JPH0496263A - 半導体素子用リードフレームの製造方法 - Google Patents
半導体素子用リードフレームの製造方法Info
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- JPH0496263A JPH0496263A JP2206432A JP20643290A JPH0496263A JP H0496263 A JPH0496263 A JP H0496263A JP 2206432 A JP2206432 A JP 2206432A JP 20643290 A JP20643290 A JP 20643290A JP H0496263 A JPH0496263 A JP H0496263A
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- lead frame
- insulating film
- die pad
- lead
- manufacturing
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- Pending
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C43/00—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
- B29C43/02—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
- B29C43/18—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles incorporating preformed parts or layers, e.g. compression moulding around inserts or for coating articles
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、少なくとも半導体素子を取り付けるためのダ
イパッド部に絶縁フィルムが貼り合わされた半導体素子
用リードフレームの製造方法に係り、特に超多ピン化に
好適な半導体素子用リードフレームの製造方法に関する
ものである。
イパッド部に絶縁フィルムが貼り合わされた半導体素子
用リードフレームの製造方法に係り、特に超多ピン化に
好適な半導体素子用リードフレームの製造方法に関する
ものである。
[従来の技術]
従来より、半導体装置の組立用部材として用いられるリ
ードフレームは、例えば第7図または、第8図に示すよ
うな平面形状をしており、例えば半導体素子を取り付け
るためのダイパッド1と、その周辺に配設された前記半
導体素子との結線を行うためのインナーリード2と、該
インナーリード2に連続するアウターリード3を備えて
いる。
ードフレームは、例えば第7図または、第8図に示すよ
うな平面形状をしており、例えば半導体素子を取り付け
るためのダイパッド1と、その周辺に配設された前記半
導体素子との結線を行うためのインナーリード2と、該
インナーリード2に連続するアウターリード3を備えて
いる。
上記リードフレームは、通常、コバール42合金、銅系
合金等の、導電性に優れ且つ強度が大きい金属板を、ホ
トエツチング法やスタンピング法等により前記ダイパッ
ド1.インナーリード2及びアウターリード3を有する
形状に加工して製造されるものである。
合金等の、導電性に優れ且つ強度が大きい金属板を、ホ
トエツチング法やスタンピング法等により前記ダイパッ
ド1.インナーリード2及びアウターリード3を有する
形状に加工して製造されるものである。
そして、このようにして製造されたリードフレームは、
第9図に示すようにダイパッド1に半導体素子(以下、
単に素子ともいう)4を取り付けるととも(こ 該素子
4のポンディングパッド(図示せず)とインナーリード
2とを金等からなるワイヤ5により電気的に接続するこ
とにより半導体装置を製造するために用いられる。その
場合、通常、インナーリード2のボンディング位置に金
や銀等の貴金属をめっきして、ワイヤボンディングが確
実に行えるようになされている。
第9図に示すようにダイパッド1に半導体素子(以下、
単に素子ともいう)4を取り付けるととも(こ 該素子
4のポンディングパッド(図示せず)とインナーリード
2とを金等からなるワイヤ5により電気的に接続するこ
とにより半導体装置を製造するために用いられる。その
場合、通常、インナーリード2のボンディング位置に金
