に下位群の波処理が開始している。これがため
測定データの複数のグループを蓄積するための蓄
積スペースは遥かに少なくすることが出来る（Ａ
分の一とすることが出来る）。また、下位群当り
の測定データの個数を半分としたので、演算時間
も短かく出来る（二分の一とすることが出来る）。
コンピユータ・トモグラフイ装置の波特性を
（コンボリユーシヨン）波装置及び逆投影装置
の周波数応答曲線によつて決める。この波装置
の周波数応答曲線は周波数０と１／ａに対して零
点を有し、この場合ａは下位群内の二つの測定通
路間の最大距離である。この最大距離ａは測定通
路に対し直角でかつ中心を通る線に沿つて測られ
た測定通路の最大幅に等しい。周波数応答曲線は
周波数（2a）-1に対して最大値を有する。従来に
おいては平行及び逆平行測定通路に沿つて測定さ
れた測定データを同時に波する波装置の周波
数応答曲線Ｑ(R)はＲ１／ａの周波数に対しＱ(R)
＝｜Ｒ｜によつて定まる。直線補間法を使用する
場合には、逆投影装置の周波数応答曲線は、Ｒを
像マトリツクスで像形成するための周波数とする
と、sin c2（π・１／２・ａ・Ｒ）で表わせる。従つ て、この場合には、周波数Ｒ＝２／ａのとき零点
となる。全体の周波数伝達関数は上述した二つの
周波数応答曲線の積で決まる。
実際あることであるが像エレメントの大きさが
測定通路間の最大距離ａにほぼ等しい場合には、
従来の波装置は周波数範囲をより広くすること
が可能であるが、像マトリツクスに最終的に像形
成されるべき（高）周波数は逆投影装置の周波数
応答曲線及び像マトリツクスの波特性によつて
相当制限を受けることが認められ得る。本発明に
よるコンピユータ・トモグラフイ装置において
は、波装置は高周波を著しく減衰させるが、逆
投影装置はこれら周波数を強く減衰された状態で
のみ通過させるので、この減衰は像マトリツクス
で最終的に像形成される周波数を厳しく制限する
ものではない。本発明によるコンピユータ・トモ
グラフイ装置においては、所定個数の検出器で測
定データの波を短時間の演算時間で実行しかつ
大きさを最小限にし得るメモリで最適な高分解能
を得る。
測定通路間の最大距離ａにほぼ等しい場合には、
従来の波装置は周波数範囲をより広くすること
が可能であるが、像マトリツクスに最終的に像形
成されるべき（高）周波数は逆投影装置の周波数
応答曲線及び像マトリツクスの波特性によつて
相当制限を受けることが認められ得る。本発明に
よるコンピユータ・トモグラフイ装置において
は、波装置は高周波を著しく減衰させるが、逆
投影装置はこれら周波数を強く減衰された状態で
のみ通過させるので、この減衰は像マトリツクス
で最終的に像形成される周波数を厳しく制限する
ものではない。本発明によるコンピユータ・トモ
グラフイ装置においては、所定個数の検出器で測
定データの波を短時間の演算時間で実行しかつ
大きさを最小限にし得るメモリで最適な高分解能
を得る。
本発明による方法は、各測定方向に対する測定
データの下位群から二つの下位群を選択し、この
場合、第一下位群の測定データを第二下位群の測
定データが検出される測定通路とは逆平行の測定
通路に沿つて測定すると共に各下位群において、
二つの測定通路間の距離を最大でもａで１／2a
よりも大とし、各下位群の濾波を、周波数
（2a）-1のとき最大でかつ周波数０及び１／ａのと
き零点となる周波数応答曲線を有する濾波装置に
よつて実行し、然る後、濾波された測定データの
各第一下位群にこれと関連する第二下位群の測定
データを差し込み、測定データの差し込まれた下
位群を逆投影し、この場合、測定データ間の補間
距離をａ／２としたことを特徴とする。
データの下位群から二つの下位群を選択し、この
場合、第一下位群の測定データを第二下位群の測
定データが検出される測定通路とは逆平行の測定
通路に沿つて測定すると共に各下位群において、
二つの測定通路間の距離を最大でもａで１／2a
よりも大とし、各下位群の濾波を、周波数
（2a）-1のとき最大でかつ周波数０及び１／ａのと
き零点となる周波数応答曲線を有する濾波装置に
よつて実行し、然る後、濾波された測定データの
各第一下位群にこれと関連する第二下位群の測定
データを差し込み、測定データの差し込まれた下
位群を逆投影し、この場合、測定データ間の補間
距離をａ／２としたことを特徴とする。
なお、放射線源は扁平扇形ビームを放出するも
のであるからこの扁平扇形ビーム内の「測定通
路」間には物理的な境界が存するものではない
が、ここにいう「測定通路」とは、放射源に対す
る１つの検出器素子の位置により決まる通路を意
味する。
のであるからこの扁平扇形ビーム内の「測定通
路」間には物理的な境界が存するものではない
が、ここにいう「測定通路」とは、放射源に対す
る１つの検出器素子の位置により決まる通路を意
味する。
以下図面により本発明の実施例につき説明す
る。
る。
第１図に図式的に示した種類のコンピユータ・
トモグラフイ装置は好ましくはＸ線管とし得る放
射源１を具え、この放射源から絞り２によつて絞
られかつ角度αにわたり発散し、厚さを３〜35mm
とし得るＸ線放射の平担ビーム３を生ずる。この
放射ビーム３は個別の検出器５から成る検出器列
４に入射し、これら検出器で測定通路３ａを通り
該当する検出器に達した各放射を測定する。各放
