JPH0472517A - 光学式ロータリーエンコーダ - Google Patents
光学式ロータリーエンコーダInfo
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- JPH0472517A JPH0472517A JP18572090A JP18572090A JPH0472517A JP H0472517 A JPH0472517 A JP H0472517A JP 18572090 A JP18572090 A JP 18572090A JP 18572090 A JP18572090 A JP 18572090A JP H0472517 A JPH0472517 A JP H0472517A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、半導体レーザを用いて円板状の記録媒体の
回転変位量を検出する光学式ロータリーエンコーダに関
するものである。
回転変位量を検出する光学式ロータリーエンコーダに関
するものである。
「従来の技術」
従来、半導体レーザを用いて回転変位量を検出する光学
式ロータリーエンフーダとして、第8図に示す構成のも
のか提案されている(特開昭59195118号公報)
。第8図において、ホールベアリング30.30によっ
て支持された回転軸31の一端には、ディスク32が取
り付けられており、このディスク32には、その回転方
向に沿って等間隔にスリット32a、32a、 が形
成されている。そして、半導体レーザ33から発せられ
たレーザビームLBをコリメートレンズ34で平行光と
した後、集光レノズ35で微小スポットに集光してディ
スク32上に照射し、このディスク32に形成されたス
リット32aを通過したレーザビームLBを受光素子3
6で検出する光学検出系37を設けることにより、ディ
スク32の回転変位量が検出されるようになっている。
式ロータリーエンフーダとして、第8図に示す構成のも
のか提案されている(特開昭59195118号公報)
。第8図において、ホールベアリング30.30によっ
て支持された回転軸31の一端には、ディスク32が取
り付けられており、このディスク32には、その回転方
向に沿って等間隔にスリット32a、32a、 が形
成されている。そして、半導体レーザ33から発せられ
たレーザビームLBをコリメートレンズ34で平行光と
した後、集光レノズ35で微小スポットに集光してディ
スク32上に照射し、このディスク32に形成されたス
リット32aを通過したレーザビームLBを受光素子3
6で検出する光学検出系37を設けることにより、ディ
スク32の回転変位量が検出されるようになっている。
このような構成においては、単位時間当たりの回転軸3
1の回転量が検出てきるものの、その絶対的な回転角度
については検出することができない。この絶対的な回転
角度を検出するrこめの信号を得るには、例えば、第9
図に示すように、ディスク32に、互いに位相の異なる
2列のスリット32A、32A、 と32B、32B
、・−を形成すると共に、原点となる基準位置に1個の
スリット32Cを形成し、これらのスリット32A、3
2B32Cを各々検出する3組の光学検出系37を設け
なればならない。これはインクリメンタル型と呼ばれる
ものであるが、このような方法においては、光学検出系
37を少なくとも3組設けなければならないため、部品
点数の増加が避けられず、装置全体の小形化が困難であ
る。
1の回転量が検出てきるものの、その絶対的な回転角度
については検出することができない。この絶対的な回転
角度を検出するrこめの信号を得るには、例えば、第9
図に示すように、ディスク32に、互いに位相の異なる
2列のスリット32A、32A、 と32B、32B
、・−を形成すると共に、原点となる基準位置に1個の
スリット32Cを形成し、これらのスリット32A、3
2B32Cを各々検出する3組の光学検出系37を設け
なればならない。これはインクリメンタル型と呼ばれる
ものであるが、このような方法においては、光学検出系
37を少なくとも3組設けなければならないため、部品
点数の増加が避けられず、装置全体の小形化が困難であ
る。
そこで、第10図に示すように、ディスク42の記録面
に、その半径方向に放射状に延びる複数の反射部42a
と非反射部42bを円周方向に所定間隔て記録し、さら
に、半導体レーザから発せられるレーザビームを3つの
