JPH0490141A - 光学的記録再生装置 - Google Patents
光学的記録再生装置Info
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- JPH0490141A JPH0490141A JP2203822A JP20382290A JPH0490141A JP H0490141 A JPH0490141 A JP H0490141A JP 2203822 A JP2203822 A JP 2203822A JP 20382290 A JP20382290 A JP 20382290A JP H0490141 A JPH0490141 A JP H0490141A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 44
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 14
- 238000003780 insertion Methods 0.000 abstract description 6
- 230000037431 insertion Effects 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光カード等の記録媒体を用いて情報を光学的
に記録再生する光学的記録再生装置に関する。
に記録再生する光学的記録再生装置に関する。
光学的記録再生装置は、光源である半導体レーザから出
射する光ビームを記録媒体に照射するのであるが、半導
体レーザは周囲の温度や経年変化等により駆動電流に対
する出力パワーの効率が変わることは周知である。そし
て光ビームによる情報の記録方法としては、位相差検出
、相変化、光磁気等の種々の方法があるが、何れも光ビ
ームを記録媒体に照射することにより、記録媒体に熱を
加えて行うことで共通している。
射する光ビームを記録媒体に照射するのであるが、半導
体レーザは周囲の温度や経年変化等により駆動電流に対
する出力パワーの効率が変わることは周知である。そし
て光ビームによる情報の記録方法としては、位相差検出
、相変化、光磁気等の種々の方法があるが、何れも光ビ
ームを記録媒体に照射することにより、記録媒体に熱を
加えて行うことで共通している。
したがって、照射光による温度が記録に最適であること
が必要であり、照射光の強度がこの最適点からずれてし
まうと、記録ピットの大きさ等の記録特性が変化し、再
生信号出力の劣化を引き起こしエラーレートが太き(な
る等の不具合を生じてしまい、記録情報の信軌性の低下
を招いてしまうことがある。
が必要であり、照射光の強度がこの最適点からずれてし
まうと、記録ピットの大きさ等の記録特性が変化し、再
生信号出力の劣化を引き起こしエラーレートが太き(な
る等の不具合を生じてしまい、記録情報の信軌性の低下
を招いてしまうことがある。
このため従来から種々の対策がとられており、例えば特
開昭59−140647号公報には記録媒体の周囲温度
をサーミスタ等の温度検知手段により測定し、これに基
づき半導体レーザの出力調整を行う方法が開示しである
。第4図は、温度補償をするための半導体レーザ駆動回
路を示したものでサーミスタ21等を有する温度検知回
路と、オペアンプ22等を有する定電流源と、半導体レ
ーザ23等を有する電流スイッチング回路の各ブロック
を設けである。
開昭59−140647号公報には記録媒体の周囲温度
をサーミスタ等の温度検知手段により測定し、これに基
づき半導体レーザの出力調整を行う方法が開示しである
。第4図は、温度補償をするための半導体レーザ駆動回
路を示したものでサーミスタ21等を有する温度検知回
路と、オペアンプ22等を有する定電流源と、半導体レ
ーザ23等を有する電流スイッチング回路の各ブロック
を設けである。
しかしながら、従来の記録再生装置は記録媒体の雰囲気
温度に応じて、半導体レーザの出力調整を行い照射光強
度の最適状態を保持することができるものの、記録媒体
自体の温度特性の補償はできない。したがって、仮に半
導体レーザの照射光強度を最適状態にして記録特性の安
定を図れても、記録媒体の温度特性による記録特性の変
化は防止できないのである。特に記録再生装置と記録媒
体とが別々の場所に置かれていた場合、その記録媒体を
装置内に挿入した直後の装置内温度との差が大きく、記
録媒体の雰囲気温度の検知による半導体レーザの出力調
整だけでは記録特性の安定化を図ることはできないので
ある。このような場合、むしろ記録媒体の雰囲気温度に
基づく半導体レザの出力調整は逆効果となることすらあ
る。
温度に応じて、半導体レーザの出力調整を行い照射光強
度の最適状態を保持することができるものの、記録媒体
自体の温度特性の補償はできない。したがって、仮に半
導体レーザの照射光強度を最適状態にして記録特性の安
定を図れても、記録媒体の温度特性による記録特性の変
化は防止できないのである。特に記録再生装置と記録媒
体とが別々の場所に置かれていた場合、その記録媒体を
装置内に挿入した直後の装置内温度との差が大きく、記
録媒体の雰囲気温度の検知による半導体レーザの出力調
整だけでは記録特性の安定化を図ることはできないので
ある。このような場合、むしろ記録媒体の雰囲気温度に
基づく半導体レザの出力調整は逆効果となることすらあ
る。
