JPH0482691A - アーム式搬送装置 - Google Patents

アーム式搬送装置

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JPH0482691A
JPH0482691A JP2192464A JP19246490A JPH0482691A JP H0482691 A JPH0482691 A JP H0482691A JP 2192464 A JP2192464 A JP 2192464A JP 19246490 A JP19246490 A JP 19246490A JP H0482691 A JPH0482691 A JP H0482691A
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sensor
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民夫 遠藤
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一夫 菊地
Terumasa Shiraishi
白石 照昌
Keiji Horioka
啓治 堀岡
Katsuya Okumura
勝弥 奥村
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Tokyo Electron Ltd
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) 本発明は、アーム式搬送装置に関する。
(従来の技術) 例えば半導体製造プロセスでは、被処理体である半導体
ウェハを搬送するに際して、例えば多間接アーム等を用
い、駆動部側に連結された一端を水平駆動あるいは回転
駆動し、自由端側に支持した半導体ウェハを水平方向に
搬送している。
この種の搬送アームとしては、特開昭54−10976
82−IE11807.fll−278149,62−
150735,62−21644,60−120520
、60−183736、62−21849、62−16
1H8、61−99345゜1−99344.6l−9
09Ll、 61−90887 、61−87351 
、61−71 !188B2−41129等に開示され
公知である。
(発明が解決しようとする課題) この種の搬送アームは、その自由端側に被搬送体を支持
する片持ち梁状であるので、例えばメインテナンス時に
この搬送アームに接触することで、容易に搬送アームが
変形してしまう恐れがあった。
このように変形した搬送アームを用いて被搬送体の搬送
を実施すると、被搬送体のハンドリング状態が悪化した
り、被搬送体の受は渡し時に受は渡し面にズレが生じ、
搬送トラブルの原因となっていた。特に、ウェハカセッ
トに対してウェハを搬入出する際には、カセット内に収
容された状態のウェハ配列ピッチが狭いので、ウェハが
カセットに衝突するなどの問題が生じていた。
そこで、本発明の目的とするところは、搬送アームの変
形を容易に監視できるようにしたアーム式搬送装置を提
供することにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、片持ち状の搬送アームの自由端側に被搬送体
を支持して搬送するアーム式搬送装置において、 搬送面と平行な基準面より上記搬送アームまでの距離を
光学的に検出するセンサーを設けたことを特徴とする。
(作 用) 本発明では、搬送面と平行な基準面より搬送アームまで
の距離を光学的に検出しているが、検出された距離が許
容値以内であれば、正規の搬送面上にて平行に被搬送体
を搬送できることが確認される。一方、許容値を越える
場合には搬送トラブルの原因となることが容易に把握で
き、搬送トラブルを未然に防止することができる。しか
も、光学的に上記距離を検出しているので非接触にて検
出できる。
(実施例) 以下、本発明をプラズマエツチング装置のセンダ一部に
適用した一実施例について、図面を参照して具体的に説
明する。なおプラズマエツチング装置は公知であるので
その詳細な説明を省略するが、本実施例ではエツチング
処理を行なうプロセスチャンバーとゲートを介して連通
ずる真空づき可能なロードロックチャンバーを有し、セ
ンダ一部よりロードロックチャンバーを介してプロセス
チャンバーに処理前のウェハを搬入し、処理後のウェハ
はロードロックチャンバーを介してレシーバ部に搬出さ
れるようになっている。