微小のスポットLSaLSb、LScに各々集光してデ
ィスク42の記録面に照射すると共に、それらの反射光
を各々受光し、各反射光量に対応した多相の検出信号を
各々出力する光学検出系を設け、これら多相の検出信号
に基づいてディスク42の回転変位量を検出する光学式
ロータリーエンコーダが提案されている。
に、その半径方向に放射状に延びる複数の反射部42a
と非反射部42bを円周方向に所定間隔て記録し、さら
に、半導体レーザから発せられるレーザビームを3つの
微小のスポットLSaLSb、LScに各々集光してデ
ィスク42の記録面に照射すると共に、それらの反射光
を各々受光し、各反射光量に対応した多相の検出信号を
各々出力する光学検出系を設け、これら多相の検出信号
に基づいてディスク42の回転変位量を検出する光学式
ロータリーエンコーダが提案されている。
この場合、各スポットL Sa、L Sb、L Scの
位置関係を調整し、光学検出系から得られる多相の検出
信号の位相差を調整する技術が不可欠である。
位置関係を調整し、光学検出系から得られる多相の検出
信号の位相差を調整する技術が不可欠である。
このような位相差を調整する技術としては、従来、特開
昭63−111418号公報に記載されているように、
光学検出系をディスク42の接線方向(第1O図に示す
矢印入方向)へ送るものか提案されている。
昭63−111418号公報に記載されているように、
光学検出系をディスク42の接線方向(第1O図に示す
矢印入方向)へ送るものか提案されている。
「発明が解決しようとする課題」
ところで、上述したように光学検出系から得られる多相
の検出信号の位相差を調整するために、光学検出系をデ
ィスク42の接線方向へ送る方法においては、第1O図
に示すようにディスク42に記録された放射状に延びる
複数の反射部42aおよび非反射部42bと、略直交す
る方向(矢印A方向)へ各スボッ) L Sa、L S
b、f−Scが同じ距離移動するだけであるので、例え
ば、両端のスポットLSaとL S cの位相差を所定
値に設定しようとしてら、微妙にしか位相差が変化せず
、必ずしも所望の位相差に調整することができないとい
う問題があっf二。この問題は、両端のスポットLSa
とLScとの間隔が狭い程、顕著に現れる。
の検出信号の位相差を調整するために、光学検出系をデ
ィスク42の接線方向へ送る方法においては、第1O図
に示すようにディスク42に記録された放射状に延びる
複数の反射部42aおよび非反射部42bと、略直交す
る方向(矢印A方向)へ各スボッ) L Sa、L S
b、f−Scが同じ距離移動するだけであるので、例え
ば、両端のスポットLSaとL S cの位相差を所定
値に設定しようとしてら、微妙にしか位相差が変化せず
、必ずしも所望の位相差に調整することができないとい
う問題があっf二。この問題は、両端のスポットLSa
とLScとの間隔が狭い程、顕著に現れる。
この発明は上述した事情に鑑みてなされ1こもので、単
一の光学検出系で複数のスポットを記録媒体に照射し、
多相の検出信号を得る構成において、各検出信号の位相
差を任意に、かつ容易に調整することができる光学式ロ
ータリーエンコーダを提供することを目的としている。
一の光学検出系で複数のスポットを記録媒体に照射し、
多相の検出信号を得る構成において、各検出信号の位相
差を任意に、かつ容易に調整することができる光学式ロ
ータリーエンコーダを提供することを目的としている。
「課題を解決するための手段」
この発明は、回転自在に支持され、半径方向に放射状に
延びる位置情報が記録面の円周方向に所定間隔で記録さ
れた円板状の記録媒体と、半導体レーザから発せられる
レーザビームを略接線方向に沿った複数の微小スポット
に各々集光して前記記録媒体の記録面に照射すると共に
、それらの反射光を各々受光し、各反射光量に対応した
多相の検出信号を各々出力する光学検出手段とを具備し
、前記各検出信号に基づいて前記記録媒体の回転変位量
を検出する光学式ロータリーエンコーダにおいて、前記
光学検出手段を前記記録媒体の半径方向へ設定量だけ移
送する位置調整機構を設け1こことを特徴としている。
延びる位置情報が記録面の円周方向に所定間隔で記録さ
れた円板状の記録媒体と、半導体レーザから発せられる
レーザビームを略接線方向に沿った複数の微小スポット
に各々集光して前記記録媒体の記録面に照射すると共に
、それらの反射光を各々受光し、各反射光量に対応した