や銀等の貴金属をめっきして、ワイヤボンディングが確
実に行えるようになされている。
近低 半導体素子が高集積化さね 入出力(Ilo)端
子の数が増加するに伴い、半導体素子サイズは増大して
いるが、その一方で電子機器の小型・軽量化への要求は
強く、そのために半導体パッケージのより一層の小型イ
し 及び同一サイズ内での多ビン化が進行している。こ
のために、 リードフレームに対しても加工サイズの微
細化が求められている。
子の数が増加するに伴い、半導体素子サイズは増大して
いるが、その一方で電子機器の小型・軽量化への要求は
強く、そのために半導体パッケージのより一層の小型イ
し 及び同一サイズ内での多ビン化が進行している。こ
のために、 リードフレームに対しても加工サイズの微
細化が求められている。
しかしながら、エツチング法及びスタンピング法による
加工には限界が存在し、無制限に微小ピッチの加工がで
きるわけではない。概ね板厚に対して、エツチング法で
は80%程度、スタンピング法では板厚程度がスリット
の加工限界となっている。
加工には限界が存在し、無制限に微小ピッチの加工がで
きるわけではない。概ね板厚に対して、エツチング法で
は80%程度、スタンピング法では板厚程度がスリット
の加工限界となっている。
又、半導体装置の組立では、ワイヤボンディング法によ
る電気的接続が主に行われているが、前記インナーリー
ド2へのボンディング時には、ワイヤ長に制限が存在す
る。これは、半導体装置のパッケージをレジンでモール
ドして形成する際のワイヤ流れによるショートを防止す
るためである。
る電気的接続が主に行われているが、前記インナーリー
ド2へのボンディング時には、ワイヤ長に制限が存在す
る。これは、半導体装置のパッケージをレジンでモール
ドして形成する際のワイヤ流れによるショートを防止す
るためである。
このようにワイヤ長に制限があるために、インナーリー
ド2をダイパッド1から離すことにより、該インナーリ
ード形成領域を拡げ、そのピン数を増やすことはできな
い。
ド2をダイパッド1から離すことにより、該インナーリ
ード形成領域を拡げ、そのピン数を増やすことはできな
い。
従って、搭載する半導体素子(チップ)サイズ及びダイ
パッドサイズが決定されると、インナーリード2の先端
の形成領域が決定されることになる。このようにインナ
ーリード形成領域が決定されると、それぞれの加工法に
よる加工限界ピッチから、最大加工ビン数が自ずと決ま
ってしまい、それ以上の多ビン化ができないという問題
がありた。
パッドサイズが決定されると、インナーリード2の先端
の形成領域が決定されることになる。このようにインナ
ーリード形成領域が決定されると、それぞれの加工法に
よる加工限界ピッチから、最大加工ビン数が自ずと決ま
ってしまい、それ以上の多ビン化ができないという問題
がありた。
そこで、搭載するチップサイズ及びダイパッドサイズを
変更せず、しかもインナーリードにボンディングするワ
イヤ長をも延長することなく、多ピン化を可能にするた
めに、ダイパッドに、半導体素子とインナーリードとの
電気的接続を中継する中間バンドが形成されている絶縁
性フィルムを貼り合わせることが考えられている。この
ようにすれば、インナーリードをグイバンドから離性さ
せることが可能となるので、インナーリードの形成領域
を拡げることができ、結果としてインナーリードの数を
増設することを可能となる。
変更せず、しかもインナーリードにボンディングするワ
イヤ長をも延長することなく、多ピン化を可能にするた
めに、ダイパッドに、半導体素子とインナーリードとの
電気的接続を中継する中間バンドが形成されている絶縁
性フィルムを貼り合わせることが考えられている。この
ようにすれば、インナーリードをグイバンドから離性さ
せることが可能となるので、インナーリードの形成領域
を拡げることができ、結果としてインナーリードの数を
増設することを可能となる。
ところで、グイバンドに中間パッドを有する絶縁性フィ
ルムを貼り合わせる方法としては、従来は、第1図(A
)に示すようにデイプレスの既に行われたリードフレー
ムAのダイパッド1上に、絶縁性フィルム8を貼り合わ
せる方法を採っていた。
ルムを貼り合わせる方法としては、従来は、第1図(A
)に示すようにデイプレスの既に行われたリードフレー
ムAのダイパッド1上に、絶縁性フィルム8を貼り合わ
せる方法を採っていた。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、リードフレームにデイプレスを行うと、
ダイパッド部に金型を押し付けることになるので、 リ
ードフレームにおけるダイパッドやタブ吊りバー等の変
