JPH0497492A - Coordinate calculating device for printed circuit board tester - Google Patents

Coordinate calculating device for printed circuit board tester

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JPH0497492A
JPH0497492A JP2215523A JP21552390A JPH0497492A JP H0497492 A JPH0497492 A JP H0497492A JP 2215523 A JP2215523 A JP 2215523A JP 21552390 A JP21552390 A JP 21552390A JP H0497492 A JPH0497492 A JP H0497492A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tester
circular electrode
pattern
data
circuit board
Prior art date
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Pending
Application number
JP2215523A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Tomota
友田 洋
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To calculate a circular electrode coordinate for a tester easily by calculating the circular electrode coordinate for the tester from the data of a graphic element constituting the contour lines of a wiring pattern on a printed circuit board. CONSTITUTION:A pattern graphic changing part 3 for changing into the contour data of a fixed direction showing each wiring pattern from inputted pattern data and a circular electrode extracting part 4 for calculating the circular electrode coordinate for the tester from changed data are provided. And, a data changing part 5 for the tester for changing the calculated circular electrode coordinate for the tester into a format which the tester can read out, and a data output device 6 for outputting the prepared coordinate for the tester by a magnetic tape and the like are provided. And the circular electrode coordinate for the tester is calculated from the data of the graphic element constituting the contour lines of the wiring pattern on the printed board. That is, with regard to the coordinate for the printed circuit board tester, without using an exclusive CAD, data which is not added attribute information to the circle electrode for the tester are considered as an input. Thus, it is possible to output the coordinate for the tester automatically.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプリント基板テスター用座標算出装置に関し、
特に例えば一般の機械製図用CAD(Computer
  Aided  Design)システムなどを用い
て作成されたプリント基板の配線パターンを表すデータ
から自動的に図形を解釈してテスター用の円電極座標を
算出するプリント基板テスター用座標算出装置に関する
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a coordinate calculation device for a printed circuit board tester,
In particular, for example, general mechanical drawing CAD (Computer
The present invention relates to a coordinate calculation device for a printed circuit board tester that automatically interprets a figure from data representing a wiring pattern of a printed circuit board created using an aided design system or the like to calculate circular electrode coordinates for the tester.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、プリント基板の配線パターンの設計ではコンピュ
ータを用いたプリント基板専用のCADシステムが考え
られており、このシステムによって作成されたプリント
基板の配線パターンデータは、システム特有な属性デー
タが付加されており、その特有な属性データを用いるこ
とにより、自動的にテスター用の円電極座標を算出して
いた。
Conventionally, when designing printed circuit board wiring patterns, a computer-based CAD system dedicated to printed circuit boards has been considered, and the printed circuit board wiring pattern data created by this system has attribute data unique to the system added. By using the unique attribute data, the circular electrode coordinates for the tester were automatically calculated.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、上記した従来のプリント基板専用CADシステ
ムでは、そのシステムでプリント基板の配線パターンの
設計を最初から行って特有な属性データの付加されてい
るデータを作成しなくてはならず、一般的な機械製図用
CADシステムで作成されたプリント基板の配線パタニ
ンの図形要素(線分、円弧)のみのデータ、あるいは、
手書きされたパターンの輪郭線の図面をスキャナーを用
いてコンピュータに図形データとして入力された図形要
素(線分、円弧)のみのデータからは、自動的にテスタ
ー用の円電極座標を算出できないという問題点があった
However, in the conventional printed circuit board dedicated CAD system described above, the system must design the wiring pattern of the printed circuit board from the beginning and create data with specific attribute data added. Data of only the graphical elements (line segments, arcs) of the printed circuit board wiring pattern created with a mechanical drafting CAD system, or
The problem is that the circular electrode coordinates for the tester cannot be automatically calculated from the data of only graphical elements (line segments, arcs) inputted as graphical data into a computer using a scanner using a hand-drawn outline drawing of a pattern. There was a point.