多相の検出信号を各々出力する光学検出手段とを具備し
、前記各検出信号に基づいて前記記録媒体の回転変位量
を検出する光学式ロータリーエンコーダにおいて、前記
光学検出手段を前記記録媒体の半径方向へ設定量だけ移
送する位置調整機構を設け1こことを特徴としている。
「作用」
上記の構成によれば、光学検出手段が記録媒体の半径方
向へ設定量だけ移送されるので、移送距離が僅かであっ
ても、略接線方向に沿った複数の微小スポットが放射状
に延びる位置情報を横切り、この結果、多相の検出信号
の位相差が任意に調整される。
向へ設定量だけ移送されるので、移送距離が僅かであっ
ても、略接線方向に沿った複数の微小スポットが放射状
に延びる位置情報を横切り、この結果、多相の検出信号
の位相差が任意に調整される。
「実施例」
以下、図面を参照し、この発明の実施例について説明す
る。
る。
第1図および第2図はこの発明の第一実施例の機械的構
成を示す平面図および側面図である。これらの図におい
て、25は装置本体に固定的に設けられた支持部材であ
り、この支持部材25には互いに平行な2本のガイドシ
ャフト26a、26bがディスク1の半径方向Bと平行
に取り付けられている。そして、これら2本のガイドシ
ャフト26a、26bによってガイドプレート27か移
動自在に支持され、さらにこのガイドプレート27によ
って、後述する光ピツクアップ6が、そのメインレーザ
ビーム光軸Jを中心に回動自在に支持されている。これ
により、光ピツクアップ6は、ディスク1の半径方向B
へ移動自在に支持されると共に、メインレーザビーム光
軸Jを中心に矢印R方向へ回動自在に支持されている。
成を示す平面図および側面図である。これらの図におい
て、25は装置本体に固定的に設けられた支持部材であ
り、この支持部材25には互いに平行な2本のガイドシ
ャフト26a、26bがディスク1の半径方向Bと平行
に取り付けられている。そして、これら2本のガイドシ
ャフト26a、26bによってガイドプレート27か移
動自在に支持され、さらにこのガイドプレート27によ
って、後述する光ピツクアップ6が、そのメインレーザ
ビーム光軸Jを中心に回動自在に支持されている。これ
により、光ピツクアップ6は、ディスク1の半径方向B
へ移動自在に支持されると共に、メインレーザビーム光
軸Jを中心に矢印R方向へ回動自在に支持されている。
また、ガイドプレート27の一端面には、支持部材25
に螺合された調整ネジ29の先端が当接しており、その
他端面ばガイドシャフト26a、26bの端部に設けら
れたバネ28によって付勢されている。これにより調整
ネジ29を正方向へ回動してねじ込み、もしくは逆方向
へ回動することにガイドプレート27を、半径方向日に
沿う任意の位置に移送することができる。さらに、光ピ
ツクアップ6の一端面には、メインレーザビーム光軸J
を中心とする仮想円周に沿で歯が形成されたギヤ30が
取り付けられており、このギヤ30に螺合するウオーム
ギヤ31の両端が、ガイドプレート27の一端面に設け
られた軸受27a、27aによって各々回動自在に、か
つ軸方向の移動を規制された状態で支持されている。こ
の軸受27aには、側部に孔27cが形成されており、
この孔27cからウオームギヤ31の端面に刻まれた溝
31aが露出している。この溝31aをドライバー等て
回動することにより、光ピツクアップ6を、メインレー
ザビーム光軸Jを中心とする任意の回転位置に調整する
ことができるようになっている。
に螺合された調整ネジ29の先端が当接しており、その
他端面ばガイドシャフト26a、26bの端部に設けら
れたバネ28によって付勢されている。これにより調整
ネジ29を正方向へ回動してねじ込み、もしくは逆方向
へ回動することにガイドプレート27を、半径方向日に
沿う任意の位置に移送することができる。さらに、光ピ
ツクアップ6の一端面には、メインレーザビーム光軸J
を中心とする仮想円周に沿で歯が形成されたギヤ30が
取り付けられており、このギヤ30に螺合するウオーム
ギヤ31の両端が、ガイドプレート27の一端面に設け
られた軸受27a、27aによって各々回動自在に、か
つ軸方向の移動を規制された状態で支持されている。こ
の軸受27aには、側部に孔27cが形成されており、
この孔27cからウオームギヤ31の端面に刻まれた溝
31aが露出している。この溝31aをドライバー等て
回動することにより、光ピツクアップ6を、メインレー
ザビーム光軸Jを中心とする任意の回転位置に調整する
