JPH0476803A - 波形歪み検出方式 - Google Patents
波形歪み検出方式Info
- Publication number
- JPH0476803A JPH0476803A JP19128890A JP19128890A JPH0476803A JP H0476803 A JPH0476803 A JP H0476803A JP 19128890 A JP19128890 A JP 19128890A JP 19128890 A JP19128890 A JP 19128890A JP H0476803 A JPH0476803 A JP H0476803A
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- Japan
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- waveform
- pulse
- circuit
- level
- pulse interval
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ディジタル記録再生を行う磁気テープ装置の読み取り回
路による波形歪みを検出する波形歪み検出方式に関し、 読み取り回路の波形の歪みを簡易に検出することを目的
とし、 該読み取り回路から出力するピークパルスのパルス間隔
を検出するパルス間隔検出手段と、該パルス間隔か基準
値と比較して基準値より大きくなった場合にアラーム信
号を発生させる比較手段とを備え、また、該ピークパル
スのパルス幅のレベルに応じたランプ波形を作成するパ
ルス間隔検出5段と、該ランプ波形のレベルを基準レベ
ルと比較して基準レベルより大きくなった場合にアラー
ム信号を発生させる比較手段を育し構成する。
路による波形歪みを検出する波形歪み検出方式に関し、 読み取り回路の波形の歪みを簡易に検出することを目的
とし、 該読み取り回路から出力するピークパルスのパルス間隔
を検出するパルス間隔検出手段と、該パルス間隔か基準
値と比較して基準値より大きくなった場合にアラーム信
号を発生させる比較手段とを備え、また、該ピークパル
スのパルス幅のレベルに応じたランプ波形を作成するパ
ルス間隔検出5段と、該ランプ波形のレベルを基準レベ
ルと比較して基準レベルより大きくなった場合にアラー
ム信号を発生させる比較手段を育し構成する。
本発明はディジタル記録再生を行う磁気テープ装置の読
み取り回路による波形歪み検出方式に関する。
み取り回路による波形歪み検出方式に関する。
一般的な装置の小型化や低コスト化に伴い、安価な半導
体集積回路NC)の要求か多くなっている状況の中て簡
易なICプロセス、消費電力の削減という前提の許で設
計を行うために不良品か増大してしまう。
体集積回路NC)の要求か多くなっている状況の中て簡
易なICプロセス、消費電力の削減という前提の許で設
計を行うために不良品か増大してしまう。
その一つの現象として波形の歪みがあるか磁気テープ装
置の読み取り回路においては波形歪みエラー発生率の増
大につなかり、その問題の解決には多大な労力か必要に
なる。磁気テープ装置はテブ走行速度か一定していない
ために読み取り回路の特性悪化によるエラー増加を未然
に防ぐよう波形の歪みを簡易的な手段にて検出する必要
かある。
置の読み取り回路においては波形歪みエラー発生率の増
大につなかり、その問題の解決には多大な労力か必要に
なる。磁気テープ装置はテブ走行速度か一定していない
ために読み取り回路の特性悪化によるエラー増加を未然
に防ぐよう波形の歪みを簡易的な手段にて検出する必要
かある。
従来の磁気テープ装置においては読み取り回路の復調動
作の正常性を確認するためのループライト・トウ・リー
ド(Loop write to read 以下r
LWRJ と略す)診断を行っていた。LWRは磁気ヘ
ッドを使わずに読み取り回路の正常性をチエツクする方
式であり、疑似的に磁気ヘッドの再生信号を生成して読
み取り回路に供給し、読み取り回路か正しい読み取りデ
ータを出力するかを診断する。
作の正常性を確認するためのループライト・トウ・リー
ド(Loop write to read 以下r
LWRJ と略す)診断を行っていた。LWRは磁気ヘ
ッドを使わずに読み取り回路の正常性をチエツクする方