形が否めなくなる。そして、このような変形が起こると
、絶縁フィルム貼り付は時の位置精度、押し付はツール
の加圧 加熱の均−性等に関して、誤差が大きくなって
くることが考えられる。
ダイパッド部に金型を押し付けることになるので、 リ
ードフレームにおけるダイパッドやタブ吊りバー等の変
形が否めなくなる。そして、このような変形が起こると
、絶縁フィルム貼り付は時の位置精度、押し付はツール
の加圧 加熱の均−性等に関して、誤差が大きくなって
くることが考えられる。
また、絶縁性フィルムの熱膨張、収縮により、貼り付は
後にダイパッドの反り等が発生することも考えられる。
後にダイパッドの反り等が発生することも考えられる。
本発明は、上記問題を鑑みてなされたものであり、絶縁
性フィルムが、確実且つ強固に、そして精度よく貼り合
わせたリードフレームを容易に製造することができる半
導体素子用リードフレームの製造方法を提供することを
目的とする。
性フィルムが、確実且つ強固に、そして精度よく貼り合
わせたリードフレームを容易に製造することができる半
導体素子用リードフレームの製造方法を提供することを
目的とする。
また、本発明は、絶縁性フィルムの熱膨張又は収縮によ
るダイパッドの反り等の変形を防止することのできる半
導体素子用リードフレームの製造方法を提供することを
目的とする。
るダイパッドの反り等の変形を防止することのできる半
導体素子用リードフレームの製造方法を提供することを
目的とする。
口課題を解決するための手段]
本発明は、独立電極が形成された絶縁フィルムまたは絶
縁基板をリードフレームのダイパッドに、接着剤を用い
て貼り合わせるようになっている半導体素子用リードフ
レームの製造方法であって、リードフレームのインナー
リードを固定テープによりテーピングする工程と、絶縁
フィルムまたは絶縁基板をリードフレームのダイパッド
上に貼り合わさせる工程と、絶縁フィルムまたは絶縁基
板がリードフレームのダイパッド上に貼り合わされたリ
ードフレームをデイプレスする工程とから少なくともな
ることを特徴としている。
縁基板をリードフレームのダイパッドに、接着剤を用い
て貼り合わせるようになっている半導体素子用リードフ
レームの製造方法であって、リードフレームのインナー
リードを固定テープによりテーピングする工程と、絶縁
フィルムまたは絶縁基板をリードフレームのダイパッド
上に貼り合わさせる工程と、絶縁フィルムまたは絶縁基
板がリードフレームのダイパッド上に貼り合わされたリ
ードフレームをデイプレスする工程とから少なくともな
ることを特徴としている。
[作用]
このように構成された本発明の半導体装置用リードフレ
ームの製造方法によれば、 リードフレームをデイプレ
スする前に、絶縁フィルムまたは絶縁基板をダイパッド
上に貼り付けるようになる。
ームの製造方法によれば、 リードフレームをデイプレ
スする前に、絶縁フィルムまたは絶縁基板をダイパッド
上に貼り付けるようになる。
したがって、デイプレスにより変形されない状態のリー
ドフレームに対して、絶縁性フィルムの位置合わせが行
われると共に加圧・加熱工具による加熱・加圧が行われ
るようになる。その結巣 絶縁性フィルムの位置精度が
向上するとともに、絶縁性フィルムの貼り付けの際にお
ける加圧・加熱の均一性が向上する。これにより、絶縁
性フィルムを、確実且つ強固に、しかも精度よく、絶縁
性フィルムを貼り合わせることができる。
ドフレームに対して、絶縁性フィルムの位置合わせが行
われると共に加圧・加熱工具による加熱・加圧が行われ
るようになる。その結巣 絶縁性フィルムの位置精度が
向上するとともに、絶縁性フィルムの貼り付けの際にお
ける加圧・加熱の均一性が向上する。これにより、絶縁
性フィルムを、確実且つ強固に、しかも精度よく、絶縁
性フィルムを貼り合わせることができる。
[実施例]
以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
第3図は本発明の半導体素子用リードフレームの製造方
法の一実施例により製造されるリードフレームを示し、
(A)はこのリードフレームの概略を示す部分平面図
、 (B)は(A)におけるmB−mB線に沿う断面図
、第4図は本実施例のリードフレームを作成する前の材
料としてのリードフレームと絶縁フィルムとの概略を示
し、 (A)はその部分平面図、 (B)は(A)にお
けるrVBIVB線に沿う断面図である。
法の一実施例により製造されるリードフレームを示し、
(A)はこのリードフレームの概略を示す部分平面図
、 (B)は(A)におけるmB−mB線に沿う断面図
、第4図は本実施例のリードフレームを作成する前の材