ことができるようになっている。
以上により、第3図に示すように光ピツクアップ6から
照射されたレーザビームによって、ディスクl上に、該
ディスクlの略接線方向に沿って1列にサブレーザスポ
ットS L S 、、メインレーザスポットMLS、サ
ブレーザスポットSLIが照射されている場合、まず、
調整ネジ29を回すことにより各スポットをディスク1
の半径方向Bへ移動して粗調整を行った後、ウオームギ
ヤ31を回すことによって、各スポットをメインレーザ
スボッ)MLSを中心に矢印R方向へ回動させ、微調整
することができ、このような単純な機構で、各スポット
の位置関係(位相差)を任意に調整することができる。
照射されたレーザビームによって、ディスクl上に、該
ディスクlの略接線方向に沿って1列にサブレーザスポ
ットS L S 、、メインレーザスポットMLS、サ
ブレーザスポットSLIが照射されている場合、まず、
調整ネジ29を回すことにより各スポットをディスク1
の半径方向Bへ移動して粗調整を行った後、ウオームギ
ヤ31を回すことによって、各スポットをメインレーザ
スボッ)MLSを中心に矢印R方向へ回動させ、微調整
することができ、このような単純な機構で、各スポット
の位置関係(位相差)を任意に調整することができる。
ここで、各スポットをディスクlの接線方向へのみ移送
する従来技術と比較した場合、各スポットをディスクl
の半径方向へ送った方が、ディスク1に記録されたラン
ド2aとピット2bが放射状、すなわち扇状であるため
、サブレーザスポットSLS、とSLS、の位置関係(
位相差)の調整が迅速かつ容易に行うことができ、さら
に、メインレーザスポットMLS回りに回動させること
により、より一層高精度に調整を行うこおとができる。
する従来技術と比較した場合、各スポットをディスクl
の半径方向へ送った方が、ディスク1に記録されたラン
ド2aとピット2bが放射状、すなわち扇状であるため
、サブレーザスポットSLS、とSLS、の位置関係(
位相差)の調整が迅速かつ容易に行うことができ、さら
に、メインレーザスポットMLS回りに回動させること
により、より一層高精度に調整を行うこおとができる。
次に、ディスクlに記録されたランド2aとピット2b
および、各レーザスポットMLS、SLS。
および、各レーザスポットMLS、SLS。
SLS、の機能や位置関係を明確にするために、上述し
た一実施例の電気的および光学的構成にっいて説明する
。
た一実施例の電気的および光学的構成にっいて説明する
。
第4図において、lはディスクであり、その移動方向M
に沿って等間隔に、すなわち1.Iの比率で凸状のラン
ド部2aと凹状のピット部2bが交互に形成された透明
プラスチックの基板2と、この基板2のビット部2bが
形成された面にアルミニウムの薄膜を蒸着することによ
って形成された反射膜3と、この反射ll13を覆うよ
うに形成された透明プラスチックの保護膜4とから構成
されている。このディスクlは第5図に示すように、図
示せぬホールベアリング等によって回転自在に支持され
た回転軸5に取り付けられており、その回転方向Mに沿
って等間隔にかつ微細な間隔でランド部2aとビット部
2bが放射状に形成されている。
に沿って等間隔に、すなわち1.Iの比率で凸状のラン
ド部2aと凹状のピット部2bが交互に形成された透明
プラスチックの基板2と、この基板2のビット部2bが
形成された面にアルミニウムの薄膜を蒸着することによ
って形成された反射膜3と、この反射ll13を覆うよ
うに形成された透明プラスチックの保護膜4とから構成
されている。このディスクlは第5図に示すように、図
示せぬホールベアリング等によって回転自在に支持され
た回転軸5に取り付けられており、その回転方向Mに沿
って等間隔にかつ微細な間隔でランド部2aとビット部
2bが放射状に形成されている。
そして、このディスクlの原点となる基準位置において
は、第4図に示すようにランド部2a上の反射113が
除去されて、反射膜除去部3aが形成されている。この
反射膜除去部3aにおいては、反射率が略0%となって
おり、他の部分と反射率か著しく異なっている。
は、第4図に示すようにランド部2a上の反射113が
除去されて、反射膜除去部3aが形成されている。この
反射膜除去部3aにおいては、反射率が略0%となって
おり、他の部分と反射率か著しく異なっている。
6は光ピツクアップであり、半導体レーザ7、コリメー
トレンズ8、グレーティングプレート(回折格子)9、
