JPH0477850B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0477850B2 JPH0477850B2 JP59050732A JP5073284A JPH0477850B2 JP H0477850 B2 JPH0477850 B2 JP H0477850B2 JP 59050732 A JP59050732 A JP 59050732A JP 5073284 A JP5073284 A JP 5073284A JP H0477850 B2 JPH0477850 B2 JP H0477850B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- excitation
- period
- rest period
- sampling
- noise
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F1/00—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
- G01F1/56—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects
- G01F1/58—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects by electromagnetic flowmeters
- G01F1/60—Circuits therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
＜産業上の利用分野＞
本発明は、矩形波状の３値励磁を行なう電磁流
量計に係り、特に雑音の影響を除去した信号処理
の改良に関する。
量計に係り、特に雑音の影響を除去した信号処理
の改良に関する。
＜従来技術＞
電磁流量計は従来の商用周波の励磁方式からゼ
ロ点の安定性の優れている低周波でかつ矩形波の
励磁方式へと移行している。矩形波励磁でも例え
ば正負で励磁する２値励磁方式やゼロ励磁期間を
含む３値励磁方式がある。これ等の励磁方式の変
化に伴つて電磁流量計の発信器の電極間に発生す
る雑音の種類も異なつて来ており、これ等の雑音
は各種の演算により除去している。
ロ点の安定性の優れている低周波でかつ矩形波の
励磁方式へと移行している。矩形波励磁でも例え
ば正負で励磁する２値励磁方式やゼロ励磁期間を
含む３値励磁方式がある。これ等の励磁方式の変
化に伴つて電磁流量計の発信器の電極間に発生す
る雑音の種類も異なつて来ており、これ等の雑音
は各種の演算により除去している。
３値励磁方式による雑音除去の信号処理方式と
しては各種のものが提案されており、例えば下記
(A)〜(C)のものが知られている。
しては各種のものが提案されており、例えば下記
(A)〜(C)のものが知られている。
(A) 特開昭53−75966号；「電磁流量計」
(B) 特公昭54−39750号；「交流式電磁血流量計」
(C) 特開昭57−149919号；「電磁流量計」
しかし、これ等の従来技術では電磁流量計の発
信器に被測定流体に印加される磁束の帰路として
コアまたは磁性体のケースが使用されている点が
全く考慮されていない。コアまたはケースは磁性
体であるから磁気ヒステリシス現象を持ち、励磁
電流がゼロの状態でも磁性体による残留磁界が被
測定流体に印加されている点が見のがされている
のである。換言すれば、前記の従来技術の如く励
磁されない休止期間を有する３値励磁方式のもと
では、休止期間においては被測定流体の流速に関
連する電圧は存在しないとの前提で、発信器の電
極からの信号をサンプリングして励磁期間でのサ
ンプリング値と合せて演算を行なうので誤差要因
となるのである。更に残留磁界は正励磁からゼロ
になつた休止期間と負励磁からゼロになつた休止
期間とではその極性が相違するのでたとえ被測定
流体の流速が一定でも休止期間の履歴によつてそ
のサンプリング値が異なる。このため、従来の雑
音除去の演算方式ではこの残留磁界の影響を除去
することができないのである。
信器に被測定流体に印加される磁束の帰路として
コアまたは磁性体のケースが使用されている点が
全く考慮されていない。コアまたはケースは磁性
体であるから磁気ヒステリシス現象を持ち、励磁
電流がゼロの状態でも磁性体による残留磁界が被
測定流体に印加されている点が見のがされている
のである。換言すれば、前記の従来技術の如く励
磁されない休止期間を有する３値励磁方式のもと
では、休止期間においては被測定流体の流速に関
連する電圧は存在しないとの前提で、発信器の電
極からの信号をサンプリングして励磁期間でのサ
ンプリング値と合せて演算を行なうので誤差要因
となるのである。更に残留磁界は正励磁からゼロ
になつた休止期間と負励磁からゼロになつた休止
期間とではその極性が相違するのでたとえ被測定
流体の流速が一定でも休止期間の履歴によつてそ
のサンプリング値が異なる。このため、従来の雑
音除去の演算方式ではこの残留磁界の影響を除去
することができないのである。
＜発明の目的＞
本発明は、前記の従来技術に鑑み、３値励磁が
なされる電磁流量計の休止期間における残留磁界
の影響を除去した電磁流量計に提供することを目
的とする。
なされる電磁流量計の休止期間における残留磁界
の影響を除去した電磁流量計に提供することを目
的とする。
＜発明の構成＞
この目的を達成する本発明の構成は、矩形波状
の励磁を行なう電磁流量計に係り、第１休止期
間・第１励磁期間・第２休止期間・第１休止期間
とは逆極性に励磁される第２励磁期間・第３休止
期間を１サイクルとして繰り返す励磁を行なう励
磁手段と、等しいサンプリング間隔で電極からの
信号を第２休止期間を除く各期間においてサンプ
リングするサンプリング手段と、第１休止期間で
のサンプリング値Z01と第１励磁期間でのサンプ
リング値M1と第２励磁期間でのサンプリング値
M2と第３休止期間でのサンプリング値Z03の各サ
ンプリング値を用いて（Z01−2M1＋2M2−Z03）
なる演算をする演算手段とを具備して休止期間に
おける残留磁界の影響を除去するようにしたもの
である。
の励磁を行なう電磁流量計に係り、第１休止期
間・第１励磁期間・第２休止期間・第１休止期間
とは逆極性に励磁される第２励磁期間・第３休止
期間を１サイクルとして繰り返す励磁を行なう励
磁手段と、等しいサンプリング間隔で電極からの
信号を第２休止期間を除く各期間においてサンプ
リングするサンプリング手段と、第１休止期間で
のサンプリング値Z01と第１励磁期間でのサンプ
リング値M1と第２励磁期間でのサンプリング値
M2と第３休止期間でのサンプリング値Z03の各サ
ンプリング値を用いて（Z01−2M1＋2M2−Z03）
なる演算をする演算手段とを具備して休止期間に
おける残留磁界の影響を除去するようにしたもの
である。
＜実施例＞
以下、本発明の実施例について図面に基づき説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図で
あり、第２図はその動作を説明する波形図であ
る。
あり、第２図はその動作を説明する波形図であ
る。
第１図において、１は励磁部であり、励磁コイ
ル１ａとコア１ｂなどから成り立つている。２は
導管であり、この中に被測定流体が流される。導
管２には電極３ａ，３ｂが磁界Ｂと直角方向に配
設されている。４と５は高入力インピーダンスの
バツフアアンプでその入力端は電極３ａ，３ｂに
接続されている。６は同相雑音除去をする外部抵
抗R1〜R4を付した差動アンプでバツフアアンプ
４，５の出力を受ける。７は差動アンプの出力、
８は出力７のサンプリングを兼ねたアナログ・デ
ジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略称する）
である。９はマイクロプロセツサ（以下、CPU
と略称する）、１０はメモリ（ROM／RAM）、
１１は入出力ポート（Ｉ／Ｏ）、１２はデジタ
ル・アナログ変換器（以下、Ｄ／Ａ変換器と略称
する）であり、これ等によりマイクロコンピユー
タ１３を構成している。１４はアドレス・バス、
１５はデータ・バス、１６は最終出力である。
ル１ａとコア１ｂなどから成り立つている。２は
導管であり、この中に被測定流体が流される。導
管２には電極３ａ，３ｂが磁界Ｂと直角方向に配
設されている。４と５は高入力インピーダンスの
バツフアアンプでその入力端は電極３ａ，３ｂに
接続されている。６は同相雑音除去をする外部抵
抗R1〜R4を付した差動アンプでバツフアアンプ
４，５の出力を受ける。７は差動アンプの出力、
８は出力７のサンプリングを兼ねたアナログ・デ
ジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略称する）
である。９はマイクロプロセツサ（以下、CPU
と略称する）、１０はメモリ（ROM／RAM）、
１１は入出力ポート（Ｉ／Ｏ）、１２はデジタ
ル・アナログ変換器（以下、Ｄ／Ａ変換器と略称