式であり、疑似的に磁気ヘッドの再生信号を生成して読
み取り回路に供給し、読み取り回路か正しい読み取りデ
ータを出力するかを診断する。
読み取り回路の入力端に正弦波を入力した場合、第7図
の実線工のような左右・上下対照である波形を出力する
のか基本であるか半導体集積化された読み取り回路のロ
フトばらつき等による原因で波形が第7図の破線■のよ
うに歪む場合かある。
の実線工のような左右・上下対照である波形を出力する
のか基本であるか半導体集積化された読み取り回路のロ
フトばらつき等による原因で波形が第7図の破線■のよ
うに歪む場合かある。
しかし、半導体集積化された読み取り回路の単体試験時
にこれらの歪みか発生した読み取り回路を全て取り除く
ことは困難である。これらの不良は直接大きな障害には
結びつかなくともデータ読み取り時にデータエラーを増
加させる要因となる場合かあるという問題が生じていた
。
にこれらの歪みか発生した読み取り回路を全て取り除く
ことは困難である。これらの不良は直接大きな障害には
結びつかなくともデータ読み取り時にデータエラーを増
加させる要因となる場合かあるという問題が生じていた
。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので読み取り回路の
波形の歪みを簡易に検出することを目的とする。
波形の歪みを簡易に検出することを目的とする。
第1図は原理説明図である。
パルス間隔検出手段10は読み取り回路41から出力さ
れる波形のピークパルスのパルス間隔を検出し、比較手
段11はパルス間隔を基準値と比較して基準値より大き
くなった場合にアラーム信号を発生させる。
れる波形のピークパルスのパルス間隔を検出し、比較手
段11はパルス間隔を基準値と比較して基準値より大き
くなった場合にアラーム信号を発生させる。
パルス間隔検出手段は該ピークパルスのパルス幅のレベ
ルに応じたランプ波形を作成し、比較手段はランプ波形
のレベルを基準レベルと比較して基準レベルより大きく
なった場合にアラーム信号を発生させる。
ルに応じたランプ波形を作成し、比較手段はランプ波形
のレベルを基準レベルと比較して基準レベルより大きく
なった場合にアラーム信号を発生させる。
本発明は読み取り回路の出力するピークパルスの間隔か
らパルス間隔を検出し、コンパレータで基準値とパルス
を比較して、基準値よりも大きければアラーム信号が出
力される。
らパルス間隔を検出し、コンパレータで基準値とパルス
を比較して、基準値よりも大きければアラーム信号が出
力される。
正常な波形の場合にはピークパルスのパルス間隔か略一
定である。従って基準値を越えることはなく、歪んだ波
形の場合にはピークパルスのパルス間隔が変化するため
、ある部分ては所定値を越えてしまう。これにより波形
歪みを検出てきる。
定である。従って基準値を越えることはなく、歪んだ波
形の場合にはピークパルスのパルス間隔が変化するため
、ある部分ては所定値を越えてしまう。これにより波形
歪みを検出てきる。
第2図は本発明方式の一実施例のリードアンプのブロッ
ク図を示す。磁気抵抗MRヘッド20は磁気テープ40
の磁束の垂直成分のみを検出し、MRヘッド20の読み
取り信号はプリアンプ21を通して微分イコライザ22
に供給され、ここで読み取り信号を強調するために余分
な成分を除去するフィルタリングを行い、この後読み取
り信号はアンプ回路23を通して電圧制御アンプ24に
供給される。ところで、微分イコライザ22ては半導体
集積回路のプロセスのばらつきにより微分を行うための
時定数かばらつき、波形劣化の原因になることが多い。
ク図を示す。磁気抵抗MRヘッド20は磁気テープ40
の磁束の垂直成分のみを検出し、MRヘッド20の読み
取り信号はプリアンプ21を通して微分イコライザ22
に供給され、ここで読み取り信号を強調するために余分
な成分を除去するフィルタリングを行い、この後読み取
り信号はアンプ回路23を通して電圧制御アンプ24に
供給される。ところで、微分イコライザ22ては半導体
集積回路のプロセスのばらつきにより微分を行うための
時定数かばらつき、波形劣化の原因になることが多い。
電圧制置アンプ24は後述の振幅比較部26の出力する
制御電圧V AGCを供給されて、利得か一定になるよ
うに制御しており、その出力信号はイコライザ補正部2