射通路の幅及びこれら放射通路の相対的距離によ
つてテーブル６上にある被検物７を走査及び構成
する空間精度が定まる。この精度（分解能）を高
めるため、検出器列４を、放射源１から中心点
（回転の）を通る中心ビームに対し非対称に配置
する。
トモグラフイ装置は好ましくはＸ線管とし得る放
射源１を具え、この放射源から絞り２によつて絞
られかつ角度αにわたり発散し、厚さを３〜35mm
とし得るＸ線放射の平担ビーム３を生ずる。この
放射ビーム３は個別の検出器５から成る検出器列
４に入射し、これら検出器で測定通路３ａを通り
該当する検出器に達した各放射を測定する。各放
射通路の幅及びこれら放射通路の相対的距離によ
つてテーブル６上にある被検物７を走査及び構成
する空間精度が定まる。この精度（分解能）を高
めるため、検出器列４を、放射源１から中心点
（回転の）を通る中心ビームに対し非対称に配置
する。
好ましい一実施列では、中心点９と放射線１を
通る中心ビーム８（第１図）は、放射源１と一連
の検出器の中心を通る線と、２つの隣接した測定
通路のなす角度の1/4に等しい角をなす。検出器
列４を例えば576個の検出器５を以つて構成し、
αを43.2゜とし及び放射源１と検出器列４との間
の距離は1mに達する。検出器５の列４を、例え
ば細長いガス充填イオン化チエンバを以つて構成
し得る。このチエンバ中には平坦電極を互いに平
行に並べて配置する。
通る中心ビーム８（第１図）は、放射源１と一連
の検出器の中心を通る線と、２つの隣接した測定
通路のなす角度の1/4に等しい角をなす。検出器
列４を例えば576個の検出器５を以つて構成し、
αを43.2゜とし及び放射源１と検出器列４との間
の距離は1mに達する。検出器５の列４を、例え
ば細長いガス充填イオン化チエンバを以つて構成
し得る。このチエンバ中には平坦電極を互いに平
行に並べて配置する。
この放射源１及び検出器列４の組立体を、中心
点９の回りに回転自在となるように配置した支持
フレーム１０上に取り付け、被検物７のある層を
放射ビーム３で（一平面内に存在する）種々の異
なる方向から照射出来るようにする。この支持フ
レーム１０を軸受１１の手助けを経て案内し、そ
の駆動を電動機１３によつて変速機歯車機構１２
を介して行う。この駆動を連続的とも間欠的とも
し得るし、前者の場合は好ましくは放射源１を放
射パルスを放出する放射源とする。
点９の回りに回転自在となるように配置した支持
フレーム１０上に取り付け、被検物７のある層を
放射ビーム３で（一平面内に存在する）種々の異
なる方向から照射出来るようにする。この支持フ
レーム１０を軸受１１の手助けを経て案内し、そ
の駆動を電動機１３によつて変速機歯車機構１２
を介して行う。この駆動を連続的とも間欠的とも
し得るし、前者の場合は好ましくは放射源１を放
射パルスを放出する放射源とする。
これら検出器５から増幅器１４を通り信号変換
器１５に測定信号を供給し、この信号変換器にお
いてこれら測定信号をデイジタル化し、然る後こ
れら信号を演算装置１６に供給する。これら測定
信号を“オフセツト”に対し演算装置１６によつ
て補正し、対数化し及びメモリ１７に格納されて
いる対数及び校正表に照らして校正を行い、其の
後に測定値をメモリ１７に蓄積する。演算装置１
６によつて決められるべき放射減衰分布の像マト
リツクスを表示装置（モニタ）１８で表示するこ
とが出来る。この演算装置においては、測定デー
タの処理を、コンボリユーシヨン処理か又はフー
リエ変換、波及び逆変換の処理かのいずれかの
処理を実行するフイルタリング装置１６ａによつ
て及び波された測定データをメモリ１７に蓄積
された像マトリツクスのメモリセルに分配する逆
投影装置１６ｂによつて行う。
器１５に測定信号を供給し、この信号変換器にお
いてこれら測定信号をデイジタル化し、然る後こ
れら信号を演算装置１６に供給する。これら測定
信号を“オフセツト”に対し演算装置１６によつ
て補正し、対数化し及びメモリ１７に格納されて
いる対数及び校正表に照らして校正を行い、其の
後に測定値をメモリ１７に蓄積する。演算装置１
６によつて決められるべき放射減衰分布の像マト
リツクスを表示装置（モニタ）１８で表示するこ
とが出来る。この演算装置においては、測定デー
タの処理を、コンボリユーシヨン処理か又はフー
リエ変換、波及び逆変換の処理かのいずれかの
処理を実行するフイルタリング装置１６ａによつ
て及び波された測定データをメモリ１７に蓄積
された像マトリツクスのメモリセルに分配する逆
投影装置１６ｂによつて行う。
支持フレーム１０を回転させている間、パルス
発生器２０が発生するパルスの個数をカウンタ１
９で計数し、このカウンタ１９の計数位置が支持
フレーム１０の方位の目安に従つて順次の測定方
向の回転角θの目安を与えるように構成する。
発生器２０が発生するパルスの個数をカウンタ１
９で計数し、このカウンタ１９の計数位置が支持
フレーム１０の方位の目安に従つて順次の測定方
向の回転角θの目安を与えるように構成する。
放射源１と被検物７との間の距離を、この距離
が被検物７の寸法に適合出来るように選択するの
が有益であることが判明した。これがため、放射
源１及び検出器列４を支持体２１上に取り付け
る。この支持体は軸受２３上の案内レール２２に
