JPH04720Y2 - - Google Patents
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- JPH04720Y2 JPH04720Y2 JP1984160489U JP16048984U JPH04720Y2 JP H04720 Y2 JPH04720 Y2 JP H04720Y2 JP 1984160489 U JP1984160489 U JP 1984160489U JP 16048984 U JP16048984 U JP 16048984U JP H04720 Y2 JPH04720 Y2 JP H04720Y2
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Description
【考案の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本考案は、結晶缶内の白下を加熱煎糖する自動
煎糖装置に関し、詳しくは、消費燃料を節減する
ように改善するものである。
煎糖装置に関し、詳しくは、消費燃料を節減する
ように改善するものである。
〈従来の技術〉
結晶缶を用いた従来の自動煎糖装置の例とし
て、例えば、特公昭53−44540号公報「砂糖結晶
缶の自動制御方法」、特公昭60−1000号公報(特
開昭57−110200号)「自動煎糖装置」等が挙げら
れ、ここでは、特公昭60−1000号公報「自動煎糖
装置」の主要部を第4図に表わし、この図を用い
て従来の技術を説明する。
て、例えば、特公昭53−44540号公報「砂糖結晶
缶の自動制御方法」、特公昭60−1000号公報(特
開昭57−110200号)「自動煎糖装置」等が挙げら
れ、ここでは、特公昭60−1000号公報「自動煎糖
装置」の主要部を第4図に表わし、この図を用い
て従来の技術を説明する。
尚、ここで対象とするのは、水または溶質液を
少量ずつ連続的に供給する連続煎糖方式ではな
く、水または溶質液を一定量ずつ時間を区切つて
供給する間欠煎糖方式と呼ばれる方式である。
少量ずつ連続的に供給する連続煎糖方式ではな
く、水または溶質液を一定量ずつ時間を区切つて
供給する間欠煎糖方式と呼ばれる方式である。
さて、第4図において、結晶缶11内にて、砂
糖の結晶を育てる育晶工程にあつては、結晶缶1
1内の白下、つまり溶質液及び種晶が混合された
液がパイプ12に供給される蒸気Sにより加熱さ
れている。ここで、結晶缶11内の白下の固さ
は、溶質液濃度と結晶比率等の和を検出する固さ
計、例えば結晶缶内11に備えられた羽が受ける
反抗トルクを電気信号に変換するレオメータ13
等の検出器で検出される。また、結晶缶11内の
白下の液レベルは、圧力検出器等の液レベル計1
4で検出される。
糖の結晶を育てる育晶工程にあつては、結晶缶1
1内の白下、つまり溶質液及び種晶が混合された
液がパイプ12に供給される蒸気Sにより加熱さ
れている。ここで、結晶缶11内の白下の固さ
は、溶質液濃度と結晶比率等の和を検出する固さ
計、例えば結晶缶内11に備えられた羽が受ける
反抗トルクを電気信号に変換するレオメータ13
等の検出器で検出される。また、結晶缶11内の
白下の液レベルは、圧力検出器等の液レベル計1
4で検出される。
これらの白下固さ検出出力、白下液レベル検出
出力は、制御装置15に供給される。制御装置1
5はマイコン等を備え、入力された値について各
種制御演算を行う装置である。詳しくは、制御装
置15は、供給された白下固さ検出信号、白下液
レベル検出信号にもとづいて制御演算を行い、得
られた制御信号を手動・自動切替器16,17を
介して差水弁18、溶質液弁19へ供給し、パイ
プ21を通じる水W、パイプ22を通じる溶質液
Fを結晶缶11内に供給するのを制御する。即
ち、差水煎糖にあつては、制御装置15は、手
動・自動設定器16を介して弁18を開閉して結
晶缶11に供給される水Wを制御し、糖液煎糖に
あつて手動・自動設定器17を介して弁19を開
閉して結晶缶11に供給される溶質液Fを制御す
る。ここで、手動・自動設定装置16,17は、
それぞれ、手動モードの際は操作者が弁18,1
9に手動開閉操作出力を与えることができ、自動
モードの際は制御装置15からの制御出力をその
まま弁18,19へ与える機器であり、制御装置
15の故障等に備えて設置されるものである。
出力は、制御装置15に供給される。制御装置1
5はマイコン等を備え、入力された値について各
種制御演算を行う装置である。詳しくは、制御装
置15は、供給された白下固さ検出信号、白下液