ハーフミラ−IO1対物レンズ11゜集光レンズ12、
ノリンドリカルレンズ13、および光検出器14によっ
て構成されている。
トレンズ8、グレーティングプレート(回折格子)9、
ハーフミラ−IO1対物レンズ11゜集光レンズ12、
ノリンドリカルレンズ13、および光検出器14によっ
て構成されている。
そして、半導体レーザ7がレーザ駆動回路15によって
駆動されて、レーザビームLBを発すると、このレーザ
ビームLBがコリメートレンズ8によって平行光とされ
た後、グレーティングプレート9を介してハーフミラ−
10に導かれ、このハーフミラ−10によって光路か直
角に折り曲げられて対物レンズ11に導かれ、さらに、
この対物レンズ11によって微小のスポットに集光され
て、ディスクl上に照射される。
駆動されて、レーザビームLBを発すると、このレーザ
ビームLBがコリメートレンズ8によって平行光とされ
た後、グレーティングプレート9を介してハーフミラ−
10に導かれ、このハーフミラ−10によって光路か直
角に折り曲げられて対物レンズ11に導かれ、さらに、
この対物レンズ11によって微小のスポットに集光され
て、ディスクl上に照射される。
実際には、レーザビームLBはグレーティングプレート
9の作用により、3本のレーザビームに分けられ、ディ
スクl上には、第3図に示すように、メインレーザスポ
ットMLSの他に2つのサブレーザスポットSLS、と
SLS、が生じる。この場合、ディスク1の略接線方向
に沿って、レーザスポットSLS、、MLS、SLS、
の順に一列に配列されている。
9の作用により、3本のレーザビームに分けられ、ディ
スクl上には、第3図に示すように、メインレーザスポ
ットMLSの他に2つのサブレーザスポットSLS、と
SLS、が生じる。この場合、ディスク1の略接線方向
に沿って、レーザスポットSLS、、MLS、SLS、
の順に一列に配列されている。
ここで、レーザビームLBがディスクlのビット部2b
に照射されると、ビット部2bとランド部2aとからの
反射光の干渉効果によって対物レンズ11に入射する反
射光量が減少する。一方、ビット部2bとビット部2b
の間のランド部2aにおいては、全ての反射光が対物レ
ンズ11に入射するため、反射光量が増加する。
に照射されると、ビット部2bとランド部2aとからの
反射光の干渉効果によって対物レンズ11に入射する反
射光量が減少する。一方、ビット部2bとビット部2b
の間のランド部2aにおいては、全ての反射光が対物レ
ンズ11に入射するため、反射光量が増加する。
ディスク1によって反射されたレーザビームしBは、再
び対物レンズ11を介してハーフミラ−10に導かれる
が、今度はこのハーフミラ−10を直進して集光レンズ
12に導かれ、この集光レンズ12およびシリンドリカ
ルレンズ13て集光されて光検出器14に達する。
び対物レンズ11を介してハーフミラ−10に導かれる
が、今度はこのハーフミラ−10を直進して集光レンズ
12に導かれ、この集光レンズ12およびシリンドリカ
ルレンズ13て集光されて光検出器14に達する。
この光検出器14は、第6図に示すように、大きく分け
て3つの検出部14a、14b、I 4cによって構成
されており、中央の検出部14bはさらに4分割されて
いる。これら各検出ff114a−14cは、例えばフ
ォトダイオードによって各々構成されており、受光量に
応じたレベルの検出信号S a〜Scを各々出力する。
て3つの検出部14a、14b、I 4cによって構成
されており、中央の検出部14bはさらに4分割されて
いる。これら各検出ff114a−14cは、例えばフ
ォトダイオードによって各々構成されており、受光量に
応じたレベルの検出信号S a〜Scを各々出力する。
そして、ディスク1て反射されたメインレーザビームM
LBが中央の検出部+4bに到達し、サブレーザビーム
SLB、とSLB、か検出K I 4 aと14cに各
々到達するため、各検出f= I 4 a〜14cから
各々出力される検出信号5a=Scは、各レーザビーム
の反射光量に応じたレベルとなる。これらは、本来、対
物レンズ11のフォーカンングサーボやトラッキングサ
ーボを行うr二めに必要となるサーボ誤差信号を得るた
めのものであるが、これらサーボ系についての説明は省
略する。
LBが中央の検出部+4bに到達し、サブレーザビーム
SLB、とSLB、か検出K I 4 aと14cに各
々到達するため、各検出f= I 4 a〜14cから
