JPH0484958A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JPH0484958A JPH0484958A JP2202110A JP20211090A JPH0484958A JP H0484958 A JPH0484958 A JP H0484958A JP 2202110 A JP2202110 A JP 2202110A JP 20211090 A JP20211090 A JP 20211090A JP H0484958 A JPH0484958 A JP H0484958A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
査方式(広義としてリニア、コンベックス方式を含む)
の超音波診断装置に関するものである。 従来の技術 セクタ走査方式の超音波診断装置は、被検体内に超音波
ビームを放射状に照射して被検体からの超音波エコーを
サンプルし、相互間が略平行に位置する複数の音響走査
線上におけるサンプルデータを走査変換することにより
、デイスプレー上に断層画像を構成するものである。 上記セクタ走査方式の超音波診断装置によれば、小さな
探触子によって広い視野の断層画像を得ることができる
ので、特に体腔内の診断用に多く用いられている。 一般に、超音波診断装置のデイスプレーは、超音波ビー
ムの被検体に対する照射が放射状に行ゎれるため扇型を
呈している。このため、デイスプレーの走査線と上記音
響走査線との交点以外の音響走査線上に存在するサンプ
ルデータの表示濃度を決定するには、このサンプルデー
タに隣接し上記デイスプレー走査線と音響走査線との交
点に位置するサンプルデータを用いて補間を行う必要が
ある。 以下、従来のこの種の超音波診断装置における補間につ
いて、第8図(a)に基づいて説明する。 例えば、第8図(a)に示すように充分台にサンプルし
た音響走査線P上の画素点りのデータを補間する場合に
は、画素点りと同一の音響座標線P上における、画素点
りを挾むように隣接しデイスプレー走査線Hと音響走査
MPとの交点に位置する2つの交点サンプルデータSl
、S2を取り出し、この2つの交点サンプルデータSl
、S2の間の補間を行うことにより、画素点りのデータ
の構成をリアルタイムで行っている。 発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記従来の超音波診断装置では、例えば
第8図(b)に示すように、プローブ(図示せず)、即
ちセクタの中心から離れてデイスプレー走査線Hとのな
す角が小さい音響走査線P上に位置する画素点Eの補間
を行う場合にも、この画素点りに近接する交点サンプル
データS5.3e。 S7、S8を用いず、上記交点サンプルデータS5、S
6、S7、SBよりも遠い、画素点Eと同一の音響座標
線P上の交点サンプルデータSs、S4を用いて補間を
行う。 このため、補間により得られる画素点Eのデータの精度
が上がらず、デイスプレー上で横に流れたような表示と
なってしまうという問題があった。 また、デイスプレー走査線Hとのなす角がほぼ0度とな
るような音響走査線P上に位置する画素点Fの場合は、
第8図(C)に示すように画素点Fの図中左方向の同一
音響走査線P上に交点サンプルデータが存在しないので
補間が行えず、このため全てのセクタ領域に関する画素
点に関する補間を行ってデイスプレーに表示することが
できないという問題があった。 本発明は上記問題点を解決するものであり、全てのセク
タ領域に亘って質のよい断層画像を構成して表示させる
ことができる超音波診断装置を提供することを目的とす
る。 課題を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、断層画像の表示領
域に対応して設定される複数の画素点の座標値を発生す
る画素座標値発生手段と、複数の画素点中に均等に存在
するように設定される代表画素点の半径座標値を記憶す
る半径座標値記憶手段と、代表画素点の半径座標値に基
づいて各画素点の半径座標値を補間する半径座標値補間
手段と、複数の画素点中に均等に存在するように設定さ
れる代表画素点の角度座標値を記憶する角度座標値記憶
手段と、代表画素点の角度座標値に基づいて各画素点の
角度座標値を補間する角度座標値補間手段と、被検体か
らのエコー信号により得られる複数のサンプルデータに
アドレスを付与して記憶するサンプルデータ記憶手段と
、半径座標値補間手段及び角度座標値補間手段の補間結
果に基づいて各画素点の近傍のサンプルデータを選出し
て補間し各画素点の表示濃度を算出する画素データ補間
手段とを備える構成とした。 作用 本発明は上記構成により、セクタの中心から離れた音響
走査線上に位置する画素点の補間を、この画素点に近接
するサンプルデータを用いて行うので、全てのセクタ領
域に亘って質のよい断層画像を構成して表示させること
ができる。 実施例 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第1
図は、本発明の一実施例による超音波診断装置の概略構
成を示すブロック図である。 第1図において、1は、第2図に示すようにセクタ領域
内のXY直交座標上における複数の画素点り、L、・・
・に関する座標値を、プローブ(図示せず)の走査方向
の順番に発生させる、例えばカウンタ回路等による画素