レベル検出信号にもとづいて制御演算を行い、得
られた制御信号を手動・自動切替器16,17を
介して差水弁18、溶質液弁19へ供給し、パイ
プ21を通じる水W、パイプ22を通じる溶質液
Fを結晶缶11内に供給するのを制御する。即
ち、差水煎糖にあつては、制御装置15は、手
動・自動設定器16を介して弁18を開閉して結
晶缶11に供給される水Wを制御し、糖液煎糖に
あつて手動・自動設定器17を介して弁19を開
閉して結晶缶11に供給される溶質液Fを制御す
る。ここで、手動・自動設定装置16,17は、
それぞれ、手動モードの際は操作者が弁18,1
9に手動開閉操作出力を与えることができ、自動
モードの際は制御装置15からの制御出力をその
まま弁18,19へ与える機器であり、制御装置
15の故障等に備えて設置されるものである。
尚、育晶工程前の起晶時には、種晶弁23を通
じて種晶が結晶缶11に供給される。
じて種晶が結晶缶11に供給される。
一方、制御弁25はパイプ12に設置された弁
であり、図示しない蒸気供給源からの蒸気Sはパ
イプ12及び制御弁25を介して結晶缶11に設
けられた加熱部24に供給される。結晶缶11内
で加熱された白下より蒸発した蒸気はコンデンサ
26を介して真空ポンプ27で引かれ、コンデン
サ26で凝縮される。コンデンサ26にはパイプ
28より冷却水が供給されている。
であり、図示しない蒸気供給源からの蒸気Sはパ
イプ12及び制御弁25を介して結晶缶11に設
けられた加熱部24に供給される。結晶缶11内
で加熱された白下より蒸発した蒸気はコンデンサ
26を介して真空ポンプ27で引かれ、コンデン
サ26で凝縮される。コンデンサ26にはパイプ
28より冷却水が供給されている。
このように構成された従来の自動煎糖装置の動
作概略を第5図を用いて説明する。
作概略を第5図を用いて説明する。
第5図A,Bのグラフは、差水煎糖工程の途中
において、図面右方向に時間が進む場合を表わ
し、Aに示す実線グラフはレオメータ13で得ら
れる白下固さに相当する白下固さ信号、Bに示す
パルス状グラフは差水弁18の開閉状況(高レベ
ルが開、低レベルが閉)に相当するものである。
において、図面右方向に時間が進む場合を表わ
し、Aに示す実線グラフはレオメータ13で得ら
れる白下固さに相当する白下固さ信号、Bに示す
パルス状グラフは差水弁18の開閉状況(高レベ
ルが開、低レベルが閉)に相当するものである。
即ち、制御装置15は、時点t1にて予め設定
した白下固さ設定値B1に白下固さが達したこと
を検出すると、手動・自動切替装置16を介して
差水弁18に開信号を与え、これに応じてパイプ
21より差水Wが結晶缶11に供給される。これ
により白下固さは一旦下がる一方、制御装置15
は白下固さ設定値B1をこの値より高い値B2に
更新する。そして、加熱蒸発により白下固さが時
点t2にて設定値B2に達すると、再び差水弁1
8を開け、差水を供給するようにしている。以下
同様にして、設定値を徐々に高くして白下を凝縮
し、結晶を成長させている。
した白下固さ設定値B1に白下固さが達したこと
を検出すると、手動・自動切替装置16を介して
差水弁18に開信号を与え、これに応じてパイプ
21より差水Wが結晶缶11に供給される。これ
により白下固さは一旦下がる一方、制御装置15
は白下固さ設定値B1をこの値より高い値B2に
更新する。そして、加熱蒸発により白下固さが時
点t2にて設定値B2に達すると、再び差水弁1
8を開け、差水を供給するようにしている。以下
同様にして、設定値を徐々に高くして白下を凝縮
し、結晶を成長させている。
尚、特公昭53−44540号公報の記載に詳しいよ
うに、蒸気加熱による白下固さは、理論的には時
間とともに増大していく滑らかな右上がりの曲線
となるが、本考案が対象とする方式にあつては、
結晶速度を早めるため、この曲線の各段階におい
てこの曲線より少し高めの値を設定値B1,B
2,…とする。即ち、一時的に、白下の固さを白
下内に偽結晶が発生する限界(設定値B1,B
2,…)に達するようにもつていき、この限界点
(設定値B1,B2,…)にて差水Wを加えて白
下の固さを下げて蒸発させる、という制御を繰り
返すことにより、結晶成長速度を高めるものであ
る。
うに、蒸気加熱による白下固さは、理論的には時
間とともに増大していく滑らかな右上がりの曲線
となるが、本考案が対象とする方式にあつては、
結晶速度を早めるため、この曲線の各段階におい
てこの曲線より少し高めの値を設定値B1,B
2,…とする。即ち、一時的に、白下の固さを白
下内に偽結晶が発生する限界(設定値B1,B