前記センダ一部は、大気中に設置され、大別して搬送ア
ーム10.カセットステージ30.プリアライメントス
テージ40およびアーム変形検出センサー50とから構
成されている。このセンダ一部では、前記カセットステ
ージ30に載置固定される図示しないカセットより、1
枚の半導体ウェハ1を前記搬送アーム10によって取り
出し、このウェハ1を前記プリアライメントステージ4
0上に設置してプリアライメントした後に、図示しない
ロードロックチャンバー側の搬送アームによってウェハ
1をチャンバー側に搬入するものである。
前記搬送アーム10は、その平面図である第2図に示す
ようにL字状に屈曲形成され、その一端である固定部1
4を駆動側に固定し、その自由端側に真空吸着部12を
有している。この搬送アーム10の水平駆動系として、
基台16には2本のガイド軸20.20が水平に設置さ
れ、この2本のガイド軸20.20によって水平方向に
移動案内される可動プロワ−り18が設けられている。
そして、前記搬送アーム10の固定部14は、この可動
ブロック18に固定されている。前記可動ブロック18
の下方であって、基台16上の距離を隔てた2箇所に、
プーリ22,22が回転自在に支持されている。そして
、このプーリ22,22にはそれぞれベルト24が張架
され、このベルト24の一箇所が前記可動ブロック18
に固定されている。したがって、いずれか一方のプーリ
22を回転駆動することにより、ベルト24かその水平
方向に移動し、この結果可動ブロック18を介して搬送
アーム10を第1図の矢印X方向に水平移動可能として
いる。
前記カセットステージ30は、半導体ウェハ1を複数枚
収納した図示しないカセットを載置固定し、その下方に
設けた上下動駆動部32の駆動によって上下方向に移動
可能である。図示しないカセットは、ウェハ1を水平状
態にてその高さ方向で所定間隔をおいて配列支持するも
のであり、そのカセット内の任意のウェハ1を取り出す
際には、前記上下動駆動部32によってそのカセットを
上下方向に移動し、取り出すべきウェハ1の下方に前記
搬送アーム10の真空吸着部12を挿入可能な位置に設
定すればよい。
前記プリアライメントステージ40は、その中心部に前
記ウェハ1を真空吸着し、かつこれを回転駆動できる吸
着回転部42を有している。この吸着回転部42は、ウ
ェハ1を支持するために上下方向に移動可能である。こ
の吸着回転部42の周囲には、例えば3本のリフタービ
ン44が設けられている。このリフタービン44は、前
記吸着回転部42とは独立してその上下方向に移動可能
である。そして、そのリフタービン44がウェハ1の裏
面と当接する先端部には、第5図に示すように例えばテ
フロン(登録商標)等の非金属の異音防止ピン46が固
定されている。前記吸着回転部42に隣接してセンサー
アーム48が設けられ、このセンサーアーム48は第2
図の矢印X軸方向に移動可能である。そして、前記吸着
回転部42にウェハ1を載置固定し、かつこのウェハ1
を回転駆動しながら、センサーアーム48に設けられた
図示しないセンサによってウェハ1のプリアライメント
が可能となっている。
本実施例装置の特徴的構成として、前記プリアライメン
トステージ40の近傍であって、搬送アーム10の真空
吸着部12の下方の位置に設定されるアーム変形検出セ
ンサー50を備えている。
このアーム変形検出センサー50は、第4図(A)に示
すように、前記真空吸着部12の幅方向にて離間した2
か所に第1.第2のセンサー52゜54を有している。
この第1.第2のセンサー52.54は、共に小スポッ
ト限定反射型の光電スイッチで形成される。この光電ス
イッチは、赤外線発光ダイオードより口径0.8m+w
の赤外線を出射し、その出射面より10+sm前後の距
離にある検出範囲内にて反射された際にのみ感応してス
イッチを0FFL、検出範囲外でONするものである。
本装置のアーム検出センサーは、この光電スイッチ2個
で構成され、搬送アーム10からの距離はそれぞれ異な
り、検出範囲は一部重なっている。
第4図(C)に示すように、搬送アームから遠い第1の
センサーの検出範囲は、31ain−3sax 、 ’
RI送アームに近い第2のセンサーの検8[囲はS21
n−32Illaxである。第4図(B)に示すように
搬送アーム10の真空吸着部12の高さ方向の許容範囲
をそれぞれ上限位置L + +下限位置し2とした場合
に、第1のセンサーの5saxをり、に、第2のセンサ
ーの82w1nをL2に合せる。第1のセンサーはり、
