JPH0471177A - コネクターの製造方法 - Google Patents
コネクターの製造方法Info
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Landscapes
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、液晶表示装置(以下LCDパネルと略記)と
プリント回路基板(以下PCBと略記)とを電気的に接
続するためのインターコネクターに関し、より具体的に
は、その電極ピッチが0゜3■以下の高精細LCDパネ
ルの接続に有用な圧接挾持型インターコネクターの製造
方法に関する。
プリント回路基板(以下PCBと略記)とを電気的に接
続するためのインターコネクターに関し、より具体的に
は、その電極ピッチが0゜3■以下の高精細LCDパネ
ルの接続に有用な圧接挾持型インターコネクターの製造
方法に関する。
[従来の技術]
当初、電卓や時計の表示機器として利用され始めたセグ
メント方式のTN(ツィスティッドネマチック)モード
LCDは、要求される表示容量の増大につれて、ドツト
マトリックスのTNモード、さらにTNモードからスー
パーツィスティッドネマチック(以下STNと略記)モ
ードに移行し、また表示画素数も、クロストークなどの
問題から、TNモードでは100X100ドツト程度が
限界であったが、表示閾値が急峻であるSTNモードを
用いることによって、640X400ドツトと増加して
きた。これにともないLCDとこれを駆動する駆動回路
との接続ピッチは、当初0.4■以上であったものが、
0.28〜0.35−のものが多く使用されるようにな
った。この5TN−LCDパネルとPCBとの電気的接
続に使用されるインターコネクターは、その積層による
導電層と絶縁層の積層ピッチを小さくするとともに、導
電層を低抵抗化したもので、スーパーエフセレントコネ
クター(以下SEコネクターと略記)と呼ばれ、シンエ
ラインターコネクター”SECタイプ(信越ポリマー(
株)製部品名)がこのSEコネクターの主流をなしてい
る。
メント方式のTN(ツィスティッドネマチック)モード
LCDは、要求される表示容量の増大につれて、ドツト
マトリックスのTNモード、さらにTNモードからスー
パーツィスティッドネマチック(以下STNと略記)モ
ードに移行し、また表示画素数も、クロストークなどの
問題から、TNモードでは100X100ドツト程度が
限界であったが、表示閾値が急峻であるSTNモードを
用いることによって、640X400ドツトと増加して
きた。これにともないLCDとこれを駆動する駆動回路
との接続ピッチは、当初0.4■以上であったものが、
0.28〜0.35−のものが多く使用されるようにな
った。この5TN−LCDパネルとPCBとの電気的接
続に使用されるインターコネクターは、その積層による
導電層と絶縁層の積層ピッチを小さくするとともに、導
電層を低抵抗化したもので、スーパーエフセレントコネ
クター(以下SEコネクターと略記)と呼ばれ、シンエ
ラインターコネクター”SECタイプ(信越ポリマー(
株)製部品名)がこのSEコネクターの主流をなしてい
る。
このSEコネクターを上記SECコネクターを例にとっ
て説明すると、第3図に示すように1体積固有抵抗(以
下ρVと略記)が0.9Ω・備の導電性シリコーンゴム
層1(厚さTc=30±31、幅Z=0.5m)を中心
間ピッチP=50+5−に保ち、電気絶縁性シリコーン
ゴム層2(幅Ti≧IouM)を介して多重に積層した
多層導電体芯材の両サイドに、軟質の絶縁性シリコーン
ゴム側材層3を設けた。この側材層3は幅W=3〜5.
5m、高さH≦5.01、長さし≦370■のものであ
り、このSEコネクターが接続するLCDパネルのパタ
ーン電極には、表面抵抗が30Ω/口程度のI T O
(Show 5%含有In、Oa)蒸着電極が使用され
ている。このようなSTNモードによる640X400
ドツトの大型LCDパネルにおいては、その画面寸法が
10インチ(203X152m)以上となるため、該I
TO電極の配線距離が長くなり、パネル周囲と中心部等
において配線距離が異なり該配線抵抗が大きく相異する
。この結果上下の電極により液晶に印加される電圧は、
該配線抵抗が小さい中心部では大きく、逆に該配線抵抗
の大きい周囲等の部分においては配線抵抗に伴う電圧の
低下により小さくなってしまう。この印加電圧の差が表
示濃度のバラツキとなって現れ、その表示品位が低下す
るという問題を生じるため、該配線抵抗を減少させると
同時に、該コネクターの接続抵抗も同様の理由により減
少させることが必要となった。しかし上記したように、
該LCDパネルの接続ピッチが0,28〜0゜35■と
低ピツチ化していることから、接続電極の面積も減少し
ているので、従来と同一の導電性ゴムを使用していては
、その接続抵抗が上昇してしまうため、この接続抵抗の
上昇を抑える必要があった。
て説明すると、第3図に示すように1体積固有抵抗(以
下ρVと略記)が0.9Ω・備の導電性シリコーンゴム
層1(厚さTc=30±31、幅Z=0.5m)を中心
間ピッチP=50+5−に保ち、電気絶縁性シリコーン
ゴム層2(幅Ti≧IouM)を介して多重に積層した
多層導電体芯材の両サイドに、軟質の絶縁性シリコーン
ゴム側材層3を設けた。この側材層3は幅W=3〜5.
5m、高さH≦5.01、長さし≦370■のものであ
り、このSEコネクターが接続するLCDパネルのパタ
ーン電極には、表面抵抗が30Ω/口程度のI T O
(Show 5%含有In、Oa)蒸着電極が使用され
ている。このようなSTNモードによる640X400
ドツトの大型LCDパネルにおいては、その画面寸法が
10インチ(203X152m)以上となるため、該I
TO電極の配線距離が長くなり、パネル周囲と中心部等
において配線距離が異なり該配線抵抗が大きく相異する
。この結果上下の電極により液晶に印加される電圧は、
該配線抵抗が小さい中心部では大きく、逆に該配線抵抗
の大きい周囲等の部分においては配線抵抗に伴う電圧の
低下により小さくなってしまう。この印加電圧の差が表
示濃度のバラツキとなって現れ、その表示品位が低下す
るという問題を生じるため、該配線抵抗を減少させると
同時に、該コネクターの接続抵抗も同様の理由により減
少させることが必要となった。しかし上記したように、
該LCDパネルの接続ピッチが0,28〜0゜35■と
低ピツチ化していることから、接続電極の面積も減少し
ているので、従来と同一の導電性ゴムを使用していては
、その接続抵抗が上昇してしまうため、この接続抵抗の
上昇を抑える必要があった。
そこで、上記のSECコネクターにおいては、従来の導
電性シリコーンゴムであるff87C40Pj (信
越ポリマー(株)製部品名;ρv=5Ω・cm)に代え
て、SEコネクター仕様の高導電性シリコーンゴAI’
X−65−216U」 (信越ポリマー(株)製部品名
;ρv=0,9Ω・am)を使用し、上記第3図のSE
CコネクターにおいてH=5.0−とし、導電層1層あ
たりの抵抗Rを計算すると、87C40Pでは16.7
にΩとなり、X−65−216Uでは3.0にΩとなる
。実際の0.35−ピッチのパターン電極を有するLC
Dパネルでは、その接続電極幅は一般的に0.18〜0
.25腸に形成されるため、該導電層が3〜5層接触す
ることになり、87G40PおよびX−65−216U
の接続抵抗を計算するとそれぞれ3.3〜5.6にΩ、
0.6〜1.0にΩとなる。このように低抵抗の導電ゴ
ムを使用することによりその接続抵抗を減少できるとと
もに、そのバラツキの絶対値を小さく抑えることができ
、表示品位の低下が防止される。
電性シリコーンゴムであるff87C40Pj (信
越ポリマー(株)製部品名;ρv=5Ω・cm)に代え
て、SEコネクター仕様の高導電性シリコーンゴAI’
X−65−216U」 (信越ポリマー(株)製部品名
;ρv=0,9Ω・am)を使用し、上記第3図のSE
CコネクターにおいてH=5.0−とし、導電層1層あ
たりの抵抗Rを計算すると、87C40Pでは16.7
にΩとなり、X−65−216Uでは3.0にΩとなる
。実際の0.35−ピッチのパターン電極を有するLC
Dパネルでは、その接続電極幅は一般的に0.18〜0
.25腸に形成されるため、該導電層が3〜5層接触す
ることになり、87G40PおよびX−65−216U
の接続抵抗を計算するとそれぞれ3.3〜5.6にΩ、
0.6〜1.0にΩとなる。このように低抵抗の導電ゴ
ムを使用することによりその接続抵抗を減少できるとと
もに、そのバラツキの絶対値を小さく抑えることができ
、表示品位の低下が防止される。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら近年ラップトツブ型ワープロやパソコンが
普及するに伴い、その薄型、軽量、低消費電力等の利点
から、上記の大型LCDパネルがこれらワープロやパソ
コンに使用され始めるとともに、現状のイエローモード
、ブルーモードや2層STNおよび補償フィルムを使用
した白黒表示等の表示ではなく、CRT (Catho
de−Ray−Tube)と同様のカラー表示が要求さ