2,…)に達するようにもつていき、この限界点
(設定値B1,B2,…)にて差水Wを加えて白
下の固さを下げて蒸発させる、という制御を繰り
返すことにより、結晶成長速度を高めるものであ
る。
ここで、白下の固さが設定値B1,B2,…に
達した時点で差水Wを加える代わりに一定量の溶
質液Fを加えることもあり、これら差水W、溶質
液Fの供給を交互に行なう等、適当に組み合わせ
ることもある。
達した時点で差水Wを加える代わりに一定量の溶
質液Fを加えることもあり、これら差水W、溶質
液Fの供給を交互に行なう等、適当に組み合わせ
ることもある。
更に、結晶缶11内の真空度を制御する手段が
設けられる。即ち、結晶缶11はパイプ31を通
じて外気Aと連通され、パイプ31には空気弁3
2が装着されており、白下の固さが設定値B1,
B2,…に達する各時点で空気弁32を開くこと
により結晶缶11内の真空度を下げ、圧力を一時
的に上昇させる。これにより白下の沸点が上昇
し、よつて白下固さ(濃度)が下がり、差水、溶
質液供給を行つた場合と同様な状態となり、発生
しかけていた偽晶は消され、偽晶の発生を防止す
ることができる。
設けられる。即ち、結晶缶11はパイプ31を通
じて外気Aと連通され、パイプ31には空気弁3
2が装着されており、白下の固さが設定値B1,
B2,…に達する各時点で空気弁32を開くこと
により結晶缶11内の真空度を下げ、圧力を一時
的に上昇させる。これにより白下の沸点が上昇
し、よつて白下固さ(濃度)が下がり、差水、溶
質液供給を行つた場合と同様な状態となり、発生
しかけていた偽晶は消され、偽晶の発生を防止す
ることができる。
詳しくは、結晶缶11内の圧力は圧力検出器3
3で検出され、その検出値は圧力調節計34へ供
給される。圧力調整計34には手動・自動切替器
35を介して制御装置15から圧力設定値が与え
られており、この設定値と検出圧力との偏差が演
算され、この偏差について比例積分演算が行わ
れ、その演算結果が弁開閉制御信号として空気弁
32へ供給される。
3で検出され、その検出値は圧力調節計34へ供
給される。圧力調整計34には手動・自動切替器
35を介して制御装置15から圧力設定値が与え
られており、この設定値と検出圧力との偏差が演
算され、この偏差について比例積分演算が行わ
れ、その演算結果が弁開閉制御信号として空気弁
32へ供給される。
そして、空気弁32を一時的に開いて結晶缶1
1内の真空度を下げた後、直に閉じると、コンデ
ンサ26にて蒸気は凝縮され、結晶缶11内の真
空度はもとに戻る。
1内の真空度を下げた後、直に閉じると、コンデ
ンサ26にて蒸気は凝縮され、結晶缶11内の真
空度はもとに戻る。
〈考案が解決しようとする課題〉
いずれにしても、上記のようにして偽晶の発生
を防止しつつ白下の濃度を高め、結晶を成長させ
るためには、偽晶発生防止のために差水、溶質液
を供給し、更にこれらの差水、溶質液中の水分を
蒸発させ、また、それまでに白下中に含まれてい
る水分を蒸発させる必要がある。このときの蒸発
処理のためには、多大な燃料を消費し、省エネル
ギーを達成するのに障害となつていた。
を防止しつつ白下の濃度を高め、結晶を成長させ
るためには、偽晶発生防止のために差水、溶質液
を供給し、更にこれらの差水、溶質液中の水分を
蒸発させ、また、それまでに白下中に含まれてい
る水分を蒸発させる必要がある。このときの蒸発
処理のためには、多大な燃料を消費し、省エネル
ギーを達成するのに障害となつていた。
本考案はこのような問題を解決するものであ
り、差水、溶質液の供給を行なうことなく、或い
はその供給を減少し、しかも偽晶を発生させるこ
となく良好な結晶に成長させることができ、かつ
燃料消費が少ない自動煎糖装置を提供することを
目的とする。
り、差水、溶質液の供給を行なうことなく、或い
はその供給を減少し、しかも偽晶を発生させるこ
となく良好な結晶に成長させることができ、かつ
燃料消費が少ない自動煎糖装置を提供することを
目的とする。
〈課題を解決するための手段〉
以上の課題を解決した本考案は、結晶缶に設置
された加熱部に蒸気を供給することにより上記結
晶缶内の白下を加熱するとともに、上記白下の固
さを常に測定する固さ計を有し、上記白下に差水
または溶質液を供給して育晶し、上記結晶缶内に
偽晶が発生する限界に対応する白下固さを設定値
としてこの設定値を少なくとも1回以上段階的に
高めていきその各々の段階で、上記固さ計で検出
された白下固さが上記設定値に達した際に上記結
晶缶内の圧力を一時的に上昇させる圧力上昇手段
を備える自動煎糖装置において、上記固さ計で検
