JPH047636A

JPH047636A - システム起動処理方法

Info

Publication number: JPH047636A
Application number: JP2105494A
Authority: JP
Inventors: Ichiro Shimizu; 一郎清水
Original assignee: NCR Corp
Current assignee: NCR Voyix Corp
Priority date: 1990-04-23
Filing date: 1990-04-23
Publication date: 1992-01-13
Anticipated expiration: 2015-08-28
Also published as: JP3081621B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕この発明は複数のモジュール又はユニットから構成され
る装置又はシステムに関し、特に始動時に外部から基本
プログラムをロードする必要のある装置又はシステムの
始動時の起動制御方式に関す　る。

〔従来技術〕

複数のモジ５−ルから構成されており始動時に外部より
基本プログラムをロードして動作を開始する装置又はシ
ステム（以下装置という）においては始動時に以下のよ
うな問題がある。すなわち、基本プログラムの動作に必
要なモジュールが故障しているにもかかわらず基本プロ
グラムをスタトすると、故障モジュールへのアクセスが
できないために途中で処理を中断しなければなくなるこ
とがあるという問題である。

このような問題は、装置を新しく納入した直後、その装
置の稼動に用いる基本プログラム内に登録されているモ
ジュール構成と実際に装置こ内蔵しティるモノコール構
成とが整合していない場合にも発生する。

かかる事態を避けるための従来技術として、日本電気（
株）の特許出願に係る「プログラム起動チエツク方式」
特開昭６３−１９６９３６号があこの従来技術は、基本
プログラムの動作に必要な全てのモジュールがシステム
内に正常な状態で存在しているかどうかを、基本プログ
ラムの実行動作の開始前にチエツクするものである。

具体的には、基本プログラムの動作に必要なモジュール
を予め登録しておき、その登録されたモジュールのうち
一台でも動作不能であれば装置を起動させないようにし
たものである。

〔本発明が解決しようとする問題点〕

上記従来技術は、予め登録したモジュールの全てが完全
に動作することを条件に装置を起動するものである。し
かし、具体的に稼動するにあたっては、一部のモジュー
ルが動かないため当初予定した機能及び性能以下の状態
であっても一時的に装置を始動させることを希望する場
合もある。従来技術はかかる要請に柔軟に対応して装置
を一時的に始動させることが困難だった。

又、装置の機能及び性能を段階的に上げていくために、
時期をずらして順次具なるモジュールを追加していくよ
うなシステムのグレード・ア、ブ方法がとられることも
ある。かかる場合にはグレード・アップ後のモジュール
構成に整合させるべく基本プログラムの変更が必要とな
るが、この変更を容Ｓに行えるようにしたいとの要請も
ある。

この発明は以上の問題を解決するもので、装置の始動に
必要なモジ１−ル構成を必要に応じて変更可能にしたシ
ステムの始動時制御方法を提供することを目的とする。

さらに、システム構成を変更したときに、対応する基本
プログラムの変更を容易にすることを目的とする。

〔間剋点を解決する手段〕

本発明は、装置（システム）に含まれるモジュールをそ
の必要度に応じて予めランク付けしてお＊、始Ｍ時に各
ランク毎にモジュールの動作テストを行い、システムの
立ち上げに最低限必要なモジュールが動作可能であれば
、他のモジュールでエラーが発生しても希望に応じて装
置Ｉ（システム）の起動を行うことができるようにして
従来技術の欠点を解決した。

また、各モジュールの必要度のランクを変更することが
できる工程を設けて、装置のモジュール構成の変更等に
も柔軟に対応できるようにした。

〔実施例〕

次に、本発明の一実施例を図面を用いて説明する。

第１図は本発明を実施するための基本構成を示す機能ブ
ロック図である。

電源投入により電源投入信号が７−ケノス制御手段２に
供給される。それに応じて、　／−ケノス制御手段２は
基本モジュールテスト手段４を起動させる。

基本モノコールテスト手段４は内蔵のＲＯＭ２３に記憶
されている第ルベルのテスト・プログラム（ＰＲＯＧ、
　Ｉ　）に従い、各モジュールを本格的にテストする前
に、本格テストに最低限必要な基本モジュール６（例え
ば、ロード手段８、記憶手段１０、入出力手段１２等）
が正常に動作するかをまずチエツクする。通常、ロード
手段８としてはフロッピー・ディスク・ドライブ、記憶
手段１０としてはＲＡ　Ｍ、　　入出力手段１２として
牛−ボード及びデイスプレィ装置等が使用される。