5で周波数特性を補正されて第4図(A)に示す如き歪
み波形を振幅比較部26に供給される。、振幅比較部2
6では差動入力される信号から制御電圧V AGCを得
て、振幅制御アンプ24に帰還し、また一方、イコライ
ザ補正部25の出力信号はピークホールド回路27及び
データセパレータ28に供給される。
制御電圧V AGCを供給されて、利得か一定になるよ
うに制御しており、その出力信号はイコライザ補正部2
5で周波数特性を補正されて第4図(A)に示す如き歪
み波形を振幅比較部26に供給される。、振幅比較部2
6では差動入力される信号から制御電圧V AGCを得
て、振幅制御アンプ24に帰還し、また一方、イコライ
ザ補正部25の出力信号はピークホールド回路27及び
データセパレータ28に供給される。
ピークホールド回路27は後述のデータセパレータ28
からのピークパルス供給時にイコライザ補正部25の出
力信号のピークレベルV pxを保持する。データセパ
レータ回路28はピークホールド回827から供給され
たピークレベルV、に出力の絶対値か所定の基準値を越
えたときデータセパレート動作を行い、それによってイ
コライザ補正部25の出力信号の最大値及び最小値より
一定時間tたけローレベルとなり、その後ハイレベルと
なる第4図(B)に示す如きピークパルスを生成して可
変周波数発振器(VF○)29に供給すると共に分離し
たリードデータ端子36より出力する。
からのピークパルス供給時にイコライザ補正部25の出
力信号のピークレベルV pxを保持する。データセパ
レータ回路28はピークホールド回827から供給され
たピークレベルV、に出力の絶対値か所定の基準値を越
えたときデータセパレート動作を行い、それによってイ
コライザ補正部25の出力信号の最大値及び最小値より
一定時間tたけローレベルとなり、その後ハイレベルと
なる第4図(B)に示す如きピークパルスを生成して可
変周波数発振器(VF○)29に供給すると共に分離し
たリードデータ端子36より出力する。
VF○29てはピークパルスのドロップアウト補償を行
なって、リードクロック回路30に供給し、リードクロ
ック回路30はリードクロック成分を抽呂し、リードク
ロックか端子31から出力される。
なって、リードクロック回路30に供給し、リードクロ
ック回路30はリードクロック成分を抽呂し、リードク
ロックか端子31から出力される。
上記のプリアンプ回路21からリードクロック回路30
により読み取り回路41か構成されている。
により読み取り回路41か構成されている。
ランプ波形発生回路33とコンパレータ34はアラーム
発生回路35を形成し、ランプ波形発生回路33ではピ
ークパルスをパルス間隔に応じて第4図(C)に示す如
くランプ波形に変える。コンパレータ34はランプ波形
の電圧レベルか基準レベルと比較し、ランプ波形のレベ
ルか基準レベルより大きいときのみ端子37て歪みアラ
ーム信号を出力する。
発生回路35を形成し、ランプ波形発生回路33ではピ
ークパルスをパルス間隔に応じて第4図(C)に示す如
くランプ波形に変える。コンパレータ34はランプ波形
の電圧レベルか基準レベルと比較し、ランプ波形のレベ
ルか基準レベルより大きいときのみ端子37て歪みアラ
ーム信号を出力する。
LWRデーデー成器32は後述の第6図のLWR診断動
作時のみ端子38からイネーブル信号か供給され、端子
39よりLWRデータを供給される。LWRデーデー成
器32はディジタルのLWRデータを磁気ヘッドの再生
波形と同様の波形のアナログ信号に変換してプリアンプ
21に供給する。
作時のみ端子38からイネーブル信号か供給され、端子
39よりLWRデータを供給される。LWRデーデー成
器32はディジタルのLWRデータを磁気ヘッドの再生
波形と同様の波形のアナログ信号に変換してプリアンプ
21に供給する。
第3図はアラーム発生回路の詳細な回路図を示す。端子
42よりピークパルスがランプ波形発生回路33に供給
される。ランプ波形発生回路33内のトランジスタQl
、Q2は定電流源45と共に差動回路を構成しており、
ピークパルスかロレベルになるとトランジスタQ2か導
通し、トランジスタQ3のコレクタ電流はトランジスタ
Q2側に流れる。
42よりピークパルスがランプ波形発生回路33に供給
される。ランプ波形発生回路33内のトランジスタQl