沿つて電動機２４と結合した変速機歯車２５によ
つて移動出来るように構成する。スイツチ２７に
よつて電動機２４を制御回路２６を移て駆動出来
る。
が被検物７の寸法に適合出来るように選択するの
が有益であることが判明した。これがため、放射
源１及び検出器列４を支持体２１上に取り付け
る。この支持体は軸受２３上の案内レール２２に
沿つて電動機２４と結合した変速機歯車２５によ
つて移動出来るように構成する。スイツチ２７に
よつて電動機２４を制御回路２６を移て駆動出来
る。
図示の明確を図るため、第２図では放射源１及
び検出器列４の構成をｘ−ｙ座標系で示す。図示
の位置にある検出器５iによつて供給されるべき
測定値は放射源１と検出器５iの中心を通る放射
通路３０ａに沿つて測定されるべきものとする。
中心点９の区域における測定通路間の距離は、ｒ
を放射源１と中心点９との間の距離とし、Δψを
二つの測定通路間でなす角とすると、ａ＝ｒ・
Δψである。放射源１が検出器５と共に角Δψだけ
回転すると、測定値と関連しかつ放射源１及び検
出器５i+1間に位置する測定通路は回転前の放射
源１及び検出器５i間の測定通路に平行であるこ
とがわかるであろう。中心点９と放射源１を通る
線とｙ軸のなす角である種々の角位置θiで測定さ
れた測定信号群から、平行な測定通路に沿つて測
定された測定信号の下位群を選出出来ることがわ
かるであろう。例としてψ1+2を放射源１と検出器
５i+2を結ぶ線３０iと放射源１と中心点（回転の）
を通る中心線３０とによつて形成される角度とす
ると、隣接する二つの通路間の距離Ｗはｒ
cosψi+2・Δψになる。
び検出器列４の構成をｘ−ｙ座標系で示す。図示
の位置にある検出器５iによつて供給されるべき
測定値は放射源１と検出器５iの中心を通る放射
通路３０ａに沿つて測定されるべきものとする。
中心点９の区域における測定通路間の距離は、ｒ
を放射源１と中心点９との間の距離とし、Δψを
二つの測定通路間でなす角とすると、ａ＝ｒ・
Δψである。放射源１が検出器５と共に角Δψだけ
回転すると、測定値と関連しかつ放射源１及び検
出器５i+1間に位置する測定通路は回転前の放射
源１及び検出器５i間の測定通路に平行であるこ
とがわかるであろう。中心点９と放射源１を通る
線とｙ軸のなす角である種々の角位置θiで測定さ
れた測定信号群から、平行な測定通路に沿つて測
定された測定信号の下位群を選出出来ることがわ
かるであろう。例としてψ1+2を放射源１と検出器
５i+2を結ぶ線３０iと放射源１と中心点（回転の）
を通る中心線３０とによつて形成される角度とす
ると、隣接する二つの通路間の距離Ｗはｒ
cosψi+2・Δψになる。
このような下位群を第１図に示す演算装置１６
の手助けをもつて波する。この場合フイルタの
波曲線は（2a）-1のカツト・オフ周波数Rnaxを
有し、第３図に直線３１によつて示すような形態
を有し得る。
の手助けをもつて波する。この場合フイルタの
波曲線は（2a）-1のカツト・オフ周波数Rnaxを
有し、第３図に直線３１によつて示すような形態
を有し得る。
第３図において、横軸に空間周波数をプロツト
し、縦軸に（コンボリユーシヨン）フイルタの振
幅Ｑ(R)をプロツトして示す。この第３図に示す従
来の演算装置１６のフイルタリング作用の周波数
応答曲線３１（カツトオフ周波数（2a）-1）の例
は、例えば文献「Indian Journal of Pure and
Applied Physics」Vol.9，November 1971，第
997〜1003頁に記載されている。第３図に示す曲
線３１及び３３は離散的フーリエ変換から得られ
る周波数関数の一部分である。これら関数につき
さらに詳述する。実行すべき波をサンプリング
周波数に同調させる必要があると共に測定通路間
の距離ａによつてこれに逆比例するように定め
る。このようにすることにより、被検体７の再構
成されるべき像の分解能が定まる。
し、縦軸に（コンボリユーシヨン）フイルタの振
幅Ｑ(R)をプロツトして示す。この第３図に示す従
来の演算装置１６のフイルタリング作用の周波数
応答曲線３１（カツトオフ周波数（2a）-1）の例
は、例えば文献「Indian Journal of Pure and
Applied Physics」Vol.9，November 1971，第
997〜1003頁に記載されている。第３図に示す曲
線３１及び３３は離散的フーリエ変換から得られ
る周波数関数の一部分である。これら関数につき
さらに詳述する。実行すべき波をサンプリング
周波数に同調させる必要があると共に測定通路間
の距離ａによつてこれに逆比例するように定め
る。このようにすることにより、被検体７の再構
成されるべき像の分解能が定まる。
分解能を高めるために、検出器列４を放射源１
の中心ビーム３０（第２図）に対して非対称的に
配置することを既に提案したが、中心点９を通る
このビームは検出器５iの1/4が中心ビーム３０の
一方の側上に及び残りの3/4がこのビーム３０の
他方の側上にあるように、この検出器５iに入射
する。ここに提案した検出器５iの非対称配置は、
放射源１を回転中心として検出器５iを開口角の
１／４（Δψ／４）だけ回転させることによつて得
る。この検出器５iは測定通路３０ａに沿つて測
定された測定値を供給する。放射源１及び検出器