出された実際の白下固さが上記設定値に達した際
に上記圧力上昇手段の一時的な圧力上昇制御と連
動して、供給している蒸気流量を通常の蒸気流量
より低い蒸気流量とし一定時間経過後にもとの蒸
気流量に戻す蒸気流量制御手段を具備したことを
特徴とする自動煎糖装置である。
された加熱部に蒸気を供給することにより上記結
晶缶内の白下を加熱するとともに、上記白下の固
さを常に測定する固さ計を有し、上記白下に差水
または溶質液を供給して育晶し、上記結晶缶内に
偽晶が発生する限界に対応する白下固さを設定値
としてこの設定値を少なくとも1回以上段階的に
高めていきその各々の段階で、上記固さ計で検出
された白下固さが上記設定値に達した際に上記結
晶缶内の圧力を一時的に上昇させる圧力上昇手段
を備える自動煎糖装置において、上記固さ計で検
出された実際の白下固さが上記設定値に達した際
に上記圧力上昇手段の一時的な圧力上昇制御と連
動して、供給している蒸気流量を通常の蒸気流量
より低い蒸気流量とし一定時間経過後にもとの蒸
気流量に戻す蒸気流量制御手段を具備したことを
特徴とする自動煎糖装置である。
〈作用〉
本考案の自動煎糖装置は、結晶缶内の白下の固
さを検出し、白下の固さが、結晶缶内に偽晶が発
生する限界に対応する白下固さ設定値に達した際
に、一時的な圧力上昇制御と並行に蒸気の供給量
を一時的に減少制御して、消費燃料を削減する。
さを検出し、白下の固さが、結晶缶内に偽晶が発
生する限界に対応する白下固さ設定値に達した際
に、一時的な圧力上昇制御と並行に蒸気の供給量
を一時的に減少制御して、消費燃料を削減する。
〈実施例〉
本考案を実施した自動煎糖装置の例を第1図に
表わす。この図で、第5図に示した従来の装置と
符号が同じものはその機能は同じである。
表わす。この図で、第5図に示した従来の装置と
符号が同じものはその機能は同じである。
本考案の装置は、結晶缶11内の真空度を制御
する手段を設置するとともに、この真空度の制御
に連動して蒸気Sの供給量を制御する手段を設け
ることをその特徴とするものである。
する手段を設置するとともに、この真空度の制御
に連動して蒸気Sの供給量を制御する手段を設け
ることをその特徴とするものである。
真空度を制御する具体的な制御方式を第3図
A,Bを用いて説明する。
A,Bを用いて説明する。
尚、真空度を制御する手段は、上述した第5図
の例の場合と同様であり、第1図において、空気
供給用パイプ31、空気弁32、圧力検出器3
3、圧力調節計34、手動・自動切替器35、制
御装置15、コンデンサ26、真空ポンプ27、
冷却水を供給するパイプ28等である。
の例の場合と同様であり、第1図において、空気
供給用パイプ31、空気弁32、圧力検出器3
3、圧力調節計34、手動・自動切替器35、制
御装置15、コンデンサ26、真空ポンプ27、
冷却水を供給するパイプ28等である。
第3図で、Aは第5図Aに示す実線グラフと全
く同様のグラフでレオメータ13で得られる白下
の固さに相当する固さ信号を表わし、Bは結晶缶
11内の圧力値(真空度)を表わすグラフであ
る。
く同様のグラフでレオメータ13で得られる白下
の固さに相当する固さ信号を表わし、Bは結晶缶
11内の圧力値(真空度)を表わすグラフであ
る。
つまり、時点t1にて白下の固さが制御装置1
5内の設定値B1に達すると、制御装置15はこ
れを検出するとともに、所定の圧力設定値を手
動・自動切替器35を介して圧力調節計34に与
え、これに応じて圧力調節計34は、結晶缶11
内の圧力を値ΔPだけ高めるように空気弁32を
開く。ここでは、結晶缶11内の圧力をP1から
P2になるように一時的に上昇させる。そして、
制御装置15は、一定時間T1経過後にもとの圧
力P1に戻すように、圧力設定値をもとの値に戻
す。これにより、圧力調節計34の制御によつて
空気弁32は閉じる方向に制御され、結局、結晶
缶11内の圧力はもとの値P1に戻る。
5内の設定値B1に達すると、制御装置15はこ
れを検出するとともに、所定の圧力設定値を手
動・自動切替器35を介して圧力調節計34に与
え、これに応じて圧力調節計34は、結晶缶11
内の圧力を値ΔPだけ高めるように空気弁32を
開く。ここでは、結晶缶11内の圧力をP1から
P2になるように一時的に上昇させる。そして、
制御装置15は、一定時間T1経過後にもとの圧
力P1に戻すように、圧力設定値をもとの値に戻
す。これにより、圧力調節計34の制御によつて
空気弁32は閉じる方向に制御され、結局、結晶
缶11内の圧力はもとの値P1に戻る。
詳しくは、コンデンサ26及び真空ポンプ27
