JPH0497492A - プリント基板テスター用座標算出装置 - Google Patents
プリント基板テスター用座標算出装置Info
- Publication number
- JPH0497492A JPH0497492A JP2215523A JP21552390A JPH0497492A JP H0497492 A JPH0497492 A JP H0497492A JP 2215523 A JP2215523 A JP 2215523A JP 21552390 A JP21552390 A JP 21552390A JP H0497492 A JPH0497492 A JP H0497492A
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- Japan
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- tester
- circular electrode
- pattern
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- circuit board
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- Pending
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 8
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 7
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 5
- 238000002788 crimping Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 241000417436 Arcotheres Species 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はプリント基板テスター用座標算出装置に関し、
特に例えば一般の機械製図用ＣＡＤ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ
Ａｉｄｅｄ Ｄｅｓｉｇｎ）システムなどを用い
て作成されたプリント基板の配線パターンを表すデータ
から自動的に図形を解釈してテスター用の円電極座標を
算出するプリント基板テスター用座標算出装置に関する
。
特に例えば一般の機械製図用ＣＡＤ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ
Ａｉｄｅｄ Ｄｅｓｉｇｎ）システムなどを用い
て作成されたプリント基板の配線パターンを表すデータ
から自動的に図形を解釈してテスター用の円電極座標を
算出するプリント基板テスター用座標算出装置に関する
。
従来、プリント基板の配線パターンの設計ではコンピュ
ータを用いたプリント基板専用のＣＡＤシステムが考え
られており、このシステムによって作成されたプリント
基板の配線パターンデータは、システム特有な属性デー
タが付加されており、その特有な属性データを用いるこ
とにより、自動的にテスター用の円電極座標を算出して
いた。
ータを用いたプリント基板専用のＣＡＤシステムが考え
られており、このシステムによって作成されたプリント
基板の配線パターンデータは、システム特有な属性デー
タが付加されており、その特有な属性データを用いるこ
とにより、自動的にテスター用の円電極座標を算出して
いた。
しかし、上記した従来のプリント基板専用ＣＡＤシステ
ムでは、そのシステムでプリント基板の配線パターンの
設計を最初から行って特有な属性データの付加されてい
るデータを作成しなくてはならず、一般的な機械製図用
ＣＡＤシステムで作成されたプリント基板の配線パタニ
ンの図形要素（線分、円弧）のみのデータ、あるいは、
手書きされたパターンの輪郭線の図面をスキャナーを用
いてコンピュータに図形データとして入力された図形要
素（線分、円弧）のみのデータからは、自動的にテスタ
ー用の円電極座標を算出できないという問題点があった
。
ムでは、そのシステムでプリント基板の配線パターンの
設計を最初から行って特有な属性データの付加されてい
るデータを作成しなくてはならず、一般的な機械製図用
ＣＡＤシステムで作成されたプリント基板の配線パタニ
ンの図形要素（線分、円弧）のみのデータ、あるいは、
手書きされたパターンの輪郭線の図面をスキャナーを用
いてコンピュータに図形データとして入力された図形要
素（線分、円弧）のみのデータからは、自動的にテスタ
ー用の円電極座標を算出できないという問題点があった
。
本発明の目的は、プリント基板の配線パターンを表す図
形要素のみのデータより、テスター用の円電極座標を算
出する装置を提供することにある。
形要素のみのデータより、テスター用の円電極座標を算
出する装置を提供することにある。
本発明のプリント基板テスター用座標算出装置は、
プリント基板の電気的検査を行うテスターか検査端子を
圧着するためのプリント基板上の円電極の中心座標を算
出する装置において、 プリント基板上の配線パターンを表す輪郭線を構成する