する）であり、これ等によりマイクロコンピユー
タ１３を構成している。１４はアドレス・バス、
１５はデータ・バス、１６は最終出力である。
励磁コイル１ａは直流定電流源１７にスイツチ
SW1-a，SW1-b，SW2-a，SW2-bを介して接続さ
れており、これらのスイツチは、励磁コイル１ａ
に第２図ａの如くゼロ・正・ゼロ・負・ゼロの５
つの期間T0〜T4で１周期となる矩形波の励磁電
流が流れるように入出力ポート１１を介した
CPU９からのタイミング信号１８により開閉さ
れる。これ等の期間は全て同じ間隔とし、励磁周
波数は例えば50／４Hzとする。
SW1-a，SW1-b，SW2-a，SW2-bを介して接続さ
れており、これらのスイツチは、励磁コイル１ａ
に第２図ａの如くゼロ・正・ゼロ・負・ゼロの５
つの期間T0〜T4で１周期となる矩形波の励磁電
流が流れるように入出力ポート１１を介した
CPU９からのタイミング信号１８により開閉さ
れる。これ等の期間は全て同じ間隔とし、励磁周
波数は例えば50／４Hzとする。
差動アンプ６の出力７はCPU９の指定するタ
イミング、この例では第２図ｂに示す如く、励磁
期間T1，T3と休止期間T0，T4の各１回励磁電流
が変化する直前のタイミングt0，t1，t3およびt4
でＡ／Ｄ変換器８によりサンプリングされ、その
デジタル化されたデータがメモリ１０に格納され
る。
イミング、この例では第２図ｂに示す如く、励磁
期間T1，T3と休止期間T0，T4の各１回励磁電流
が変化する直前のタイミングt0，t1，t3およびt4
でＡ／Ｄ変換器８によりサンプリングされ、その
デジタル化されたデータがメモリ１０に格納され
る。
CPU９はメモリ１０に時系列的に得られたこ
れ等のデータに対し、データを１つづつ更新しな
がら各タイミングt0，t1，t3，t4における４つの
データを１組とした演算を逐次行つてその演算出
力を出力する。
れ等のデータに対し、データを１つづつ更新しな
がら各タイミングt0，t1，t3，t4における４つの
データを１組とした演算を逐次行つてその演算出
力を出力する。
電磁流量計の発信器の電極３ａ，３ｂ間には、
第２図ｃに示す様な励磁電流の波形（第２図ａ）
に対応した信号電圧VS，−VSが発生している。更
に第２図ｄに示す様に第２図ａの励磁電流がゼロ
である休止期間例えばT0，T2，T4，T6にも発信
器のコア１ｂによる残留磁束Br，−Brと被測定流
体の流速により発生した雑音電圧が電極３ａ，３
ｂ間に現われる。この様な雑音電圧となるのは、
コア１ｂの磁気ヒステリシス曲線（Ｂ−Ｈ曲線）
に起因し、休止期間T0で残留磁束が−Brである
ときには被測定流体の流速に比例した−kVS（ｋ
は定数）の雑音電圧が発生し、励磁期間T1の正
励磁に至り、更にゼロ励磁である休止期間T2で
正の残留磁束＋Brとなり被測定流体の流速に比
例した＋kVSになり、次に負の励磁期間T3を経て
休止期間T4に至りＢ−Ｈ曲線上の元の位置とな
り雑音電圧−kVSが発生するからである。つま
り、信号のサンプリング期間である休止期間T0
〜休止期間T4を周期としてＢ−Ｈ曲線上を１巡
し、以下これを繰返している。
第２図ｃに示す様な励磁電流の波形（第２図ａ）
に対応した信号電圧VS，−VSが発生している。更
に第２図ｄに示す様に第２図ａの励磁電流がゼロ
である休止期間例えばT0，T2，T4，T6にも発信
器のコア１ｂによる残留磁束Br，−Brと被測定流
体の流速により発生した雑音電圧が電極３ａ，３
ｂ間に現われる。この様な雑音電圧となるのは、
コア１ｂの磁気ヒステリシス曲線（Ｂ−Ｈ曲線）
に起因し、休止期間T0で残留磁束が−Brである
ときには被測定流体の流速に比例した−kVS（ｋ
は定数）の雑音電圧が発生し、励磁期間T1の正
励磁に至り、更にゼロ励磁である休止期間T2で
正の残留磁束＋Brとなり被測定流体の流速に比
例した＋kVSになり、次に負の励磁期間T3を経て
休止期間T4に至りＢ−Ｈ曲線上の元の位置とな
り雑音電圧−kVSが発生するからである。つま
り、信号のサンプリング期間である休止期間T0
〜休止期間T4を周期としてＢ−Ｈ曲線上を１巡
し、以下これを繰返している。
第２図ｅは電極と被測定流体との間で生ずる電
気化学的雑音が時間的に一定の割合で増加してい
るときの電気化学的雑音を示している。サンプリ
ングのタイミングt0での電気化学的雑音の初期値
をＥとし、これに対して各サンプリング時点（t1
〜t6）では一定の割合ΔEで増加している場合で
ある。
気化学的雑音が時間的に一定の割合で増加してい