は結晶缶11内の圧力を一定に保つように常に運
転状態であり、空気弁32が開くと外気Aが流入
して結晶缶11内の真空度は下がり、この空気弁
32を閉じるとコンデンサ26及び真空ポンプ2
7の動作により、結晶缶11内の圧力はもとに戻
る。
は結晶缶11内の圧力を一定に保つように常に運
転状態であり、空気弁32が開くと外気Aが流入
して結晶缶11内の真空度は下がり、この空気弁
32を閉じるとコンデンサ26及び真空ポンプ2
7の動作により、結晶缶11内の圧力はもとに戻
る。
一方、制御装置15は検出された白下の固さが
設定値B1に達した時点で、その設定値を値B1
よりも高い値B2に変更する。そして、白下の固
さが設定値B2に達すると、その時点t2で結晶
缶11内の圧力は再び一時的に値ΔPだけ上昇さ
れる。
設定値B1に達した時点で、その設定値を値B1
よりも高い値B2に変更する。そして、白下の固
さが設定値B2に達すると、その時点t2で結晶
缶11内の圧力は再び一時的に値ΔPだけ上昇さ
れる。
以下、設定値が徐々に高められ、実際の白下の
固さがその設定値に達すると、同様な制御が行わ
れる。
固さがその設定値に達すると、同様な制御が行わ
れる。
ここで、結晶缶11内の一時的な圧力上昇は、
例えば、通常の圧力P1=−700mmHgのところ
を、P2=−600mmHgとし、これにより、白下の
沸点は一時的に10度程度高くなる。従つて、白下
の固さが下がり、差水または溶質液供給と同様の
効果が得られ、発生しかけていた偽晶は消えるこ
ととなる。この一時的な圧力上昇による変化分
ΔP、その圧力を上昇している保持期間T1の値
は、従来の差水または溶質液供給により得られて
いる作用と同一のものが得られるようにそれぞれ
決定される。
例えば、通常の圧力P1=−700mmHgのところ
を、P2=−600mmHgとし、これにより、白下の
沸点は一時的に10度程度高くなる。従つて、白下
の固さが下がり、差水または溶質液供給と同様の
効果が得られ、発生しかけていた偽晶は消えるこ
ととなる。この一時的な圧力上昇による変化分
ΔP、その圧力を上昇している保持期間T1の値
は、従来の差水または溶質液供給により得られて
いる作用と同一のものが得られるようにそれぞれ
決定される。
圧力を一時的に上昇させた後に、その圧力を通
常状態に下げるには、急激に行うよりも第3図B
に示すように、徐々に行い、偽晶が発生しないよ
うにすることが好ましい。また、圧力上昇も点線
で示すように、白下の沸騰状態を保持しつつ徐々
に行い、沸騰状態を急に弱めて結晶成長に悪影響
を与えるのを防止することが好ましい。
常状態に下げるには、急激に行うよりも第3図B
に示すように、徐々に行い、偽晶が発生しないよ
うにすることが好ましい。また、圧力上昇も点線
で示すように、白下の沸騰状態を保持しつつ徐々
に行い、沸騰状態を急に弱めて結晶成長に悪影響
を与えるのを防止することが好ましい。
ここで、圧力変化における値ΔP,T1、更に
立上り、立下りの勾配等は結晶缶11の内部状態
で決まり、これは一回の煎糖工程において、その
いずれの段階にあるかにより変更していくことも
できる。
立上り、立下りの勾配等は結晶缶11の内部状態
で決まり、これは一回の煎糖工程において、その
いずれの段階にあるかにより変更していくことも
できる。
いずれにしても煎糖工程における濃縮起品工
程、育品準備工程、肩品工程等、各工程における
各ステツプについて与えられる固さ設定値、圧力
上昇値ΔP、圧力上昇期間T1、圧力変化勾配等、
同一のパラメータが用いられ、その各パラメータ
がそれぞれ各工程毎にモジユールとして記憶さ
れ、各工程において対応モジユール内の各ステツ
プ毎にその内容を読み出して、それに応じた制御
を行うように制御装置15を構成することが好ま
しい。
程、育品準備工程、肩品工程等、各工程における
各ステツプについて与えられる固さ設定値、圧力
上昇値ΔP、圧力上昇期間T1、圧力変化勾配等、
同一のパラメータが用いられ、その各パラメータ
がそれぞれ各工程毎にモジユールとして記憶さ
れ、各工程において対応モジユール内の各ステツ
プ毎にその内容を読み出して、それに応じた制御
を行うように制御装置15を構成することが好ま
しい。
次に、蒸気供給量の制御について述べる。
第1図において、蒸気Sの流量制御は、パイプ
12に設けた流量検出器36の検出値を受ける流
量調節計38によつて行われる。その具体的な制
御方式を第3図A,B,Cを用いて説明する。
12に設けた流量検出器36の検出値を受ける流
量調節計38によつて行われる。その具体的な制