一方、記録媒体自体の温度を測定しようとして非接触の
温度検知手段を設けたり、接触式の検知手段を記録媒体
に接触させるような構成をとることは、装置のコストア
ップを招くという不具合がある。
温度検知手段を設けたり、接触式の検知手段を記録媒体
に接触させるような構成をとることは、装置のコストア
ップを招くという不具合がある。
本発明は、上記のような不具合を解決すべく提案される
もので、照射光強度の制御における記録媒体の温度特性
補償を所要時に行い、適正な情報の記録再生を行える情
報記録再生装置を提供することを目的としたものである
。
もので、照射光強度の制御における記録媒体の温度特性
補償を所要時に行い、適正な情報の記録再生を行える情
報記録再生装置を提供することを目的としたものである
。
〔課題を解決するための手段および作用〕本発明は上記
目的を達成するために、光ビームを記録媒体に照射して
、情報を記録再生する光学的記録再生装置において、装
置の内部温度検知手段と、その検知出力により光ビーム
の光量を制御する手段と、検知出力を光ビームの光量制
御に用いるか否かを判定する手段とを具えた光学的記録
再生装置としたものである。
目的を達成するために、光ビームを記録媒体に照射して
、情報を記録再生する光学的記録再生装置において、装
置の内部温度検知手段と、その検知出力により光ビーム
の光量を制御する手段と、検知出力を光ビームの光量制
御に用いるか否かを判定する手段とを具えた光学的記録
再生装置としたものである。
このように補償機能選択手段を設けたことにより、光ビ
ームの光量制御における記録媒体の温度特性補償を、記
録媒体の温度が装置内の温度検知手段による検知温度と
ほぼ一致した時にのみ行うようにできる。
ームの光量制御における記録媒体の温度特性補償を、記
録媒体の温度が装置内の温度検知手段による検知温度と
ほぼ一致した時にのみ行うようにできる。
第1図は、本発明の第1実施例を示したもので本発明の
詳細な説明するためのブロック線図である。本実施例は
、光記録媒体が装置内部に挿入されてからの時間を計測
し、光記録媒体の熱容量に応じて、時間により装置内部
温度検知出力を光ビムの光量制御に用いるかどうかを判
定するようにしたものである。光記録媒体には光ディス
ク、光磁気ディスク等があるが、ここでは光カードを例
にとって説明していく。光カード1を装置内に挿入する
と、搬送手段により装置内部に搬送されていく。この場
合、挿入検知センサ8が光カードIの挿入を検知し、さ
らにカウンタ回路7が挿入後の時間計測を始める。
詳細な説明するためのブロック線図である。本実施例は
、光記録媒体が装置内部に挿入されてからの時間を計測
し、光記録媒体の熱容量に応じて、時間により装置内部
温度検知出力を光ビムの光量制御に用いるかどうかを判
定するようにしたものである。光記録媒体には光ディス
ク、光磁気ディスク等があるが、ここでは光カードを例
にとって説明していく。光カード1を装置内に挿入する
と、搬送手段により装置内部に搬送されていく。この場
合、挿入検知センサ8が光カードIの挿入を検知し、さ
らにカウンタ回路7が挿入後の時間計測を始める。
光カード1にはレーザ駆動回路6により半導体レーザ1
2から光ビームが照射され、情報の記録再生が行われる
のである。この場合、装置内の温度により照射光強度を
最適に保持するため、温度センサ3により装置内温度を
検知しコントローラ9が装置内温度により補償値を決定
する。そして補償値設定回路10から補償値を発生する
ようになっている。
2から光ビームが照射され、情報の記録再生が行われる
のである。この場合、装置内の温度により照射光強度を
最適に保持するため、温度センサ3により装置内温度を
検知しコントローラ9が装置内温度により補償値を決定
する。そして補償値設定回路10から補償値を発生する
ようになっている。
また、挿入された光カード1は装置内温度と異なる温度
状態であるので、このまま光ビームを照射することは適
当でない。そこで、装置内温度と光カードとが熱平衡に
達するタイミングをとる必要がある。ある温度状態にあ
る装置に光カードlが挿入されても、装置の熱容量は光
カード1の熱容量に比較し大きいので、装置内温度は光
カード1によって影響を受けることはほとんどない。
状態であるので、このまま光ビームを照射することは適
当でない。そこで、装置内温度と光カードとが熱平衡に
達するタイミングをとる必要がある。ある温度状態にあ
る装置に光カードlが挿入されても、装置の熱容量は光
カード1の熱容量に比較し大きいので、装置内温度は光
カード1によって影響を受けることはほとんどない。
しかし、ここで光カード1の温度が30°C1熱容量が
10Ca2/g ・”C1重量1gとし、装置内温度が
20°Cとした場合、両者が熱平衡に達するには100
Calが記録媒体から供給される必要がある。したがっ
て、熱伝導率を考慮して10Calが伝わるのにほぼ1
秒かかるとして、熱平衡に達するまでに約10秒を要す
ることとなる。
10Ca2/g ・”C1重量1gとし、装置内温度が
20°Cとした場合、両者が熱平衡に達するには100
Calが記録媒体から供給される必要がある。したがっ
て、熱伝導率を考慮して10Calが伝わるのにほぼ1
秒かかるとして、熱平衡に達するまでに約10秒を要す
ることとなる。
ここで、光カード1の温度を測定することはできないの