れ、1〜2年以内にはこれら大型LCDパネルがマルチ
カラーモードまたはフルカラーモードに移行すると言わ
れている。このカラーLCDパネルににおける画素数は
さらに増加して、水平画素1000〜1500、画素ピ
ッチは0.21程度となるとされているが、このように
カラー化がなされた場合、その表示濃度にバラツキがあ
ると、表示色が異なったり、色ムラが出る等の問題を生
じるため、接続抵抗の低抵抗化と低ピツチ化および接続
抵抗をより一層均−化する必要がある。
普及するに伴い、その薄型、軽量、低消費電力等の利点
から、上記の大型LCDパネルがこれらワープロやパソ
コンに使用され始めるとともに、現状のイエローモード
、ブルーモードや2層STNおよび補償フィルムを使用
した白黒表示等の表示ではなく、CRT (Catho
de−Ray−Tube)と同様のカラー表示が要求さ
れ、1〜2年以内にはこれら大型LCDパネルがマルチ
カラーモードまたはフルカラーモードに移行すると言わ
れている。このカラーLCDパネルににおける画素数は
さらに増加して、水平画素1000〜1500、画素ピ
ッチは0.21程度となるとされているが、このように
カラー化がなされた場合、その表示濃度にバラツキがあ
ると、表示色が異なったり、色ムラが出る等の問題を生
じるため、接続抵抗の低抵抗化と低ピツチ化および接続
抵抗をより一層均−化する必要がある。
これらの問題の解決には、一般的には低抵抗化のために
導電ゴム層に代って金属箔を使用したもの、プラスチッ
クフィルム上に金属層を形成し、これをプラスチックフ
ィルムごと積層したもの、さらには導電層のみにメツキ
を施したものなどが提案されている。これらは、導電層
または絶縁層に金属箔やプラスチックフィルム等をその
積層繰り返し単位に含むため、これらの金属箔やプラス
チックフィルムに加工上単独で扱い得る程度の強度を有
することが必要なことから、したがって適宜な厚みを必
要とする。この結果得られる多層導電体芯材のピッチに
限界があり、該カラー化による0、21程度のピッチへ
の対応が難しい。さらにはこれら金属箔やプラスチック
フィルムが硬い材料であるため、積層の繰り返し単位中
に含んでしまうと、これらを用いたコネクターにおいて
良好な接続を得るためには、非常に大きな荷重が必要と
なることから、大型パネルではその接続部の長さが長い
ため、圧接挾持に必要な荷重が膨大となり、その荷重を
得るための治具が大型化して重量が増加する等の問題が
あるだけでなく、その荷重により、接続されるPCBや
LCDに反り等の変形を生じやすく、導電不良や接続抵
抗のバラツキが大きくなる等の問題がある。さらにこの
金属導電層のみを導電層とした場合には、長期間使用す
るとこの金属導電層と被接続電極との接触境界面に電気
絶縁性の酸化皮膜や硫化皮膜が形成され。
導電ゴム層に代って金属箔を使用したもの、プラスチッ
クフィルム上に金属層を形成し、これをプラスチックフ
ィルムごと積層したもの、さらには導電層のみにメツキ
を施したものなどが提案されている。これらは、導電層
または絶縁層に金属箔やプラスチックフィルム等をその
積層繰り返し単位に含むため、これらの金属箔やプラス
チックフィルムに加工上単独で扱い得る程度の強度を有
することが必要なことから、したがって適宜な厚みを必
要とする。この結果得られる多層導電体芯材のピッチに
限界があり、該カラー化による0、21程度のピッチへ
の対応が難しい。さらにはこれら金属箔やプラスチック
フィルムが硬い材料であるため、積層の繰り返し単位中
に含んでしまうと、これらを用いたコネクターにおいて
良好な接続を得るためには、非常に大きな荷重が必要と
なることから、大型パネルではその接続部の長さが長い
ため、圧接挾持に必要な荷重が膨大となり、その荷重を
得るための治具が大型化して重量が増加する等の問題が
あるだけでなく、その荷重により、接続されるPCBや
LCDに反り等の変形を生じやすく、導電不良や接続抵
抗のバラツキが大きくなる等の問題がある。さらにこの
金属導電層のみを導電層とした場合には、長期間使用す
るとこの金属導電層と被接続電極との接触境界面に電気
絶縁性の酸化皮膜や硫化皮膜が形成され。
その接続抵抗が上昇するなどの経時変化を生じる。
また第4図(a)、(b)に示すような、コネクターの
導通に関与しない側面(第4図の側面9)に金属をめっ
き等によって部分的に形成する方法を用いて得られるコ
ネクターでは、多層電極体芯材のピッチが微細化するこ
とにより、導電ゴム層7間の絶縁ゴム層8上にもめっき
が形成されやすくなり(ブリッジ現象)、隣接電極間の
絶縁抵抗が低下して、クロストークを発生しやすく、表
示品位が大幅に低下するとともに、導電ゴム層7とめっ
き金属との密着力が弱く、また圧接挾持による変形にめ
っき層が追随できずに該導電ゴム層7との接着面に大き
な応力が発生してめっきが剥離し接続抵抗が上昇するな
どの問題がある。またこのめっきを形成する面が仮りに
本発明と同様に多層導電体の繰返し単位側の面である場
合でも、該導電性薄膜層をめっきによって形成可能なゴ
ム材料は、その選択の幅が非常に狭くごく限られたもの
であると同時に、その密着性が弱いので、この密着性や
めっき加工性を向上させるためにパラジウムによる処理
などを施す必要があり、高価なパラジウムを使用するこ
とから得られるコネクターも高価となる点に問題がある
。さらにめっきプロセスはめっき液等を用いるウェット
プロセスであるために、該導電性および絶縁性樹脂層中
にこれらめっき液などが残存し、電気絶縁性を低下させ
たり接続側の電極を腐食したりすることがあるとともに
、該導電性および絶縁性樹脂の表面性が。
導通に関与しない側面(第4図の側面9)に金属をめっ
き等によって部分的に形成する方法を用いて得られるコ
ネクターでは、多層電極体芯材のピッチが微細化するこ
とにより、導電ゴム層7間の絶縁ゴム層8上にもめっき
が形成されやすくなり(ブリッジ現象)、隣接電極間の
絶縁抵抗が低下して、クロストークを発生しやすく、表
示品位が大幅に低下するとともに、導電ゴム層7とめっ
き金属との密着力が弱く、また圧接挾持による変形にめ
っき層が追随できずに該導電ゴム層7との接着面に大き
な応力が発生してめっきが剥離し接続抵抗が上昇するな
どの問題がある。またこのめっきを形成する面が仮りに
本発明と同様に多層導電体の繰返し単位側の面である場
合でも、該導電性薄膜層をめっきによって形成可能なゴ
ム材料は、その選択の幅が非常に狭くごく限られたもの
であると同時に、その密着性が弱いので、この密着性や
めっき加工性を向上させるためにパラジウムによる処理
などを施す必要があり、高価なパラジウムを使用するこ
とから得られるコネクターも高価となる点に問題がある
。さらにめっきプロセスはめっき液等を用いるウェット
プロセスであるために、該導電性および絶縁性樹脂層中
にこれらめっき液などが残存し、電気絶縁性を低下させ
たり接続側の電極を腐食したりすることがあるとともに
、該導電性および絶縁性樹脂の表面性が。
めっき液などの酸やアルカリに接触して変化し、これを
積層一体化する場合の接着性がいちじるしく低下するな
どの問題があり、上記カラー化に対応できるコネクター
はいまだに実現されていないのが現状である。
積層一体化する場合の接着性がいちじるしく低下するな
どの問題があり、上記カラー化に対応できるコネクター
はいまだに実現されていないのが現状である。
[11題を解決するための手段]
本発明者らは、かかる問題について種々な構成のコネク
ターとその製造方法について鋭意検討を重ねた結果、上
記した従来の問題点を解決し、SEコネクターの接続抵
抗を数十Ωの領域まで低下させ、隣接電極間の接続抵抗
のバラツキを低い領域に抑えることにより、従来の大型
LCDパネルの表示品位を向上させ、さらに今後のカラ
ー化に伴う0.2閣程度の接続ピッチに対応できるコネ
クターとその製造方法を完成したのであって、これは少
なくとも導電性薄膜層、導電性樹脂層および絶縁性樹脂
層を繰り返し単位とし、これを積層一体化してなるコネ
クターの製造方法において、離型性を有する支持体上に
形成された金属薄膜または金属酸化物薄膜を前記導電性
樹脂層または絶縁性樹脂層に転写して前記導電性薄膜層
を形成することを特徴とするコネクターの製造方法であ
る。
ターとその製造方法について鋭意検討を重ねた結果、上
記した従来の問題点を解決し、SEコネクターの接続抵
抗を数十Ωの領域まで低下させ、隣接電極間の接続抵抗
のバラツキを低い領域に抑えることにより、従来の大型
LCDパネルの表示品位を向上させ、さらに今後のカラ
ー化に伴う0.2閣程度の接続ピッチに対応できるコネ
クターとその製造方法を完成したのであって、これは少
なくとも導電性薄膜層、導電性樹脂層および絶縁性樹脂
層を繰り返し単位とし、これを積層一体化してなるコネ
クターの製造方法において、離型性を有する支持体上に
形成された金属薄膜または金属酸化物薄膜を前記導電性
樹脂層または絶縁性樹脂層に転写して前記導電性薄膜層
を形成することを特徴とするコネクターの製造方法であ
る。
以下図面を用いて本発明の詳細な説明する。
本発明のコネクターは、上記したように導電性樹脂層と