〜511in間の転回外で反射したときにONL、第2
のセンサーはL2〜S2■aX間の範囲外で反射したと
きにONするので、この第1.第2のセンサーのいずれ
か一方がONuた場合には、L1〜L2の範囲外で反射
したとき、すなわちアームが変形したときである。第1
.第2のセンサーの出力はセンダーのCPU (図示せ
ず)に入力され、いずれか−方がONした場合は装置の
稼働を停止するように構成されている。上記第1および
第2のセンサ52.54の動作についてはスイッチの論
理を逆にして、いずれか一方がOFFした場合に装置の
稼働を停止させてもよい。
本実施例では、センダ一部分のほぼ前面を覆うようなカ
バー60を有している。このカバー60は前記カセット
ステージ32に載置固定されるカセット(図示せず)の
上下動経路は切り欠かれ、かつ、前記搬送アーム10が
前記カバー60と交差する部分の移動軌跡にわたって切
欠されている。
このカバー60は、クリーンルーム内のダウンフローに
対応すべくその全面がメツシュ状に構成され、ダウンフ
ローをセンダー内部に取り入れ可能となっている。この
カバー60は、センダ一部分の側面を覆う側面パネル6
2の上端部にてほぼ水平に屈曲形成したカバー取付部6
4にて着脱自在に固定される。このカバー取付部64の
取付面は、例えばゴム磁石にて形成され、このカバー取
付部64と対応する面に形成されている前記カバー60
の金属部分を吸着保持可能としている。
次に、作用について説明する。
このセンダ一部にてカセットより1枚のウェハ1を取り
出すためには、まずカセットステージ30をその上下動
駆動部32によって上下方向に移動し、取り出すべきウ
ェハ1の高さ位置が、搬送アーム10の水平移動平面よ
りも上方に設定する。その後、一方のプーリ22を図示
しない駆動源によって回転駆動し、可動ブロック18を
ガイド軸20.20に沿って水平移動させることで、こ
れと一体向に固定されている搬送アーム10を第1図の
右方向に移動させる。そして、カセット内にて搬送アー
ム10の真空吸着部12が、取り出すべきウェハ1の下
方に設定された位置にて、その水平移動を停止する。こ
の状態にてカセットステージ30を下方に移動させると
、1枚のウェハ1が真空吸着部12上に載置され、その
後バキュームオンすることで、この真空吸着部12にウ
ェハ1を吸着保持することができる。ウェハ1のカセッ
トからの搬出は、搬送アーム10を第1図の左方向に水
平移動することで実現できる。そして、この搬送アーム
10□は、ウェハ1がプリアライメントステージ40に
おける吸着回転部42の上方に到達した時停止される。
このプリアライメントステージ40では、まずリフター
ビン44が上昇駆動され、バキュームオフされた状態に
て前記真空吸着部12上に載置されているウェハ1の支
持位置よりも上方向に移動することで、このウェハ1を
3本のリフタービン44上に支持することができる。そ
の後、回転吸着部42を上昇移動させるか、あるいはリ
フタービン44を下降移動させるかして、ウェハ1を吸
着回転部42に載置し、バキュームオンしてこれを吸着
保持する。この状態にてウェハ1のプリアライメントが
可能となり、センサーアーム48が第2図のX軸方向に
移動し、前記吸着回転部42を回転駆動しながらウェハ
1のプリアライメントを実行することになる。その後、
センサーアーム48が退避し、リフタービン44の上昇
により前記吸着回転部42に載置されていたウェハ1を
リフタービン44上に支持する。このウェハ1の支持位
置は、第1図に示すウェハ搬送ラインLよりも上方に設
定されている。その後、図示しないロードロックチャン
バ側の搬送アームがセンダー側に移動し、前記ウェハ搬
送ラインLに沿ってウェハ1の下方に移動して停止する
。そして、前記リフタービン44を下方に移動させるこ
とで、このウェハ1をロードロックチャンバー側の搬送
アームに受渡すことができる。その後、このロードロッ
クチャンバー側の搬送アームによってウェハ1をプロセ
スチャンバー側に向けて搬入することになる。
ここで、ウェハ1を搬送する搬送アーム10は、その一
端側の固定部14のみが駆動側に連結固定され、真空吸
着部12側は自由端部に設定されている。従って、例え
ばメインテナンス時などにこの搬送アーム10に接触す
ることで、この搬送アー10が容易に変形してしまう恐
れがある。本実施例では、このような搬送アーム10の
変形をアーム変形検出センサー50によって検出し、こ
の変形が許容値を越える場合には装置の稼動を停止する