列４を180゜の角度θにわたり回転させると、この
検出器５iは測定通路３０ｂと関連した測定値を
供給する。これら両測定通路３０ａ及び３０ｂは
平行であつて回転中心点９の区域における相対距
離はａ／２である。異なる放射源位置θi及びθi＋
180゜において検出された測定値から測定値下位群
を選択出来、この場合二つの隣接する測定通路間
の距離はｒ cosψi・Δψ／２である。上述した文
献によれば、このような下位群の測定値をフイル
タＱ(R)で波し、その応答曲線３３を第３図に破
線で示す。この場合のカツト周波数は１／ａであ
り、このことは分解能が２倍となることを意味す
る。他方、(i)全ての測定値を蓄積するためには大
容量のメモリが必要であること（検出器の個数は
250であるので少なくとも250×223の測定値があ
り、放射源位置の個数は180゜の回転に対するθi
180゜である）；(ii)必要とされる全ての測定値が蓄
積されかつ選択されるまで波処理は開始出来な
い（数秒の期間）；及び(iii)波処理に必要な演算
は２倍であり、従つてより長い演算時間を必要と
し又はより大なる演算能力が必要となる。
の中心ビーム３０（第２図）に対して非対称的に
配置することを既に提案したが、中心点９を通る
このビームは検出器５iの1/4が中心ビーム３０の
一方の側上に及び残りの3/4がこのビーム３０の
他方の側上にあるように、この検出器５iに入射
する。ここに提案した検出器５iの非対称配置は、
放射源１を回転中心として検出器５iを開口角の
１／４（Δψ／４）だけ回転させることによつて得
る。この検出器５iは測定通路３０ａに沿つて測
定された測定値を供給する。放射源１及び検出器
列４を180゜の角度θにわたり回転させると、この
検出器５iは測定通路３０ｂと関連した測定値を
供給する。これら両測定通路３０ａ及び３０ｂは
平行であつて回転中心点９の区域における相対距
離はａ／２である。異なる放射源位置θi及びθi＋
180゜において検出された測定値から測定値下位群
を選択出来、この場合二つの隣接する測定通路間
の距離はｒ cosψi・Δψ／２である。上述した文
献によれば、このような下位群の測定値をフイル
タＱ(R)で波し、その応答曲線３３を第３図に破
線で示す。この場合のカツト周波数は１／ａであ
り、このことは分解能が２倍となることを意味す
る。他方、(i)全ての測定値を蓄積するためには大
容量のメモリが必要であること（検出器の個数は
250であるので少なくとも250×223の測定値があ
り、放射源位置の個数は180゜の回転に対するθi
180゜である）；(ii)必要とされる全ての測定値が蓄
積されかつ選択されるまで波処理は開始出来な
い（数秒の期間）；及び(iii)波処理に必要な演算
は２倍であり、従つてより長い演算時間を必要と
し又はより大なる演算能力が必要となる。
第３図において、本発明による演算装置による
波処理の周波数応答曲線Ｑ(R)を線分３１及び３
１′で示す。本発明による波処理においては、
同一測定方向での下位群の測定値をも処理するこ
とが出来る。波されるべき下位群の測定信号を
相対距離ａ＝（ｒ・cosψi・Δψ）を有する測定通
路に沿つて測定する。従つて反対方向に測定され
る第二下位群は波処理前は第一下位群によつて
差し込み（インタリーブ：interleave）されな
い。従つて、この場合第一下位群の測定値が既に
測定し終つているので、放射源１（第２図）が角
度θ＝α（放射ビームの頂角）だけ回転すると直
ちに波処理が開始出来る。波された第一下位
群すなわち第一波下位群は、これと関連する第
二下位群が測定されかつ波されるまで蓄積さ
れ、その後に第一下位群及び関連する第二下位群
が差し込まれる（ある下位群の波された測定値
は他方の下位群の二つの測定値間の位置にある）。
従つて、測定値を波する前にに差し込んで第３
図に線分３１及び３１′で示す応答曲線を有する
フイルタによつて処理する場合にも、このような
全体的な合成群を得ることが出来るであろう（相
対距離がａである）。従来の方法によつて得られ
た測定値群を波係数（群Ｉ）f0，f1，f2，……
fNで波する。この場合、fNをナイキスト周波数
とし、これは（2a）-1（第３図の直線３１）で決ま
る。測定値間の距離を1/2ａとする場合には、ナ
イキスト周波数は１／ａ（第３図の直線３３）で
ある。測定値の第一下位群を本発明の方法に従つ
て係数f0，f1，f2，……fNで波する場合には、
又その後に同様にして波された下位群を第一下
位群にインタリーブさせると、これら下位群は実
際上係数f0，０，f1，０，f2，０，……fNで波
され、ナイキスト周波数fNは１／ａであり及び係
数f1，f2，……は群Ｉの係数f1，f2，……と関連
する周波数よりも２倍大きい周波応と関連する。
波処理の周波数応答曲線Ｑ(R)を線分３１及び３
１′で示す。本発明による波処理においては、
同一測定方向での下位群の測定値をも処理するこ
とが出来る。波されるべき下位群の測定信号を
相対距離ａ＝（ｒ・cosψi・Δψ）を有する測定通
路に沿つて測定する。従つて反対方向に測定され
る第二下位群は波処理前は第一下位群によつて
差し込み（インタリーブ：interleave）されな
い。従つて、この場合第一下位群の測定値が既に