御方式を第3図A,B,Cを用いて説明する。
時点t1にて白下の固さが制御装置15内の設
定値B1に達すると、制御装置15はこれを検出
するとともに、制御装置15に予め設定した、蒸
気流量を下げる流量設定値を手動・自動切替器3
7を介して流量調節計38に与える。流量調節計
38は、この新たな設定値と流量検出器36から
の検出値との偏差を演算し、この偏差について比
例積分演算を行い、その演算結果が制御信号とし
て制御弁25に供給され、制御弁25は閉じる方
向に動作する。
定値B1に達すると、制御装置15はこれを検出
するとともに、制御装置15に予め設定した、蒸
気流量を下げる流量設定値を手動・自動切替器3
7を介して流量調節計38に与える。流量調節計
38は、この新たな設定値と流量検出器36から
の検出値との偏差を演算し、この偏差について比
例積分演算を行い、その演算結果が制御信号とし
て制御弁25に供給され、制御弁25は閉じる方
向に動作する。
尚、手動・自動設定器37は、手動モードの際
は操作者が流量調節計38に任意に設定値を与え
ることにより手動で制御弁25の開閉動作がで
き、自動モードの際は制御装置15からの設定値
出力をそのまま流量調節計38に設定値として与
えるものである。
は操作者が流量調節計38に任意に設定値を与え
ることにより手動で制御弁25の開閉動作がで
き、自動モードの際は制御装置15からの設定値
出力をそのまま流量調節計38に設定値として与
えるものである。
そして、第3図Cに示すように、時点t1にて
白下の固さが設定値B1に達すると、流量調節計
38は、結晶缶11内の蒸気Sの流量を値ΔSだ
け低くするように、制御弁25を閉じる方向に制
御する。ここでは、蒸気Sの流量をS1からS2
になるように蒸気流量を下降させる。一定時間T
2経過後、制御装置15は、もとの流量S1に戻
すように、流量設定値をもとの値に戻す。これに
より、流量調節計38の制御によつて制御弁25
は開く方向に制御され、結局、蒸気流量はもとの
値S1に戻る。
白下の固さが設定値B1に達すると、流量調節計
38は、結晶缶11内の蒸気Sの流量を値ΔSだ
け低くするように、制御弁25を閉じる方向に制
御する。ここでは、蒸気Sの流量をS1からS2
になるように蒸気流量を下降させる。一定時間T
2経過後、制御装置15は、もとの流量S1に戻
すように、流量設定値をもとの値に戻す。これに
より、流量調節計38の制御によつて制御弁25
は開く方向に制御され、結局、蒸気流量はもとの
値S1に戻る。
一方、制御装置15は検出された白下の固さが
設定値B1に達した時点で、その設定値を値B1
よりも高い値B2に変更しており、白下の固さが
設定値B2に達すると、その時点でt2で結晶缶
11内の圧力は再び一時的に値ΔPだけ上昇され
る。
設定値B1に達した時点で、その設定値を値B1
よりも高い値B2に変更しており、白下の固さが
設定値B2に達すると、その時点でt2で結晶缶
11内の圧力は再び一時的に値ΔPだけ上昇され
る。
以下、設定値が徐々に高められ、白下の固さが
その設定値に達した時点で同様な制御が行われ
る。
その設定値に達した時点で同様な制御が行われ
る。
尚、第3図に示すように、時点t1,t2,…
において蒸気流量値が値S1から値S2に、見か
け上、パルス状に変化するように、オーバーシユ
ート等を防止するために流量調節計38にて比例
積分演算を行つた制御出力を制御弁25に与え
る。
において蒸気流量値が値S1から値S2に、見か
け上、パルス状に変化するように、オーバーシユ
ート等を防止するために流量調節計38にて比例
積分演算を行つた制御出力を制御弁25に与え
る。
ここで、低下量ΔS、時間T2は上述の圧力制
御の場合と同様に、糖種、工程、段階により最適
値となるように制御装置15より変更することが
できる。
御の場合と同様に、糖種、工程、段階により最適
値となるように制御装置15より変更することが
できる。
尚、前述したように、結晶缶11内の圧力上昇
に伴つて白下の沸点は高くなるので、蒸気流量を
一時的に絞ることによつて、白下の加熱制御に悪
影響を及ぼすことはない。従つて、本考案では、
一時的な圧力上昇制御に連動して、蒸気流量も減
少制御するものである。
に伴つて白下の沸点は高くなるので、蒸気流量を
一時的に絞ることによつて、白下の加熱制御に悪
影響を及ぼすことはない。従つて、本考案では、
一時的な圧力上昇制御に連動して、蒸気流量も減
少制御するものである。
第2図は、本考案装置における制御装置15の
主要部を表わす、具体的な構成例である。この図