で、熱平衡に達するまでの時間を設定して行う。装置内
温度と光カード1の温度との差が大きいほど、熱平衡に
達する迄の時間が長くなるわけであるが、上記時間の設
定は装置と光カード1の使用温度範囲に基づいて行うこ
ととなる。ここで装置、光カード1の使用温度範囲が5
’C〜40”C8現在の装置内温度をTとした場合に
温度差の最大値は40−TとT−5の大きい方の値Mで
ある。
で、熱平衡に達するまでの時間を設定して行う。装置内
温度と光カード1の温度との差が大きいほど、熱平衡に
達する迄の時間が長くなるわけであるが、上記時間の設
定は装置と光カード1の使用温度範囲に基づいて行うこ
ととなる。ここで装置、光カード1の使用温度範囲が5
’C〜40”C8現在の装置内温度をTとした場合に
温度差の最大値は40−TとT−5の大きい方の値Mで
ある。
その時の熱平衡に達する迄に要する時間tは次のように
して求める。
して求める。
t =MxlO/10 (秒)
このように装置内温度Tによって時間tを求め、それを
前記カウンタ回路7に設定するのである。
前記カウンタ回路7に設定するのである。
カウンタ回路7のカウントクロックが1msの場合には
、1000Xtがセントする値となる。カウント値をデ
クリメントして時間を計測し、カウント値が0になった
ところで補償機能の判定信号を発生する切り換え信号発
生回路11から補償判定信号が出力され、補償の値が組
み込まれることとなる。
、1000Xtがセントする値となる。カウント値をデ
クリメントして時間を計測し、カウント値が0になった
ところで補償機能の判定信号を発生する切り換え信号発
生回路11から補償判定信号が出力され、補償の値が組
み込まれることとなる。
なお、切り換え信号発生回路は、カウンタ回路7のポロ
ー出力をフリップフロップにラッチするようにしておく
。また、温度補償機能の判定手段である補償機能判定手
段4は、アナログスイッチを用いて構成すればよい。
ー出力をフリップフロップにラッチするようにしておく
。また、温度補償機能の判定手段である補償機能判定手
段4は、アナログスイッチを用いて構成すればよい。
このようにして補償機能判定手段4を通り、照射光の出
力値を補償するためのオペアンプ5で補償値を加算する
ことにより、レーザ駆動回路6からの出力は補正されて
半導体レーザ12に印加されることとなるのである。一
方、カウント値が0に達する迄にデータを記録せよとの
命令が入った場合は、補償機能判定手段4によって補償
の値が選択されないようになる。したがって、オペアン
プ5からはレーザ駆動回路6の出力がそのまま出力され
ていくこととなる。このように装置内温度と光カード1
との熱平衡に達する迄に要する時間りよりも以前に記録
し、温度補償ができないときには一定時間経過後に再度
記録することにより、適正な記録が可能となる。
力値を補償するためのオペアンプ5で補償値を加算する
ことにより、レーザ駆動回路6からの出力は補正されて
半導体レーザ12に印加されることとなるのである。一
方、カウント値が0に達する迄にデータを記録せよとの
命令が入った場合は、補償機能判定手段4によって補償
の値が選択されないようになる。したがって、オペアン
プ5からはレーザ駆動回路6の出力がそのまま出力され
ていくこととなる。このように装置内温度と光カード1
との熱平衡に達する迄に要する時間りよりも以前に記録
し、温度補償ができないときには一定時間経過後に再度
記録することにより、適正な記録が可能となる。
第2図は、本発明の第2実施例であり、第1実施例と対
応する個所には同一符号を付した。本実施例は、装置内
の温度変化勾配を計測し、その勾配の大きさによって装
置内部温度検知出力を光ビームの光量制御に用いるかど
うかを判定するようにしたものである。そのために本実
施例では、温度センサ3の出力を微分する微分回路13
を設けている。そして、装置内に挿入された光カード1
の近傍に設けである温度センサ3に基づき、光カード1
の温度変化を微分回路13を介してとらえ温度補償を行
うようになっている。他の構成については、第1実施例
と同様である。
応する個所には同一符号を付した。本実施例は、装置内
の温度変化勾配を計測し、その勾配の大きさによって装
置内部温度検知出力を光ビームの光量制御に用いるかど
うかを判定するようにしたものである。そのために本実
施例では、温度センサ3の出力を微分する微分回路13
を設けている。そして、装置内に挿入された光カード1
の近傍に設けである温度センサ3に基づき、光カード1
の温度変化を微分回路13を介してとらえ温度補償を行
うようになっている。他の構成については、第1実施例
と同様である。
第3図は、上記温度変化を微分した状態を示す説明図で
ある。光カード1と装置内部との温度差が大きい場合は
、光カード1近傍の温度は安定せず変化し続ける。そし
て、光カード1と装置内部との温度が平衡に近づくと温
度変化が小さくなり、微分出力は0に近くなるのである
。微分出力値が0近くになり、あるレベルL以下になっ
た時にそれを検出する。例えば、A点のように温度差が
小さくなったところで温度の補償を行うのである。
ある。光カード1と装置内部との温度差が大きい場合は
、光カード1近傍の温度は安定せず変化し続ける。そし
て、光カード1と装置内部との温度が平衡に近づくと温
度変化が小さくなり、微分出力は0に近くなるのである