座標値発生手段である。 2は、夕Jえばランダムアクセスメモリ(以下RAMと
記す)あるいはり−ドオンリメモリ(以下ROMと記す
)からなる半径座標値記憶手段であり、第3図に示すよ
うに上記複数の画素点L1L、・・・のうち、後述する
補間計算を行う際の誤差が無視できる程度の均等間隔で
設定される代表画素点(本実施例ではX方向32個、Y
方向32個)T、T、・・・に関する、例えばプローブ
からの半径方向の距離等により示される半径座標@Rを
記憶している。 尚、本実施例の半径座標値記憶手段2では、上記画素点
LXL1・・・の対称性に鑑みて、第1象限内の代表画
素点T、T、・・・に関する半径座標[Rのみを記憶し
ている。 3は、上記画素座標値発生手段1から入力される各画素
点り、L、・・・のXY直交座標上の座標値に基づいて
、半径座標値記憶手段2に記憶された所望の代表画素点
T、T、・・・の半径座標[Rを取り出し、この半径座
標値Rに基づいて各画素点り、L、・・・の半径座標値
rを補間計算する半径座標値補間手段である。 4は、例えばランダムアクセスメモリ(以下RAMと記
す)あるいはリードオンリメモリ(以下ROMと記す)
からなる角度座標値記憶手段であり、半径座標値記憶手
段2により半径座標値Rが記憶されている代表画素点T
、T、・・・の、例えばプローブとこの代表画素点TS
T、・・・とを結ぶ線のX座標軸に対する仰角あるいは
俯角により示される角度座標値0丁を記憶している。 尚、本実施例の角度座標値記憶手段4では半径座標値記
憶手段2と同様に、上記画素点り、L。 ・・・の対称性に鑑みて、第1象限内の代表画素点T、
T、・・・に関する角度座標値θTのみを記憶している
。 5は、上記画素座標値発生手段1から入力される各画素
点り、L、・・・のXY直交座標上の座標値に基づいて
、角度座標値記憶手段4に記憶された所望の代表画素点
T、T、・・・の角度座標値を取り出し、この角度座標
値0丁に基づいて各画素点り、L、・・・の角度座標値
θを補間計算する角度座標値補間手段である。 6は、上記半径座標値補間手段3からの半径座標値rと
、角度座標値補間手段5からの角度座標値θとに基づい
て、各画素点り、L、・・・の表示濃度データを補間計
算により算出する画素データ補間手段である。 7は、被検体に照射された超音波ビームのエコー信号を
受信する超音波エコー受信手段、8は、この超音波エコ
ー受信手段7からのエコー信号を検波する検波手段、9
は、検波手段8で検波されたエコー信号をアナログ/デ
ィジタル(以下A/Dと記す)変換してサンプルデータ
S11.512.5lll、S14、・・・を生成する
A/D変換器である。 10は、上記画素座標値発生手段lと同様にプローブの
走査方向の順番で、各画素点り、L、・・のサンプルデ
ータに関するアドレスを発生するアドレス発生手段、1
1は、このアドレス発生手段10のアドレスと共に各画
素点り、L、・・・のサンプルデータを記憶するサンプ
ルデータ記憶手段である。 このサンプルデータ記憶手段11には上記画素データ補
間手段6から、補間による表示濃度の算出がなされた画
素点LSL、・・・に近接するサンプルデータの出力指
示信号が送られ、この指示信号に基づいてサンプルデー
タ記憶手段11は、該当するサンプルデータを画素デー
タ補間手段6に出力する。 12は、データ補間手段6からの表示濃度データをディ
ジタル/アナログ(以下D/Aと記す)変換するD/A
変換器、13は、D/A変換された表示濃度データに基
づいて、超音波断層画像を表示する表示手段である。 次に、上記構成による本実施例の動作について説明する
。 被検体から得られたエコー信号に基づいて画素座標値発
生手段1は、セクタ領域内のXY直交座標上における複
数の画素点り、L、・・・に関する座標値を、プローブ
(図示せず)の走査方向の順番に発生させ、座標値が設
定された各画素点し1Ll・・・は、それぞれ半径座標
値補間手段3及び角度座標値補間手段5により、半径座
標値r及び角度座標値θに関する補間計算が行われる。 ここで、上記半径座標値rに関する補間計算について詳
説する。 まず、半径座標値rの補間計算の第1の例について第4
図を参照して説明すると、補間を行う画素点L1の周囲
に存在する4つの代表画素点T1、T2、TB、T4に
よって囲まれる領域を、XY直交座標軸に平行な2本の
線にて4等分し、a、bSc。 dの4つの部分領域に分ける。 そして、補間を行う画素点L+が部分領域aにある場合
は、半径座標値補間手段3によって代表画素点T1、T
2、TBを選出し、また、画素点L1が部分領域すにあ
れば代表画素点Tl、T2、T4を、画素点Llが部分
領域Cにあれば代表画素点T1、TB、T4を、画素点
L1が部分領域dにあれば代表画素点T2、Ts、Ta
をそれぞれ選出し、選出された代表画素点T1、T2、
TB、T4の半径座標値RISR2、R3,Raを半径
座標値記憶手段2から読み出す。 以下、補間を行う画素点L1が部分領域aにある場合に
ついて説明する。第5閃に示すように画素点Llが、最
も近い代表画素点T1からX座標軸方向にsSY座標軸
方向にtの距離にあるものとし、この代表画素点Tlか
ら隣接する代表画素点T2までのX座標軸方向の距離単
位と、代表画素点TIから隣接する代表画素点T3のY
座標軸方向の距離単位とをそれぞれ1とする。 さらに、画素点Ll及び代表画素点Tt、 T2、TB