は本考案装置に特有なブロツクのみを表わし、他
の機能ブロツクは省略する。
主要部を表わす、具体的な構成例である。この図
は本考案装置に特有なブロツクのみを表わし、他
の機能ブロツクは省略する。
この図で、白下固さ設定値変更手段151は、
白下固さ設定値を値B1,B2,…のように徐々
に高めていくようにプログラミングされたブロツ
クである。白下固さ比較手段152は、レオメー
タ13で検出された白下固さ信号と、白下固さ設
定値変更手段151からの設定値出力とを常に比
較して、一致した時に一致信号eを出力するブロ
ツクである。
白下固さ設定値を値B1,B2,…のように徐々
に高めていくようにプログラミングされたブロツ
クである。白下固さ比較手段152は、レオメー
タ13で検出された白下固さ信号と、白下固さ設
定値変更手段151からの設定値出力とを常に比
較して、一致した時に一致信号eを出力するブロ
ツクである。
この一致信号eは、圧力設定値変更手段153
及び蒸気流量設定値変更手段154に与えられ
る。
及び蒸気流量設定値変更手段154に与えられ
る。
圧力設定値変更手段153は一致信号eを受け
取ると、それまで出力していた第1の圧力設定値
P1を、結晶缶11内の圧力が上昇するような第
2の圧力設定値P2に変更する。即ち、圧力設定
値変更手段153において、一致信号eを受ける
と、動作時間T1のタイマ153Tを起動させ、
この動作時間T1、それまで第1の圧力設定値
(値P1に対応する値)を選択出力していたセレ
クタ153Sを第2の圧力設定値(値P2に対応
する値)を出力するように切り換える。
取ると、それまで出力していた第1の圧力設定値
P1を、結晶缶11内の圧力が上昇するような第
2の圧力設定値P2に変更する。即ち、圧力設定
値変更手段153において、一致信号eを受ける
と、動作時間T1のタイマ153Tを起動させ、
この動作時間T1、それまで第1の圧力設定値
(値P1に対応する値)を選択出力していたセレ
クタ153Sを第2の圧力設定値(値P2に対応
する値)を出力するように切り換える。
同様に、蒸気流量設定値変更手段154は一致
信号eを受け取ると、動作時間T2のタイマ15
4Tを起動し、その動作時間T2、第1の流量設
定値(値S1に対応する値)を出力していたセレ
クタ154Sを第2の流量設定値(値S2に対応
する値)を出力するように切り換える。
信号eを受け取ると、動作時間T2のタイマ15
4Tを起動し、その動作時間T2、第1の流量設
定値(値S1に対応する値)を出力していたセレ
クタ154Sを第2の流量設定値(値S2に対応
する値)を出力するように切り換える。
これにより、一定時間T1の結晶缶内圧力上昇
と、一定時間T2の蒸気流量減少との連動動作を
実現できる。
と、一定時間T2の蒸気流量減少との連動動作を
実現できる。
このように、白下固さが設定値B1,B2,…
に達する毎に結晶缶11内の圧力を一時的に上昇
制御するとともに、これに連動して蒸気流量を一
時的に下降制御することにより、蒸気流量の下降
制御に対応した燃料消費分を削減できる。
に達する毎に結晶缶11内の圧力を一時的に上昇
制御するとともに、これに連動して蒸気流量を一
時的に下降制御することにより、蒸気流量の下降
制御に対応した燃料消費分を削減できる。
〈考案の効果〉
以上述べたように、この考案の自動煎糖装置に
よれば、結晶缶内の圧力上昇を一時的に行うこと
により差水を行つたのと同様の効果を得ているた
め、それを差水で行う場合と比較してその差水の
蒸発に必要とする燃料消費が少なくなる。
よれば、結晶缶内の圧力上昇を一時的に行うこと
により差水を行つたのと同様の効果を得ているた
め、それを差水で行う場合と比較してその差水の
蒸発に必要とする燃料消費が少なくなる。
同時に、加熱用の蒸気の供給量も節減されるた
めに、これにともなう燃料消費が節減できる。
めに、これにともなう燃料消費が節減できる。
このように、圧力上昇と蒸気供給量の減少とを
併用することにより、装置全体における著しい燃
料消費に貢献できるという、相乗効果をもたら
す。
併用することにより、装置全体における著しい燃
料消費に貢献できるという、相乗効果をもたら
す。
第1図は本考案による自動煎糖装置の一例を示
すブロツク図、第2図は本考案装置における制御
装置15の構成を表わすブロツク図、第3図は本
考案装置の動作を説明するための図、第4図は従
来の自動煎糖装置の一例を示すブロツク図、第5
図は従来の差水煎糖を説明するための図である。 11……結晶缶、12……加熱用蒸気供給パイ
プ、13……レオメータ、15……制御装置、1
51……白下固さ設定値変更手段、152……白