基本モジュール６のテストが終了すると、／−ケンス制
御手段２はロード手段８を起動して外部記憶部材１４（
例えばフロッピー・ディスク）から各種プログラムを読
みとらせ、記憶手段１ｏに記憶させる。

次にシーケンス制御手段２はパラメータ変更手段１６を
起動する。パラメータ変更手段１６は、ロード手段８で
読取り配憶手段１ｏに記憶したパラメータ変更プログラ
ムＰＲＯ０，２及び初期パラメータを読み出し、入出力
手段＋２からの入力に従っテハラメータを変更する。こ
こにいうパラメータは、装置内の各モジュールがシステ
ム又は装置の稼動にどの程度必要かについて、その必要
度を表す値である。このパラメータの変更により、始動
条件を厳しくすることも緩和することもできる。

日常の始動の場合にはパラメータの変更手順はスキップ
するように構成しても良い。

パラメータの変更が終わり又は変更工程がスキ、ブされ
ると、使用モジュールテスト手段１８が起動されて各モ
ジ１−ル毎ａ１〜ａｎに初期テストが行われる。各モジ
易−ルａｌ〜自ｎは各自に割り当てられたパラメータの
値とテスト結果に従い処理され、装置を始動させるか否
かが決定される。

第２図乃至第５図を用いてより具体的に説明する。

第２図は本発明が適用される装置の例として、ＰＯ８端
末装置のマスク・ターミナル２０の構成を概念的に示し
ている。

第３図乃至第６図は第１図の各テスト手段４．１８及び
変更手段１６の処理手順を示すフローであ　る。

第２図に示すマスク・ターミナル２０は、制御部２２、
キーボード２６、スキャナ３８等の各種モジュールから
構成されている。

各モジエールのそれぞれに付されている符号”Ａ”乃至
”Ｄ”″は、各モジュールのシステム構成上の必要度の
絶対的ランキングを表している。

Ａ”はＰＲＯＧ、　ｌを実行するのに必要なモジュール
でアルコトラ示シ、”　Ｂ　”　１１　ＰＲＯＧ、　２
．３ヲＯ−１’Ｌ実行するのに必要なモジュールを示す
。”Ｃ”ｌｔ基本プログラムに必須のモジ１−ル、”Ｄ
”及び”Ｅ”は後述する通りさらにラックの低いモジュ
ールを表す。これらのモジュールはｅ〜＋Ｅ１がそれぞ
れパラメータ１〜３として初期設定されている。

第３図はシーケンス制御手段２の制御下での本発明の処
理手順を示す図である。

電源が投入されると、制御部２２内のＲＯＭに記憶され
ている基本モジ１−ルテスト・プログラムＰＲＯ０，１
が順次読み出されて実行される（５ｏ）。

その後、ＰＲＯＧ、　２．３がロード手段（８）からロ
ードされる（５２）。

ＰＲＯＧ、２．　３のロードが終ると、要求に応じてパ
ラメータの変更が行われる（５４．５６）。パラメータ
の変更の要求は、デイスプレィ２８の表示に対して牛−
ボード２６から応答することにより行　う。

パラメータの変更後各モジュールの動作テストＰＲＯ０
，３が行われる（５８）。動作テストの結果に問題がな
ければ業務処理のための基本プログラムがロードされて
（６ｏ）装置が始動する。

第４図にＰＲＯＧ、　Ｉのフロー・チャートを示す。

ＰＲＯＧ、　１は第２図に示す制御部２２内１７）ＲＯ
Ｍ２３に記憶されており、実行時にそこから読み出され
る。従って、ＰＲＯＧ、　Ｉ動作の前提として制御部２
２（ランク“Ａ”）は正常に動作していなければならな
い。