が同一の2次元平面上にあるものとすると共に、画素点
L1の半径座標値をrlとする。 このとき、画素点L1の半径座標値r1と、代表画素点
TI、 T2、TBの半径座標値R1,R2、R8とが
、共にZ軸の座標であるものとすると、rl=sR2+
tRs+(1−s−t)と算出することができる。また
、画素点Llが部分領域す、c、dにある場合において
も、全く同様にして半径座標値r1を補間計算する。 一方、半径座標値rlの補間計算の第2の例について説
明すると、本計算例では補間を行う画素点L1の周囲に
存在する4つの代表画素点TI、T2、TB、T4を選
出し、半径座標値記憶手段2からこの4つの代表画素点
T1、T2、TB、T4の半径座標値R1、R2、R8
、R4を読み出す。 そして、第6図に示すように画素点Llが、最も近い代
表画素点T1からX座標軸方向にSXY座標軸方向にt
の距離にあるものとし、隣接する代表画素点のX座標軸
方向の距離単位とY座標軸方向の距離単位とをそれぞれ
lとすると、単純な線形補間により画素点L1の半径座
標値
)+t(sRn+(1−s)RJ または、 rl=(1−s )(tRs+(1−t )Rt)+s
(tR4+(1−t )R2) として算出することができる。 以上2つの例によって示した画素点Llの半径座標値f
1の補間計算は、乗算器あるいはビットシフタと、加算
器とを用いることによって容易に実現することができる
。また、補間の計算方法は必ずしも上記2種類の計算方
法に限定されるものではない。 このようにして半径座標値丁1に関する補間計算か行わ
れると、次に画素点L1の角度座標値θlに関する補間
計算が行われる。この補間計算では、まず、角度座標値
記憶手段4に記憶された各画素点LXL、・・・の角度
座標値θの中から画素点L1の周囲の3乃至4つの代表
画素点TI、 T2、TB、T4を選出し、選出した代
表画素点T1、T2、TB、T4の角度座標値θT1、
θT2、θT8、θT4を角度座標値補間手段5に出力
する。 角度座標値補間手段5では、角度座標値記憶手段4の代
表画素点’l’l、 T2、TB、T4の角度座標値θ
Tl、θT2、θT8.0丁4に基づいて、画素点L+
の角度座標値θ1の補間計算を行う。 こうして得られた半径座標値r1と角度座標値θ1は画
素データ発生手段6に送られ、この画素データ補間手段
6は第7図に示すように、画素点L】の近傍に位置して
これを囲む3乃至4つのすンプル点を選出し、この選出
した3乃至4つのサンプル点におけるサンプルデータ5
llSS12.5IBSS14をサンプルデータ記憶手
段7から読み出す。 そして画素データ補間手段6は、
前記半径座標値記憶手段3や角度座標値補間手段5と同
様の補間計算により、画素点Llの表示濃度データを算
出する。 上記画素点L+の表示濃度データは、D/A変換器12
によりD/A変換され、D/A変換された表示濃度デー
タに基づいて、表示手段13に目的の超音波断層画像が
表示される。 このように本実施例の超音波診断装置によれば、各画素
点の座標値を半径座標値補間手段3と角度座標値補間手
段5とにより小さな誤差で迅速に算出することができ、
この座標値に基づいてサンプルデータを補間するので、
正確な断層画像を構成することができる。 また、本実施例の超音波診断装置では、半径座標値補間
手段3と、角度座標値補間手段5及び画素データ補間手
段6とを、同様の回路構成にて実現することができるの
で、装置のコストを低減させることができる。 さらに、本実施例における半径座標値記憶手段2と角度
座標値記憶手段5とに記憶される座標値を、種々の超音
波走査に対応した音響走査座標上における値に書き直す
ことにより、同一の回路のままでリニア走査、コンベク
ス走査等あらゆる走査法の断層画像の構成に対応するこ
とができる。 発明の効果 上述の如く本発明によれば、断層画像の表示領域に対応
して設定される複数の画素点の座標値を発生する画素座
標値発生手段と、複数の画素点中に均等に存在するよう
に設定される代表画素点の半径座標値を記憶する半径座
標値記憶手段と、代表画素点の半径座標値に基づいて各
画素点の半径座標値を補間する半径座標値補間手段と、
複数の画素点中に均等に存在するように設定される代表
画素点の角度座標値を記憶する角度座標値記憶手段と、
代表画素点の角度座標値に基づいて各画素点の角度座標
値を補間する角度座標値補間手段と、被検体からのエコ
ー信号により得られる複数のサンプルデータにアドレス
を付与して記憶するサンプルデータ記憶手段と、半径値
補間手段及び角度値補間手段の補間結果に基づいて各画
素点の近傍のサンプルデータを選出して補間し各画素点
の表示濃度を算出する画素データ補間手段とを備える構
成とした。 このため、セクタの中心から離れた音響走査線上に位置
する画素点の補間を、この画素点に近接するサンプルデ
ータを用いて行うので、全てのセクタ領域に亘って質の
よい断層画像を構成して表示させることができる。
略構成を示すブロック図、第2図は、第1図における画
素座標値発生手段により発生する画素点を示す説明図、
第3図は第2図の画素点中に設定される代表画素点を示
す説明図、第4図乃至第6図は、半径座標値補間手段に
よる半径座標値の補間計算方法を示す説明図、第7図は
、画素データ補間手段による補間方法を示す説明図、第
8図は、従来の超音波診断装置による画素点の補間方法
を示す説明図である。 1・・・画素座標値発生手段、2・・・半径座標値検出
