JPH0483397A - 電子部品実装装置および電子部品実装方法 - Google Patents

電子部品実装装置および電子部品実装方法

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JPH0483397A
JPH0483397A JP2197330A JP19733090A JPH0483397A JP H0483397 A JPH0483397 A JP H0483397A JP 2197330 A JP2197330 A JP 2197330A JP 19733090 A JP19733090 A JP 19733090A JP H0483397 A JPH0483397 A JP H0483397A
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Hiroyuki Sakaguchi
博幸 坂口
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子部品実装装置に関し、殊に移載ヘッドのノ
ズルに吸着された電子部品をカメラにより観察して、そ
の位置ずれを検出するための手段に関する。
(従来の技術) ICチップ、LSIチップ、抵抗チップ、コンデンサチ
ップのような電子部品を基板に実装する電子部品実装装
置は、トレイやテープフィーダ等の電子部品供給部の電
子部品を移載ヘッドのノズルに吸着し、次いでこの電子
部品のXYθ方向の位置ずれを観察し、且つこれを補正
したうえで、位置決め部に位置決めされた基板に搭載す
るようになっている。
従来、電子部品を観察する手段としては、第3図(平面
図)に示すように、トレイのような電子部品供給部10
1と基板102の位置決め部103の間に、電子部品P
の位置ずれ観察ステージ104を設けたものが知られて
いる。
その動作を説明すると、まずサブ移載ヘッド105が電
子部品供給部101の電子部品Pを観察ステージ104
に移載し、この観察ステージ104に設けられたCCD
カメラ106により、電子部品Pのxyθ方向の位置ず
れを検出する。
次いで移載ヘッド107のノズル108が電子部品Pを
ティクアップする。そして電子部品PのXY方向の位置
ずれは、移載ヘッド107のXY方向ストロークに、X
Y方向の位置ずれに基く補正値を加えることにより補正
し、またθ方向の位置ずれは、移載ヘッド107に装備
されたモータ109により、ノズル108をθ方向(ノ
ズル10Bの軸心を中心とする回転方向)に回転させる
ことにより補正する。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら上記従来手段は、サブ移載ヘッド105に
より電子部品Pを観察ステージ104に一旦載置したう
えで、カメラ106により観察し、次いで移載ヘッド1
07によりティクアップして、基板102へ移送しなけ
ればならないため、動作や機構が複雑であり、また観察
に要する時間が丸々ロスタイムとなって実装能率があが
らないものであった。
したがって本発明は、カメラによる電子部品の観察に要
するロスタイムをなくし、高速にて電子部品を基板に移
送搭載できる電子部品実装装置を提供することを目的と
する。
(課題を解決するための手段) 本発明は、電子部品供給部と、基板の位置決め部と、こ
の電子部品供給部と基板の間を移動して、この電子部品
供給部の電子部品を基板に移送搭載する移載ヘンドとを
備えた電子部品実装装置において、 上記移載ヘッドが、電子部品を吸着するノズルと、この
ノズルの上方にあって、このノズルに吸着された電子部
品を観察するカメラと、ノズルに吸着された電子部品に
向って照明光を照射する光源を備え、 且つ上記電子部品供給部と上記基板の位置決め部の間に
、上記光源から照射された照明光を、上記ノズルに吸着
された電子部品へ向って拡散反射する光拡散体を設けて
いる。
(作用) 上記構成によれば、移載ヘッドが電子部品供給部の電子
部品をティクアップして、位置決め部の基板へ移送する
途中において、光源から照射された光は、光拡散体によ
り拡散反射されることから、ノズルに吸着された電子部
品のシルエットを、カメラにより明瞭に観察して、その
位置ずれを検出することができる。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は電子部品実装装置の斜視図である。
1は基板2の位置決め部、3.4はこの位置決め部1の
両側部に設けられたテーブルであり、その上面には、電
子部品供給部としてのトレイ5とパーツフィーダ6が配
設されている。
7.8はXY子テーブルあって、移載ヘッドエ1が保持
されている。このXYテーブル7゜8が駆動することに
より、移載ヘッド11は、トレイ5やパーツフィーダ6
と、基板2の間を移動し、トレイ5やパーツフィーダ6
の電子部品Pを基板2に移送搭載する。