ＰＲＯＧ、　１は後続する各モジュールのテスト・プロ
グラムを読み込みかつ実行する上で最低限必要なモジュ
ール（基本モジュール）をテストすることを目的として
いる。ここに基本モジュールとは、例えば第２図のラン
ク１Ｂ″のモジュールのことである。

まず、各基本モジュールが個別にテストされる（６２）
。このテストでエラーがあると、すなわち基本モジュー
ルが１台でも動かないと後続ブロダラムのロード及び実
行ができないので、この段階で装置２０の始動は中止さ
れる（６４．６８）。

全ての基本モジュールが正常であるとＰＲＯＧＩのテス
トは終了しく６６）シーケンス制御手段２のフローのブ
ロック５２に進み、ロード手段８からＰＲＯＧ、　２．
３を読み込む。次にパラメータの変更の必要があれば第
３図のブロック５４からブロック６６　へ這む。

第５図に第３図ブロック５６のＰＲＯｏ、　２の処理手
順を示す。

まず、ＰＲＯｏ、　２とともに読み込まれた初期パラメ
ータが記憶手段ｌＯから読み出される（７２）。

ブロック７２の隣に初期パラメータ７３を例示する。初
期パラメータ表の数字”ｌ〜３″はそれぞれ第２図で示
すモジュールの絶対ランクのｌｌＣ〜Ｅ″に対応する。

パラメータ”１″は基本プログラムの動作に不可欠なモ
ジュール（必須モジ一−ル）を表すもので、例えば第２
図のランク”ｃ”のモジ一−ルであるＦＬＵファイルａ
　１．　　通信制御部８２及びメモリーの一部８３等で
ある。パラメータ”２”のモジ一−ルは必須ではないが
、基本プログラムの動作の際にアクセス可能性のあるモ
ジュールであり、例えば第２図のランク″Ｄ″のレシー
ト・プリンタａ４及びスリップ・プリンタａ５等である
。これらのモジュールは、稼動時にアクセス可能性があ
るので稼動前に動作前にテストしておく必要がある。パ
ラメータ”３”のモジュールはパラメータ変更手段１６
により初期パラメータを変更可能なモジ、−ルであるこ
とを表す。第２図の例では、大容量の磁気記録ディスク
８６及びスキャナａ７である。また、システム・グレー
ド・アップ予定に合わせて、現在は存在しないモジュー
ルであっても初期パラメータ２３Ｔ′として登録してお
くと、グレード・アップ時の基本プログラムの変更が容
易となる。

初期パラメータ７３が読み出されると、デイスプレィ２
８にパラメータ８の変更が可能なランク”３”のモジュ
ールが表示される（７４）。今、スキャナａ７は稼動特
使用を希望するが、ディスクａ６は不要であるものとす
ると、キーボード２６を用いてスキャナａ７のみ選択さ
れる（７６）。

変更後のパラメータを第５図の表７６に示す。選択され
たスキャナａ７のパラメータは２１になり、選択されな
かったディスク１１６のパラメータは”ｏ”に変更され
る。パラメータ″Ｄ”のモジュールは基本プログラムの
動作においてアクセスされない。変更後のパラメータ７
５は、ＰＲＯＧ、　３によるテストに利用するため記憶
手段ｌＯに書き戻されて（７８）、シーケンス制御手段
２のブロック５８（第３図）に進む。

第６図に使用モジュールテスト手段１８により実行され
るテスト・プログラムＰＲＯＧ、　３の動作フローを示
す。

テスト・プログラムＦＲＯ０，３の初期段階においては
、パラメータ２ビのモジュールがテストされる（８０）
。パラメータ“ビのモジニール１〜ａ３は必須モジュー
ルであるので、ａｌ〜ａ３のうち１台でも動作不能であ
ると（８２）、エラー表示して（９６）、装置２０の始
動を中止する（９８）。