図形データ（以下、パターンデータと称し、パターンデ
ータを構成している図形要素をパターン構成線と称す）
を一定回転方向に並びかえるパターン図形変更部と、 パターン構成線の中からパターンデータと同じ回転方向
を持つ円弧（以下、円電極候補円弧と称す）を抽出する
円電極候補円弧抽出手段と、円電極候補円弧の円弧と中
心による扇形内に他のパターン構成線が入らないかを調
べる第１チェック手段と、円電極候補円弧の中心を中心
とするテスター用の円電極となりうる最小半径の円と、
１つのパターンを表す全てのパターン構成線と交わるか
を調べる第２チェック手段とを用い、テスター用の円電
極の座標を抽出する円電極抽出部とを備え、 プリント基板上の配線パターンの輪郭線を構成する図形
要素のデータよリテスター用の円電極座標を算出して構
成される。
圧着するためのプリント基板上の円電極の中心座標を算
出する装置において、 プリント基板上の配線パターンを表す輪郭線を構成する
図形データ（以下、パターンデータと称し、パターンデ
ータを構成している図形要素をパターン構成線と称す）
を一定回転方向に並びかえるパターン図形変更部と、 パターン構成線の中からパターンデータと同じ回転方向
を持つ円弧（以下、円電極候補円弧と称す）を抽出する
円電極候補円弧抽出手段と、円電極候補円弧の円弧と中
心による扇形内に他のパターン構成線が入らないかを調
べる第１チェック手段と、円電極候補円弧の中心を中心
とするテスター用の円電極となりうる最小半径の円と、
１つのパターンを表す全てのパターン構成線と交わるか
を調べる第２チェック手段とを用い、テスター用の円電
極の座標を抽出する円電極抽出部とを備え、 プリント基板上の配線パターンの輪郭線を構成する図形
要素のデータよリテスター用の円電極座標を算出して構
成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は本発明に関連するプリント基板配線パターンの説
明図、第３図は本発明に関連するパターン図形変更の説
明図、第４図は本発明に関連する円電極候補円弧抽出手
段の説明図、第５図は本発明に関連する第１チェック手
段の説明図、第６図は本発明に関連する第２チェック手
段の説明図である。
２図は本発明に関連するプリント基板配線パターンの説
明図、第３図は本発明に関連するパターン図形変更の説
明図、第４図は本発明に関連する円電極候補円弧抽出手
段の説明図、第５図は本発明に関連する第１チェック手
段の説明図、第６図は本発明に関連する第２チェック手
段の説明図である。
第１図において、１は中央処理装置（ＣＰＵ）と主記憶
装置とを備えた装置であって、予め決められた命令を逐
次フェッチして実行する処理装置である。また２は磁気
テープ等に出力されている一般的な機械製図用ＣＡＤに
よって作成されたプリント基板配線パターンの図形デー
タまたは、スキャナーによって読み込まれたプリント基
板配線パターンの図形データを読み込むデータ入力装置
、３は入力されたパターンデータより個々の配線パター
ンを表す一定方向のに輪郭データに変更するパターン図
形変更部、４は変更されたデータよリテスター用円電極
座標を算出する円電極抽出部、５は算出されたテスター
用円電極座標をテスターが読み取れる様な書式に変更す
るテスター用データ変更部、６は作成されたテスター用
座標を磁気テープ等に出力するデータ出力装置を示す。
装置とを備えた装置であって、予め決められた命令を逐
次フェッチして実行する処理装置である。また２は磁気
テープ等に出力されている一般的な機械製図用ＣＡＤに
よって作成されたプリント基板配線パターンの図形デー
タまたは、スキャナーによって読み込まれたプリント基
板配線パターンの図形データを読み込むデータ入力装置
、３は入力されたパターンデータより個々の配線パター
ンを表す一定方向のに輪郭データに変更するパターン図
形変更部、４は変更されたデータよリテスター用円電極
座標を算出する円電極抽出部、５は算出されたテスター
用円電極座標をテスターが読み取れる様な書式に変更す
るテスター用データ変更部、６は作成されたテスター用
座標を磁気テープ等に出力するデータ出力装置を示す。
第２図は、本発明が扱うプリント基板の配線パターンを
説明する一例であり、２１．２６がそれぞれ個々の配線
パターンであり、個々の配線パターンには主にテスター
用円電極２３、また２４、２５．２６はスルーホール部
分２４〜２６、部品取り付はパッド２７なとの部分が含
まれている。
説明する一例であり、２１．２６がそれぞれ個々の配線
パターンであり、個々の配線パターンには主にテスター
用円電極２３、また２４、２５．２６はスルーホール部
分２４〜２６、部品取り付はパッド２７なとの部分が含
まれている。
次に動作を説明する。
磁気テープ等に出力されている一般的な機械製図用ＣＡ
Ｄによって作成されたプリント基板配線パターンの輪郭
を表す線分や、円弧などの幾何図形要素のみのデータ（
パターン構成線の集合体）または、スキャナーによって
読み込まれたパターン構成線の集合体をデータ入力装置
により処理装置に読み込む。
Ｄによって作成されたプリント基板配線パターンの輪郭
を表す線分や、円弧などの幾何図形要素のみのデータ（
パターン構成線の集合体）または、スキャナーによって