るときの電気化学的雑音を示している。サンプリ
ングのタイミングt0での電気化学的雑音の初期値
をＥとし、これに対して各サンプリング時点（t1
〜t6）では一定の割合ΔEで増加している場合で
ある。
第２図ｆは商用周波の雑音を受けた場合の雑音
サンプリング状態を示したものである。正弦曲線
が商用周波の雑音であり、信号の各サンプリング
のタイミングt0〜t6は商用周波電源と同期がとつ
てあり、各タイミング時点で雑音電圧Vfをサン
プリングしている。
サンプリング状態を示したものである。正弦曲線
が商用周波の雑音であり、信号の各サンプリング
のタイミングt0〜t6は商用周波電源と同期がとつ
てあり、各タイミング時点で雑音電圧Vfをサン
プリングしている。
第２図において、t0〜t6のタイミングにより
CPU９の制御の下にＡ／Ｄ変換器８を介してサ
ンプリングされたデータV00〜V06は同図ｃに示
す被測定流体の流量と励磁電流とに比例した信号
電圧、同図ｄに示すコアの残留磁気と被測定流体
の流量とに比例した雑音電圧、同図ｅに示す電気
化学雑音、及び同図ｆに示す商用周波雑音が重畳
されたものであり、図中の値を用いれば各データ
に含まれる成分は次の通りである。
CPU９の制御の下にＡ／Ｄ変換器８を介してサ
ンプリングされたデータV00〜V06は同図ｃに示
す被測定流体の流量と励磁電流とに比例した信号
電圧、同図ｄに示すコアの残留磁気と被測定流体
の流量とに比例した雑音電圧、同図ｅに示す電気
化学雑音、及び同図ｆに示す商用周波雑音が重畳
されたものであり、図中の値を用いれば各データ
に含まれる成分は次の通りである。
V00＝−kVS＋Ｅ＋Vf (1)
V01＝VS＋Ｅ＋ΔE＋Vf (2)
V02＝kVS＋Ｅ＋2ΔE＋Vf (3)
V03＝−VS＋Ｅ＋3ΔE＋Vf (4)
V04＝−kVS＋Ｅ＋4ΔE＋Vf (5)
V05＝VS＋Ｅ＋5ΔE＋Vf (6)
V06＝kVS＋Ｅ＋6ΔE＋Vf (7)
これ等のサンプリング値はメモリ１０に順次格
納される。格納されたこれ等のサンプリング値か
ら信号電圧VSのみを算出する演算式は次の各場
合によつて異なる。
納される。格納されたこれ等のサンプリング値か
ら信号電圧VSのみを算出する演算式は次の各場
合によつて異なる。
(イ) 正弦磁の前のタイミングから開始する場合
（t0〜t4）。
（t0〜t4）。
この場合の演算式は、演算結果をVpとすれば
次の通りとなる。
次の通りとなる。
Vp＝−V00＋2V01−2V03＋V04 (8)
この式に前記の(1)，(2)，(3)および(5)式を代入す
ると、 Vp＝4VS (9) となり、雑音が除去され信号電圧のみとなる。
ると、 Vp＝4VS (9) となり、雑音が除去され信号電圧のみとなる。
(ロ) 負励磁の前のタイミングから開始する場合
（t2〜t6）。
（t2〜t6）。
この場合の演算式は、演算結果をVNとすれば
次の通りとなる。
次の通りとなる。
VN＝V02−2V03＋2V05−V06 (10)
＝−（−V02＋2V03−2V05＋V06） (10)′
この式に前記の(3)，(4)，(6)および(7)式を代入す
ると VN＝−4VS (11) となり、雑音が除去され信号電圧のみとなる。
ると VN＝−4VS (11) となり、雑音が除去され信号電圧のみとなる。
ここで(イ)と(ロ)とを比較すると、正励磁の前のタ
イミングから開始した場合と負励磁の前のタイミ
ングから開始した場合とでは、単にその演算出力
の符号が変化するだけであることが判る。
イミングから開始した場合と負励磁の前のタイミ
ングから開始した場合とでは、単にその演算出力
の符号が変化するだけであることが判る。
これ等の演算式はメモリ１０のROM内に格納
されており、CPU９の制御のもとにこれ等の演
算が逐一実行されＩ／Ｏポート１１，Ｄ／Ａ変換
器１２をそれぞれ介して順次出力V0される。
されており、CPU９の制御のもとにこれ等の演
算が逐一実行されＩ／Ｏポート１１，Ｄ／Ａ変換
器１２をそれぞれ介して順次出力V0される。
なお、今までの説明では励磁電流が切り換わる
ときに被測定流体と電極３ａ，３ｂからの信号リ
ード線などで形成される磁界と直交する面積を磁
界が切るときなどに生ずる微分雑音については触
れなかつたが、微分雑音は前記の面積を小さくす
る等の周知の手段で除去することができ、必ずし
も演算式で除去しなくても何ら問題が生じない。
ときに被測定流体と電極３ａ，３ｂからの信号リ
ード線などで形成される磁界と直交する面積を磁
界が切るときなどに生ずる微分雑音については触