、Q2は定電流源45と共に差動回路を構成しており、
ピークパルスかロレベルになるとトランジスタQ2か導
通し、トランジスタQ3のコレクタ電流はトランジスタ
Q2側に流れる。
−4、ピークパルスがハイレベルになるとトランジスタ
Q1か導通し、トランジスタQ2を遮断してトランジス
タQ3のコレクタ電流かコンデンサC1に流れる。これ
により、抵抗R1とコンデンサCIで積分されて第4図
(C)に示す如きランプ波形か生成されコンパレータ3
4に供給される。コンパレータ34は第4図(C)の−
点鎖線で示すコンパレータ34の基準レベルを越えたと
き同図(D)に示す歪み検出パルスを発生させる。
Q1か導通し、トランジスタQ2を遮断してトランジス
タQ3のコレクタ電流かコンデンサC1に流れる。これ
により、抵抗R1とコンデンサCIで積分されて第4図
(C)に示す如きランプ波形か生成されコンパレータ3
4に供給される。コンパレータ34は第4図(C)の−
点鎖線で示すコンパレータ34の基準レベルを越えたと
き同図(D)に示す歪み検出パルスを発生させる。
歪み検出パルスはSR型フィリップフロップ回路43の
セット端子Sに供給され、端子Qより第4図(E)に示
すアラーム信号が端子37を介して出力される。また、
フィリップフロップ回路43のリセット端子Rには端子
44からリセット信号が供給されたときリセットされる
。このリセット信号はLWR作成器32に供給されるデ
ータフロックと同期してデータブロックの入来前に端子
44より供給される。
セット端子Sに供給され、端子Qより第4図(E)に示
すアラーム信号が端子37を介して出力される。また、
フィリップフロップ回路43のリセット端子Rには端子
44からリセット信号が供給されたときリセットされる
。このリセット信号はLWR作成器32に供給されるデ
ータフロックと同期してデータブロックの入来前に端子
44より供給される。
第5図は本発明方式を適応した磁気テープ装置内ブロッ
ク図を示す。磁気テープ制御部53より磁気テープ装置
52のインターフェース及びドライブ制御部59.及び
読み取り・書き込み制御部56に制陣信号、コマンド等
が供給され、読み取り・書き込みデータ制御部56は上
記制御信号。
ク図を示す。磁気テープ制御部53より磁気テープ装置
52のインターフェース及びドライブ制御部59.及び
読み取り・書き込み制御部56に制陣信号、コマンド等
が供給され、読み取り・書き込みデータ制御部56は上
記制御信号。
コマンドに応してMRヘッド20の接続された読み取り
・書き込み回路51を動作させる。第2図の回路のLW
Rデーデー成器32を除く部分が読み取り・書き込み回
路51の読み取り部を構成し、LWRデーデー成器32
は読み取り・書き込み回路51の書き込み部に含まれる
。
・書き込み回路51を動作させる。第2図の回路のLW
Rデーデー成器32を除く部分が読み取り・書き込み回
路51の読み取り部を構成し、LWRデーデー成器32
は読み取り・書き込み回路51の書き込み部に含まれる
。
ドライブ共通レジスタ57にはインターフニス及びドラ
イブ制御部59からのコマンドか格納され、駆動制御部
58はドライブ共通レジスタ57からのコマンドに応じ
て駆動回路部61を駆動させ、これによって機構部60
を動作する。また、ドライブ共通レジスタ57には各部
のステタスやエラーメツセージか格納されると共に、読
み取り・書き込み回路51からのアラーム信号等が格納
され、これらはインターフェース及びドライブ制御部5
9を通して磁気テープ制御部53に供給される。また、
インターフェース及びドライブ制御部59はドライブ共
通レジスタ57に歪み検出のアラーム信号か格納されて
いる場合にオペレーションパネル55にエラー表示を行
う。
イブ制御部59からのコマンドか格納され、駆動制御部
58はドライブ共通レジスタ57からのコマンドに応じ
て駆動回路部61を駆動させ、これによって機構部60
を動作する。また、ドライブ共通レジスタ57には各部
のステタスやエラーメツセージか格納されると共に、読
み取り・書き込み回路51からのアラーム信号等が格納
され、これらはインターフェース及びドライブ制御部5
9を通して磁気テープ制御部53に供給される。また、
インターフェース及びドライブ制御部59はドライブ共
通レジスタ57に歪み検出のアラーム信号か格納されて