料としてのリードフレームと絶縁フィルムとの概略を示
し、 (A)はその部分平面図、 (B)は(A)にお
けるrVBIVB線に沿う断面図である。
本実施例のリードフレームAは、第3図(A)に示す構
成単位が図中左右方向に連続して形成されているもので
あり、この構成単位は、中央に位置するダイパッド1と
、その周囲に配設されたインナーリード2と、該インナ
ーリードに連続するアウターリード3とからその基本が
構成されている。そして、上記ダイパッド1には周縁部
に所定数の中間パッド(独立電極)6が配設された絶縁
フィルム8が貼り合わされている。
成単位が図中左右方向に連続して形成されているもので
あり、この構成単位は、中央に位置するダイパッド1と
、その周囲に配設されたインナーリード2と、該インナ
ーリードに連続するアウターリード3とからその基本が
構成されている。そして、上記ダイパッド1には周縁部
に所定数の中間パッド(独立電極)6が配設された絶縁
フィルム8が貼り合わされている。
上記リードフレームAは、第4図(A)及び(B)に示
すように、材料としてのリードフレームA′のダイパッ
ド1の上に半導体素子取付部の周囲に配設された中間パ
ッド6を有する絶縁性フィルム8を貼り合わせることに
より形成される。
すように、材料としてのリードフレームA′のダイパッ
ド1の上に半導体素子取付部の周囲に配設された中間パ
ッド6を有する絶縁性フィルム8を貼り合わせることに
より形成される。
次に、第1図〜第4図を参照しながら、この実施例にお
ける本発明のリードフレームの製造方法について具体的
に説明する。第1図は本発明の一実施例を説明する図で
あり、第2図(A)〜(D)は、 リードフレームのダ
イパッド上に絶縁性フィルムを貼り合わせる工程の概略
を示す拡大断面図である。
ける本発明のリードフレームの製造方法について具体的
に説明する。第1図は本発明の一実施例を説明する図で
あり、第2図(A)〜(D)は、 リードフレームのダ
イパッド上に絶縁性フィルムを貼り合わせる工程の概略
を示す拡大断面図である。
まず、第4図に示す材料としてのリードフレームA′と
絶縁フィルム8とを用意する。このリードフレームA′
は次のようにして作製される。すなわち、例えば板厚1
50μmの42合金からなる300me口の矩形の合金
板をトリクレンにより脱脂した後、0FPR−800(
商品名、東京応化(株)類ポジレジスト)を用いてデイ
ツプ方式にてレジストコーティング(膜厚6μm)を行
う。
絶縁フィルム8とを用意する。このリードフレームA′
は次のようにして作製される。すなわち、例えば板厚1
50μmの42合金からなる300me口の矩形の合金
板をトリクレンにより脱脂した後、0FPR−800(
商品名、東京応化(株)類ポジレジスト)を用いてデイ
ツプ方式にてレジストコーティング(膜厚6μm)を行
う。
次に、所定のパターンマスクを用いて露光を行うととも
に、常法により現象及びボストベークを行う。その後、
塩化鉄によるエツチングを行って、ダイパッド1、イン
ナーリード2、アウターリード3等を形成した後、アセ
トンによりレジストを剥離することにより、 リードフ
レームA′を作製する。
に、常法により現象及びボストベークを行う。その後、
塩化鉄によるエツチングを行って、ダイパッド1、イン
ナーリード2、アウターリード3等を形成した後、アセ
トンによりレジストを剥離することにより、 リードフ
レームA′を作製する。
一方、絶縁性フィルム8は、例えば厚さ25μmのポリ
イミドフィルムからなるフィルム基材8aの片面に厚さ
18μmの銅箔が、もう片面に高耐熱性の接着剤8bが
ラミネートされている積層フィルムを用いる。さらに上
記リードフレームA′の場合と同様のエツチング法によ
り、上記積層フィルムの表面に、所定パターンからなる
中間パッドを形成し、この表面にニッケル及び金めつき
等の表面処理を行う。
イミドフィルムからなるフィルム基材8aの片面に厚さ
18μmの銅箔が、もう片面に高耐熱性の接着剤8bが
ラミネートされている積層フィルムを用いる。さらに上
記リードフレームA′の場合と同様のエツチング法によ
り、上記積層フィルムの表面に、所定パターンからなる
中間パッドを形成し、この表面にニッケル及び金めつき
等の表面処理を行う。
そして、第1図(B)に示すようにまずインナーリード
2を固定テープ7により固定し、その後、リードフレー
ムA′のダイパッド1上に、絶縁性フィルム8を接着剤
等により貼り付ける。絶縁性フィルム8をダイパッド1
上へ貼り付けるには、まず第2図(A)に示すようにダ
イパッド1の上方に絶縁性フィルム8を位置せしめ、同