れなかつたが、微分雑音は前記の面積を小さくす
る等の周知の手段で除去することができ、必ずし
も演算式で除去しなくても何ら問題が生じない。
更に、演算式(8)と(10)はいずれか一方のみで実行
するだけでなく、これ等を併用した演算方式とし
ても良い。例えば、休止期間T0〜T4を１サイク
ルとして演算出力を出した後は休止期間T2〜T6
を１サイクルとする演算をして、その演算結果の
極性を反転して連続した出力を出す様にしても良
い。
するだけでなく、これ等を併用した演算方式とし
ても良い。例えば、休止期間T0〜T4を１サイク
ルとして演算出力を出した後は休止期間T2〜T6
を１サイクルとする演算をして、その演算結果の
極性を反転して連続した出力を出す様にしても良
い。
＜発明の効果＞
以上、実施例と共に具体的に説明した様に本発
明によれば、コアあるいは発信器のケースを磁束
の帰路とする電磁流量計で３値励磁をしても、従
来の如く残留磁界の影響を受けない様にしたので
高精度の電磁流量計が実現できる。また、コアあ
るいは発信器のケースの残留磁界の影響を受けな
いので、これ等の材質を任意に選定できる様にな
り、所定の精度を維持しながらコストの安い電磁
流量計とすることができる。
明によれば、コアあるいは発信器のケースを磁束
の帰路とする電磁流量計で３値励磁をしても、従
来の如く残留磁界の影響を受けない様にしたので
高精度の電磁流量計が実現できる。また、コアあ
るいは発信器のケースの残留磁界の影響を受けな
いので、これ等の材質を任意に選定できる様にな
り、所定の精度を維持しながらコストの安い電磁
流量計とすることができる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図の実施例の動作を説明する波形図
である。 １…励磁部、１ａ…励磁コイル、１ｂ…コア、
４，５…バツフアアンプ、８…Ａ／Ｄ変換器、９
…CPU、１０…メモリ、１１…Ｉ／Ｏポート、
１７…直流定電流源、T1，T2，T4，T6…休止期
間、T1，T3，T5…励磁期間、VS…信号電圧、
kVS…雑音電圧、Ｅ…電気化学雑音。
第２図は第１図の実施例の動作を説明する波形図
である。 １…励磁部、１ａ…励磁コイル、１ｂ…コア、
４，５…バツフアアンプ、８…Ａ／Ｄ変換器、９
…CPU、１０…メモリ、１１…Ｉ／Ｏポート、
１７…直流定電流源、T1，T2，T4，T6…休止期
間、T1，T3，T5…励磁期間、VS…信号電圧、
kVS…雑音電圧、Ｅ…電気化学雑音。
Claims (1)
- １ 矩形波状の励磁を行なう電磁流量計におい
て、第１休止期間・第１励磁期間・第２休止期
間・前記第１励磁期間とは逆極性に励磁される第
２励磁期間・第３休止期間を１サイクルとして繰
り返す励磁を行なう励磁手段と、等しいサンプリ
ング間隔で電極からの信号を前記第２休止期間を
除く各期間においてサンプリングするサンプリン
グ手段と、前記第１休止期間でのサンプリング値
Z01と前記第１励磁期間でのサンプリング値M1と
前記第２励磁期間でのサンプリング値M2と前記
第３休止期間でのサンプリング値Z03の各サンプ
リング値を用いて（Z01−2M1＋2M2−Z03）なる
演算をする演算手段とを具備することを特徴とす
る電磁流量計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59050732A JPS60195418A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | 電磁流量計 |
| US06/702,493 US4597295A (en) | 1984-03-16 | 1985-02-19 | Electromagnetic flowmeter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59050732A JPS60195418A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | 電磁流量計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60195418A JPS60195418A (ja) | 1985-10-03 |
| JPH0477850B2 true JPH0477850B2 (ja) | 1992-12-09 |
Family