測定し終つているので、放射源１（第２図）が角
度θ＝α（放射ビームの頂角）だけ回転すると直
ちに波処理が開始出来る。波された第一下位
群すなわち第一波下位群は、これと関連する第
二下位群が測定されかつ波されるまで蓄積さ
れ、その後に第一下位群及び関連する第二下位群
が差し込まれる（ある下位群の波された測定値
は他方の下位群の二つの測定値間の位置にある）。
従つて、測定値を波する前にに差し込んで第３
図に線分３１及び３１′で示す応答曲線を有する
フイルタによつて処理する場合にも、このような
全体的な合成群を得ることが出来るであろう（相
対距離がａである）。従来の方法によつて得られ
た測定値群を波係数（群Ｉ）f0，f1，f2，……
fNで波する。この場合、fNをナイキスト周波数
とし、これは（2a）-1（第３図の直線３１）で決ま
る。測定値間の距離を1/2ａとする場合には、ナ
イキスト周波数は１／ａ（第３図の直線３３）で
ある。測定値の第一下位群を本発明の方法に従つ
て係数f0，f1，f2，……fNで波する場合には、
又その後に同様にして波された下位群を第一下
位群にインタリーブさせると、これら下位群は実
際上係数f0，０，f1，０，f2，０，……fNで波
され、ナイキスト周波数fNは１／ａであり及び係
数f1，f2，……は群Ｉの係数f1，f2，……と関連
する周波数よりも２倍大きい周波応と関連する。
差し込み処理後、波測定値をこれまで知られ
ている方法で逆投影する。この場合、測定信号の
第一波下位群を蓄積する必要があり、そのため
蓄積スペース及び待ち時間が必要となる点に留意
すべきである。（第一下位群とは逆平行の）第二
下位群を構成しかつ波したら直ちに二つの差し
込み下位群の逆投影を開始することが出来る。し
かしながら、このような第二下位群を波する速
度は波前に下位群に差し込みを行う場合（測定
データ数が２倍でかつ波係数の個数が２倍であ
る）速度よりも４倍速くなる。さらに波される
べき下位群を一層速く処理することが出来るが、
この処理を既に予め波されかつ引き続き差し込
み処理がなされている測定データの下位群を逆投
影する期間に同時に実行することが出来る。
ている方法で逆投影する。この場合、測定信号の
第一波下位群を蓄積する必要があり、そのため
蓄積スペース及び待ち時間が必要となる点に留意
すべきである。（第一下位群とは逆平行の）第二
下位群を構成しかつ波したら直ちに二つの差し
込み下位群の逆投影を開始することが出来る。し
かしながら、このような第二下位群を波する速
度は波前に下位群に差し込みを行う場合（測定
データ数が２倍でかつ波係数の個数が２倍であ
る）速度よりも４倍速くなる。さらに波される
べき下位群を一層速く処理することが出来るが、
この処理を既に予め波されかつ引き続き差し込
み処理がなされている測定データの下位群を逆投
影する期間に同時に実行することが出来る。
しかしながら、原理的には、各波下位群に対
し、これに関連する波を差し込むことなく各
波下位群を逆投影することが可能である。この場
合、各下位群の波測定値の各対間に値“０”を
差し込む必要がある。その場合、逆投影を実行す
るために要する全演算時間は２倍となること明ら
かである。
し、これに関連する波を差し込むことなく各
波下位群を逆投影することが可能である。この場
合、各下位群の波測定値の各対間に値“０”を
差し込む必要がある。その場合、逆投影を実行す
るために要する全演算時間は２倍となること明ら
かである。
この場合、像マトリツクスおいて最終的に得ら
れた情報は波装置、逆投影装置及び像マトリツ
クスの周波数応答曲線の積である全体の周波数で
の波処理が行われている。
れた情報は波装置、逆投影装置及び像マトリツ
クスの周波数応答曲線の積である全体の周波数で
の波処理が行われている。
逆投影されるべき波測定値に対し直線補間処
理を施す場合には、実際には（ａ／２の距離をも
つた）波測定値に関して（基線幅ａを有する）
三角関数の畳込み（コンボリユーシヨン：
convolu−tion）を実行する。また空間領域内で
の畳込みは周波数領域内でのフイルタＴ(R)での
波処理とみなすことが出来る。上述した三角関数
はＴ(R)＝sin c2（〓・１／２ａ・Ｒ）によつて定まる 周波数応答曲線を有している。第４図にこの曲線
を線分４５によつて示す。波測定値の逆投影の
際に（直線）補間処理を行うと、より高い空間周
波数が本質的に減衰することが避けられない。
理を施す場合には、実際には（ａ／２の距離をも
つた）波測定値に関して（基線幅ａを有する）
三角関数の畳込み（コンボリユーシヨン：
convolu−tion）を実行する。また空間領域内で
の畳込みは周波数領域内でのフイルタＴ(R)での
波処理とみなすことが出来る。上述した三角関数
はＴ(R)＝sin c2（〓・１／２ａ・Ｒ）によつて定まる 周波数応答曲線を有している。第４図にこの曲線
を線分４５によつて示す。波測定値の逆投影の
際に（直線）補間処理を行うと、より高い空間周
波数が本質的に減衰することが避けられない。
波測定値を像マトリツクス上に逆投影する。
この場合にもまた、像マトリツクスを構成する像
エレメントの大きさによつて像形成されるべき最
大空間周波数が定まる。（正方形の）像エレメン
トの大きさをＰとすると、像マトリツクスの周波
