JPH0482097A - Romサムチェック試験方法 - Google Patents

Romサムチェック試験方法

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Publication number
JPH0482097A
JPH0482097A JP2194481A JP19448190A JPH0482097A JP H0482097 A JPH0482097 A JP H0482097A JP 2194481 A JP2194481 A JP 2194481A JP 19448190 A JP19448190 A JP 19448190A JP H0482097 A JPH0482097 A JP H0482097A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rom
data
sum check
correction
correction data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2194481A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroko Endo
遠藤 宏子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2194481A priority Critical patent/JPH0482097A/ja
Publication of JPH0482097A publication Critical patent/JPH0482097A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ROMのデータ内容の不変性を確認するRO
Mサムチェック試験方法に関する。
〔従来の技術〕
従来のROMサムチェック試験方法は、ROMのデータ
を1バイトずつ読みだし、最後のデータまで順次演算し
ていくと、その計算結果が0になるように、補正データ
が最後のデータとして組み込まれている。したがって試
験の対象とするROMはデータの読みなしを行って順次
演算を行い、計算結果が補正データを含めて期待どおり
0になることで、ROMのデータ内容が書き変わってい
ないというデータの不変性を試験していた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のROMサムチェック試験方法では、あら
かじめROMの中に補正データが、組み込まれているも
のだけが試験の対象となり、このデータが組み込まれて
いないようなROMでは、そのデータ内容の不変性は試
験′することができないという欠点があった、また、こ
の補正データがROM内に組み込まれているかどうかは
、外から見て判らないため、試験の対象としていいのか
判断がつかないという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のROMサムチェック試験方法は、複数個のRO
Mから試験したいROMを指定するROM指定手段、R
OMの位置情報とそれに対応する補正データを登録して
おく補正データテーブル、補正データが組み込まれてい
ないROMの補正データをあらたに計算する補正データ
作成手段、前記ROM指定手段で指定されたROMのサ
ムチェックデータを求めるROMサムチェック計算手段
、前記補正データ作成手段で求められた補正値情報と位
置情報とを前記補正データテーブルに登録する補正デー
タ登録手段を有する。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図、第2図
は、本実施例に使用する補正データテーブルの説明図で
ある0本実施例は、ROM指定手段10、補正データテ
ーブル20、補正データ作成手段30、ROMサムチェ
ック計算手段40、及び補正データテーブル登録手段5
0、て構成されている。また、試験の手順は処理の流れ
100、データの流れ200に示す方向で行われる。
ROM指定手段10は、システムの中にあるROMの中
から、試験対象とすべきROMを指定する手段であり、
ここで試験されるROMが定められる。補正データテー
ブル20は指定されたROMについてその補正データが
すでに登録されているかどうかの検索を行うために設け
られており、第2図に示すように、各ROMの位置情報
21と、そのROMの補正値情報22との対応を示すテ
ーブルが収録されている。ROM指定手段10で与えら
れたROMの情報をもとに、このROMの位置情報21
を検索し、ROM指定手段10で、指定されたROMが
位置情報21に登録されているかどうかを調べる。ここ
でROMの位置情報21とその補正値情報22の対応が
登録されていれば、その補正値情報22の値を補正値デ
ータとして取りだして記憶しておく。補正データテーブ
ル20の検索後、ROMサムチエ・ンク計算手段40で
、指定されたROMの最初のデータから最後のデータま
で1バイトずつ読みだし、順次演算を行い、指定された
ROMのサムチエ・7クデータを求める。この演算結果
であるサムチェックデータが0になることを期待するが
、前記の補正値データが記憶されている場合には、さら
にこの補正値データとサムチェックデータとで演算を行
う、サムチェックデータまたは、補正値との演算結果が
Oであれば、このROMのデータの不変性が確認され試
験を終了する。
一方、サムチェックデータがOにならず、また補正値デ
ータも登録されていない場合は、このROMの補正値を
補正データ作成手段30で求める。
補正データ作成手段30は、サムチェックデータとの演
算でその演算結果が0になるような、補正値を求めるこ
とを実現する手段であり、ここで求められた補正値は、
補正データテーブル登録手段50によって、補正データ
テーブル20にROMの位置情報と共にあらたに登録さ
れ、次回以降のROMサムチェック確認試験で利用され
る。
なお、初回の時の試験結果は、補正データが未登録であ
ったことを示して終了する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、ROMのサムチェック補
正データを、ROMの外部に補正データテーブルをあら
たに持つことによって、ROM内部にサムチェック補正
値データをもっていないようなROMを含んでいる場合
でも、ROMの内容の不変性を試験することができると
いう効果がある。また、あるROMを試験する場合に、
R,OMの中にサムチェック補正値データが入っている
かいないかを意識することなく試験することができると
いう効果もある。
【図面の簡単な説明】 第1図は、本発明の一実施例のブロック図、第2図は、
本実施例の要部の補正データテーブルを示す説明図であ
る。 10・・・ROM指定手段、20・・・補正データテー
ブル、21・・・ROMの位置情報、22・・・補正値
情報、30・・・補正データ作成手段、40・・ROM
サムチェック計算手段、50・・・補正データテーブル
登録手段、100・・・処理の流れ、200・・・デー
タの流れ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数個のROMから試験したいROMを指定するROM
    指定手段、ROMの位置情報とそれに対応する補正デー
    タを登録しておく補正データテーブル、補正データが組
    み込まれていないROMの補正データをあらたに計算す
    る補正データ作成手段、前記ROM指定手段で指定され
    たROMのサムチェックデータを求めるROMサムチェ
    ック計算手段、前記補正データ作成手段で求められた補
    正値情報と位置情報とを前記補正データテーブルに登録
    する補正データ登録手段を有することを特徴とするRO
    Mサムチェック試験方法。
JP2194481A 1990-07-23 1990-07-23 Romサムチェック試験方法 Pending JPH0482097A (ja)

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JPH0482097A true JPH0482097A (ja) 1992-03-16

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ID=16325258

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100480561B1 (ko) * 1997-08-22 2005-05-16 삼성전자주식회사 합산검사부를가지는마이크로-롬구조
KR100577793B1 (ko) * 2001-12-31 2006-05-11 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 비휘발성 메모리 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100480561B1 (ko) * 1997-08-22 2005-05-16 삼성전자주식회사 합산검사부를가지는마이크로-롬구조
KR100577793B1 (ko) * 2001-12-31 2006-05-11 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 비휘발성 메모리 장치

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