図(B)に示すようにダイパッド1の上に絶縁性フィル
ム8を載置し、該両者の位置合わせを正確に行う。
2を固定テープ7により固定し、その後、リードフレー
ムA′のダイパッド1上に、絶縁性フィルム8を接着剤
等により貼り付ける。絶縁性フィルム8をダイパッド1
上へ貼り付けるには、まず第2図(A)に示すようにダ
イパッド1の上方に絶縁性フィルム8を位置せしめ、同
図(B)に示すようにダイパッド1の上に絶縁性フィル
ム8を載置し、該両者の位置合わせを正確に行う。
次いで、同図(C)に示すように、加圧・加熱治具10
により絶縁性フィルム8をダイパッド1に加熱しながら
抑圧(加圧)する。これにより、同図(D)に示すよう
に絶縁性フィルム8とダイパッド1とが確実且つ強固に
、しかも正確に貼り合わされる。
により絶縁性フィルム8をダイパッド1に加熱しながら
抑圧(加圧)する。これにより、同図(D)に示すよう
に絶縁性フィルム8とダイパッド1とが確実且つ強固に
、しかも正確に貼り合わされる。
ダイパッド1上に絶縁フィルム8が貼り付けられたら、
次にこの絶縁性フィルム8が接合されたリードフレーム
A′に対してデイプレスを行う。
次にこの絶縁性フィルム8が接合されたリードフレーム
A′に対してデイプレスを行う。
これによりリードフレームAが製造される。
このように、ダイパッド1上に絶縁フィルム8を貼り付
けた後、リードフレームA′に対してデイプレスを行う
ことにより、絶縁性フィルム8の位置合わせ精度が向上
するとともに、絶縁性フィルム8の貼り付けの際の加圧
加熱の均一性が向上する。したがって、絶縁性フィルム
8をダイパッド1上に、確実且つ強固に、そして精度よ
く、貼り合わせることができる。さらに、先に固定テー
プ7によりテーピングを行っているのでインナーリード
2の変形も防止することができる。
けた後、リードフレームA′に対してデイプレスを行う
ことにより、絶縁性フィルム8の位置合わせ精度が向上
するとともに、絶縁性フィルム8の貼り付けの際の加圧
加熱の均一性が向上する。したがって、絶縁性フィルム
8をダイパッド1上に、確実且つ強固に、そして精度よ
く、貼り合わせることができる。さらに、先に固定テー
プ7によりテーピングを行っているのでインナーリード
2の変形も防止することができる。
次に、このようにして製造されたリードフレームを用い
て半導体装置を製造する場合について説明する。第5図
は、本実施例により製造されるリードフレームを用いて
半導体装置を製造する場合の一例を示す概略説明図であ
る。
て半導体装置を製造する場合について説明する。第5図
は、本実施例により製造されるリードフレームを用いて
半導体装置を製造する場合の一例を示す概略説明図であ
る。
第5図に示すように、まず本実施例により製造されたリ
ードフレームAに半導体素子4を搭載する。次に、この
素子4のポンディングパッド(図示せず)と中間パッド
6とをワイヤ5Aで接続するとともに、該中間パッド6
とインナーリード2とをワイヤ5Bで接続することによ
り、半導体装置が製造される。
ードフレームAに半導体素子4を搭載する。次に、この
素子4のポンディングパッド(図示せず)と中間パッド
6とをワイヤ5Aで接続するとともに、該中間パッド6
とインナーリード2とをワイヤ5Bで接続することによ
り、半導体装置が製造される。
このように、中間パッド6を素子4とインナーリード2
との電気的接続の中継点とすることにより、 1本のワ
イヤ、特にワイヤ5Bを従来のワイヤ長より延長するこ
となく、ダイパッド1からインナーリード2のボンディ
ング位置(通常先端部)を前夜させることが可能となる
。その結果 樹脂をモールドする場合でも、ワイヤが長
いことに起因するショート等起こすこともなくインナー
リード2の形成領域を拡張することが可能となり、形成
し得るインナーリード2の本数を増加させ超多ビン化が
容易に可能となる。
との電気的接続の中継点とすることにより、 1本のワ
イヤ、特にワイヤ5Bを従来のワイヤ長より延長するこ
となく、ダイパッド1からインナーリード2のボンディ
ング位置(通常先端部)を前夜させることが可能となる
。その結果 樹脂をモールドする場合でも、ワイヤが長
いことに起因するショート等起こすこともなくインナー
リード2の形成領域を拡張することが可能となり、形成
し得るインナーリード2の本数を増加させ超多ビン化が
容易に可能となる。
第6図は、本実施例により製造されるリードフレームA
を用いる場合の他の態様を示す概略説明図である。第6
図に示すように、この実施例においては、搭載される素
子4のサイズが第5図に示す素子4のサイズよりも小さ
く設定されてしする。
を用いる場合の他の態様を示す概略説明図である。第6