数応答曲線はブロツク“Ｐ”のフーリエ変換Ｇ(R)
すなわち Ｇ(R)＝sin ｃ（〓・Ｐ・Ｒ） である。第４図において、像エレメントの大きさ
Ｐをもつた像マトリツクスの周波数応答曲線を一
点破線４１で示し、この場合距離Ｐは値ａに等し
いと仮定する。像マトリツクスが大きさ1/2Ｐの
像エレメントを有する場合には、この像マトリツ
クスは破線４３で示す周波数応答曲線Ｇ(R)・sin
ｃ（〓・Ｐ・Ｒ／２）を有する。このような像マ
トリツクスはメモリ・セル数が４倍大きなメモリ
を必要とする。
この場合にもまた、像マトリツクスを構成する像
エレメントの大きさによつて像形成されるべき最
大空間周波数が定まる。（正方形の）像エレメン
トの大きさをＰとすると、像マトリツクスの周波
数応答曲線はブロツク“Ｐ”のフーリエ変換Ｇ(R)
すなわち Ｇ(R)＝sin ｃ（〓・Ｐ・Ｒ） である。第４図において、像エレメントの大きさ
Ｐをもつた像マトリツクスの周波数応答曲線を一
点破線４１で示し、この場合距離Ｐは値ａに等し
いと仮定する。像マトリツクスが大きさ1/2Ｐの
像エレメントを有する場合には、この像マトリツ
クスは破線４３で示す周波数応答曲線Ｇ(R)・sin
ｃ（〓・Ｐ・Ｒ／２）を有する。このような像マ
トリツクスはメモリ・セル数が４倍大きなメモリ
を必要とする。
逆平行下位群の測定値を（第３図の曲線３３、
カツト周波数２／ａで）波する前に差し込み処
理しかつ（フイルタＴ(R)＝sin c2（〓・ａ／２・
Ｒ）で）波処理後に、第４図に示す４３で示す
周波数応答曲線（Ｇ(R)＝sin ｃ（〓・ａ・Ｒ））を
有し像エレメントの大きさが1/2ａの像マトリツ
クスに逆投影する場合には、全体の応答曲線は第
５ａ図に破線５１ａで示すような変化をする。コ
ンピユータ・トモグラフイ装置の全体的なフイル
タリング作用すなわち波状態はコンボリユーシ
ヨン・フイルタＱ(R)、補間に基づくフイルタＴ〓
及び像マトリツクスの影響を制限する周波数に基
づくフイルタＧ(R)の周波数応答曲線の積Ｆ(R)＝Ｑ
(R)・Ｔ(R)・Ｇ(R)によつて決まる。
カツト周波数２／ａで）波する前に差し込み処
理しかつ（フイルタＴ(R)＝sin c2（〓・ａ／２・
Ｒ）で）波処理後に、第４図に示す４３で示す
周波数応答曲線（Ｇ(R)＝sin ｃ（〓・ａ・Ｒ））を
有し像エレメントの大きさが1/2ａの像マトリツ
クスに逆投影する場合には、全体の応答曲線は第
５ａ図に破線５１ａで示すような変化をする。コ
ンピユータ・トモグラフイ装置の全体的なフイル
タリング作用すなわち波状態はコンボリユーシ
ヨン・フイルタＱ(R)、補間に基づくフイルタＴ〓
及び像マトリツクスの影響を制限する周波数に基
づくフイルタＧ(R)の周波数応答曲線の積Ｆ(R)＝Ｑ
(R)・Ｔ(R)・Ｇ(R)によつて決まる。
本発明による装置における測定信号の下位群を
（最初に差し込みされる前に：第３図の曲線３１
及び３１′）波すると、全体の応答曲線は第５
ａ図に実線５３ａで示すように変化する。0.5／
ａよりも小さい周波数に対しては損失が全く生じ
ないことがわかつた。しかしながら、0.5／ａ〜
１／ａの周波数自体は最終像に追加の情報を与え
かつ相当程度“雑音信号”を搬送するので、この
周波数に対する損失は絶対的とはいえないが相当
大きい。測定後、直ちにカツトオフ周波数が１／
ａの関連するフイルタによつて測定値を波する
ように構成した本発明による装置においては、雑
音を相当抑制して高分解能の像を得ると共に、演
算時間を節減し、測定の開始から測定データの
波の開始までの待ち時間を（２秒から0.5秒へと）
相当程度短縮出来る。
（最初に差し込みされる前に：第３図の曲線３１
及び３１′）波すると、全体の応答曲線は第５
ａ図に実線５３ａで示すように変化する。0.5／
ａよりも小さい周波数に対しては損失が全く生じ
ないことがわかつた。しかしながら、0.5／ａ〜
１／ａの周波数自体は最終像に追加の情報を与え
かつ相当程度“雑音信号”を搬送するので、この
周波数に対する損失は絶対的とはいえないが相当
大きい。測定後、直ちにカツトオフ周波数が１／
ａの関連するフイルタによつて測定値を波する
ように構成した本発明による装置においては、雑
音を相当抑制して高分解能の像を得ると共に、演
算時間を節減し、測定の開始から測定データの
波の開始までの待ち時間を（２秒から0.5秒へと）
相当程度短縮出来る。
波測定値を像エレメントの大きさがａの像マ
トリツクス上に逆投影する場合には、波はＧ(R)
＝sin ｃ（〓・ａ・Ｒ）（第４図の曲線４１）で決
まる。この場合には、本発明によるコンボリユー
シヨン装置の全体の波作用すなわち全体の波
特性Ｆ(R)は第５ｂ図に曲線５３ｂによつて示すよ
うになる。これに対し従来のコンボリユーシヨン
装置による全体の波特性を曲線５１ｂで示す。
この図からわかるように、高周波（0.5／ａ）に
関する本発明による装置の特性は従来装置の特性
とは著しくはずれていないこと明らかである。
トリツクス上に逆投影する場合には、波はＧ(R)
＝sin ｃ（〓・ａ・Ｒ）（第４図の曲線４１）で決
まる。この場合には、本発明によるコンボリユー
シヨン装置の全体の波作用すなわち全体の波
特性Ｆ(R)は第５ｂ図に曲線５３ｂによつて示すよ
うになる。これに対し従来のコンボリユーシヨン
