JPH0470152A - Ｎｃｕインタフェーステスト方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、コンピュータデータ通信に関し、特に網制御
装置（以下、ＮＣＵといつ。）を接続できる通信制御装
置におＧづるＮＣＵインタフェース（Ｎ　ｅ　ｔ、ｌ制
御部と、ＮＣＵ制御部とＮＣＵ間の回線（インタフェー
ス信号線）で構成される。）テスト方式に関する。

（従来の技術） 通信制御装置におけるＮＣｔＪ制御部とＮＣＩＪは、論
理的にはＣＣＩＴＴのＶ．２４規格で定められる２００
シリーズインタフエースで接続される。第２図は、通信
制御装置なＮＣＬＩを用いて網につなぐ場合の接続例を
示し、同図において、通信制御装置１におけるモデム制
御部５は、ＣＣＩＴＴのＶ．２４規格の１００シリーズ
インタフエースを介してモデム３に接続される。また、
通信制御装置１におけるＮＣＵ制御部４は、同規格の２
００シリーズインタフエースを介してＮＣＵ２に接続さ
れる。そして、ＮＣＵ２は網に接続される。また、モデ
ム３はＮＣＵ２に接続される。

次に、従来の通信制御装置のテスト方法について説明す
る。

先ず、　１００シリーズインタフエースの場合の正常シ
ーケンスは第３図で示されるようになっているので、　
１００シリーズインタフエースについては第４図に示す
ような接続の信号折返しコネクタ（以下、ループコネク
タという。）等を用いて疑似的に正常シーケンスを実現
することでテストしていた。

しかし、２００シリーズインタフエースの場合には、第
５図に示すような運用シーケンスをとっている。そして
、２００シリーズインタフエースの場合は、第５図に示
す如くハンドシェイクに従ってダイヤル番号を送出する
という複雑な運用シーケンスがあるため、前述した　１
００シリーズインタフエースの場合のように、疑似的な
正常シーケンスが実現できるループコネクタが得られな
かった。

そこで、従来、ＮＣＵ制御部のハードウェアのテストは
第６図、第７図に示すように実際に必要機器を接続して
行なっていた。

第６図は、従来のＮＣＵ制御部のハードウェアのテスト
方式の一例を示す構成図である。

同図において、１１は通信制御装置であり、通信制御装
置１１のＮＣＵ制御部１６は、２００シリーズインタフ
エースを介してＮＣＵ１２に接続されている。また、通
信制御装置１１のモデム制御部１７は、　１００シリー
ズインタフエースを介してモデム１３に接続され、更に
モデム１３はＮＣＵ１２に接続されている。また、ＮＣ
［Ｊ１２は、公衆網（又は交換機）１４を介して電話器
１５に接続されている。

このような構成のもとに、通信制御装置１に存在するＮ
ＣＵ制御部１６のテストを行なう場合、通信制御装置１
１は第３図に示す、ＮｔＬ１０８のデータ端末レディ信
号を送信してモデム制御部１７をモデム１３．ＮＣＵ１
２を介して公衆網（又は交換機）１４に接続した上で、
通信制御装置１１は、ＮＣＵ制御部１６．ＮＣＵ１２．
公衆網（又は交換機）１４を介して相手先の電話器１５
に発呼信号を送り、相手側の電話器１５にて発呼がある
か否かをチエツクすることにより、ＮＣＵ制御部１６の
ハードウェアのテストを行なっていた。

第７図は従来のＮＣＵ制御部のハードウェアのテスト方
式の他の例を示す構成図である。

同図において、２１は通信制御装置であって、この通信
制御装置２１のＮＣＵ制御部２７．２９は、それぞれ２
００シリーズインタフエースを介してＮＣＵ２２，２３
に接続されている。通信制御装置２１のモデム制御部２
８．３０は、それぞれ１００シリーズインタフエースを
介してモデム２４．２５に接続され、更にモデム２４．
２５はそれぞれ対応するＮＣＵ２２．２３に接続されて
いる。ＮＣＵ２２．２３は、公衆網（又は交換機）２６
に接続されている。

このような構成のもとに、ＮＣＵ制御部２７のテストの
ために、通信制御装置２１は、モデム制御部２８を介し
てモデム２４へ第３図に示す＆　ｌ０Ｊ３のデータ端末
レディ信号を送信すると同時に、発呼信号をＮＣＵ制御
部２７．ＮＣＵ２２゜公衆網（又は交換機）２６．ＮＣ
Ｕ２３．モデム２５を介して通信制御装置２１のモデム
制御部３９へ送出し、モデム制御部３０に着信したか否
かをチエツクする。

同様に、ＮＣＵ制御部２９のテストのために、通信制御
袋Ｗ２１は、モデム制御部３０を介してモデム２５へ第
３図に示す阻１０８のデータ端末レディ信号を送信する
と同時に、発呼信号をＮＣＵ制御部２９．ＮＣＵ２３．
公衆網（又は交換機）２６、ＮＣＵ２２．モデム２４を
介してモデム制御部２８へ送出し、モデム制御部２８に
着信したか否かをチエツクする。

このようにＮＣＵ制御部２７．２９のハードウェアのテ
ストのために、公衆網（又は交換機）２６を介して互い
に発呼し合う等の方式を用いてテストを行なっていた。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、上述した従来のＮＣＵ制御部のテスト方
式では、ＮＣＵ１２，２２．２４にＡＡ形ＮＣＵを用い
た場合、回線数分のＮＣＵ、モデム及び交換機等が必要
どなり、多回線を収容する装置の同時発呼テスト等には
、多大な設備を必要どなる。また、ダイヤル番号のビッ
ト（ＤＳ８〜１）チエツクには多大な時間がかかるとい
う問題があった。

そこで本発明の目的は、従来に比ベテスト品質を向上さ
せることができ、更に従来に比べＮＣＵインタフェース
（ＮＣＵ制御部のハードウェア）のテスト・のための時
間及び必要設備を削減することができ、コストパフォー
マンスの優れたＮＣＵインタフェースのテスト方式を提
供することにある。

（課題を解決するための手段） 本発明は、網制御装置（以下、ＮＣＵという。）を用い
る通信制御装置におけるＮＣＵインタフェースのハード
ウェアをテストするＮＣＵインタフェーステスト方式に
おいて、前記ＮＣＵインタフェースに接続してＣ］ＴＴ
のＶ．２４で規定される２００シリ一ズインタフエース
信号線を折返すコネクタと、前記通信制御装置の運用プ
ログラム中に設けた、前記コネクタの使用時に動作させ
るテストプログラムに従って前記ＮＣＵインタフェース
のテストを行なうテスト手段とを備え、前記コネクタの
使用時に、前記テスト手段の実行する前記テストプログ
ラムにより前記ＮＣＬ＋インタフ；、−スの動作を確認
することができるようにしたものである。

（作用） 通信制御装置におりるＮＣＵインタフェース（ＮＣＵ制
御部）のハードウェアのテストをする際には、コネクタ
をＮＣＵインタフェースに接続する。そして、通信制御
装置内のテスト手段は、通信制御装置の運用プログラム
中に設けられたテス［・プログラムに従って、ＣＣＩＴ
ＴのＶ．２４で規定される２００シリ一ズインタフエー
ス信号線のそれぞれのハードウェア動作を確認すること
ができる。

このように本発明によるＮＣＵインタフェーステスト方
式を用いれば、ＮＣＵインタフェースのテストに要する
装置は、回線数分の簡易なループコネクタのみてあり、
従来の如く回線数分のＮ　ＣＬＪ　、モデム及び全回線
を収容する交換機等を用意する必要がなくなる。

（実施例） 次に本発明の実施例について図面を用いて説明する。

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。

同図において５通信制御装置４１のＮＣＵ制御部４２に
ループコネクタ４３が接続されている。

ループコネクタ４３は、ＣＣＩＴＴのＶ．２４で規定さ
れる２００シリ一ズインタフエース信号線を折返すため
のものであって、第８図に示すような接続構成となって
おり、第５図に対応させた折返す信号群が形成されるよ
うになっている。ここで、第８図のｒ　２０２〜２１１
　、２１３　、　ｘｘｘ　Ｊは、第５図の「狙２０２〜
覧２１１．隘２１３．隘ＸＸＸ　Ｊに対応している。ま
た、第１図では説明の便宜上、１回線の場合を図示しで
ある。