パラメータ”１″の全てのモジュールに対するテストが
終了すると（８４）、パラメータ”２”″のモ’）ｘ−
ルａ４、ａ６、ａ７　（アクセス可能モジュール）のテ
ストを行う（８６）。これらのモジ１−ル８４、ＩＩ５
、ａ７のテストでエラーが発生した場合には、エラー・
モジ１−ルが、デイスプレィ２８に表示され（ブロック
８９）、それに応じてシステム起動処理を続行するか否
かの選択入力を待つ（９０）。続行を希望しない場合に
は起動処理は中止される（９３）。続行する場合にはエ
ラー・モノコールのパラメータを”Ｏ１′に書き換えて
（９１）、そのモジュールをアクセス不能モジュールと
する。例えば今、モジュールａ４でエラーが発生したと
すると、表９５で示すようにモジュール８４のパラメー
タを＋０″に変更する。これにより、モジュールａ４は
使用不可として登録されたことになる。

パラメータ”２″のモジ一−ル８４．８５．７のテスト
が終了しその結果に応じてパラメータが変更される（９
２）と、最終パラメータ表９６ハ基本プログラムの動作
のために使用するべく記憶手段ｌＯへ書き戻される（９
４）。

その後シーケンス制御手段２のブロック６０（第３図）
へ戻り、ロード手段８を介して基本プログラムが読み込
まれる。

その後、コントロールはシーケンス制御手段２から主制
御手段（図示せず）へ渡され、装置２０の起動処理は終
了する。

〔発明の効果］以上説明したように本発明によると、基本プログラム稼
動のために最低限必要なモ′）コール（ランク”Ａ”　
　”Ｂ”　　”Ｃ”のモジュール）さえ動作可能であれ
ば、装置又はシステムの起動を可能にし、その他のモジ
ュール（ランク”Ｄ”Ｅ″）についてはその必要度及び
テスト結果に応じて装置の始動の可否を決定可能となる
。従って、卵客は一部のモジュールに故障等があっても
自己の選択により装置又はシステムの稼動又は停止を決
定できる。

また、システム等の性能を段階的にグレード・アップす
るためにモジニールの追加が予定されている場合には、
追加予定のモジニールを初期パラメータ中に設定してお
くことにより、グレード・アップ時のプログラムの変更
が容易になるという効果もある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明を実施するための基本構成を示す機能
ブロック図であり、第２図は本発明が適用可能な装置の
一実施例としてのＰＯＳマスク・ターミナルを示す。第
３図は、本発明の処理手順を示すフローである。箪４図
乃至第６１！ｉｌｌはそれぞれ、ＰＲＯ（ｉ、　１．　
　パラメータの変更（ＰＲＯＧ、　２　）及びＰＲＯＧ
、　３の処理手順を示す図である。２・・・シーケンス制御手段、４・・・基本モジュール
テスト手段、６・・・基本モジュール、　１６・・・パ
ラメータ変更手段、　１８・・・使用モジュールテスト
手段出願代理人　　　　斉藤　　勲第）図４４図

Claims

【特許請求の範囲】複数のモジュールから構成され、始動時に各種プログラ
ムが外部からロードされる装置又はシステムにおいて、（イ）電源投入信号に応答して、前記複数のモジュール
の動作テストに必要な基本モジュール６をテストし、（ロ）前記（イ）のテストにより基本モジュール６に異
常がなければパラメータ変更プログラム（ＰＲＯＧ．２
）、初期パラメータ及びモジュール・テスト・プログラ
ムＰＲＯＧ．３を外部から読み込み、（ハ）前記パラメータ変更プログラムＰＲＯＧ．２に基
づき、選択可能モジュールの初期パラメータ”３”を稼
動状況に応じて選択時にアクセス可能モジュールのパラ
メータ”２”に変更するとともに、選択されなかった選
択可能モジュールのパラメータ”３”をアクセス不能モ
ジュール・パラメータ”０”に変更し、（ニ）前記変更後のパラメータに基づき、必須モジュー
ル（パラメータ”１”）、前記アクセス可能モジュール
（”２”）のみについて始動時動作テストを行うシステ
ム起動制御方法であって、前記（イ）の工程及び前記（
ニ）の工程の必須モジュール（”１”）のテストにおい
てエラーが発生したときはシステム起動処理を停止し、
前記（ニ）の工程における前記アクセス可能モジュール
（”２”）のテストにおいてエラーが発生したときは起
動処理を続行するか停止するかを選択可能にし、続行す
るときはエラーの発生したモジュールのパラメータを”
２”から”０”に変更してそのモジュールを使用不能に
するようにしたシステム起動処理方式。