絶縁性樹脂層のいずれかに導電性薄膜を転写して形成し
た後、これを多重に積層一体化することにより得られる
。該導電性薄膜を転写により形成する転写体としては、
第1図(a)および(b)に示されるように、離型性を
有する支持体上に導電性の金属薄膜または金属酸化物薄
膜を形成したものであって、容易に該導電性薄膜を転写
することが可能であればよい。
絶縁性樹脂層のいずれかに導電性薄膜を転写して形成し
た後、これを多重に積層一体化することにより得られる
。該導電性薄膜を転写により形成する転写体としては、
第1図(a)および(b)に示されるように、離型性を
有する支持体上に導電性の金属薄膜または金属酸化物薄
膜を形成したものであって、容易に該導電性薄膜を転写
することが可能であればよい。
上記転写媒体に使用される支持体4は、これに離型剤層
6と導電性薄膜5を形成するに十分な強度をもつことを
要し、該離型剤層6および導電性薄膜5を形成する方法
が塗工または蒸着などの方法であることから、これらの
加工における乾燥や加工時の熱に十分に耐え得る耐熱性
を有することが必要である。よって、該支持体に使用さ
れるプラスチックフィルムとしては、ポリエチレンフィ
ルム、ポリプロピレンフィルム、ポリ塩化ビニルフィル
ム、ポリ塩化ビニリデンフィルム、ポリビニルアルコー
ルフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリカーボネート
フィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム(以下
PETフィルムと略記)、セルローストリアセテートフ
ィルム、ポリアミドフィルム、ポリイミドフィルム、ポ
リアミドイミドフィルム、ポリエーテルイミドフィルム
、ポリスルホンフィルム、ポリフェニレンサルファイド
フィルム、ポリエーテルエーテルケトンフィルム、ポリ
−4−メチルペンテンフィルム、ポリパラバン酸フィル
ム等が例示されるが、コストおよび耐熱性などの面から
PETフィルムを用いることが好ましい。
6と導電性薄膜5を形成するに十分な強度をもつことを
要し、該離型剤層6および導電性薄膜5を形成する方法
が塗工または蒸着などの方法であることから、これらの
加工における乾燥や加工時の熱に十分に耐え得る耐熱性
を有することが必要である。よって、該支持体に使用さ
れるプラスチックフィルムとしては、ポリエチレンフィ
ルム、ポリプロピレンフィルム、ポリ塩化ビニルフィル
ム、ポリ塩化ビニリデンフィルム、ポリビニルアルコー
ルフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリカーボネート
フィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム(以下
PETフィルムと略記)、セルローストリアセテートフ
ィルム、ポリアミドフィルム、ポリイミドフィルム、ポ
リアミドイミドフィルム、ポリエーテルイミドフィルム
、ポリスルホンフィルム、ポリフェニレンサルファイド
フィルム、ポリエーテルエーテルケトンフィルム、ポリ
−4−メチルペンテンフィルム、ポリパラバン酸フィル
ム等が例示されるが、コストおよび耐熱性などの面から
PETフィルムを用いることが好ましい。
さらに、該支持体はプラスチックフィルム以外の金属箔
を使用してもよく、この場合支持体上に導電性薄膜を形
成する方法として以下に示す蒸着等の方法以外にめっき
などの方法を使用することが考えられ、該薄膜が容易に
転写されることが必要である。このような金属箔として
は、ニッケル、ステンレス等の単体箔や、銅、すす、真
ちゅう、鉄等の一般の金属箔上にニッケル、クロムなど
のめっきを施した複合箔が例示される。これら支持体の
厚みとしては、この上に離型剤層や導電性薄膜を形成す
ることから、これらの加工に必要な十分な強度をもつこ
とが必要で、厚みが薄いと強度不足となり安定した加工
ができなくなり、逆に厚すぎると連続した巻物状として
扱うことが難しくコスト高となるので、厚みは4〜50
0mの範囲、好ましくは6〜100IUの範囲とするの
がよい。
を使用してもよく、この場合支持体上に導電性薄膜を形
成する方法として以下に示す蒸着等の方法以外にめっき
などの方法を使用することが考えられ、該薄膜が容易に
転写されることが必要である。このような金属箔として
は、ニッケル、ステンレス等の単体箔や、銅、すす、真
ちゅう、鉄等の一般の金属箔上にニッケル、クロムなど
のめっきを施した複合箔が例示される。これら支持体の
厚みとしては、この上に離型剤層や導電性薄膜を形成す
ることから、これらの加工に必要な十分な強度をもつこ
とが必要で、厚みが薄いと強度不足となり安定した加工
ができなくなり、逆に厚すぎると連続した巻物状として
扱うことが難しくコスト高となるので、厚みは4〜50
0mの範囲、好ましくは6〜100IUの範囲とするの
がよい。
これらの支持体上に形成する離型剤層は、プラスチック
フィルムを支持体とする場合、一般的にアクリル樹脂、
ウレタン樹脂などのほか、ワックスおよびポリオルガノ
シロキサンを含むシリコーン樹脂などが使用される。本
発明の場合においては、転写が完全になされ、かつこの
離型剤層は導電層とともに転写されないことを要求され
るため、離型剤層としてはシリコーン樹脂が好ましい。
フィルムを支持体とする場合、一般的にアクリル樹脂、
ウレタン樹脂などのほか、ワックスおよびポリオルガノ
シロキサンを含むシリコーン樹脂などが使用される。本
発明の場合においては、転写が完全になされ、かつこの
離型剤層は導電層とともに転写されないことを要求され
るため、離型剤層としてはシリコーン樹脂が好ましい。
該離型剤層を形成する方法は、該樹脂を溶剤等に溶解し
てワニス状とし、これを公知の塗工方法であるダイレク
トグラビアコーター、オフセットグラビアコーター、3
本リバースコーター等を用いて塗工、乾燥して形成する
。この離型剤層の塗工厚みは、薄すぎるとピンホールな
どによって均一な転写ができず、厚すぎるとコスト高と
なり、さらに塗工厚みのバラツキにより転写が安定しな
くなるなどの問題を生じるので、0.1〜5IIMの範
囲、好ましくは0.3〜2庫の範囲とすればよい。また
、該支持体が金属箔である場合は、形成される導電性薄
膜の転写性を向上させるために、離型処理を行なうこと
が好ましい。この処理としては、該金属箔支持体を電解
脱脂液またはカセイソーダ溶液中で短時間の陽極酸化処
理を行なったり、クロム酸ナトリウムや硫化ナトリウム
溶液に短時間浸漬すればよい。
てワニス状とし、これを公知の塗工方法であるダイレク
トグラビアコーター、オフセットグラビアコーター、3
本リバースコーター等を用いて塗工、乾燥して形成する
。この離型剤層の塗工厚みは、薄すぎるとピンホールな
どによって均一な転写ができず、厚すぎるとコスト高と
なり、さらに塗工厚みのバラツキにより転写が安定しな
くなるなどの問題を生じるので、0.1〜5IIMの範
囲、好ましくは0.3〜2庫の範囲とすればよい。また
、該支持体が金属箔である場合は、形成される導電性薄
膜の転写性を向上させるために、離型処理を行なうこと
が好ましい。この処理としては、該金属箔支持体を電解
脱脂液またはカセイソーダ溶液中で短時間の陽極酸化処
理を行なったり、クロム酸ナトリウムや硫化ナトリウム
溶液に短時間浸漬すればよい。
このようにして該支持体上に導電性薄膜を形成して該転
写媒体を得ることができるが、該導電性薄膜は前記した
接続抵抗を減少する観点から、従来のカーボン等を用い
た導電性ゴムより十分に高い導電性を有することが必要
である。これら導電性薄膜の材料としては、金属や金属
酸化物などが好ましく、具体的には、アルミニウム(A
l)、鋼(Cu) 、ニッケル(Ni) 、クロム(C
r) 。
写媒体を得ることができるが、該導電性薄膜は前記した
接続抵抗を減少する観点から、従来のカーボン等を用い
た導電性ゴムより十分に高い導電性を有することが必要
である。これら導電性薄膜の材料としては、金属や金属
酸化物などが好ましく、具体的には、アルミニウム(A
l)、鋼(Cu) 、ニッケル(Ni) 、クロム(C
r) 。
スズ(Sn) 、亜鉛(Zn)、鉄(Fe) 、マンガ
ン(Mn)、モリブデン(Mo) 、チタン(Ti)、
タングステン(W)、銀(Ag) 、金(Au) 、白
金(Pt) 、酸化スズ(SnO,)、酸化インジウム
(Ink、)等が例示される。膜厚は薄すぎると十分な
導電性が得られず、接続抵抗を減少することができなく
なり、逆に厚すぎると、金属および金属酸化物の多層導
電体中に占める割合が増加して、金属箔を導電層に使用
した場合と同様に圧接挾持に必要な荷重が著しく大きく
なることから、その膜厚は0.01〜5.OuMの範囲
、好ましくは0.03〜2.0.nの範囲とする。
ン(Mn)、モリブデン(Mo) 、チタン(Ti)、
タングステン(W)、銀(Ag) 、金(Au) 、白
金(Pt) 、酸化スズ(SnO,)、酸化インジウム
(Ink、)等が例示される。膜厚は薄すぎると十分な
導電性が得られず、接続抵抗を減少することができなく
なり、逆に厚すぎると、金属および金属酸化物の多層導
電体中に占める割合が増加して、金属箔を導電層に使用