読み込まれたパターン構成線の集合体をデータ入力装置
により処理装置に読み込む。
次に読み込まれたパターン構成線の集合体をパターン図
形編修部を用い、各構成線でつなげられるものはつなげ
、個々の配線パターンの輪郭を示す環状の連続線（以下
、個別パターン環状線と称す）にする。
形編修部を用い、各構成線でつなげられるものはつなげ
、個々の配線パターンの輪郭を示す環状の連続線（以下
、個別パターン環状線と称す）にする。
そして、求められた個別パターン環状線の包絡関係を調
べ、第３図の３２のように奇数（２ｎ十１）個の個別パ
ターン環状線に囲まれている他の個別パターン環状線と
、第３図の３１のようにそれを囲んでいる偶数（２ｎ
（Ｏを含む））個の個別パターン環状線に囲まれている
他の個別パターン環状線とを順次組合せることにより、
１つの配線パターンを表す個別パターン環状線の組合せ
をつくる（以下、パターン線と称す）。これと同時に偶
数の個別パターン環状線に囲まれている全ての個別パタ
ーン環状線を一定回転方向Ａ（あらかじめ定められた時
計方向または反時計方向のうちいずれか一方の回転方向
）になるように個別パターン環状線のパターン構成線の
向きを直す。また奇数個の個別パターン環状線に囲まれ
ている個別パターン環状線をＡと逆の回転方向になるよ
うに個別パターン環状線のパターン構成線の向きを直す
。
べ、第３図の３２のように奇数（２ｎ十１）個の個別パ
ターン環状線に囲まれている他の個別パターン環状線と
、第３図の３１のようにそれを囲んでいる偶数（２ｎ
（Ｏを含む））個の個別パターン環状線に囲まれている
他の個別パターン環状線とを順次組合せることにより、
１つの配線パターンを表す個別パターン環状線の組合せ
をつくる（以下、パターン線と称す）。これと同時に偶
数の個別パターン環状線に囲まれている全ての個別パタ
ーン環状線を一定回転方向Ａ（あらかじめ定められた時
計方向または反時計方向のうちいずれか一方の回転方向
）になるように個別パターン環状線のパターン構成線の
向きを直す。また奇数個の個別パターン環状線に囲まれ
ている個別パターン環状線をＡと逆の回転方向になるよ
うに個別パターン環状線のパターン構成線の向きを直す
。
次に円電極抽出部により、１つのプリント基板を構成す
る複数のパターン線から、１つのパターン線ごとに次の
ように処理を行いテスター用円電極の座標を求めて行く
。任意の１つのパターン線に着目したとき、そのパター
ン構成線より、第４図の４１〜４５の様に回転方向Ａと
同じ向きの円弧（円電極候補円弧）を抽出する（円電極
候補抽出手段）。
る複数のパターン線から、１つのパターン線ごとに次の
ように処理を行いテスター用円電極の座標を求めて行く
。任意の１つのパターン線に着目したとき、そのパター
ン構成線より、第４図の４１〜４５の様に回転方向Ａと
同じ向きの円弧（円電極候補円弧）を抽出する（円電極
候補抽出手段）。
次に抽出された複数個の円電極候補円弧のそれぞれの円
弧について、第５図の５１〜５５のようにその円弧の中
心とその円弧の始点と終点以外のその円弧の点を結んだ
補助線分とその円弧以外のパターン線のパターン構成線
との交点（第５図の５６〜５８）がないか調べる（これ
を第一チェック手段とする）。そして、交点のあった円
電極候補円弧は、候補から削除する。
弧について、第５図の５１〜５５のようにその円弧の中
心とその円弧の始点と終点以外のその円弧の点を結んだ
補助線分とその円弧以外のパターン線のパターン構成線
との交点（第５図の５６〜５８）がないか調べる（これ
を第一チェック手段とする）。そして、交点のあった円
電極候補円弧は、候補から削除する。
次に残っている円電極候補円弧の中心に第６図の６１．
６２のように円電極となりつる最小半径の補助内を想定
し、その想定した円とパターン線のパターン構成線と交
点があるか調べる（これを第２チェック手段とする）。
６２のように円電極となりつる最小半径の補助内を想定
し、その想定した円とパターン線のパターン構成線と交
点があるか調べる（これを第２チェック手段とする）。
そして、第６図の６３．６４のような交点のあった円電
極候補円弧は、候補から削除する。ここで残った円電極
候補円弧の中心がテスター用の円電極座標（第６図の６
５）として記憶される。
極候補円弧は、候補から削除する。ここで残った円電極
候補円弧の中心がテスター用の円電極座標（第６図の６
５）として記憶される。
最後にテスター用データ変更部で、算出されたテスター
用円電極座標をまとめ、テスターに入力できるような書
式に座標を変更し、データ出力装置により磁気テープ等
にテスター用座標データを出力する。
用円電極座標をまとめ、テスターに入力できるような書
式に座標を変更し、データ出力装置により磁気テープ等
にテスター用座標データを出力する。
以上説明したように本発明は、プリント基板テスター用
座標を、専用のＣＡＤを使用せずに、特にテスター用円
電極などに属性情報を付加していないデータを入力とし
ているので、一般の機械製図ＣＡＤシステムで入力され
たプリント基板配線パターンや、スキャナーなどで読み
込んだプリント基板配線パターンの幾何図形データのみ
のデータから自動的にテスター用座標を出力できるとい
う効果がある。
座標を、専用のＣＡＤを使用せずに、特にテスター用円