各々出力される検出信号5a=Scは、各レーザビーム
の反射光量に応じたレベルとなる。これらは、本来、対
物レンズ11のフォーカンングサーボやトラッキングサ
ーボを行うr二めに必要となるサーボ誤差信号を得るた
めのものであるが、これらサーボ系についての説明は省
略する。
再び、第4図に戻り、光検出器14の検出部14aから
出力された検出信号Saは、コンパレータ16と17に
各々供給される。フンパレータ16は、検出信号Saと
予め設定されたスレッシュホールドレベルSL、とを比
較し、検出信号S8がスレッ/ユホールドレベルSL、
以上となった場合に、°H”レベルの判定信号C1を出
力する。また、コノパレータ17は、検出信号Saと予
め設定されたスレッノユホールドレベルSL、とを比較
し、検出信号SaがスレッノユホールドレベルSL、以
下となった場合に、“H”レベルの判定信号Cアを出力
する。これら判定信号C2とC!がオアゲート18を介
して相対位置パルスPrとして出力され、判定信号C4
が絶対位置パルスPaとして出力される。
出力された検出信号Saは、コンパレータ16と17に
各々供給される。フンパレータ16は、検出信号Saと
予め設定されたスレッシュホールドレベルSL、とを比
較し、検出信号S8がスレッ/ユホールドレベルSL、
以上となった場合に、°H”レベルの判定信号C1を出
力する。また、コノパレータ17は、検出信号Saと予
め設定されたスレッノユホールドレベルSL、とを比較
し、検出信号SaがスレッノユホールドレベルSL、以
下となった場合に、“H”レベルの判定信号Cアを出力
する。これら判定信号C2とC!がオアゲート18を介
して相対位置パルスPrとして出力され、判定信号C4
が絶対位置パルスPaとして出力される。
一方、光検出器14の検出!!14bと14cから各々
出力された検出信号sbとScは、波形整形回路20と
21において、所定のスレッノユホールドレベルによっ
て波形整形され、パルス信号PとP、とされて方向判定
回路23に供給される。
出力された検出信号sbとScは、波形整形回路20と
21において、所定のスレッノユホールドレベルによっ
て波形整形され、パルス信号PとP、とされて方向判定
回路23に供給される。
この方向判定回路23は、パルス信号PlとP、の位相
関係に基づいて、ディスク1の回転方向を判定し、方向
判定信号Pcを出力するものである。
関係に基づいて、ディスク1の回転方向を判定し、方向
判定信号Pcを出力するものである。
以上の構成において、ディスク1の回転に伴って、各レ
ーザスポットが照射される部分が変化し、ディスクlの
ビット部2bに照射されると、ビット部2bとランド部
2aとからの反射光の干渉効果によって対物レンズ11
に入射する反射光量が減少し、ピット部2bとピット部
2bの間のランド部2aにおいては、全ての反射光が対
物レンズ11に入射するため、反射光量が増加する。こ
の結果、光検出器14の各検出部14a=14cからは
、第7図(イ)〜(ハ)に示すように、互いに位相の異
なる略正弦波状の検出信号5a−9cが各々出力される
。
ーザスポットが照射される部分が変化し、ディスクlの
ビット部2bに照射されると、ビット部2bとランド部
2aとからの反射光の干渉効果によって対物レンズ11
に入射する反射光量が減少し、ピット部2bとピット部
2bの間のランド部2aにおいては、全ての反射光が対
物レンズ11に入射するため、反射光量が増加する。こ
の結果、光検出器14の各検出部14a=14cからは
、第7図(イ)〜(ハ)に示すように、互いに位相の異
なる略正弦波状の検出信号5a−9cが各々出力される
。
これらの信号の内、検出信号Sb、Scが波形整形回路
20.21によって各々波形整形され、パルス信号P1
.Ptとされた後、方向判定回路23に供給される。そ
して、この方向判定回路23が、パルス信号P、とP!
の位相関係に基づいて、ディスク1の回転方向を判定す
る。例えば、パルス信号P、がパルス信号P、よりも進
み位相であった場合は、ディスクlが正転しているもの
として“H”レベルの方向判定信号Pcを出力し、逆に
パルス信号P、が進み位相であった場合は、ディスクl
が逆転しているものとして“L゛レベル方向判定信号P
cを出力する。
20.21によって各々波形整形され、パルス信号P1
.Ptとされた後、方向判定回路23に供給される。そ
して、この方向判定回路23が、パルス信号P、とP!