した場合と同様に圧接挾持に必要な荷重が著しく大きく
なることから、その膜厚は0.01〜5.OuMの範囲
、好ましくは0.03〜2.0.nの範囲とする。
これら導電性薄膜を形成する方法には、電気めっき法、
無電解めっき法、真空蒸着法、カソードスパッタリング
法などが例示されるが、本発明においては、皮膜の処理
速度が早く、膜質や表面抵抗が安定し、ドライプロセス
であることなどに加えて、金銀糸、電解コンデンサー、
スタンピングホイルなどの加工に使用されていることか
ら、比較的コストの安価な真空蒸着法の利用が好ましい
。
無電解めっき法、真空蒸着法、カソードスパッタリング
法などが例示されるが、本発明においては、皮膜の処理
速度が早く、膜質や表面抵抗が安定し、ドライプロセス
であることなどに加えて、金銀糸、電解コンデンサー、
スタンピングホイルなどの加工に使用されていることか
ら、比較的コストの安価な真空蒸着法の利用が好ましい
。
さらに、上記の方法で形成された導電性薄膜を導電性ま
たは絶縁性樹脂に転写しやすくし、最終的な一体化の際
の該樹脂層との接着力を向上させるために、該導電性薄
膜上にチタネートカップリング剤やシランカップリング
剤およびプライマーなどのほか、該樹脂層によく接着す
るような同種または異種の樹脂層等を形成することは任
意とされる。
たは絶縁性樹脂に転写しやすくし、最終的な一体化の際
の該樹脂層との接着力を向上させるために、該導電性薄
膜上にチタネートカップリング剤やシランカップリング
剤およびプライマーなどのほか、該樹脂層によく接着す
るような同種または異種の樹脂層等を形成することは任
意とされる。
このようにして得られた転写媒体を用い、この導電性薄
膜を導電性樹脂層または絶縁性樹脂層に転写し、これを
積層一体化するのであるが、該導電性樹脂層および絶縁
性樹脂層が硬い樹脂であると圧接挾持に必要な荷重が大
きくなって本発明の効果が得られなくなることから、ゴ
ム弾性を有するエラストマーであることが必要である。
膜を導電性樹脂層または絶縁性樹脂層に転写し、これを
積層一体化するのであるが、該導電性樹脂層および絶縁
性樹脂層が硬い樹脂であると圧接挾持に必要な荷重が大
きくなって本発明の効果が得られなくなることから、ゴ
ム弾性を有するエラストマーであることが必要である。
これらエラストマーとしては、架橋ゴムまたは熱可塑性
エラストマーが挙げられ、より具体的には、架橋ゴムと
してはインプレンゴム(IR)、ブタジェンゴム(BR
)、スチレン−ブタジェンゴム(SBR)、クロロプレ
ンゴム(CR)、ブチルゴム(IIR)、アクリルゴム
(AR)、ウレタンゴム(U)、シリコーンゴム(SR
)、フッ素ゴム(FKM)、エチレン−プロピレンゴム
(EPM。
エラストマーが挙げられ、より具体的には、架橋ゴムと
してはインプレンゴム(IR)、ブタジェンゴム(BR
)、スチレン−ブタジェンゴム(SBR)、クロロプレ
ンゴム(CR)、ブチルゴム(IIR)、アクリルゴム
(AR)、ウレタンゴム(U)、シリコーンゴム(SR
)、フッ素ゴム(FKM)、エチレン−プロピレンゴム
(EPM。
EPDM)、クロルスルホン化ポリエチレンゴム(C8
M)、xチレンー酢酸ビニルゴA (EVA)が例示さ
れ、熱可塑性エラストマーとしては、スチレン−ブタジ
ェン−スチレン共重合体、ポリエステル系熱可塑性エラ
ストマー、ポリウレタン系熱可塑性エラストマーなとの
単体もしくは2種以上の混合物が例示される。
M)、xチレンー酢酸ビニルゴA (EVA)が例示さ
れ、熱可塑性エラストマーとしては、スチレン−ブタジ
ェン−スチレン共重合体、ポリエステル系熱可塑性エラ
ストマー、ポリウレタン系熱可塑性エラストマーなとの
単体もしくは2種以上の混合物が例示される。
これらに導電性を付与する方法としては、カーボンブラ
ック、黒鉛、カーボンファイバーなどの炭素系導電材料
の中から少なくとも1種以上を上記のエラストマーに、
従来より公知の方法、例えばオープン2本ロール、バン
バリーミキサ−1加圧式ニーダー等を用い、所望の体積
抵抗およびゴム硬度のバランスを考慮して適宜に部数を
配合して混練すればよいが、上記に例示したエラストマ
ー中において、従来より実績があり、圧縮永久歪み(コ
ンプレッションセット)が小さく、比較的容易に高導電
性を得ることができる等の利点からシリコーンゴムの使
用が好ましい。また、これらのエラストマー中に、該導
電性薄膜との接着力を向上させる目的で、チタネートカ
ップリング剤やシランカップリング剤などの各種カップ
リング剤、プライマーなどの接着助剤等を配合すること
は任意とされる。
ック、黒鉛、カーボンファイバーなどの炭素系導電材料
の中から少なくとも1種以上を上記のエラストマーに、
従来より公知の方法、例えばオープン2本ロール、バン
バリーミキサ−1加圧式ニーダー等を用い、所望の体積
抵抗およびゴム硬度のバランスを考慮して適宜に部数を
配合して混練すればよいが、上記に例示したエラストマ
ー中において、従来より実績があり、圧縮永久歪み(コ
ンプレッションセット)が小さく、比較的容易に高導電
性を得ることができる等の利点からシリコーンゴムの使
用が好ましい。また、これらのエラストマー中に、該導
電性薄膜との接着力を向上させる目的で、チタネートカ
ップリング剤やシランカップリング剤などの各種カップ
リング剤、プライマーなどの接着助剤等を配合すること
は任意とされる。
これらの導電性樹脂層および絶縁性樹脂層の形成方法と
しては、上記のプラスチックフィルムなどの支持体上に
カレンダートッピング法や押し出し法により形成するか
、使用する樹脂が熱可塑性の場合などは、溶融押し出し
法(エクストルージョン法)やホットメルトコーティン
グなどの塗工法を用いて形成するか、上記に例示された
該導電性樹脂層および絶縁性樹脂層を形成する樹脂を、
溶解するような適宜な溶剤、例えば芳香族炭化水素系の
低沸点溶剤であるトルエン、キシレンやメチルエチルケ
トン、酢酸エチルなどのエステル系、ケトン系の低沸点
溶剤に溶解してワニス化し、該ワニスを前記したような
離型剤層の形成に用いた公知の塗工方法を用いて塗工、
乾燥して形成してもよい。
しては、上記のプラスチックフィルムなどの支持体上に
カレンダートッピング法や押し出し法により形成するか
、使用する樹脂が熱可塑性の場合などは、溶融押し出し
法(エクストルージョン法)やホットメルトコーティン
グなどの塗工法を用いて形成するか、上記に例示された
該導電性樹脂層および絶縁性樹脂層を形成する樹脂を、
溶解するような適宜な溶剤、例えば芳香族炭化水素系の
低沸点溶剤であるトルエン、キシレンやメチルエチルケ
トン、酢酸エチルなどのエステル系、ケトン系の低沸点
溶剤に溶解してワニス化し、該ワニスを前記したような
離型剤層の形成に用いた公知の塗工方法を用いて塗工、
乾燥して形成してもよい。
上記した方法により形成される導電性樹脂層および絶縁
性樹脂層の厚みは、厚すぎると得られる多層導電体芯材
の繰り返し単位のピッチが大きくなり5本発明が目的と
する0、2■ピッチ程度の電極を接続することが難しく
、逆にこの厚みが薄すぎると電極と接続する導電性樹脂
層の面積が減少して接続が不安定になり、また絶縁性樹
脂層の厚みが少ないと、該樹脂層中にピンホールが発生
しやすくなり、十分な絶縁性を得ることができないこと
から、その厚みは2〜30−の範囲とし、該導電性樹脂
層と絶縁性樹脂層との厚みの比率は、1;15〜15:
1の範囲、好ましくは125〜5;1の範囲とすればよ
い。
性樹脂層の厚みは、厚すぎると得られる多層導電体芯材
の繰り返し単位のピッチが大きくなり5本発明が目的と
する0、2■ピッチ程度の電極を接続することが難しく
、逆にこの厚みが薄すぎると電極と接続する導電性樹脂
層の面積が減少して接続が不安定になり、また絶縁性樹
脂層の厚みが少ないと、該樹脂層中にピンホールが発生
しやすくなり、十分な絶縁性を得ることができないこと
から、その厚みは2〜30−の範囲とし、該導電性樹脂
層と絶縁性樹脂層との厚みの比率は、1;15〜15:
1の範囲、好ましくは125〜5;1の範囲とすればよ
い。
本発明のコネクターは上記のようにして形成された導電
性樹脂層または絶縁性樹脂層に該転写媒体の導電性薄膜
を当接し、必要に応じて適宜な加圧、加熱を実施して該
樹脂層と導電性薄膜を密着または接着させた後、該転写
媒体の支持体を剥離して転写を実施すればよい、また、
上記した該導電性および絶縁性樹脂層の形成は転写媒体
と異なる支持体上に形成しているが、この場合支持体が
複数必要となり、コスト高となることなどが考えられる
ので、該導電性樹脂層および絶縁性樹脂層を転写媒体の
導電性薄膜上に形成し、これを積層する段階にて支持体
から剥離して転写を行なうことが好ましい。
性樹脂層または絶縁性樹脂層に該転写媒体の導電性薄膜
を当接し、必要に応じて適宜な加圧、加熱を実施して該
樹脂層と導電性薄膜を密着または接着させた後、該転写
媒体の支持体を剥離して転写を実施すればよい、また、
上記した該導電性および絶縁性樹脂層の形成は転写媒体
と異なる支持体上に形成しているが、この場合支持体が
複数必要となり、コスト高となることなどが考えられる
ので、該導電性樹脂層および絶縁性樹脂層を転写媒体の