本発明の目的は、プリント基板の配線パターンを表す図
形要素のみのデータより、テスター用の円電極座標を算
出する装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an apparatus that calculates the coordinates of a circular electrode for a tester from data of only graphical elements representing a wiring pattern of a printed circuit board.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のプリント基板テスター用座標算出装置は、 プリント基板の電気的検査を行うテスターか検査端子を
圧着するためのプリント基板上の円電極の中心座標を算
出する装置において、 プリント基板上の配線パターンを表す輪郭線を構成する
図形データ(以下、パターンデータと称し、パターンデ
ータを構成している図形要素をパターン構成線と称す)
を一定回転方向に並びかえるパターン図形変更部と、 パターン構成線の中からパターンデータと同じ回転方向
を持つ円弧(以下、円電極候補円弧と称す)を抽出する
円電極候補円弧抽出手段と、円電極候補円弧の円弧と中
心による扇形内に他のパターン構成線が入らないかを調
べる第1チェック手段と、円電極候補円弧の中心を中心
とするテスター用の円電極となりうる最小半径の円と、
1つのパターンを表す全てのパターン構成線と交わるか
を調べる第2チェック手段とを用い、テスター用の円電
極の座標を抽出する円電極抽出部とを備え、 プリント基板上の配線パターンの輪郭線を構成する図形
要素のデータよリテスター用の円電極座標を算出して構
成される。
The coordinate calculation device for a printed circuit board tester of the present invention is a tester for electrically inspecting a printed circuit board, or a device for calculating the center coordinates of a circular electrode on a printed circuit board for crimping a test terminal, and includes a wiring pattern on a printed circuit board. (hereinafter referred to as pattern data, and the graphic elements that constitute the pattern data are referred to as pattern configuration lines)
a pattern figure changing unit that rearranges the patterns in a certain rotational direction; a circular electrode candidate arc extraction unit that extracts an arc having the same rotational direction as the pattern data (hereinafter referred to as a circular electrode candidate arc) from among the pattern configuration lines; A first checking means for checking whether any other pattern constituent line falls within the fan shape formed by the arc and center of the electrode candidate arc, and a circle with the minimum radius that can be a circular electrode for a tester centered on the center of the circular electrode candidate arc. ,
and a circular electrode extracting unit that extracts the coordinates of a circular electrode for a tester by using a second checking means to check whether the line intersects with all the pattern constituent lines representing one pattern. It is constructed by calculating the circular electrode coordinates for the retester from the data of the graphical elements that make up the .

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は本発明に関連するプリント基板配線パターンの説
明図、第3図は本発明に関連するパターン図形変更の説
明図、第4図は本発明に関連する円電極候補円弧抽出手
段の説明図、第5図は本発明に関連する第1チェック手
段の説明図、第6図は本発明に関連する第2チェック手
段の説明図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of a printed circuit board wiring pattern related to the present invention, and FIG. 3 is an explanatory diagram of pattern shape change related to the present invention. FIG. 4 is an explanatory diagram of the circular electrode candidate arc extraction means related to the present invention, FIG. 5 is an explanatory diagram of the first check means related to the present invention, and FIG. 6 is an explanatory diagram of the second check means related to the present invention. It is an explanatory diagram.

第1図において、1は中央処理装置(CPU)と主記憶
装置とを備えた装置であって、予め決められた命令を逐
次フェッチして実行する処理装置である。また2は磁気
テープ等に出力されている一般的な機械製図用CADに
よって作成されたプリント基板配線パターンの図形デー
タまたは、スキャナーによって読み込まれたプリント基
板配線パターンの図形データを読み込むデータ入力装置
、3は入力されたパターンデータより個々の配線パター
ンを表す一定方向のに輪郭データに変更するパターン図
形変更部、4は変更されたデータよリテスター用円電極
座標を算出する円電極抽出部、5は算出されたテスター
用円電極座標をテスターが読み取れる様な書式に変更す
るテスター用データ変更部、6は作成されたテスター用
座標を磁気テープ等に出力するデータ出力装置を示す。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a device including a central processing unit (CPU) and a main memory, and is a processing device that sequentially fetches and executes predetermined instructions. Further, 2 is a data input device for reading graphic data of a printed circuit board wiring pattern created by a general mechanical drafting CAD output on a magnetic tape or the like or graphic data of a printed circuit board wiring pattern read by a scanner; 4 is a pattern shape changing unit that changes the input pattern data to contour data in a certain direction representing each wiring pattern; 4 is a circular electrode extracting unit that calculates circular electrode coordinates for the retester from the changed data; 5 is a calculation unit A tester data changing unit changes the tester circular electrode coordinates into a format readable by the tester, and 6 indicates a data output device that outputs the created tester coordinates onto a magnetic tape or the like.