電極などに属性情報を付加していないデータを入力とし
ているので、一般の機械製図ＣＡＤシステムで入力され
たプリント基板配線パターンや、スキャナーなどで読み
込んだプリント基板配線パターンの幾何図形データのみ
のデータから自動的にテスター用座標を出力できるとい
う効果がある。
このことは、プリント基板配線パターンを設計する方法
にあまり影響されず、テスター用座標データが作成でき
る。
にあまり影響されず、テスター用座標データが作成でき
る。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は本発明に関連するプリント基板配線パターンの説
明図、第３図は本発明に関連するパターン図形編修の説
明図、第４図は本発明に関連する円電極候補円弧抽出手
段を説明する図、第５図は本発明に関連する第１チェッ
ク手段を説明する図、第６図は本発明に関連する第２チ
ェック手段を説明する図である。 １・・・処理装置、２・・・データ入力装置、３・・・
パターン変更部、４・・・円電極座標抽出部、５・・・
テスター用データ変更部、６・・・データ出力装置。 ２１．２２・・・配線パターン、２３・・・テスター用
円電極、２４〜２６・・・スルホール部分、２７・・・
部品用パッド、３Ｌ ３２・・・個別パターン環状線
、４１〜４５・・・円電極候補円、５１〜５５・・・補
助線分、５６〜５８・・・交点、６１．６２・・・補助
用、６３．６４・・・交点、６５・・・テスター用座標
。
２図は本発明に関連するプリント基板配線パターンの説
明図、第３図は本発明に関連するパターン図形編修の説
明図、第４図は本発明に関連する円電極候補円弧抽出手
段を説明する図、第５図は本発明に関連する第１チェッ
ク手段を説明する図、第６図は本発明に関連する第２チ
ェック手段を説明する図である。 １・・・処理装置、２・・・データ入力装置、３・・・
パターン変更部、４・・・円電極座標抽出部、５・・・
テスター用データ変更部、６・・・データ出力装置。 ２１．２２・・・配線パターン、２３・・・テスター用
円電極、２４〜２６・・・スルホール部分、２７・・・
部品用パッド、３Ｌ ３２・・・個別パターン環状線
、４１〜４５・・・円電極候補円、５１〜５５・・・補
助線分、５６〜５８・・・交点、６１．６２・・・補助
用、６３．６４・・・交点、６５・・・テスター用座標
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 プリント基板の電気的検査を行うテスターが検査端子
を圧着するためのプリント基板上の円電極の中心座標を
算出する装置において、 プリント基板上の配線パターンを表す輪郭線を構成する
図形データ（以下、パターンデータと称し、パターンデ
ータを構成している図形要素をパターン構成線と称す）
を一定回転方向に並びかえるパターン図形変更部と、 パターン構成線の中からパターンデータと同じ回転方向
を持つ円弧（以下、円電極候補円弧と称す）を抽出する
円電極候補円弧抽出手段と、円電極候補円弧の円弧と中
心による扇形内に他のパターン構成線が入らないかを調
べる第１チェック手段と、円電極候補円弧の中心を中心
とするテスター用の円電極となりうる最小半径の円と、
１つのパターンを表す全てのパターン構成線と交わるか
を調べる第２チェック手段とを用い、テスター用の円電
極の座標を抽出する円電極抽出部とを備え、プリント基
板上の配線パターンの輪郭線を構成する図形要素のデー
タよリテスター用の円電極座標を算出して成ることを特
徴とするプリント基板テスター用座標算出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2215523A JPH0497492A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | プリント基板テスター用座標算出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2215523A JPH0497492A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | プリント基板テスター用座標算出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0497492A true JPH0497492A (ja) | 1992-03-30 |
Family
ID=16673833
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2215523A Pending JPH0497492A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | プリント基板テスター用座標算出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0497492A (ja) |
-
1990
- 1990-08-15 JP JP2215523A patent/JPH0497492A/ja active Pending
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