第2図において、移載ヘッド11は、本体部12と、こ
の本体部12の上部に装着されたカメラ13と、この本
体部12から突出するノズル14と、リング状の光源1
5を備えている。
この本体部12は、ガラスや透明樹脂などの光透過体に
より形成されており、ノズル14の先端部に吸着された
電子部品Pを観察することができる。また位置決め部1
と、トレイ5及びパーツフィーダ60間には、板状の光
拡散体16゜17が配設されている。この光拡散体16
.17は、光源15から照射された光を、ノズルI4に
吸着された電子部品Pへ向って拡散反射する。
本装置は上記のような構成より成り、次に動作の説明を
行う。
XYテーブル7.8が駆動することにより、移載ヘッド
11はトレイ5上へ到来し、ノズル14に電子部品Pを
吸着してティクアップする。
次いで、移載ヘッド11は、この電子部品Pを基板2に
移送搭載するが、その途中において、光拡散体16上を
通過する際に、光源15が点灯する。するとその照射光
は、光拡散体16により上方へ拡散反射されることから
、ノズル14に吸着された電子部品Pのシルエットが、
静止画像としてカメラ13に観察され、電子部品PのX
Yθ方向の位置ずれが検出される。
次いで、X、Y方向の位置ずれは、XYテーブル7.8
の移動ストロークを調整することにより補正し、またθ
方向の位置ずれは、ノズル14をその軸心を中心にθ回
転させることにより補正したうえで、この電子部品Pを
基板2に搭載する。
パーツフィーダ6の電子部品Pを基板2に移送搭載する
場合も、上記の場合と同様に、光拡散体17により光を
反射させて、ノズル14に吸着された電子部品Pをカメ
ラ13により観察する。このように本手段によれば、電
子部品Pを基板2に移送する途中において、その位置ず
れを検出できるので、観察の為のロスタイムをなくし、
電子部品Pを基板2に高速実装することができる。
本発明は、上記実施例に限定されないのであって、例え
ば光源としては、常時点灯するものでもよく、あるいは
ストロボのようなパルス光源を使用し、電子部品Pが光
拡散体16.17上を通過する時に、この光源を瞬間的
に点灯させて、電子部品Pをカメラ13により観察して
もよい。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、電子部品供給部と、基板
の位置決め部と、この電子部品供給部と基板の間を移動
して、この電子部品供給部の電子部品を基板に移送搭載
する移載ヘッドとを備えた電子部品実装装置において、 上記移載ヘッドが、電子部品を吸着するノズルと、この
ノズルの上方にあって、このノズルに吸着された電子部
品を観察するカメラと、ノズルに吸着された電子部品に
向って照明光を照射する光源を備え、 且つ上記電子部品供給部と上記基板の位置決め部の間に
、上記光源から照射された照明光を、上記ノズルに吸着
された電子部品へ向って拡散反射する光拡散体を設けて
いるので、電子部品をノズルに吸着して、移載ヘッドに
より基板に移送しながら、電子部品を移載ヘッドに装備
されたカメラにより静止画像として観察できるので、電
子部品の観察に要するロスタイムがなく、高速にて電子
部品を基板に移送搭載することができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は電子
部品実装装置の斜視図、第2図は側面図、第3図は従来
手段の平面図である。 1・・・位置決め部 2・・・基板 6・・・電子部品供給部 1・・・移載ヘッド 3・・・カメラ 4・・・ノズル 5・・・光源 6.17・・・光拡散体

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  電子部品供給部と、基板の位置決め部と、この電子部
    品供給部と基板の間を移動して、この電子部品供給部の
    電子部品を基板に移送搭載する移載ヘッドとを備えた電
    子部品実装装置において、 上記移載ヘッドが、電子部品を吸着するノズルと、この
    ノズルの上方にあって、このノズルに吸着された電子部
    品を観察するカメラと、ノズルに吸着された電子部品に
    向って照明光を照射する光源を備え、 且つ上記電子部品供給部と上記基板の位置決め部の間に
    、上記光源から照射された照明光を、上記ノズルに吸着
    された電子部品へ向って拡散反射する光拡散体を設けた
    ことを特徴とする電子部品実装装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06291490A (ja) * 1993-04-02 1994-10-18 Fuji Mach Mfg Co Ltd 電子部品装着装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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