図に示すように、この実施例においては、搭載される素
子4のサイズが第5図に示す素子4のサイズよりも小さ
く設定されてしする。
このように搭載する素子4のサイズが小さい場合でも、
従来と同一サイズのリードフレームAを使用して、第5
図で説明したと同様の電気的接続を行うことが可能であ
る。したがって、本実施例によるリードフレームAはよ
り一層の汎用性をも有している。
従来と同一サイズのリードフレームAを使用して、第5
図で説明したと同様の電気的接続を行うことが可能であ
る。したがって、本実施例によるリードフレームAはよ
り一層の汎用性をも有している。
以上、本発明を実施例に基づいて具体的に説明したが、
本発明の半導体素子用リードフレームの製造方法は前記
実施例に示したものに限られるものではない。
本発明の半導体素子用リードフレームの製造方法は前記
実施例に示したものに限られるものではない。
例えば、 リードフレームの形成材料としては、42合
金の他のコパール、銅系合金等任意の材料を利用でき、
絶縁性フィルムのフィルム基材もポリイミドに限られず
、絶縁性を備え且つ耐熱性等の他の要求される性質を備
えている材料であれば任意のもので形成できる。
金の他のコパール、銅系合金等任意の材料を利用でき、
絶縁性フィルムのフィルム基材もポリイミドに限られず
、絶縁性を備え且つ耐熱性等の他の要求される性質を備
えている材料であれば任意のもので形成できる。
また、前述の実施例では、多ピン化を可能とするために
中間パッドを備えた絶縁性フィルムを貼り合わせる場合
について説明したが、絶縁性フィルムをダイパッド部に
貼り合わせる場合であれば、目的の如何に拘らず、如何
なる場合にも、本発明を適用することが可能であること
はいうまでもない [発明の効果] 以上の説明から明らかなように、本発明のリードフレー
ムの製造方法によれば、 リードフレームをデイプレス
する前に、絶縁フィルムまたは絶縁基板をダイパッド上
に貼り付けることにより、絶縁性フィルムの位置精度が
向上するとともに、絶縁性フィルムの貼り付けの際にお
ける加圧・加熱の均一性が向上する。したがって、絶縁
性フィルムを、確実且つ強固に、しかも精度よく、絶縁
性フィルムを貼り合わせることができる。
中間パッドを備えた絶縁性フィルムを貼り合わせる場合
について説明したが、絶縁性フィルムをダイパッド部に
貼り合わせる場合であれば、目的の如何に拘らず、如何
なる場合にも、本発明を適用することが可能であること
はいうまでもない [発明の効果] 以上の説明から明らかなように、本発明のリードフレー
ムの製造方法によれば、 リードフレームをデイプレス
する前に、絶縁フィルムまたは絶縁基板をダイパッド上
に貼り付けることにより、絶縁性フィルムの位置精度が
向上するとともに、絶縁性フィルムの貼り付けの際にお
ける加圧・加熱の均一性が向上する。したがって、絶縁
性フィルムを、確実且つ強固に、しかも精度よく、絶縁
性フィルムを貼り合わせることができる。
第1図(A)はリードフレームをデイプレスした後絶縁
性フィルムを貼り合わせる、従来の絶縁性フィルムの貼
り付は工程を説明する図、同図(B)は本発明の一実施
例を示し、絶縁性フィルムを貼り合わせた後にリードフ
レームをデイプレスするようにした絶縁性フィルムの貼
り付は工程を説明する図、第2図(A)〜(D)はそれ
ぞれ本発明の実施例に用いられる絶縁性フィルムの貼り
付は工程の概略を示す部分断面図、第3図は本発明によ
り製造されるリードフレームの概略を示し、(A)はそ
の平面図、 (B)は(A)における■B−mB線に沿
う断面図、第4図はこの実施例のリードフレームを作製
する前の段階にあるリードフレームと絶縁性フィルムの
概略を示し、 (A)はその部分平面図、 (B)は(
A)におけるIVB−rVB断面図、第5図及び第6図
は、それぞれ前記実施例のリードフレームを用いて製造
した半導体装置の要部を示す概略説明図、第7図及び第
8図は、それぞれ従来のリードフレーム1構成単位を示
す平面図、第9図は、従来のリードフレームを用いて製
造した半導体装置の要部を示す概略説明図である。 A、A′ ・・・リードフレーム、 1・・・ダイパッ
ド、 2・・・インナーリード、 3・・アウターリー
ド、4半導体素子・ 5・ 5A、 5B・・・ワイヤ
、 6・・・中間ノくラド、7・・・インナーリード固
定テープ、8・・・絶縁性フィルム、8a・・・ポリイ
ミドフィルム、8 b−m着剤層、10・・・加圧・加
熱治具 第3図 (A) (B) 第4図 (A) (B) 八′ 第7図 第8図 第9図 ン
性フィルムを貼り合わせる、従来の絶縁性フィルムの貼