導電性薄膜上に形成し、これを積層する段階にて支持体
から剥離して転写を行なうことが好ましい。
本発明のコネクターはこのようにして得られた導電性薄
膜、導電性樹脂層および絶縁性樹脂層からなる繰り返し
単位を多層所定の厚みになるように積層した後に、これ
を適宜な圧力と温度に加圧、加熱することにより硬化お
よび/または一体化してブロック状とし、これを所望の
厚みを有する多層導電体芯材とするために、積層方向と
直角をなす方向にスライスし、得られた多層導電体芯材
シートの両側面に、得られるコネクターが所望の幅Wに
なるよう調整された電気絶縁性の軟質エラストマー層を
接着一体化した後、これを導電層の配列方向と直角をな
す方向に、得ようとするコネクターの高さHの幅でカッ
ティングし、さらにこれを得ようとするコネクターの長
さLに切り揃えて、第1図に示したようなSEコネクタ
ーを得ることができる。
膜、導電性樹脂層および絶縁性樹脂層からなる繰り返し
単位を多層所定の厚みになるように積層した後に、これ
を適宜な圧力と温度に加圧、加熱することにより硬化お
よび/または一体化してブロック状とし、これを所望の
厚みを有する多層導電体芯材とするために、積層方向と
直角をなす方向にスライスし、得られた多層導電体芯材
シートの両側面に、得られるコネクターが所望の幅Wに
なるよう調整された電気絶縁性の軟質エラストマー層を
接着一体化した後、これを導電層の配列方向と直角をな
す方向に、得ようとするコネクターの高さHの幅でカッ
ティングし、さらにこれを得ようとするコネクターの長
さLに切り揃えて、第1図に示したようなSEコネクタ
ーを得ることができる。
[実施例]
実施例−1
片面にコロナ処理を施した厚さ25uのポリエチレンテ
レフタレートフィルムに、厚さ約1−のシリコーン樹脂
離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄膜としてア
ルミニウムを蒸着法により厚さ約600人、表面抵抗1
.2Ω/口になるように形成したスタンピングホイル用
原反「サンライトホイルNo、23038用原反」 (
尾池工業(株)製試作品)を使用し、メチルビニルポリ
シロキサン生ゴム/乾式シリカ/白金触媒系硬化剤/シ
ランカップリング剤等からなる、架橋時の体積固有抵抗
ρV≧1014Ω・備、硬さ(J I 5−A)70’
Hsの絶縁性シリコーンゴム、[l’KE−971H
」を、L型4本カレンダーロールを用いて厚さ15即に
分だしを行い、上記アルミニウム薄膜上にトッピングに
より絶縁性樹脂層を形成し、該絶縁性樹脂層を熱空気加
硫装置I (HAV炉)を通過させ、250℃で15秒
間加硫を実施した。その後、メチルビニルポリシロキサ
ン生ゴム/過酸化物架橋剤/アセチレンブラック/ケッ
チエンブラック等からなる、架橋時の体積固有抵抗、o
v=Q、9Ω・国、硬さ(JIS−A)65”Hsの導
電性シリコーンゴム、FX−65−216」 (信越ポ
リマー(株)製部品名)を、L型4本カレンダーロール
を用いて厚さISμsに分だしを行い、該電気絶縁性シ
リコーンゴム層上にトッピングにより導電性樹脂層を形
成した。この導電性シリコーンゴムを未加硫の状態で3
00−口にカッティングし、これをPETフィルム支持
体を剥離して導電性薄膜を転写しながら合計1000層
積層することにより、高さ約300閣、縦。
レフタレートフィルムに、厚さ約1−のシリコーン樹脂
離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄膜としてア
ルミニウムを蒸着法により厚さ約600人、表面抵抗1
.2Ω/口になるように形成したスタンピングホイル用
原反「サンライトホイルNo、23038用原反」 (
尾池工業(株)製試作品)を使用し、メチルビニルポリ
シロキサン生ゴム/乾式シリカ/白金触媒系硬化剤/シ
ランカップリング剤等からなる、架橋時の体積固有抵抗
ρV≧1014Ω・備、硬さ(J I 5−A)70’
Hsの絶縁性シリコーンゴム、[l’KE−971H
」を、L型4本カレンダーロールを用いて厚さ15即に
分だしを行い、上記アルミニウム薄膜上にトッピングに
より絶縁性樹脂層を形成し、該絶縁性樹脂層を熱空気加
硫装置I (HAV炉)を通過させ、250℃で15秒
間加硫を実施した。その後、メチルビニルポリシロキサ
ン生ゴム/過酸化物架橋剤/アセチレンブラック/ケッ
チエンブラック等からなる、架橋時の体積固有抵抗、o
v=Q、9Ω・国、硬さ(JIS−A)65”Hsの導
電性シリコーンゴム、FX−65−216」 (信越ポ
リマー(株)製部品名)を、L型4本カレンダーロール
を用いて厚さISμsに分だしを行い、該電気絶縁性シ
リコーンゴム層上にトッピングにより導電性樹脂層を形
成した。この導電性シリコーンゴムを未加硫の状態で3
00−口にカッティングし、これをPETフィルム支持
体を剥離して導電性薄膜を転写しながら合計1000層
積層することにより、高さ約300閣、縦。
横がそれぞれ300■の未加硫のブロックとし、これを
所定の金型に投入して175℃xo、 sIcgf/c
slX24時間の条件でプレスキュアおよび一体化を行
い、積層ブロックを作製した。ついで。
所定の金型に投入して175℃xo、 sIcgf/c
slX24時間の条件でプレスキュアおよび一体化を行
い、積層ブロックを作製した。ついで。
該積層ブロックをコネクタースライサー(信越ポリマー
(株)製、インターコネクター製造装置)に搭載して、
積層方向と直角の方向に0.5−の厚さにスライスし、
導電層ピッチ約30u、厚さ0.5■×300−口の多
層導電体芯材シートを得た。該多層導電体芯材シートの
表裏面に、厚さ2.25閣に分だしした架橋時の体積固
有抵抗ρVがI X 1011Ω・1、硬さ(JIS−
A)15〜20@Hsの絶縁性シリコーンゴムff’W
−20,0(信越ポリマー(株)製部品名)を重ね合わ
せ、これを175℃xo、8kgf/cfflXlo分
の条件でプレスキュアーおよび一体化を実施し、さらに
Hカッター(信越ポリマー(株)製、インターコネクタ
ー製造装置)を用い、芯材の導電層配列方向と直角に幅
5■でカッティングし、W=5■。
(株)製、インターコネクター製造装置)に搭載して、
積層方向と直角の方向に0.5−の厚さにスライスし、
導電層ピッチ約30u、厚さ0.5■×300−口の多
層導電体芯材シートを得た。該多層導電体芯材シートの
表裏面に、厚さ2.25閣に分だしした架橋時の体積固
有抵抗ρVがI X 1011Ω・1、硬さ(JIS−
A)15〜20@Hsの絶縁性シリコーンゴムff’W
−20,0(信越ポリマー(株)製部品名)を重ね合わ
せ、これを175℃xo、8kgf/cfflXlo分
の条件でプレスキュアーおよび一体化を実施し、さらに
Hカッター(信越ポリマー(株)製、インターコネクタ
ー製造装置)を用い、芯材の導電層配列方向と直角に幅
5■でカッティングし、W=5■。
H=5閣、L=300−のSEコネクターを作製した。
このSEコネクターを電極ピッチが0.2m(電極幅0
.11)の金めつき電極基板間に圧縮率20%で挾持し
たところ、このときの荷重は2゜8 kg f / c
mで、四端子法で1500本の接続抵抗を測定したとこ
ろ、その平均値は55Ωで、最大値が83Ω、最小値が
39Ωであり、導通不良や隣接電極間のリークのない良
好な接続が得られるとともに、従来のSEコネクターの
0.3■ピツチ電極の接続における接続抵抗が1にΩ以
下であったことから、0.2■ピッチ程度の電極接続に
十分使用できることが判明した。さらに、このコネクタ
ーを65℃X95%RH雰囲気中に上記電極間に圧接し
た状態で投入し、500時間後の接続抵抗の変化を測定
したところ、その平均値は62Ωで、最小値が44Ω、
最大値が93Ωであり、使用上なんら問題のないことが
確認された。
.11)の金めつき電極基板間に圧縮率20%で挾持し
たところ、このときの荷重は2゜8 kg f / c
mで、四端子法で1500本の接続抵抗を測定したとこ
ろ、その平均値は55Ωで、最大値が83Ω、最小値が
39Ωであり、導通不良や隣接電極間のリークのない良
好な接続が得られるとともに、従来のSEコネクターの
0.3■ピツチ電極の接続における接続抵抗が1にΩ以
下であったことから、0.2■ピッチ程度の電極接続に
十分使用できることが判明した。さらに、このコネクタ
ーを65℃X95%RH雰囲気中に上記電極間に圧接し
た状態で投入し、500時間後の接続抵抗の変化を測定
したところ、その平均値は62Ωで、最小値が44Ω、
最大値が93Ωであり、使用上なんら問題のないことが
確認された。
実施例−2
片面にコロナ処理を施した厚さ25μsのポリエチレン
テレフタレートフィルムに、厚さ約1pのシリコーン樹
脂離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄膜として
クロムを蒸着法により厚さ約500人、表面抵抗25Ω
/口になるように形成したスタンピングホイル用原反「
サンライトホイルNo、63024用原反」 (尾池工
業(株)製試作品)を使用したほかは、実施例−1と同
様にしてSEコネクターを作製した。 このSEコネク