第９図は、本発明のＮＣＵインタフェーステスト方式の
動作フローチャートである。第１図の通信制弾装Ｗ４１
内には、ＮＣＵインタフェース（ＮＣＵ制御部４２）の
テストを行なうためのテスト手段を有し、このテスト手
段は、第９図の如きプログラムに従って動作するもので
ある。

なお、第９図において、「２０２〜２１１　、２１３、
ｘｘｘ　Ｊは第５図のｒＮｏ、２０２〜Ｎａ２１］　、
　ｋ２１３　。

阻ｘｘｘ　Ｊに対応している。

次に、本発明によるＮＣＵインタフェーステスト方式の
動作について第１図、第８図、第９図を用いて説明する
。なお、第１図のＮＣＵ制御部４２とループコネクタ４
３とを結ぶインタフェース信号線は、ループコネクタ４
３を介して１対１に折返されており、通信制御装置４１
に内蔵のテスト手段が第９図に示すようなテストプログ
ラムに従って動作する。即ち、テスト手段が第５図の隘
２０２に対応して、論理“１”信号を、ＮＣＵ制御部４
２．インタフェース信号線を介して、ループコネクタ４
３の第８図に示す端子２０２に送出する（ステップＳ１
）。ループコネクタ４３にてこの信号“１”は折返され
て、端子２０３より信号“１゛が、インタフェース信号
線、ＮＣＵ制御部４２を介して戻ってくる。ＮＣＵイン
タフェース（ＮＣＵ制御部４２．インタフェース信号線
）が正常であるとき、上記の如くテスト手段より送出し
た信号“１”がループコネクタ４３で折返されて戻って
くる（この場合、患２０３は“１”となる。）。ところ
が、ＮＣＵインタフェースに異常（故障）があったりす
ると、テスト手段が送出した信号“１”がテスト手段の
もとに戻ってこないことになる（この場合、胤２０３は
“１”でない（“０”）。）。従って、テスト手段は、
送出した隘２０２の該当信号“１“が折返されて戻って
くれば、ステップＳ３へ移行し、折返されて戻ってこな
ければ表示部（図示せず）に隘２０３に対し、エラー表
示を行なう（ステップＳ２）。次に、テスト手段は、阻
２０４に対応して論理“１”信号を送出すると、ＮＣＵ
インタフェースが正常であるとき、信号“１”は、ＮＣ
Ｕ制御部４２．インタフェース信号線、ループコネクタ
４３の端子２０４、ループコネクタ４３の端子２０６．
インクフェース信号線、ＮＣＵ制御部４２を介してテス
ト手段のもとに戻ってくる。このときは、ステップＳ４
の隘２０６は“１”となり、ステップＳ５へ移行する。

もし、テスト手段より送出した信号“１”が戻ってこな
いとき、ステップＳ４の達２０６は“１”とならないの
で、表示部に隘２０６に対しエラー表示を行なう。以下
、同様にしてテスト手段は第９図のテストプログラムを
実行する。

以上のようにして、テスト手段によるテストプログラム
の実行により、ＮＣＵインタフェースに異常がなければ
、第１０図に示すタイムチャートに従って動作すること
になる。従って、表示部に表示されるエラー表示との関
係で、信号線１本毎のハードウェアの動作が可能となる
。

また、テスト手段による上記テストプログラム（第９図
のプログラム）は、通信制御装置４１の運用プログラム
中に存在し、システム立ち上げ時、第１１図に示す通信
制御装置４１の動作フローチャートに従って動作するた
め、テストの度に新たなプログラムのローディングをす
る必要がない。但し、テストの都度、ループコネクタ４
３を接続することはいうまでもない。なお第１１図につ
いて説明すると、ステップＳｌｌにてテストをしていな
い時、ステップＳ１２にてテストを行ない、テスト済み
となると、ステップＳ１２よりステップＳ１３へ移行し
運用開始となる。