手段、3・・・半径座標値補間手段、4・・・角度座標
値記憶手段、5・・・角度座標値補間手段、6・・・画
素データ補聞手段、7・・・サンプルデータ記憶手段、
L、L+−=画素点、rXrt、R,R1,R2、R8
、R4・・・半径座標値、31t、 312、S13、
S14・・・サンプルデータ、T、TI、T2、T3、
T4・・・代表画素点、θ、θ1、θT1 θT1、θ
T2、θT3、θT4・・・角度座標値。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝はか1名第 図 第 図 第 図 第 図
Claims (1)
- 断層画像の表示領域に対応して設定される複数の画素点
の座標値を発生する画素座標値発生手段と、複数の画素
点中に均等に存在するように設定される代表画素点の半
径座標値を記憶する半径座標値記憶手段と、代表画素点
の半径座標値に基づいて各画素点の半径座標値を補間す
る半径座標値補間手段と、複数の画素点中に均等に存在
するように設定される代表画素点の角度座標値を記憶す
る角度座標値記憶手段と、代表画素点の角度座標値に基
づいて各画素点の角度座標値を補間する角度座標値補間
手段と、被検体からのエコー信号により得られる複数の
サンプルデータにアドレスを付与して記憶するサンプル
データ記憶手段と、半径座標値補間手段及び角度座標値
補間手段の補間結果に基づいて各画素点の近傍のサンプ
ルデータを選出して補間し各画素点の表示濃度を算出す
る画素データ補間手段とを備えた超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2202110A JP2606417B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2202110A JP2606417B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0484958A true JPH0484958A (ja) | 1992-03-18 |
| JP2606417B2 JP2606417B2 (ja) | 1997-05-07 |
Family
ID=16452130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2202110A Expired - Lifetime JP2606417B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2606417B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008133957A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-06-12 | Meekoo Seiki:Kk | 機械装置及びその駆動体保持機構 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57108681A (en) * | 1980-11-03 | 1982-07-06 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Scanning converter |
| JPS60232137A (ja) * | 1984-04-02 | 1985-11-18 | アドバンスト・テクノロジー・ラボラトリーズ・インコーポレイテツド | 走査変換装置 |
| JPS6279040A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-11 | 株式会社東芝 | 超音波画像診断装置 |
-
1990
- 1990-07-30 JP JP2202110A patent/JP2606417B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57108681A (en) * | 1980-11-03 | 1982-07-06 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Scanning converter |
| JPS60232137A (ja) * | 1984-04-02 | 1985-11-18 | アドバンスト・テクノロジー・ラボラトリーズ・インコーポレイテツド | 走査変換装置 |
| JPS6279040A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-11 | 株式会社東芝 | 超音波画像診断装置 |
Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| JP2008133957A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-06-12 | Meekoo Seiki:Kk | 機械装置及びその駆動体保持機構 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2606417B2 (ja) | 1997-05-07 |
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