いる場合にオペレーションパネル55にエラー表示を行
う。
第6図(A)、 (B)は本発明方式の一実施例のフ
ローチャートを示す。第6図(A)の装置動作のフロー
チャートにおいて、何も動作を行わないときアイドルル
ーチン63て待ち状態となる。
ローチャートを示す。第6図(A)の装置動作のフロー
チャートにおいて、何も動作を行わないときアイドルル
ーチン63て待ち状態となる。
診断以外の読み取りや書き込み等の通常の処理動作時に
はコマンドルーチン64を実行し、診断時にはダイアグ
ルーチン65を実行する。第6図(B)はダイアグルー
チン65のフローチャートを示す。選択モード66によ
りオフラインルーチン67.インラインルーチン68.
またはその他の必要な診断ルーチンを選択する。オフラ
インルーチン67は磁気テープ装置52単体を診断し、
インラインルーチン68は磁気テープ装置52と磁気テ
ープ制御部53との診断を行う。LWR診断ルーチン6
9ては第2図に示す端子38にイネプル信号を供給し、
端子39にLWRテストデータを供給してLWRの診断
を行い、このとき第2図乃至第4図で説明した波形歪み
の検出か行われる。フィードスルー診断ルーチン70は
隣接ヘッド間の信号の漏れを検出する。
はコマンドルーチン64を実行し、診断時にはダイアグ
ルーチン65を実行する。第6図(B)はダイアグルー
チン65のフローチャートを示す。選択モード66によ
りオフラインルーチン67.インラインルーチン68.
またはその他の必要な診断ルーチンを選択する。オフラ
インルーチン67は磁気テープ装置52単体を診断し、
インラインルーチン68は磁気テープ装置52と磁気テ
ープ制御部53との診断を行う。LWR診断ルーチン6
9ては第2図に示す端子38にイネプル信号を供給し、
端子39にLWRテストデータを供給してLWRの診断
を行い、このとき第2図乃至第4図で説明した波形歪み
の検出か行われる。フィードスルー診断ルーチン70は
隣接ヘッド間の信号の漏れを検出する。
二のように読み取り回路41から出力するピクバルスの
パルス間隔に応じたランプ波形を作成し、そのランプ波
形のレベルをコンパレータ34に入力し、基準レベルよ
りも大きければアラーム信号か出力される。正常な波形
の場合にはピークパルスのパルス間隔が略一定であるた
め、基準値を越えることはなく、歪んだ波形の場合には
ピークパルスのパルス間隔か変化するため、ある部分て
は基準値を越えてしまう。これによりアラーム信号か出
力されると読み取り回路41の出力波形に歪みか生じて
いることを知ることかできる。
パルス間隔に応じたランプ波形を作成し、そのランプ波
形のレベルをコンパレータ34に入力し、基準レベルよ
りも大きければアラーム信号か出力される。正常な波形
の場合にはピークパルスのパルス間隔が略一定であるた
め、基準値を越えることはなく、歪んだ波形の場合には
ピークパルスのパルス間隔か変化するため、ある部分て
は基準値を越えてしまう。これによりアラーム信号か出
力されると読み取り回路41の出力波形に歪みか生じて
いることを知ることかできる。
本発明では第3図に示す回路を磁気テープ装置に付加す
るだけで波形歪み検出か実施てきるので回路構成か簡単
である。通常磁気テープ装置はマルチトラック記録を行
っており、読み取り回路41は各トラック毎に設けられ
ているので多数の回路が必要であり、読み取り回路41
の回路構成か簡単であれば磁気テープ装置全体からみて
も構成か簡易になる。
るだけで波形歪み検出か実施てきるので回路構成か簡単
である。通常磁気テープ装置はマルチトラック記録を行
っており、読み取り回路41は各トラック毎に設けられ
ているので多数の回路が必要であり、読み取り回路41
の回路構成か簡単であれば磁気テープ装置全体からみて
も構成か簡易になる。
なお、ピークパルスのパルス間隔を例えばクロックパル
スのカウントにより検出し、このカウント値を基準値と
比較してこの基準値を越えたときアラーム信号を生成す
る構成としても良く、上記実施例に限定されない。
スのカウントにより検出し、このカウント値を基準値と
比較してこの基準値を越えたときアラーム信号を生成す
る構成としても良く、上記実施例に限定されない。
上述の如く本発明の波形歪み検出方式によれば、磁気テ
ープ装置の読み取り回路の診断において従来のLWR診