下固さ比較手段、153……圧力設定値変更手
段、154……流量設定値変更手段、153T,
154T……タイマ、153S,154S……セ
レクタ、18……差水弁、19……溶質液弁、2
4……加熱部、25……蒸気制御弁、27……真
空ポンプ、31……空気供給用パイプ、32……
空気弁、33……圧力検出器、34……圧力調節
計、36……蒸気流量検出器、38……蒸気流量
調節計。
すブロツク図、第2図は本考案装置における制御
装置15の構成を表わすブロツク図、第3図は本
考案装置の動作を説明するための図、第4図は従
来の自動煎糖装置の一例を示すブロツク図、第5
図は従来の差水煎糖を説明するための図である。 11……結晶缶、12……加熱用蒸気供給パイ
プ、13……レオメータ、15……制御装置、1
51……白下固さ設定値変更手段、152……白
下固さ比較手段、153……圧力設定値変更手
段、154……流量設定値変更手段、153T,
154T……タイマ、153S,154S……セ
レクタ、18……差水弁、19……溶質液弁、2
4……加熱部、25……蒸気制御弁、27……真
空ポンプ、31……空気供給用パイプ、32……
空気弁、33……圧力検出器、34……圧力調節
計、36……蒸気流量検出器、38……蒸気流量
調節計。
Claims (1)
- 結晶缶に設置された加熱部に蒸気を供給するこ
とにより上記結晶缶内の白下を加熱するととも
に、上記白下の固さを常に検出する検出器を有
し、上記白下に差水または溶質液を供給して育晶
し、上記結晶缶内に偽晶が発生する限界に対応す
る白下固さを設定値としてこの設定値を少なくと
も1回以上段階的に高めていきその各々の段階
で、上記検出器で検出された白下固さが上記設定
値に達した際に上記結晶缶内の圧力を一時的に上
昇させる圧力上昇手段を備える自動煎糖装置にお
いて、上記検出器で検出された実際の白下固さが
上記設定値に達した際に上記圧力上昇手段の一時
的な圧力上昇制御と連動して、供給している蒸気
流量を通常の蒸気流量より低い蒸気流量とし一定
時間経過後にもとの蒸気流量に戻す蒸気流量制御
手段を具備したことを特徴とする自動煎糖装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984160489U JPH04720Y2 (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984160489U JPH04720Y2 (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6174400U JPS6174400U (ja) | 1986-05-20 |
| JPH04720Y2 true JPH04720Y2 (ja) | 1992-01-10 |
Family
ID=30718411
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1984160489U Expired JPH04720Y2 (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04720Y2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IL52973A (en) * | 1976-10-01 | 1983-10-31 | American Cyanamid Co | Alpha-(haloalkoxy and haloalkyl-thiophenyl)alkanoic acid ester derivatives,their preparation and insecticidal and acaricidal compositions containing them |
| JPS601000B2 (ja) * | 1980-12-26 | 1985-01-11 | 横河電機株式会社 | 自動煎糖装置 |
| JPS58175500A (ja) * | 1982-04-05 | 1983-10-14 | 株式会社日立製作所 | 結晶缶制御方法 |
-
1984
- 1984-10-24 JP JP1984160489U patent/JPH04720Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6174400U (ja) | 1986-05-20 |
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