装置による全体の波特性を曲線５１ｂで示す。
この図からわかるように、高周波（0.5／ａ）に
関する本発明による装置の特性は従来装置の特性
とは著しくはずれていないこと明らかである。
上述したコンピユータ・トモグラフイ装置の周
波数限定特性についての説明においては、異なる
測定通路間の距離ａにつき考慮を行つた。しかし
ながら、Ｘ−線放射ビームの幅については考慮し
ていない。また回転中心点９の区域において測定
通路に沿うこのようなビームの幅がａである場合
には（及び強度に関しては放射の方向に対し直角
にみて矩形状に変化する場合には）、このような
ビームはＢ(R)＝sin ｃ（〓・ａ・Ｒ）によつて表
わされる周波数(R)−制限特性を有する。第５ａ図
及び第５ｂ図の曲線５１ａ，５１ｂ及び５３ａ，
５３ｂに対し、もう一度関数Ｂ(R)を乗算し、
0.5／ａ及び１／ａ間の周波数に対する曲線５１
ａ及び５３ａ間の差及び曲線５１ｂ及び５３ｂ間
の差をもう一度より小さくする必要がある。
波数限定特性についての説明においては、異なる
測定通路間の距離ａにつき考慮を行つた。しかし
ながら、Ｘ−線放射ビームの幅については考慮し
ていない。また回転中心点９の区域において測定
通路に沿うこのようなビームの幅がａである場合
には（及び強度に関しては放射の方向に対し直角
にみて矩形状に変化する場合には）、このような
ビームはＢ(R)＝sin ｃ（〓・ａ・Ｒ）によつて表
わされる周波数(R)−制限特性を有する。第５ａ図
及び第５ｂ図の曲線５１ａ，５１ｂ及び５３ａ，
５３ｂに対し、もう一度関数Ｂ(R)を乗算し、
0.5／ａ及び１／ａ間の周波数に対する曲線５１
ａ及び５３ａ間の差及び曲線５１ｂ及び５３ｂ間
の差をもう一度より小さくする必要がある。
上述した実施例では、下位群を波するために
いわゆる“ランプ（Ramp）”フイルタを使用し
た。しかしながら、本発明はこのフイルタに限定
されるものではなく、測定信号の高周波成分が既
に減衰されているコンピユータ・トモグラフイ装
置（このようなコンピユータ・トモグラフイ装置
としていわゆる“シエツプ（Shepp）”フイルタ
を利用する装置がある）においても同様に有効的
に使用出来る。この点については例えば文献「I.
E.E.E.Trans.Nucl.Science」NS−21，21−43，
1971を参照されたい。このような装置において
は、高周波数に対する全体の周波数応答曲線は互
いにより接近するであろう。
いわゆる“ランプ（Ramp）”フイルタを使用し
た。しかしながら、本発明はこのフイルタに限定
されるものではなく、測定信号の高周波成分が既
に減衰されているコンピユータ・トモグラフイ装
置（このようなコンピユータ・トモグラフイ装置
としていわゆる“シエツプ（Shepp）”フイルタ
を利用する装置がある）においても同様に有効的
に使用出来る。この点については例えば文献「I.
E.E.E.Trans.Nucl.Science」NS−21，21−43，
1971を参照されたい。このような装置において
は、高周波数に対する全体の周波数応答曲線は互
いにより接近するであろう。
本発明を要約すると次の通りである。
本発明は検出器列をＸ線源に関して四分の一検
出角（Δψ／４）にわたり回転させたコンピユー
タ・トモグラフイ装置に関するものであり、平行
及び逆平行に測定された全ての選択測定値を波
又は畳込みする代わりに所定の方向で測定された
選択平行測定値を波又は畳込みすることを提案
するものである。この場合、より高い周波数範囲
では情報に損失が生ずるが、この損失は重大では
ない。測定ビームの幅、逆投影装置における補間
及び像マトリツクス中の像エレメントの大きさの
周波数制限作用によつて、コンピユータ・トモグ
ラフイ装置の全体の周波数応答曲線は本質的に悪
くない。しかしながら、本発明を使用すれば、
波に用する演算時間を1/2に低減出来、及び電流
測定値をより簡単に処理する（パイプライン処
理）ことが出来る。
出角（Δψ／４）にわたり回転させたコンピユー
タ・トモグラフイ装置に関するものであり、平行
及び逆平行に測定された全ての選択測定値を波
又は畳込みする代わりに所定の方向で測定された
選択平行測定値を波又は畳込みすることを提案
するものである。この場合、より高い周波数範囲
では情報に損失が生ずるが、この損失は重大では
ない。測定ビームの幅、逆投影装置における補間
及び像マトリツクス中の像エレメントの大きさの
周波数制限作用によつて、コンピユータ・トモグ
ラフイ装置の全体の周波数応答曲線は本質的に悪
くない。しかしながら、本発明を使用すれば、
波に用する演算時間を1/2に低減出来、及び電流
測定値をより簡単に処理する（パイプライン処
理）ことが出来る。
第１図は本発明によるコンピユータ・トモグラ
フイ装置を示す線図、第２図は第１図に示す装置
の測定装置の原理を説明するための線図、第３図
はコンピユータ・トモグラフイ装置用のフイルタ
リング装置の周波数応答特性を示す曲線図、第４
図は異なる逆投影装置の周波数応答特性を示す曲
線図、第５ａ図及び第５ｂ図は本発明によるコン
ピユータ・トモグラフイ装置及び従来の斯様な装
置の周波数応答特性を示す曲線図である。 １……放射源、２……絞り、３……平坦ビー
ム、３ａ，３０ａ，３０ｂ……測定通路、４……