第2図は、本発明が扱うプリント基板の配線パターンを
説明する一例であり、21.26がそれぞれ個々の配線
パターンであり、個々の配線パターンには主にテスター
用円電極23、また24、25.26はスルーホール部
分24〜26、部品取り付はパッド27なとの部分が含
まれている。
FIG. 2 is an example for explaining the wiring pattern of a printed circuit board handled by the present invention, in which 21 and 26 are individual wiring patterns, and each wiring pattern mainly includes a tester circular electrode 23, 24, Reference numerals 25 and 26 include through-hole portions 24 to 26 and pads 27 for mounting components.

次に動作を説明する。Next, the operation will be explained.

磁気テープ等に出力されている一般的な機械製図用CA
Dによって作成されたプリント基板配線パターンの輪郭
を表す線分や、円弧などの幾何図形要素のみのデータ(
パターン構成線の集合体)または、スキャナーによって
読み込まれたパターン構成線の集合体をデータ入力装置
により処理装置に読み込む。
General mechanical drawing CA output on magnetic tape, etc.
Data of only geometric elements such as line segments and arcs representing the outline of the printed circuit board wiring pattern created by D (
A data input device reads a collection of pattern construction lines) or a collection of pattern construction lines read by a scanner into a processing device.

次に読み込まれたパターン構成線の集合体をパターン図
形編修部を用い、各構成線でつなげられるものはつなげ
、個々の配線パターンの輪郭を示す環状の連続線(以下
、個別パターン環状線と称す)にする。
Next, using the pattern figure editing section, the read collection of pattern configuration lines is connected to each component line to form a circular continuous line (hereinafter referred to as an individual pattern circular line) that shows the outline of each wiring pattern. ).

そして、求められた個別パターン環状線の包絡関係を調
べ、第3図の32のように奇数(2n十1)個の個別パ
ターン環状線に囲まれている他の個別パターン環状線と
、第3図の31のようにそれを囲んでいる偶数(2n 
(Oを含む))個の個別パターン環状線に囲まれている
他の個別パターン環状線とを順次組合せることにより、
1つの配線パターンを表す個別パターン環状線の組合せ
をつくる(以下、パターン線と称す)。これと同時に偶
数の個別パターン環状線に囲まれている全ての個別パタ
ーン環状線を一定回転方向A(あらかじめ定められた時
計方向または反時計方向のうちいずれか一方の回転方向
)になるように個別パターン環状線のパターン構成線の
向きを直す。また奇数個の個別パターン環状線に囲まれ
ている個別パターン環状線をAと逆の回転方向になるよ
うに個別パターン環状線のパターン構成線の向きを直す
Then, the envelope relationship of the obtained individual pattern annular lines is examined, and other individual pattern annular lines surrounded by an odd number (2n11) of individual pattern annular lines, such as 32 in FIG. Even numbers (2n
By sequentially combining other individual pattern circular lines surrounded by (including O) individual pattern circular lines,
A combination of individual pattern circular lines representing one wiring pattern is created (hereinafter referred to as a pattern line). At the same time, all the individual pattern circular lines surrounded by an even number of individual pattern circular lines are individually rotated in a fixed rotation direction A (either a predetermined clockwise or counterclockwise rotation direction). Correct the direction of the pattern constituent lines of the pattern circular line. Further, the direction of the pattern constituent lines of the individual pattern annular lines is changed so that the individual pattern annular lines surrounded by an odd number of individual pattern annular lines are rotated in the opposite direction to A.