。微分出力値が0近くになり、あるレベルL以下になっ
た時にそれを検出する。例えば、A点のように温度差が
小さくなったところで温度の補償を行うのである。
つまり、微分出力がLよりも小さい時に補償機能判定手
段4により補償の値がオペアンプ5に供給され、レーザ
駆動回路6の出力値に補償値を加算された半導体レーザ
駆動信号となる。
段4により補償の値がオペアンプ5に供給され、レーザ
駆動回路6の出力値に補償値を加算された半導体レーザ
駆動信号となる。
一方、微分出力がLよりも大きいときには切り換え発生
回路11から、切り換え信号が出力されないので補償機
能判定手段4により補償の値がオペアンプ5に加算され
ない状態でレーザ駆動回路6の出力が半導体レーザ12
に出力されるのである。
回路11から、切り換え信号が出力されないので補償機
能判定手段4により補償の値がオペアンプ5に加算され
ない状態でレーザ駆動回路6の出力が半導体レーザ12
に出力されるのである。
なお、切り換え信号発生回路11はレベルLを検出する
コンパレータにより構成したものを用いればよい。
コンパレータにより構成したものを用いればよい。
〔発明の効果]
以上のごとく、本発明は光カード自体の温度と装置内の
温度との差が少なくなった時だけに光カドの温度特性に
関する照射光強度による温度補償を行うようにし、照射
光強度を最適状態にして光カードへの記録特性の向上、
装置の信顛性の向上を図ることが可能となる。
温度との差が少なくなった時だけに光カドの温度特性に
関する照射光強度による温度補償を行うようにし、照射
光強度を最適状態にして光カードへの記録特性の向上、
装置の信顛性の向上を図ることが可能となる。
第1図は、本発明の第1実施例に係る装置の概要図、
第2図は、本発明は第2実施例に係る装置の概要図、
第3図は、温度センサの出力を微分回路に通した場合の
説明図、 第4図は、従来例を説明する回路図である。 1・・・光カード 2・・・搬送手段 3・・・温度センサ 4・・・補償機能判定手段 5・・・オペアンプ 6・・・レーザ駆動回路 7・・・カウンタ回路 8・・・挿入検知センサ 9・・・コントローラ 10・・・補償値設定回路 11・・・切り換え信号発生回路 12・・・半導体レーザ 第3図
説明図、 第4図は、従来例を説明する回路図である。 1・・・光カード 2・・・搬送手段 3・・・温度センサ 4・・・補償機能判定手段 5・・・オペアンプ 6・・・レーザ駆動回路 7・・・カウンタ回路 8・・・挿入検知センサ 9・・・コントローラ 10・・・補償値設定回路 11・・・切り換え信号発生回路 12・・・半導体レーザ 第3図
Claims (1)
- 1、光ビームを記録媒体に照射して、情報を記録再生す
る光学的記録再生装置において、装置の内部温度検知手
段と、その検知出力により光ビームの光量を制御する手
段と、検知出力を光ビームの光量制御に用いるか否かを
判定する手段とを具えたことを特徴とする光学的記録再
生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2203822A JPH0490141A (ja) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | 光学的記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2203822A JPH0490141A (ja) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | 光学的記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0490141A true JPH0490141A (ja) | 1992-03-24 |
Family
ID=16480291
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2203822A Pending JPH0490141A (ja) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | 光学的記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0490141A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20230304869A1 (en) * | 2022-03-24 | 2023-09-28 | Apple Inc. | Machine learning correction of temperature and humidity values |
-
1990
- 1990-08-02 JP JP2203822A patent/JPH0490141A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20230304869A1 (en) * | 2022-03-24 | 2023-09-28 | Apple Inc. | Machine learning correction of temperature and humidity values |
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