断てはできなかったレベルの波形歪みの検出か可能とな
り、そのための回路構成か簡単であり、磁気テープ装置
の信頼性の向上に有用である。
ープ装置の読み取り回路の診断において従来のLWR診
断てはできなかったレベルの波形歪みの検出か可能とな
り、そのための回路構成か簡単であり、磁気テープ装置
の信頼性の向上に有用である。
第1図は本発明の原理説明図、
第2図は本発明方式による一実施例のリード回路のブロ
ック図、 第3図はアラーム信号回路の詳細な回路図、第4図は本
発明方式による一実施例のアラーム信号の検出タイミン
グ、 第5図は本発明方式による一実施例の磁気テープ装置内
ブロック図、 第6図は本発明方式による一実施例のフローチャート、 第7図は波形歪み現象を示した図である。 図において、 33はランプ波形発生回路、 34はコンパレータ、 41は読み取り回路、 43はSR型フィリップフロップ、 51は読み取り・書き込み回路、 52は磁気テープ装置、 53は磁気テープ制陣部 を示す。 アラーム4誇の許細な目略図 第3図 第4図 第5図 縛/)歪々プ東j良と17した岨 斗ぐ艷チらの−書φVデ170−チマ一ト第6図
ック図、 第3図はアラーム信号回路の詳細な回路図、第4図は本
発明方式による一実施例のアラーム信号の検出タイミン
グ、 第5図は本発明方式による一実施例の磁気テープ装置内
ブロック図、 第6図は本発明方式による一実施例のフローチャート、 第7図は波形歪み現象を示した図である。 図において、 33はランプ波形発生回路、 34はコンパレータ、 41は読み取り回路、 43はSR型フィリップフロップ、 51は読み取り・書き込み回路、 52は磁気テープ装置、 53は磁気テープ制陣部 を示す。 アラーム4誇の許細な目略図 第3図 第4図 第5図 縛/)歪々プ東j良と17した岨 斗ぐ艷チらの−書φVデ170−チマ一ト第6図
Claims (2)
- (1)ディジタル記録再生を行う磁気テープ装置の読み
取り回路(41)による波形歪みを検出する波形歪み検
出方式において、 該読み取り回路(41)から出力される波形のピークパ
ルスのパルス間隔を検出するパルス間隔検出手段(10
)と、 該パルス間隔を基準値と比較して該基準値より大きくな
った場合にアラーム信号を発生させる比較手段(11)
とを有することを特徴とする波形歪み検出方式。 - (2)前記パルス間隔検出手段(10)は前記ピークパ
ルスのパルス幅のレベルに応じたランプ波形を作成し、 比較手段(11)は該ランプ波形のレベルを前記基準値
としての該基準レベルと比較して基準レベルより大きく
なった場合にアラーム信号を発生させることを有するこ
とを特徴とする波形歪み検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19128890A JPH0476803A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 波形歪み検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19128890A JPH0476803A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 波形歪み検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0476803A true JPH0476803A (ja) | 1992-03-11 |
Family
ID=16272072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19128890A Pending JPH0476803A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 波形歪み検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0476803A (ja) |
-
1990
- 1990-07-19 JP JP19128890A patent/JPH0476803A/ja active Pending
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