ように構成している。すなわち、搬送アーム10の真空
吸着部12がアーム変形検出セン゛サー50の上方にて
停止した際には、第1.第2のセンサー52.54が動
作する。すなわち、この第1のセンサー52の赤外線発
光ダイオードより小スポットの光が出射され、搬送アー
ム10が第4図(B)に示す許容上限位置し1の範囲内
にあるか否かを検出する。この第1のセンサー52は、
搬送アーム10が上記許容上眼位[L、を越えた位置に
存在する場合にONするようになっている。
同時に、第2のセンサー54が動作し、この第2のセン
サー54は同様にして搬送アーム10が許容下限位rx
t L 2の範囲内にあるか否かを検出する。
この第2のセンサー54は、搬送アーム10が前記許容
下限位置し2を下回った位置に存在する場合にONする
。従って、この第1.第2のセンサー52.54の出力
を入力するCPUは、少なくともいずれか一方のセンサ
ーがONL、た場合には、搬送アーム10の変形がその
許容値を越えているものと判断できる。そして、このよ
うな場合にはCPUはセンダ一部全体の装置の稼動を停
止することになる。このような搬送アーム10の変形検
出は、例えばメインテナンス終了後の動作開始時のみ実
施してもよいLlあるいはこのセンダ一部にて搬送アー
ム10がアーム変形検出センサー50の上方に停止され
る度に検出してもよい。
このように、本実施例では搬送アーム10がカセットに
搬入される前に、その変形の度合いをア−ム変形検出セ
ンサ50によって監視することができる。従って、その
変形の度合が許容値を越えた場合に装置の稼動を停止す
ることで、搬送アーム10の変形に基づく種々のトラブ
ル、例えばウェハ1への衝突等の搬送トラブルを未然に
防止することができる。
また、本実施例ではリフタービン44の先端に非金属の
テフロン等による異音防止ピン46を備えている。この
センダ一部は大気中に設定され、前記リフタービン44
を金属ビンのみで構成した場合には、ウェハ1の裏面に
このピン44が当接する度に異音が発生していた。本実
施例のように、その先端側を異音防止ピン46にて構成
することで耳障りな異音の発生を確実に低減することが
できる。
さらに、本実施例ではこのセンダ一部上限側のほぼ全面
を覆うカバー60の着脱を、側面パネル62の上端側に
ゴム磁石にて形成したカバー取付部64との接触、非接
触により容易に実現できる。
従来、この種のカバーはセンダー装置にねし固定されて
いたが、そのメインテナンスの度にねじの着脱を行わな
ければならず、その着脱作業が煩わしいばかりか、ねじ
の着脱によるゴミの発生などにより、処理の歩留まりの
低下の要因ともなっていた。本実施例では、カバー60
の着脱をマグネットにより実現できるので、その着脱作
業が極めて簡易であり、かつ、ゴミの発生もより低減で
きる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
搬送アーム10の変形を検出するアーム変形検出センサ
50としては、上記実施例の手段に限らず、少なくとも
搬送アーム10の搬送面と平行な基準面よりこの搬送ア
ーム10まての距離を光学的に検出できるセンサーであ
ればよく、その平面度を見るためには、この種のセンサ
ーを3か所に配設するもの等であってもよい。また、本
発明は必ずしも常圧下に設定されるセンダ一部、レシー
バ一部等に適用されるものに限らず、負圧下にて被搬送
体の搬送を行う装置にも同様に適用可能である。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によればわずかな接触によ
り変形のしやすい片持ち状の搬送アームの変形を、その
搬送面と平行な基準面からの距離を光学的に検出するこ
とで容易に認識することができ、この搬送アームの変形
に伴う搬送トラブルを未然に防止できるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明をプラズマ処理装置のセンダ一部に適
用した一実施例を示す概略正面断面図、第2図は、第1
図の装置の平面図、 第3図は、第1図の装置の右側面図、 第4図(A)〜(C)は、それぞれアーム変形検出セン
サー50の配置説明図、動作説明図、第5図は、リフタ
ービンの上端部分の拡大図である。 10・・・搬送アーム、 12・・・真空吸着部、44
・・・リフタービン、46・・・異音防止ピン、50・
・・アーム検出センサー 52・・・第1のセンサー 54・・・第2のセンサー 60・・・カバーし、・・