ターを電極ピッチが0.2■(電極幅0.1m)の金め
つき電極基板間に圧縮率20%で挾持すると、このとき
の荷重は2.8kgf/cnで、四端子法で1500本
の接続抵抗を測定したところ、その平均値は140Ωで
、最大値が203Ω、最小値が117Ωであり、導通不
良のない良好な接続が得られれるとともに、従来のSE
コネクターの0.31ピツチ電極の接続における接続抵
抗である1にΩ以下の接続抵抗を得ることができたこと
から、0.2■ピツチへの接続に十分使用できることが
判明した。さらに、このコネクターを、上記電極間に圧
接した状態で65℃×95%RH雰囲気中に投入し、5
00時間後の接続抵抗の変化を測定したところ、その平
均値は146Ω、最小値が131Ω、最大値が209Ω
であり、使用上なんら問題のないことが確認された。
テレフタレートフィルムに、厚さ約1pのシリコーン樹
脂離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄膜として
クロムを蒸着法により厚さ約500人、表面抵抗25Ω
/口になるように形成したスタンピングホイル用原反「
サンライトホイルNo、63024用原反」 (尾池工
業(株)製試作品)を使用したほかは、実施例−1と同
様にしてSEコネクターを作製した。 このSEコネク
ターを電極ピッチが0.2■(電極幅0.1m)の金め
つき電極基板間に圧縮率20%で挾持すると、このとき
の荷重は2.8kgf/cnで、四端子法で1500本
の接続抵抗を測定したところ、その平均値は140Ωで
、最大値が203Ω、最小値が117Ωであり、導通不
良のない良好な接続が得られれるとともに、従来のSE
コネクターの0.31ピツチ電極の接続における接続抵
抗である1にΩ以下の接続抵抗を得ることができたこと
から、0.2■ピツチへの接続に十分使用できることが
判明した。さらに、このコネクターを、上記電極間に圧
接した状態で65℃×95%RH雰囲気中に投入し、5
00時間後の接続抵抗の変化を測定したところ、その平
均値は146Ω、最小値が131Ω、最大値が209Ω
であり、使用上なんら問題のないことが確認された。
実施例−3
厚さ50.nのPETフィルム「ルミラー Sタイプ」
を使用し、この上にメチルビニルポリシロキサン生ゴム
/乾式シリカ/白金触媒系硬化剤/シランカップリング
剤等からなる。架橋時の体積固有抵抗pv≧1014Ω
・1、硬さ(JIS−A)70°Hsの絶縁性シリコー
ンゴムffKE−97IHJIを、L型4本カレンダー
ロールを用いて厚さ15.に分だしを行い、上記PET
フィルム上にトッピングにより絶縁性樹脂層を形成した
。ついで、片面にコロナ処理を施した厚さ25.のポリ
エチレンテレフタレートフィルムに、厚さ約1−のシリ
コーン樹脂離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄
膜としてアルミニウムを、蒸着法により厚さ約600人
、表面抵抗1.2Ω/口になるように形成したスタンピ
ングホイル用原反「サンライトホイルNo、23038
用原反」(尾池工業(株)製試作品)のアルミニウム面
を、該未加硫の絶縁性シリコーンゴム表面に当接させ、
線圧1 kg / am、ロール温度50℃、ロール硬
度(JIS−A)75°Hsのゴムロールによりラミネ
ートを行なった後、これを熱空気加硫装置(HAV炉)
を通過させ、250℃で15秒間加硫を実施した。その
後、上記サンライトホイルのPETフィルム基材を剥離
して、アルミニウム薄膜を転写し、ついでジメチルビニ
ルポリシロキサン生ゴム/過酸化物架橋剤/アセチレン
ブラック/ケッチエンブラック等からなる。架橋時の体
積固有抵抗ρv:o、9Ω・1、硬さ(J I 5−A
)65@Hsの導電性シリコーンゴム、[i’X−65
−216j (信越ポリマー(株)製産品名)を、L
型4本カレンダーロールを用いて厚さ15pに分だしを
行い、該転写されたアルミニウム薄膜上にトッピングに
より導電性樹脂層を形成した。この未加硫の導電性シリ
コーンゴムを未加硫のまま、−面が30CJm口の六面
体ドラムに、適宜な張力をかけながらゴム表面を該ドラ
ム表面に密着させ、ついでPETフィルム支持体を剥離
して巻き付け、これを合計700層(厚さ約21■)ま
で積層して、これ以降は実施例−1と同様に実施してS
Eコネクターを作製した。
を使用し、この上にメチルビニルポリシロキサン生ゴム
/乾式シリカ/白金触媒系硬化剤/シランカップリング
剤等からなる。架橋時の体積固有抵抗pv≧1014Ω
・1、硬さ(JIS−A)70°Hsの絶縁性シリコー
ンゴムffKE−97IHJIを、L型4本カレンダー
ロールを用いて厚さ15.に分だしを行い、上記PET
フィルム上にトッピングにより絶縁性樹脂層を形成した
。ついで、片面にコロナ処理を施した厚さ25.のポリ
エチレンテレフタレートフィルムに、厚さ約1−のシリ
コーン樹脂離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄
膜としてアルミニウムを、蒸着法により厚さ約600人
、表面抵抗1.2Ω/口になるように形成したスタンピ
ングホイル用原反「サンライトホイルNo、23038
用原反」(尾池工業(株)製試作品)のアルミニウム面
を、該未加硫の絶縁性シリコーンゴム表面に当接させ、
線圧1 kg / am、ロール温度50℃、ロール硬
度(JIS−A)75°Hsのゴムロールによりラミネ
ートを行なった後、これを熱空気加硫装置(HAV炉)
を通過させ、250℃で15秒間加硫を実施した。その
後、上記サンライトホイルのPETフィルム基材を剥離
して、アルミニウム薄膜を転写し、ついでジメチルビニ
ルポリシロキサン生ゴム/過酸化物架橋剤/アセチレン
ブラック/ケッチエンブラック等からなる。架橋時の体
積固有抵抗ρv:o、9Ω・1、硬さ(J I 5−A
)65@Hsの導電性シリコーンゴム、[i’X−65
−216j (信越ポリマー(株)製産品名)を、L
型4本カレンダーロールを用いて厚さ15pに分だしを
行い、該転写されたアルミニウム薄膜上にトッピングに
より導電性樹脂層を形成した。この未加硫の導電性シリ
コーンゴムを未加硫のまま、−面が30CJm口の六面
体ドラムに、適宜な張力をかけながらゴム表面を該ドラ
ム表面に密着させ、ついでPETフィルム支持体を剥離
して巻き付け、これを合計700層(厚さ約21■)ま
で積層して、これ以降は実施例−1と同様に実施してS
Eコネクターを作製した。
このものを実施例−1と同様にして、その接続抵抗を測
定したところ、その平均値は53Ωで、最大値が80Ω
、最小値が37Ωで、はぼ実施例−1と同等の特性であ
った。
定したところ、その平均値は53Ωで、最大値が80Ω
、最小値が37Ωで、はぼ実施例−1と同等の特性であ
った。
実施例−4
片面にコロナ処理を施した厚さ25Mのポリエチレンテ
レフタレートフィルムに、厚さ約11のシリコーン樹脂
離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄膜として蒸
着法によりアルミニウムを厚さ約600人1表面抵抗1
.2Ω/口になるように形成したスタンピングホイル用
原反「サンライトホイルNo、23038用原反」 (
尾池工業(株)製試作品)を使用し、架橋時の体積固有
抵抗ρv≧10′9Ω・l、硬さ(JIS−A)50’
Hsで、硬化前の粘度が30ボイズの絶縁性2液型液状
RTVシリコーンゴムli’KE−1212j (信
越化学工業(株)製産品名)を、該アルミニウム薄膜上
に「マルチテストコーター(上野山機工(株)製産品名
)のナイフコーターを用いて厚さ15IIMに塗工を行
って、上記アルミニウム薄膜上に絶縁性樹脂層を形成し
、該絶縁性樹脂層を熱空気加硫袋@ (HAV炉)を通
過させ、250℃で30秒間加硫を実施した。その後、
メチルビニルポリシロキサン生ゴム/過酸化物架橋剤/
アセチレンブラック/ケッチエンブラック等からなる、
架橋時の体積固有抵抗ρv=o、9Ω・1、硬さ(J
I 5−A)65@Hsの導電性シリコーンゴム[mX
−65−216ffl (信越ポリマー(株)製産品
名)を、L型4本カレンダーロールを用いて厚さ15即
に分だしを行い、該電気絶縁性シリコーンゴム層上にト
ッピングにより導電性樹脂層を形成した。これ以降は実
施例−1と同様に積層およびスライス等の加工を実施し
てSEコネクターを作製した。このSEコネクターを、
電極ピッチが0.2+m(電極幅0.1m)の金めつき
電極基板間に圧縮率20%で挾持したところ、このとき
の荷重は2.2kgf/amで、四端子法で1500本
の接続抵抗を測定したところ、その平均値は51Ωで、
最大値が79Ω、最小値が35Ωであり、導通不良やリ
ークのない良好な接続が得られた。
レフタレートフィルムに、厚さ約11のシリコーン樹脂
離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄膜として蒸
着法によりアルミニウムを厚さ約600人1表面抵抗1
.2Ω/口になるように形成したスタンピングホイル用
原反「サンライトホイルNo、23038用原反」 (