次に円電極抽出部により、1つのプリント基板を構成す
る複数のパターン線から、1つのパターン線ごとに次の
ように処理を行いテスター用円電極の座標を求めて行く
。任意の1つのパターン線に着目したとき、そのパター
ン構成線より、第4図の41〜45の様に回転方向Aと
同じ向きの円弧(円電極候補円弧)を抽出する(円電極
候補抽出手段)。
Next, the circular electrode extraction section performs the following processing for each pattern line from the plurality of pattern lines constituting one printed circuit board to obtain the coordinates of the tester circular electrode. When focusing on an arbitrary pattern line, circular arcs (circular electrode candidate circular arcs) in the same direction as the rotational direction A are extracted from the pattern constituent lines (circular electrode candidate circular arcs) as shown in 41 to 45 in FIG. ).

次に抽出された複数個の円電極候補円弧のそれぞれの円
弧について、第5図の51〜55のようにその円弧の中
心とその円弧の始点と終点以外のその円弧の点を結んだ
補助線分とその円弧以外のパターン線のパターン構成線
との交点(第5図の56〜58)がないか調べる(これ
を第一チェック手段とする)。そして、交点のあった円
電極候補円弧は、候補から削除する。
Next, for each of the extracted plurality of circular electrode candidate arcs, an auxiliary line connecting the center of the arc and points of the arc other than the starting point and the ending point, as shown in 51 to 55 in Fig. 5. It is checked whether there are any intersections (56 to 58 in FIG. 5) between the minute and the pattern line of the pattern line other than the circular arc (this is used as the first checking means). Then, the circular electrode candidate arcs that have intersections are deleted from the candidates.

次に残っている円電極候補円弧の中心に第6図の61.
62のように円電極となりつる最小半径の補助内を想定
し、その想定した円とパターン線のパターン構成線と交
点があるか調べる(これを第2チェック手段とする)。
Next, place 61 in FIG. 6 at the center of the remaining circular electrode candidate arc.
As shown in 62, it is assumed that the circle is within the minimum radius that can be used as a circular electrode, and it is checked whether there is an intersection between the assumed circle and the pattern line of the pattern line (this is used as the second checking means).

そして、第6図の63.64のような交点のあった円電
極候補円弧は、候補から削除する。ここで残った円電極
候補円弧の中心がテスター用の円電極座標(第6図の6
5)として記憶される。
Then, circular electrode candidate arcs having intersection points such as 63 and 64 in FIG. 6 are deleted from the candidates. The center of the remaining circular electrode candidate arc is the circular electrode coordinate for the tester (6 in Figure 6).
5).

最後にテスター用データ変更部で、算出されたテスター
用円電極座標をまとめ、テスターに入力できるような書
式に座標を変更し、データ出力装置により磁気テープ等
にテスター用座標データを出力する。
Finally, the tester data changing section summarizes the calculated tester circular electrode coordinates, changes the coordinates into a format that can be input into the tester, and outputs the tester coordinate data to a magnetic tape or the like using a data output device.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、プリント基板テスター用
座標を、専用のCADを使用せずに、特にテスター用円
電極などに属性情報を付加していないデータを入力とし
ているので、一般の機械製図CADシステムで入力され
たプリント基板配線パターンや、スキャナーなどで読み
込んだプリント基板配線パターンの幾何図形データのみ
のデータから自動的にテスター用座標を出力できるとい
う効果がある。
As explained above, the present invention inputs the coordinates for the printed circuit board tester without using a dedicated CAD, and inputs data without attribute information added to the tester circular electrode, etc. This has the advantage that tester coordinates can be automatically output from the printed circuit board wiring pattern input using a CAD system or only the geometric figure data of the printed circuit board wiring pattern read using a scanner or the like.