検出器列、５……検出器、６……テーブル、７…
…被検物、８，３０……中心ビーム、９……中心
点、１０……支持フレーム、１１，２３……軸
受、１２，２５……変速機歯車、１３，２４……
電動機、１４……増幅器、１５……信号変換器、
１６……演算装置、１６ａ……波装置、１６ｂ
……逆投影装置、Ｑ(R)……フイルタ、１７……メ
モリ、１８……表示装置（又はモニタ）、１９…
…カウンタ、２０……パルス発生器、２１……支
持体、２２……案内レール、２６……制御回路、
２７……スイツチ、３１，３１′……周波数応答
曲線。
フイ装置を示す線図、第２図は第１図に示す装置
の測定装置の原理を説明するための線図、第３図
はコンピユータ・トモグラフイ装置用のフイルタ
リング装置の周波数応答特性を示す曲線図、第４
図は異なる逆投影装置の周波数応答特性を示す曲
線図、第５ａ図及び第５ｂ図は本発明によるコン
ピユータ・トモグラフイ装置及び従来の斯様な装
置の周波数応答特性を示す曲線図である。 １……放射源、２……絞り、３……平坦ビー
ム、３ａ，３０ａ，３０ｂ……測定通路、４……
検出器列、５……検出器、６……テーブル、７…
…被検物、８，３０……中心ビーム、９……中心
点、１０……支持フレーム、１１，２３……軸
受、１２，２５……変速機歯車、１３，２４……
電動機、１４……増幅器、１５……信号変換器、
１６……演算装置、１６ａ……波装置、１６ｂ
……逆投影装置、Ｑ(R)……フイルタ、１７……メ
モリ、１８……表示装置（又はモニタ）、１９…
…カウンタ、２０……パルス発生器、２１……支
持体、２２……案内レール、２６……制御回路、
２７……スイツチ、３１，３１′……周波数応答
曲線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検物の一平面中の放射減衰分布を検出する
コンピユータ・トモグラフイ装置であつて、 − 放射源から発散しかつ平面中に存在する多数
の測定通路に沿つて、中心点を通りかつ360°に
わたり規則的に分布する多数の方向から前記被
検物を照射するための透過性放射の平坦扇状ビ
ームを発生する少なくとも一個の当該放射源を
具え； − 各方向に対し、多数の発散測定通路に沿つて
被検物内に生じる放射の減衰の尺度である一群
の測定データを供給するために測定通路に沿つ
て被検物を通過した放射を検出する一連の検出
器を具え、この場合、前記放射源から放出され
前記中心点を通る中心ビームは、放射源と一連
の検出器の中心を通る線と、２つの隣接する測
定通路のなす角の1/4に等しい角度をなし、一
方、測定通路には、該測定通路に対して直角で
かつ中心点を通る線に沿つて測つた最大幅ａを
有し； さらに演算装置を具え、該演算装置は − 測定データを記憶し、平行な測定通路に沿つ
て測定された測定データの下位群を検出するた
めのメモリと； − 測定データの各下位群の測定データのコンボ
リユーシヨン処理或いはフーリエ変換、周波数
濾波及びフーリエ逆変換の処理を実行するため
の濾波装置と； − 濾波された測定データの各下位群の値を像マ
トリツクスを構成するメモリのメモリ・セルの
マトリツクスに分布させて加えるための逆投影
装置と； − 前記像マトリツクスの内容を表示するための
表示装置とを有する コンピユータ・トモグラフイ装置において、 前記演算装置は各測定方向に対し360゜にわたり
測定された測定データの群から測定データの二個
の下位群を検出し、この場合、一方の下位群の測
定データは他方の下位群の測定データが測定され
る方向とは反対の方向で測定され、一方、一つの
下位群中の二つの隣接する測定データと関連する
二つの測定通路間の距離は最大でもａとしかつ
ａ／２よりも大きく； 前記濾波装置は周波数（2a）-1に対し最大とな
り及び周波数０及び１／ａに対し零点となる周波
数応答曲線を有し； 前記逆投影装置は濾波された値の補間距離ａ／
２で差し込み処理された各対の下位群を前記像マ
トリツクスに分布すると共に、これら下位群を該
像マトリツクスに加えるようになしてあり； 前記像マトリツクスのメモリ・セルの個数を発
散放射のビームによつて決まる検出器の個数より
も大としたことを特徴とするコンピユータ・トモ
グラフイ装置。 ２ 前記メモリ・セルの個数を扇状ビームによつ
て決まる検出器の個数の２乗の約４倍としたこと
を特徴とする特許請求の範囲２記載のコンピユー
タ・トモグラフイ装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8201942A NL8201942A (nl) | 1982-05-12 | 1982-05-12 | Werkwijze en computer tomografie-inrichting voor het bepalen van een tomografiebeeld met verhoogd oplossend vermogen. |
| NL8201942 | 1982-05-12 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58206729A JPS58206729A (ja) | 1983-12-02 |
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