・許容上限位置、L2・・・許容下限位置。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)片持ち状の搬送アームの自由端側に被搬送体を支
    持して搬送するアーム式搬送装置において搬送面と平行
    な基準面より上記搬送アームまでの距離を光学的に検出
    するセンサーを設けたことを特徴とするアーム式搬送装
    置。
  2. (2)請求項(1)において、 搬送アームまでの距離が許容上限を越えた時に作動する
    第1のセンサーと、 搬送アームまでの距離が許容下限を下回った時に作動す
    る第2のセンサーとで上記センサーを構成したアーム式
    搬送装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0997826A (ja) * 1995-09-27 1997-04-08 Jenoptik Ag マガジン内のマガジン棚と、同マガジン棚内に格納されたウェハ状物体とに使用するインデックス装置
JPH11354610A (ja) * 1998-06-11 1999-12-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板搬送装置および基板搬送方法
WO2007060805A1 (ja) * 2005-11-28 2007-05-31 Lintec Corporation 搬送装置
WO2010082490A1 (ja) * 2009-01-14 2010-07-22 キヤノンアネルバ株式会社 真空処理装置、電子部品の製造方法及び真空処理プログラム
JP2013203452A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Mitsubishi Heavy Industries Food & Packaging Machinery Co Ltd グローブボックス
WO2016103292A1 (ja) * 2014-12-22 2016-06-30 川崎重工業株式会社 ロボットシステム及びエンドエフェクタの変形検出方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017163088A (ja) 2016-03-11 2017-09-14 東芝メモリ株式会社 基板処理装置及び基板処理装置の制御方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0997826A (ja) * 1995-09-27 1997-04-08 Jenoptik Ag マガジン内のマガジン棚と、同マガジン棚内に格納されたウェハ状物体とに使用するインデックス装置
US6419439B2 (en) 1995-09-27 2002-07-16 Jenoptik Aktiengesellschaft Indexer for magazine shelves of a magazine and wafer-shaped objects contained therein
JPH11354610A (ja) * 1998-06-11 1999-12-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板搬送装置および基板搬送方法
WO2007060805A1 (ja) * 2005-11-28 2007-05-31 Lintec Corporation 搬送装置
JP2007149928A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Lintec Corp 搬送装置
WO2010082490A1 (ja) * 2009-01-14 2010-07-22 キヤノンアネルバ株式会社 真空処理装置、電子部品の製造方法及び真空処理プログラム
JP2013203452A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Mitsubishi Heavy Industries Food & Packaging Machinery Co Ltd グローブボックス
WO2016103292A1 (ja) * 2014-12-22 2016-06-30 川崎重工業株式会社 ロボットシステム及びエンドエフェクタの変形検出方法

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