の位相関係に基づいて、ディスク1の回転方向を判定す
る。例えば、パルス信号P、がパルス信号P、よりも進
み位相であった場合は、ディスクlが正転しているもの
として“H”レベルの方向判定信号Pcを出力し、逆に
パルス信号P、が進み位相であった場合は、ディスクl
が逆転しているものとして“L゛レベル方向判定信号P
cを出力する。
一方、ディスクlの原点となる基準位置においては、第
4図に示すようにランド部2a上の反射膜3が除去され
て、反射膜除去部3aが形成されており、この反射膜除
去部3aにおいては、レーザビームLBが反射されずに
透過してしまう。したがって、この反射膜除去部3aが
レーザスポット上を通過する毎に、各検出信号5a−3
cは、第7図(ニ)に点線で示すように、本来ランド[
2aからの反射光量増加に応じてレベルか山伏に変化す
べきところを、同図(ニ)に実線で示すように深い谷状
に変化する。
4図に示すようにランド部2a上の反射膜3が除去され
て、反射膜除去部3aが形成されており、この反射膜除
去部3aにおいては、レーザビームLBが反射されずに
透過してしまう。したがって、この反射膜除去部3aが
レーザスポット上を通過する毎に、各検出信号5a−3
cは、第7図(ニ)に点線で示すように、本来ランド[
2aからの反射光量増加に応じてレベルか山伏に変化す
べきところを、同図(ニ)に実線で示すように深い谷状
に変化する。
そこで、第7図(ニ)に示すように、コンパレータ16
によって検出信号SaとスレッンユホールドレベルSL
、とが比較され、検出信号Saがスレッシュホールドレ
ベルSL、以上となった場合に、第7図(ホ)に示すよ
うに、コンパレータ16から“H”レベルの判定信号C
1が出力される。これにより、ディスクlのランド部2
aとピット[2bによる光の干渉効果に基づいて生じる
反射光量変化に対応した繰り返しパルスである判定信号
C1が出力される。 また、第7図(ニ)に示すように
コンパレータ17によって検出信号Saとスレツンユホ
ールドレベルSL、とが比較され、検出信号Saがスレ
ッシュホールドレベルSL、以下となった場合に、第7
図(へ)に示すように、コンパレータ17から“H”レ
ベルの判定信号C2が出力される。
によって検出信号SaとスレッンユホールドレベルSL
、とが比較され、検出信号Saがスレッシュホールドレ
ベルSL、以上となった場合に、第7図(ホ)に示すよ
うに、コンパレータ16から“H”レベルの判定信号C
1が出力される。これにより、ディスクlのランド部2
aとピット[2bによる光の干渉効果に基づいて生じる
反射光量変化に対応した繰り返しパルスである判定信号
C1が出力される。 また、第7図(ニ)に示すように
コンパレータ17によって検出信号Saとスレツンユホ
ールドレベルSL、とが比較され、検出信号Saがスレ
ッシュホールドレベルSL、以下となった場合に、第7
図(へ)に示すように、コンパレータ17から“H”レ
ベルの判定信号C2が出力される。
これにより、ディスクlの基準位置の反射膜除去部3a
における他の部分との反射率の相異に基づいて生じる反
射光量変化に対応した判定信号C7が得られ、この判定
信号C3がディスクlの基準位置を示す絶対位置パルス
Paとして出力される。
における他の部分との反射率の相異に基づいて生じる反
射光量変化に対応した判定信号C7が得られ、この判定
信号C3がディスクlの基準位置を示す絶対位置パルス
Paとして出力される。
さらに、オアゲート18を介して判定信号CIとC1の
論理和か相対位置パルスPrとして出力される。
論理和か相対位置パルスPrとして出力される。
ここで、相対位置パルスPrを順次カウントすると共に
、方向判定信号Pcによってアップカウント/ダウンカ
ウントが切り換えられ、さらに絶対位置パルスPaによ
ってリセットされるカウンタを設けることによって、こ
のカウンタのカウント値がディスクlの基準位置を原点
とする絶対的な回転角度として得られる。
、方向判定信号Pcによってアップカウント/ダウンカ
ウントが切り換えられ、さらに絶対位置パルスPaによ
ってリセットされるカウンタを設けることによって、こ
のカウンタのカウント値がディスクlの基準位置を原点
とする絶対的な回転角度として得られる。
なお、上述し1こ一実施例においては、ランド部2aと
ピット部2bからなる凹凸形状により位置情報を記録し
たディスクlの場合を例に説明したか、例えば、回転方
向へ等間隔に反射率の相異する放射状のパターンを印刷
して位置情報を記録したディスクを用いても、同様の効
果か得られる。
ピット部2bからなる凹凸形状により位置情報を記録し
たディスクlの場合を例に説明したか、例えば、回転方
向へ等間隔に反射率の相異する放射状のパターンを印刷
して位置情報を記録したディスクを用いても、同様の効
果か得られる。
「発明の効果」
以上説明したように、この発明によれば、光学検出手段
が記録媒体の半径方向へ移送されるようにしたので、移
送距離が僅かであっても、略接線方向に沿った複数の微
小スポットが放射状に延びる位置情報を横切り、この結
果、多相の検出信号の位相差を任意に、かつ容易に調整
することができるという効果が得られる。
が記録媒体の半径方向へ移送されるようにしたので、移
送距離が僅かであっても、略接線方向に沿った複数の微
小スポットが放射状に延びる位置情報を横切り、この結
果、多相の検出信号の位相差を任意に、かつ容易に調整