尾池工業(株)製試作品)を使用し、架橋時の体積固有
抵抗ρv≧10′9Ω・l、硬さ(JIS−A)50’
Hsで、硬化前の粘度が30ボイズの絶縁性2液型液状
RTVシリコーンゴムli’KE−1212j (信
越化学工業(株)製産品名)を、該アルミニウム薄膜上
に「マルチテストコーター(上野山機工(株)製産品名
)のナイフコーターを用いて厚さ15IIMに塗工を行
って、上記アルミニウム薄膜上に絶縁性樹脂層を形成し
、該絶縁性樹脂層を熱空気加硫袋@ (HAV炉)を通
過させ、250℃で30秒間加硫を実施した。その後、
メチルビニルポリシロキサン生ゴム/過酸化物架橋剤/
アセチレンブラック/ケッチエンブラック等からなる、
架橋時の体積固有抵抗ρv=o、9Ω・1、硬さ(J
I 5−A)65@Hsの導電性シリコーンゴム[mX
−65−216ffl (信越ポリマー(株)製産品
名)を、L型4本カレンダーロールを用いて厚さ15即
に分だしを行い、該電気絶縁性シリコーンゴム層上にト
ッピングにより導電性樹脂層を形成した。これ以降は実
施例−1と同様に積層およびスライス等の加工を実施し
てSEコネクターを作製した。このSEコネクターを、
電極ピッチが0.2+m(電極幅0.1m)の金めつき
電極基板間に圧縮率20%で挾持したところ、このとき
の荷重は2.2kgf/amで、四端子法で1500本
の接続抵抗を測定したところ、その平均値は51Ωで、
最大値が79Ω、最小値が35Ωであり、導通不良やリ
ークのない良好な接続が得られた。
実施例−5
片面にコロナ処理を施した厚さ25pのポリエチレンテ
レフタレートフィルムに、厚さ約1pのシリコーン樹脂
離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄膜としてア
ルミニウムを蒸着法により厚さ約600人、表面抵抗1
.2Ω/口になるように形成したスタンピングホイル用
涼反rサンライトホイルNo、23038用原反j (
尾池工業(株)製試作品)を使用し、メチルビニルポリ
シロキサン生ゴム/白金触媒後硬化剤/アセチレンブラ
ック/トルエン溶剤等からなる、架橋時の体積固有抵抗
ρv=5Ω・】、硬さ(JIS−A)60°Hsで硬化
前の粘度が約1500ボイズの導電性液状シリコーンゴ
ムワニス[i’MO−02ffl(信越ポリマー(株)
製産品名)を、該アルミニウム薄膜上に「マルチテスト
コーター」 (上野山機工(株)製産品名)のナイフコ
ーターを用いて乾燥膜厚さが15gになるよう塗工を行
って、上記アルミニウム薄膜上に導電性樹脂層を形成し
、該導電性樹脂層を熱空気加硫袋[(HAV炉)を通過
させ、250℃で30秒間加硫を実施した。
レフタレートフィルムに、厚さ約1pのシリコーン樹脂
離型剤層を形成し、該離型剤層上に導電性薄膜としてア
ルミニウムを蒸着法により厚さ約600人、表面抵抗1
.2Ω/口になるように形成したスタンピングホイル用
涼反rサンライトホイルNo、23038用原反j (
尾池工業(株)製試作品)を使用し、メチルビニルポリ
シロキサン生ゴム/白金触媒後硬化剤/アセチレンブラ
ック/トルエン溶剤等からなる、架橋時の体積固有抵抗
ρv=5Ω・】、硬さ(JIS−A)60°Hsで硬化
前の粘度が約1500ボイズの導電性液状シリコーンゴ
ムワニス[i’MO−02ffl(信越ポリマー(株)
製産品名)を、該アルミニウム薄膜上に「マルチテスト
コーター」 (上野山機工(株)製産品名)のナイフコ
ーターを用いて乾燥膜厚さが15gになるよう塗工を行
って、上記アルミニウム薄膜上に導電性樹脂層を形成し
、該導電性樹脂層を熱空気加硫袋[(HAV炉)を通過
させ、250℃で30秒間加硫を実施した。
その後、メチルビニルポリシロキサン生ゴム/湿式シリ
カ/過酸化物系硬化剤からなる、架橋時の体積固有抵抗
ρV≧1014Ω・備、硬さ(JIS−A)70°Hs
の絶縁性シリコーンゴム、「にE−971Sj (信
越ポリマー(株)製部品名)を、L型4本カレンダーロ
ールを用いて厚さ15p\に分だしを行い、上記導電性
シリコーンゴム層上にトッピングにより絶縁性樹脂層を
形成し、これ以降の積層およびスライス等の加工は実施
例−1と同様としてSEコネクターを作製した。このS
Eコネクターを電極ピッチが0.2■(電極幅0.1m
)の金めつき電極基板間に圧縮率20%で挾持したとこ
ろ、このときの荷重は2.2kgf/1であり、四端子
法で1500本の接続抵抗を測定したところ、その平均
値は73Ωで、最大値が102Ω、最小値が52Ωであ
り、導通不良やリークのない良好な接続が得られた。
カ/過酸化物系硬化剤からなる、架橋時の体積固有抵抗
ρV≧1014Ω・備、硬さ(JIS−A)70°Hs
の絶縁性シリコーンゴム、「にE−971Sj (信
越ポリマー(株)製部品名)を、L型4本カレンダーロ
ールを用いて厚さ15p\に分だしを行い、上記導電性
シリコーンゴム層上にトッピングにより絶縁性樹脂層を
形成し、これ以降の積層およびスライス等の加工は実施
例−1と同様としてSEコネクターを作製した。このS
Eコネクターを電極ピッチが0.2■(電極幅0.1m
)の金めつき電極基板間に圧縮率20%で挾持したとこ
ろ、このときの荷重は2.2kgf/1であり、四端子
法で1500本の接続抵抗を測定したところ、その平均
値は73Ωで、最大値が102Ω、最小値が52Ωであ
り、導通不良やリークのない良好な接続が得られた。
実施例−6
上記TサンライトホイルNo、23038用原反」 (
尾池工業(株)製試作品)を使用し、これにウレタン、
ポリオール/ポリイソシアネート/トルエン/酢酸エチ
ル/アセチレンブラック/ケッチエンブラック等からな
る、乾燥、硬化時のρVが0.3〜0.4Ω・】の導電
性カーボンインクff5T−77−51(信越ポリマー
(株)製部品名)を、版条件として線数120線、深度
70pの格子グラビア版を用いてグラビアコーティング
し、100℃X14mの加熱炉を50m/*inの速度
で通過させて、乾燥を実施して膜厚5即の塗膜とした後
に、その巻物状の原反を60℃の雰囲気中に72時間放
置してウレタン反応を完結させた。ついで、メチルビニ
ルポリシロキサン生ゴム/白金系架橋剤/アセチレンブ
ラック/ケッチエンブラック等からなる導電性シリコー
ンゴムff’X−65−216Hjを、L型4本カレン
ダーロールを用いて厚さ10.mに分だしを行い、上記
の5T−77−51の皮膜上にトッピングにより導電性
樹脂層を形成し、該導電性樹脂層を熱空気加硫装置(H
AV炉)を通過させ、250℃で15秒間加硫を実施し
た。ついで、前記絶縁性シリコーンゴム[mKE−97
1S」を、L型4本カレンダーロールを用いて厚さ15
uMに分だしを行い、該導電性シリコーンゴム層上にト
ッピングにより絶縁性樹脂層を形成した。これ以降は、
実施例−1と同様に積層およびスライス等の加工を実施
し、SEコネクターを作製した。このSEコネクターを
電極ピッチが0.2■(電極幅0.1■)の金めつき電
極基板間に圧縮率20%で挾持したところ、このときの
荷重は2.9kgf/asで、四端子法で1500本の
接続抵抗を測定したところ、その平均値は35Ωで、最
大値が51Ω、最小値が22Ωであり、導通不良やリー
クのない良好な接続が得られれた。
尾池工業(株)製試作品)を使用し、これにウレタン、
ポリオール/ポリイソシアネート/トルエン/酢酸エチ
ル/アセチレンブラック/ケッチエンブラック等からな
る、乾燥、硬化時のρVが0.3〜0.4Ω・】の導電
性カーボンインクff5T−77−51(信越ポリマー
(株)製部品名)を、版条件として線数120線、深度
70pの格子グラビア版を用いてグラビアコーティング
し、100℃X14mの加熱炉を50m/*inの速度
で通過させて、乾燥を実施して膜厚5即の塗膜とした後
に、その巻物状の原反を60℃の雰囲気中に72時間放
置してウレタン反応を完結させた。ついで、メチルビニ
ルポリシロキサン生ゴム/白金系架橋剤/アセチレンブ
ラック/ケッチエンブラック等からなる導電性シリコー
ンゴムff’X−65−216Hjを、L型4本カレン
ダーロールを用いて厚さ10.mに分だしを行い、上記
の5T−77−51の皮膜上にトッピングにより導電性
樹脂層を形成し、該導電性樹脂層を熱空気加硫装置(H
AV炉)を通過させ、250℃で15秒間加硫を実施し
た。ついで、前記絶縁性シリコーンゴム[mKE−97
1S」を、L型4本カレンダーロールを用いて厚さ15
uMに分だしを行い、該導電性シリコーンゴム層上にト
ッピングにより絶縁性樹脂層を形成した。これ以降は、
実施例−1と同様に積層およびスライス等の加工を実施
し、SEコネクターを作製した。このSEコネクターを
電極ピッチが0.2■(電極幅0.1■)の金めつき電
極基板間に圧縮率20%で挾持したところ、このときの
荷重は2.9kgf/asで、四端子法で1500本の
接続抵抗を測定したところ、その平均値は35Ωで、最
大値が51Ω、最小値が22Ωであり、導通不良やリー
クのない良好な接続が得られれた。
比較例
比較例として、実施例−3における、サンライトホイル
を使用せず、よって導電性薄膜層を形成していないが、
その積層ピッチがほぼ等しい導電性シリコーンゴムと絶