ID=12867020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59050732A Granted JPS60195418A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | 電磁流量計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4597295A (ja) |
| JP (1) | JPS60195418A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004031638A1 (de) * | 2004-06-30 | 2006-01-26 | Abb Patent Gmbh | Verfahren zum Betrieb einer magnetisch induktiven Durchflussmesseinrichtung |
| DE102009001833A1 (de) * | 2009-03-25 | 2010-09-30 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Magnetisch-induktive Durchflussmesseinrichtung und Verfahren zum Betreiben derselben |
| DE102016124976A1 (de) | 2016-12-20 | 2018-06-21 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Verfahren zum Betreiben eines magnetisch-induktiven Durchflussmessgeräts und ein solches Durchflussmessgerät |
| DE102016124977B4 (de) | 2016-12-20 | 2021-12-16 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Verfahren zum Betreiben eines magnetisch-induktiven Durchflussmessgeräts und ein solches Durchflussmessgerät |
| DE102017105959B4 (de) * | 2017-03-20 | 2022-08-04 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Verfahren zum Betreiben eines magnetisch-induktiven Durchflussmessgeräts und ein magnetisch-induktives Durchflussmessgerät |
| DE102017129980B4 (de) * | 2017-12-14 | 2022-08-25 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Verfahren zum Betreiben eines magnetisch-induktiven Durchflussmessgeräts und ein magnetisch-induktives Durchflussmessgerät |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4409846A (en) * | 1979-02-08 | 1983-10-18 | Aichi Tokei Denki Co., Ltd. | Electromagnetic flow meter |
| JPS5927566B2 (ja) * | 1980-07-02 | 1984-07-06 | 日本光電工業株式会社 | 電磁血流計 |
-
1984
- 1984-03-16 JP JP59050732A patent/JPS60195418A/ja active Granted
-
1985
- 1985-02-19 US US06/702,493 patent/US4597295A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60195418A (ja) | 1985-10-03 |
| US4597295A (en) | 1986-07-01 |
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