このことは、プリント基板配線パターンを設計する方法
にあまり影響されず、テスター用座標データが作成でき
る。
This means that the coordinate data for the tester can be created without being affected much by the method of designing the printed circuit board wiring pattern.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は本発明に関連するプリント基板配線パターンの説
明図、第3図は本発明に関連するパターン図形編修の説
明図、第4図は本発明に関連する円電極候補円弧抽出手
段を説明する図、第5図は本発明に関連する第1チェッ
ク手段を説明する図、第6図は本発明に関連する第2チ
ェック手段を説明する図である。 1・・・処理装置、2・・・データ入力装置、3・・・
パターン変更部、4・・・円電極座標抽出部、5・・・
テスター用データ変更部、6・・・データ出力装置。 21.22・・・配線パターン、23・・・テスター用
円電極、24〜26・・・スルホール部分、27・・・
部品用パッド、3L  32・・・個別パターン環状線
、41〜45・・・円電極候補円、51〜55・・・補
助線分、56〜58・・・交点、61.62・・・補助
用、63.64・・・交点、65・・・テスター用座標
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of a printed circuit board wiring pattern related to the present invention, and FIG. 3 is an explanatory diagram of pattern graphic editing related to the present invention. FIG. 4 is a diagram explaining the circular electrode candidate circular extraction means related to the present invention, FIG. 5 is a diagram explaining the first check means related to the present invention, and FIG. 6 is a diagram explaining the second check related to the present invention. It is a figure explaining a means. 1... Processing device, 2... Data input device, 3...
Pattern changing section, 4...Circular electrode coordinate extraction section, 5...
Data changing unit for tester, 6... data output device. 21.22...Wiring pattern, 23...Circular electrode for tester, 24-26...Through hole part, 27...
Component pad, 3L 32...Individual pattern circular line, 41-45...Circular electrode candidate circle, 51-55...Auxiliary line segment, 56-58...Intersection, 61.62...Auxiliary for, 63.64...intersection, 65...coordinates for tester.

Claims (1)

【特許請求の範囲】  プリント基板の電気的検査を行うテスターが検査端子
を圧着するためのプリント基板上の円電極の中心座標を
算出する装置において、 プリント基板上の配線パターンを表す輪郭線を構成する
図形データ(以下、パターンデータと称し、パターンデ
ータを構成している図形要素をパターン構成線と称す)
を一定回転方向に並びかえるパターン図形変更部と、 パターン構成線の中からパターンデータと同じ回転方向
を持つ円弧(以下、円電極候補円弧と称す)を抽出する
円電極候補円弧抽出手段と、円電極候補円弧の円弧と中
心による扇形内に他のパターン構成線が入らないかを調
べる第1チェック手段と、円電極候補円弧の中心を中心
とするテスター用の円電極となりうる最小半径の円と、
1つのパターンを表す全てのパターン構成線と交わるか
を調べる第2チェック手段とを用い、テスター用の円電
極の座標を抽出する円電極抽出部とを備え、プリント基
板上の配線パターンの輪郭線を構成する図形要素のデー
タよリテスター用の円電極座標を算出して成ることを特
徴とするプリント基板テスター用座標算出装置。
[Scope of Claim] A device for calculating the center coordinates of a circular electrode on a printed circuit board for crimping a test terminal by a tester that conducts an electrical test of the printed circuit board, comprising: a contour line representing a wiring pattern on the printed circuit board; (hereinafter referred to as pattern data, and the graphic elements that make up the pattern data are referred to as pattern configuration lines)
a pattern figure changing unit that rearranges the patterns in a certain rotational direction; a circular electrode candidate arc extraction unit that extracts an arc having the same rotational direction as the pattern data (hereinafter referred to as a circular electrode candidate arc) from among the pattern configuration lines; A first checking means for checking whether any other pattern constituent line falls within the fan shape formed by the arc and center of the electrode candidate arc, and a circle with the minimum radius that can be a circular electrode for a tester centered on the center of the circular electrode candidate arc. ,
and a circular electrode extraction unit that extracts the coordinates of a circular electrode for a tester by using a second checking means to check whether it intersects with all pattern constituent lines representing one pattern, and a circular electrode extraction unit that extracts the coordinates of a circular electrode for a tester. 1. A coordinate calculation device for a printed circuit board tester, characterized in that the coordinate calculation device is configured to calculate circular electrode coordinates for a retester from data of graphical elements constituting the circuit board.
JP2215523A 1990-08-15 1990-08-15 Coordinate calculating device for printed circuit board tester Pending JPH0497492A (en)

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