することができるという効果が得られる。
第1図および第2図はこの発明の一実施例の機械的構成
を示す平面図および側面図、第3図は同実施例のディス
クの一部を拡大して示した平面図、第4図は同実施例の
電気的および光学的構成を示すブロック図、第5図は同
実施例のディスクの構成を示す平面図、第6図は同実施
例の光検出器の構成を示す平面図、第7図(イ)〜(ト
)は同実施例の動作を説明するための各部の波形図、第
8図は従来の光学式ロータリーエンコーダの構成を示す
斜視図、第9図は従来のインクリメンタル型のディスク
の構成を示す平面図、第10図は他の従来例のディスク
の構成を示す平面図である。 ・ディスク(記録媒体)、 ・ランド部(位置情報)、 ピット部(位置情報)、 ・・光ピツクアップ(光学検出手段)、6a、26b・
・・・・・ガイドシャフト、7・・・・ガイドプレート
、 8 ・ バネ、 9・・・・調整ネノ、 0・・・・・ギヤ、 l ・ウオームギヤ(以上、位置調整機構)。 第4図 −二一一 第6図 第7図
を示す平面図および側面図、第3図は同実施例のディス
クの一部を拡大して示した平面図、第4図は同実施例の
電気的および光学的構成を示すブロック図、第5図は同
実施例のディスクの構成を示す平面図、第6図は同実施
例の光検出器の構成を示す平面図、第7図(イ)〜(ト
)は同実施例の動作を説明するための各部の波形図、第
8図は従来の光学式ロータリーエンコーダの構成を示す
斜視図、第9図は従来のインクリメンタル型のディスク
の構成を示す平面図、第10図は他の従来例のディスク
の構成を示す平面図である。 ・ディスク(記録媒体)、 ・ランド部(位置情報)、 ピット部(位置情報)、 ・・光ピツクアップ(光学検出手段)、6a、26b・
・・・・・ガイドシャフト、7・・・・ガイドプレート
、 8 ・ バネ、 9・・・・調整ネノ、 0・・・・・ギヤ、 l ・ウオームギヤ(以上、位置調整機構)。 第4図 −二一一 第6図 第7図
Claims (1)
- 回転自在に支持され、半径方向に放射状に延びる位置情
報が記録面の円周方向に所定間隔で記録された円板状の
記録媒体と、半導体レーザから発せられるレーザビーム
を略接線方向に沿った複数の微小スポットに各々集光し
て前記記録媒体の記録面に照射すると共に、それらの反
射光を各々受光し、各反射光量に対応した多相の検出信
号を各々出力する光学検出手段とを具備し、前記各検出
信号に基づいて前記記録媒体の回転変位量を検出する光
学式ロータリーエンコーダにおいて、前記光学検出手段
を前記記録媒体の半径方向へ設定量だけ移送する位置調
整機構を設けたことを特徴とする光学式ロータリーエン
コーダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18572090A JPH0472517A (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 光学式ロータリーエンコーダ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18572090A JPH0472517A (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 光学式ロータリーエンコーダ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0472517A true JPH0472517A (ja) | 1992-03-06 |
Family
ID=16175678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18572090A Pending JPH0472517A (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 光学式ロータリーエンコーダ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0472517A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011122993A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Nikon Corp | 光学式エンコーダ用反射板およびその製造方法 |
| JP2014002077A (ja) * | 2012-06-20 | 2014-01-09 | New Japan Radio Co Ltd | 反射型フォトセンサを用いた位置検出装置 |
-
1990
- 1990-07-13 JP JP18572090A patent/JPH0472517A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011122993A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Nikon Corp | 光学式エンコーダ用反射板およびその製造方法 |
| JP2014002077A (ja) * | 2012-06-20 | 2014-01-09 | New Japan Radio Co Ltd | 反射型フォトセンサを用いた位置検出装置 |
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