縁性シリコーンゴムのみによるSEコネクターを作製し
た。このSEコネクターを電極ピッチが0.2m(電極
幅0.1■)の金めつき電極基板間に圧縮率20%で挾
持したところ、このときの荷重は2.6kgf/mで、
四端子法で1500本の接続抵抗を測定℃たところ、そ
の平均値は1.8にΩで、最大値が2.7にΩ、最小値
が1.5にΩであり、その接続抵抗が1にΩ以上であっ
て、これら0.2園ピツチの電極接続には対応できない
ことが判明した。
を使用せず、よって導電性薄膜層を形成していないが、
その積層ピッチがほぼ等しい導電性シリコーンゴムと絶
縁性シリコーンゴムのみによるSEコネクターを作製し
た。このSEコネクターを電極ピッチが0.2m(電極
幅0.1■)の金めつき電極基板間に圧縮率20%で挾
持したところ、このときの荷重は2.6kgf/mで、
四端子法で1500本の接続抵抗を測定℃たところ、そ
の平均値は1.8にΩで、最大値が2.7にΩ、最小値
が1.5にΩであり、その接続抵抗が1にΩ以上であっ
て、これら0.2園ピツチの電極接続には対応できない
ことが判明した。
【発明の効果]
本発明のコネクターに形成される導電性薄膜層は、従来
の導電ゴムに比較して導電性が高いことから1、その接
続抵抗を大幅に減少できるとともに、その接続抵抗のバ
ラツキの絶対値を低いレベルに抑えるという作用を有し
、厚みは従来の金属箔等に比較して十分に薄いことから
、得られるSEコネクターの接続に必要とする圧接挾持
の荷重を低く抑えることが可能である。同時に、接続の
導通径路が第2図に示すように、駆動回路端子→導電性
樹脂層→導電性薄膜→導電性樹脂層→LCDパネル電極
であり、この導電性樹脂層は化学的に安定な炭素系の導
電剤を使用しているために、一般の金属等における酸化
等による導電性の低下や接触抵抗の上昇がなく、従来の
導電層に金属箔を使用したような従来のものに比べて、
接続抵抗が上昇する等の経時変化が少ないという効果が
得られる。また従来の金属箔やプラスチックフィルムを
使用したものが、該金属箔やプラスチックフィルムに適
宜な厚みを必要としたことから、得られる多層導電体の
積層ピッチの微細化に限度があり、本発明が目的として
いる0、2mピッチ程度の電極の接続に対応できないの
に対し、本発明の方法−によるSEコネクターは該金属
箔やプラスチックフィルムを含まないことから上記の0
.2m程度の電極ピッチにも対応が可能であるという効
果がある。
の導電ゴムに比較して導電性が高いことから1、その接
続抵抗を大幅に減少できるとともに、その接続抵抗のバ
ラツキの絶対値を低いレベルに抑えるという作用を有し
、厚みは従来の金属箔等に比較して十分に薄いことから
、得られるSEコネクターの接続に必要とする圧接挾持
の荷重を低く抑えることが可能である。同時に、接続の
導通径路が第2図に示すように、駆動回路端子→導電性
樹脂層→導電性薄膜→導電性樹脂層→LCDパネル電極
であり、この導電性樹脂層は化学的に安定な炭素系の導
電剤を使用しているために、一般の金属等における酸化
等による導電性の低下や接触抵抗の上昇がなく、従来の
導電層に金属箔を使用したような従来のものに比べて、
接続抵抗が上昇する等の経時変化が少ないという効果が
得られる。また従来の金属箔やプラスチックフィルムを
使用したものが、該金属箔やプラスチックフィルムに適
宜な厚みを必要としたことから、得られる多層導電体の
積層ピッチの微細化に限度があり、本発明が目的として
いる0、2mピッチ程度の電極の接続に対応できないの
に対し、本発明の方法−によるSEコネクターは該金属
箔やプラスチックフィルムを含まないことから上記の0
.2m程度の電極ピッチにも対応が可能であるという効
果がある。
第1図(a)、(b)は本発明に使用される転写媒体の
断面図、第2図は本発明の方法により得られるSEコネ
クターに導電径路を示した斜視図、第3図は従来のSE
コネクターの斜視図、第4図(a)はコネクターの導通
に関与しない側面に金属めっきを施した従来のコネクタ
ーの外側絶縁性側材ゴム層を取り除いた斜視図、(b)
は・(a)を芯材としてこれに絶縁性側材ゴム層を取り
付けためっき法による従来のコネクターの斜視図である
。 1・・・導電性シリコーンゴム層、 2・・・絶縁性シリコーンゴム層、 3・・・絶縁性シリコーンゴム側材層、4・・・支持体
、 5・・・導電性薄膜。 6・・・離型用剤層、 7・・・導電ゴム層、8・・
・絶縁ゴム層、 9・・・コネクターの導通に関与しない側層、10・・
・絶縁性側材ゴム層。
断面図、第2図は本発明の方法により得られるSEコネ
クターに導電径路を示した斜視図、第3図は従来のSE
コネクターの斜視図、第4図(a)はコネクターの導通
に関与しない側面に金属めっきを施した従来のコネクタ
ーの外側絶縁性側材ゴム層を取り除いた斜視図、(b)
は・(a)を芯材としてこれに絶縁性側材ゴム層を取り
付けためっき法による従来のコネクターの斜視図である
。 1・・・導電性シリコーンゴム層、 2・・・絶縁性シリコーンゴム層、 3・・・絶縁性シリコーンゴム側材層、4・・・支持体
、 5・・・導電性薄膜。 6・・・離型用剤層、 7・・・導電ゴム層、8・・
・絶縁ゴム層、 9・・・コネクターの導通に関与しない側層、10・・
・絶縁性側材ゴム層。
Claims (1)
- 少なくとも導電性薄膜層、導電性樹脂層および絶縁性
樹脂層を繰り返し単位とし、これを積層一体化してなる
コネクターの製造方法において、離型性を有する支持体
上に形成された金属薄膜または金属酸化物薄膜を前記導
電性樹脂層または絶縁性樹脂層に転写して前記導電性薄
膜層を形成することを特徴とするコネクターの製造方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18215590A JPH0471177A (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | コネクターの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18215590A JPH0471177A (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | コネクターの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0471177A true JPH0471177A (ja) | 1992-03-05 |
Family
ID=16113322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18215590A Pending JPH0471177A (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | コネクターの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0471177A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994008771A1 (de) * | 1992-10-13 | 1994-04-28 | Hoffman & Co. | Verfahren zum herstellen von schleifkörpern fur elektrische kollektoren od.dgl. |
| JP2002075570A (ja) * | 2000-08-28 | 2002-03-15 | Nec Kyushu Ltd | Icソケット |
-
1990
- 1990-07-10 JP JP18215590A patent/JPH0471177A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994008771A1 (de) * | 1992-10-13 | 1994-04-28 | Hoffman & Co. | Verfahren zum herstellen von schleifkörpern fur elektrische kollektoren od.dgl. |
| EP0664739A1 (de) * | 1992-10-13 | 1995-08-02 | Hoffmann Elektrokohle | Verfahren zum herstellen von schleifkörpern fur elektrische kollektoren od.dgl. |
| US5630973A (en) * | 1992-10-13 | 1997-05-20 | Hoffman & Co. Elektrokohle Ges. Mbh | Process for producing sliding bodies for electric collectors |
| JP2002075570A (ja) * | 2000-08-28 | 2002-03-15 | Nec Kyushu Ltd | Icソケット |
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