また、上記ＮＣＵインタフェーステスト方式によれば、
あらゆる送信パターン、受信パターンの設定（例えば、
第５図に示す磁２０４と漱２０５に係る回路が同時にオ
ンするなど、通常有り得ないパターン）が、テスト手段
が実行するテストプログラム次第で可能であるので、Ｎ
ＣＵの異常や交換機の異常、コネクタコートの異常等の
シーケンスを簡単にシミュレートすることができる。

更に、第１１図のフローチャート中のテストモードの判
断の際（第１１図のステップＳ　１２）　、コネクタ上
の未使用ビン（例えば８ビン）を第１２図に示すように
用い、図示ではＮＣＵ制御部４２側の８ビンに対応する
端子が論理“１“より論理“０”になることにより、ル
ープコネクタ４３の装着を判別するので、テスト時、運
用時の設定誤りも少ない。

以上の説明から判かるように、ＮＣＵ制御部４２のハー
ドウェアのテストに要する装置は、回線数分の簡易なル
ープコネクタ４３のみであり、従来の如く回線数分のＮ
ＣＵ、モデム及び全回線を収容する交換機等を用意する
必要がなくなり、従って従来に比ベテスト品質を向上さ
せつつ、従来に比べＮＣＵ制御部４２のハードウェアテ
ストに要する時間及び設備の大幅な削減ができる。

本発明は本実施例に限定されることなく、本発明の要旨
を逸脱しない範囲で種々の応用及び変形が考えられる。

（発明の効果） 上述したように本発明を用いれば、次のような種々の効
果が得られる。

（１）ＮＣＵインタフェースのテストに要する装置は、
回線数分の簡易なループコネクタのみであり、従来の如
く回線数分のＮＣＵ、モデム及び全回線を収容する交換
機等を用意する必要がなくなり、従って、従来に比ベテ
スト品質を向上させつつ、従来に比べＮＣＵインタフェ
ースのテストに要する時間及び設備を大幅に削減できる
。

（２）テスト手段によるテストプログラムの工夫により
、Ｎ　ＣＵ　、交換機１コネクタコードなどの異常をシ
ミュレートできるので、異常時のハードウェア動作もテ
スト可能となる。

（３）テスト手段による動作プログラム（テストプログ
ラム）は、通信制御装置の運用プログラム中に存在し、
テストモードを自動判別するため、運用中の障害発生時
に容易にハードウェアのテストができ、障害箇所の検出
時間を短縮できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
通信制御装置をＮＣＵを用いて網に接続する場合の接続
例を示す説明図、第３図は１００シリーズインタフエー
スの場合の正常シーケンスを示す図、第４図はループコ
ネクタ内接続を示す図、第５図は２００シリーズインタ
フエースの場合の運用シーケンスを示す図、第６図は従
来のＮＣ［Ｊインタフェーステスト方式の一例を示す説
明図、第７図は従来のＮＣＵインタフェーステスト方式
の他の例を示す説明図、第８図はループコネクタ４３の
接続例を示す図、第９図はテスト手段の動作フローチャ
ート、第１０図は２００シリーズインタフエースが正常
である場合のシーケンスを示す図、第１１図は本発明に
係る通信制御装置の動作フローチャート、第１２図はル
ープコネクタ装着の判別回路を示す説明図である。 ４１・・・通信制御装置、４２・・・ＮＣＵ制御部、４
３・・・ループコネクタ。 特許出願人　沖電気工業株式会社

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 網制御装置（以下、ＮＣＵという。）を用いる通信制御
   装置におけるＮＣＵインタフェースのハードウェアをテ
   ストするＮＣＵインタフェーステスト方式において、 前記ＮＣＵインタフェースに接続してＣＣＩＴＴのＶ．
   ２４で規定される２００シリーズインタフェース信号線
   を折返すコネクタと、 前記通信制御装置の運用プログラム中に設けた、前記コ
   ネクタの使用時に動作させるテストプログラムに従って
   前記ＮＣＵインタフェースのテストを行なうテスト手段
   とを備え、前記コネクタの使用時に、前記テスト手段の
   実行する前記テストプログラムにより前記ＮＣＵインタ
   フェースの動作を確認することを特徴とするＮＣＵイン
   タフェーステスト方式。