り付は工程を説明する図、同図(B)は本発明の一実施
例を示し、絶縁性フィルムを貼り合わせた後にリードフ
レームをデイプレスするようにした絶縁性フィルムの貼
り付は工程を説明する図、第2図(A)〜(D)はそれ
ぞれ本発明の実施例に用いられる絶縁性フィルムの貼り
付は工程の概略を示す部分断面図、第3図は本発明によ
り製造されるリードフレームの概略を示し、(A)はそ
の平面図、 (B)は(A)における■B−mB線に沿
う断面図、第4図はこの実施例のリードフレームを作製
する前の段階にあるリードフレームと絶縁性フィルムの
概略を示し、 (A)はその部分平面図、 (B)は(
A)におけるIVB−rVB断面図、第5図及び第6図
は、それぞれ前記実施例のリードフレームを用いて製造
した半導体装置の要部を示す概略説明図、第7図及び第
8図は、それぞれ従来のリードフレーム1構成単位を示
す平面図、第9図は、従来のリードフレームを用いて製
造した半導体装置の要部を示す概略説明図である。 A、A′ ・・・リードフレーム、 1・・・ダイパッ
ド、 2・・・インナーリード、 3・・アウターリー
ド、4半導体素子・ 5・ 5A、 5B・・・ワイヤ
、 6・・・中間ノくラド、7・・・インナーリード固
定テープ、8・・・絶縁性フィルム、8a・・・ポリイ
ミドフィルム、8 b−m着剤層、10・・・加圧・加
熱治具 第3図 (A) (B) 第4図 (A) (B) 八′ 第7図 第8図 第9図 ン
Claims (1)
- (1)独立電極が形成された絶縁フィルムまたは絶縁基
板をリードフレームのダイパッドに、接着剤を用いて貼
り合わせるようになっている半導体素子用リードフレー
ムの製造方法であって、リードフレームのインナーリー
ドを固定テープによりテーピングする工程と、絶縁フィ
ルムまたは絶縁基板をリードフレームのダイパッド上に
貼り合わさせる工程と、絶縁フィルムまたは絶縁基板が
リードフレームのダイパッド上に貼り合わされたリード
フレームをデイプレスする工程とから少なくともなるこ
とを特徴とする半導体素子用リードフレームの製造方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2206432A JPH0496263A (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | 半導体素子用リードフレームの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2206432A JPH0496263A (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | 半導体素子用リードフレームの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0496263A true JPH0496263A (ja) | 1992-03-27 |
Family
ID=16523281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2206432A Pending JPH0496263A (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | 半導体素子用リードフレームの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0496263A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006091032A1 (en) * | 2005-02-23 | 2006-08-31 | Lg Micron Ltd. | Lead frame |
-
1990
- 1990-08-03 JP JP2206432A patent/JPH0496263A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006091032A1 (en) * | 2005-02-23 | 2006-08-31 | Lg Micron Ltd. | Lead frame |
| US8072054B2 (en) | 2005-02-23 | 2011-12-06 | Lg Micron Ltd. | Lead frame |
| US8198711B2 (en) | 2005-02-23 | 2012-06-12 | Lg Micron Ltd. | Lead frame |
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