JPH0479250U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0479250U JPH0479250U JP12291490U JP12291490U JPH0479250U JP H0479250 U JPH0479250 U JP H0479250U JP 12291490 U JP12291490 U JP 12291490U JP 12291490 U JP12291490 U JP 12291490U JP H0479250 U JPH0479250 U JP H0479250U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw
- candidate
- difference
- defect
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
第1図は本考案による疵検出装置の実施例の構
成図、第2図は本考案による実施例の動作の説明
図、第3図はこの考案による実施例の動作の説明
図、第4図は従来の装置の構成図、第5図、第6
図は従来の装置の動作の説明図である。図におい
て、1は入力部、2はローパスフイルタ、3は差
分計算部、4は疵候補検出部、5は疵判定部、6
は結果出力部、7は疵検出部である。尚、各図中
同一符号は同一または相当部分を示す。
成図、第2図は本考案による実施例の動作の説明
図、第3図はこの考案による実施例の動作の説明
図、第4図は従来の装置の構成図、第5図、第6
図は従来の装置の動作の説明図である。図におい
て、1は入力部、2はローパスフイルタ、3は差
分計算部、4は疵候補検出部、5は疵判定部、6
は結果出力部、7は疵検出部である。尚、各図中
同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 画像を入力する入力部と、入力された画像
データの走査線方向にフイルタリングするローパ
スフイルタと、入力データとローパスフイルタ出
力の差分を計算する差分計算部と、差分の結果か
ら疵候補を検出する疵候補検出部と、疵候補検出
部で得られた疵候補の両側の濃度変化率の違いか
ら疵か否かを判定する疵判定部と、結果を出力す
る結果出力部を備えたことを特徴とする疵検出装
置。 (2) 疵判定部において、疵候補の近傍とやや離
れた所の濃度平均を比較することにより疵か否か
を判定することを特徴とする実用新案登録請求の
範囲第(1)項記載の疵検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990122914U JP2508662Y2 (ja) | 1990-11-22 | 1990-11-22 | 疵検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990122914U JP2508662Y2 (ja) | 1990-11-22 | 1990-11-22 | 疵検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0479250U true JPH0479250U (ja) | 1992-07-10 |
| JP2508662Y2 JP2508662Y2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=31870649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990122914U Expired - Lifetime JP2508662Y2 (ja) | 1990-11-22 | 1990-11-22 | 疵検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2508662Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010091410A (ja) * | 2008-10-08 | 2010-04-22 | Aisin Seiki Co Ltd | 欠陥検査装置 |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5917088A (ja) * | 1982-07-21 | 1984-01-28 | 株式会社日立製作所 | 減圧オリフイス |
| JPS59224546A (ja) * | 1983-06-03 | 1984-12-17 | Matsushita Electric Works Ltd | 欠陥検出装置 |
| JPS59225338A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Daido Steel Co Ltd | 鋼材における螢光磁粉探傷方法 |
| JPS59226853A (ja) * | 1983-06-07 | 1984-12-20 | Daido Steel Co Ltd | 鋼材における螢光磁粉探傷方法 |
| JPS6089734A (ja) * | 1983-10-24 | 1985-05-20 | Nok Corp | 表面欠陥検査方法 |
| JPS617406A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-14 | Mitsubishi Electric Corp | 物体形状の欠陥検出方法 |
| JPS6252454A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-07 | Daido Steel Co Ltd | 螢光磁粉探傷における疵判定方法および装置 |
| JPS62231069A (ja) * | 1986-03-28 | 1987-10-09 | 株式会社日立製作所 | 検反機の欠点検出方法 |
| JPS6344281A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 画像処理装置 |
| JPS63175976A (ja) * | 1987-01-16 | 1988-07-20 | Toshiba Corp | 探傷検査装置 |
-
1990
- 1990-11-22 JP JP1990122914U patent/JP2508662Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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|---|---|---|---|---|
| JP2010091410A (ja) * | 2008-10-08 | 2010-04-22 | Aisin Seiki Co Ltd | 欠陥検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2508662Y2 (ja) | 1996-08-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |