JPH0510879A - ガス検出ネツトワーク - Google Patents
ガス検出ネツトワークInfo
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- JPH0510879A JPH0510879A JP16254491A JP16254491A JPH0510879A JP H0510879 A JPH0510879 A JP H0510879A JP 16254491 A JP16254491 A JP 16254491A JP 16254491 A JP16254491 A JP 16254491A JP H0510879 A JPH0510879 A JP H0510879A
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- Japan
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- optical fiber
- gas
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数の箇所におけるガス検出を簡単な構成の
光学系で実現し、装置規模を低減したガス検出装置を提
供する。 【構成】 ガスの吸光波長に同調させた光源1からの光
を光ファイバー3に入射させる。光ファイバー3と光フ
ァイバー7の間に間隙を設けその間を光が伝播するよう
構成したガス検出部を複数設置する。最終の光ファイバ
ー端面にミラー14を設置する。さらに、光源のモニタ
ー強度と光ファイバーからの出射光の強度との比を演算
し、その変化を検出する判定回路12を設ける。
光学系で実現し、装置規模を低減したガス検出装置を提
供する。 【構成】 ガスの吸光波長に同調させた光源1からの光
を光ファイバー3に入射させる。光ファイバー3と光フ
ァイバー7の間に間隙を設けその間を光が伝播するよう
構成したガス検出部を複数設置する。最終の光ファイバ
ー端面にミラー14を設置する。さらに、光源のモニタ
ー強度と光ファイバーからの出射光の強度との比を演算
し、その変化を検出する判定回路12を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はガスによる光の吸収現
象を利用してガス検出を行うもので、特に光ファイバー
を利用して遠隔で多点測定を行うガス検出ネットワーク
に関するものである。
象を利用してガス検出を行うもので、特に光ファイバー
を利用して遠隔で多点測定を行うガス検出ネットワーク
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、光ファイバーを利用し遠隔でガス
検出を行う装置として、1点の測定箇所を対象としたガ
ス検出装置がある。例えば図8は特開昭60ー9833
4号公報に示された従来のガス検出装置の構成図であ
り、図において71は発光源、72は光結合器、73は
光ファイバー、74は測定セル、74a,74bは測定
セルにに取り付けられた光結合器、75は光ファイバ
ー、76は光結合器、77はビームスプリッター、7
8,80,82,83は各箇所において分岐された光
束、81はビームスプリッター、79,84,85は狭
帯域波長フィルター、86,87,88は光検出器、8
9,90,91は増幅器、92は信号処理回路、93は
表示回路を示す。
検出を行う装置として、1点の測定箇所を対象としたガ
ス検出装置がある。例えば図8は特開昭60ー9833
4号公報に示された従来のガス検出装置の構成図であ
り、図において71は発光源、72は光結合器、73は
光ファイバー、74は測定セル、74a,74bは測定
セルにに取り付けられた光結合器、75は光ファイバ
ー、76は光結合器、77はビームスプリッター、7
8,80,82,83は各箇所において分岐された光
束、81はビームスプリッター、79,84,85は狭
帯域波長フィルター、86,87,88は光検出器、8
9,90,91は増幅器、92は信号処理回路、93は
表示回路を示す。
【0003】次に動作について説明する。光源71から
出た光は、光結合器72を通り光ファイバー73により
伝送されて測定セル74へ送られる。測定セル内に送ら
れた光は光結合器74aを通り、セル空間中を伝番した
後、光結合器74bを経て光伝送路75により伝送され
る。このときセル内に対象ガスがあると伝播した光は吸
収され強度が減少する。光結合器76を透過した光はビ
ームスプリッター7によって2つに分岐される。分岐さ
れた一方の光束78はガスの吸光波長を含む狭帯域波長
フィルター79を通過し光検出器16によって受光され
る。一方、ビームスプリッター77を透過した光束80
はビームスプリッター81によってさらに2つの光束に
分岐される。分岐された1つの光束82は狭帯域波長フ
ィルター79とは波長の異なる同一ガスの吸光波長を透
過中心波長とする狭帯域波長フィルター84を透過し光
検出器87によって受光される。ビームスプリッター8
1を透過した光束83は2つの狭帯域フィルター79,
84と異なりガスによる光の吸収の影響を受けない波長
を透過中心波長とする狭帯域フィルター85を透過し光
検出器88によって受光される。光検出器76,77,
78からの出力信号はそれぞれ増幅器89,90,91
によって増幅され信号処理回路92に入力される。信号
処理回路92では2つの光検出器76,78からの出力
信号の比と2つの光検出器77と光検出器78からの演
算し、それぞれの比の値から検出対象ガスの有無を判定
するもので、この結果を表示回路93に表示する。
出た光は、光結合器72を通り光ファイバー73により
伝送されて測定セル74へ送られる。測定セル内に送ら
れた光は光結合器74aを通り、セル空間中を伝番した
後、光結合器74bを経て光伝送路75により伝送され
る。このときセル内に対象ガスがあると伝播した光は吸
収され強度が減少する。光結合器76を透過した光はビ
ームスプリッター7によって2つに分岐される。分岐さ
れた一方の光束78はガスの吸光波長を含む狭帯域波長
フィルター79を通過し光検出器16によって受光され
る。一方、ビームスプリッター77を透過した光束80
はビームスプリッター81によってさらに2つの光束に
分岐される。分岐された1つの光束82は狭帯域波長フ
ィルター79とは波長の異なる同一ガスの吸光波長を透
過中心波長とする狭帯域波長フィルター84を透過し光
検出器87によって受光される。ビームスプリッター8
1を透過した光束83は2つの狭帯域フィルター79,
84と異なりガスによる光の吸収の影響を受けない波長
を透過中心波長とする狭帯域フィルター85を透過し光
検出器88によって受光される。光検出器76,77,
78からの出力信号はそれぞれ増幅器89,90,91
によって増幅され信号処理回路92に入力される。信号
処理回路92では2つの光検出器76,78からの出力
信号の比と2つの光検出器77と光検出器78からの演
算し、それぞれの比の値から検出対象ガスの有無を判定
するもので、この結果を表示回路93に表示する。
【0004】この種のガス検出装置の測定箇所を1点か
ら多点へ展開する手段として、各測定箇所に上記ガス検
出装置を1台ずつ設置し、各検出装置からの出力を中央
で制御する方式が、もっとも容易に構成可能であると考
えられる。
ら多点へ展開する手段として、各測定箇所に上記ガス検
出装置を1台ずつ設置し、各検出装置からの出力を中央
で制御する方式が、もっとも容易に構成可能であると考
えられる。
【0005】また、多点の測定箇所に対する他のガス検
出手段として、センサとして半導体ガスセンサを用い、
各測定箇所にセンサを設置しこれらの出力を中央にて監
視するガス検出システムがプラント点検システムとして
開発されている。
出手段として、センサとして半導体ガスセンサを用い、
各測定箇所にセンサを設置しこれらの出力を中央にて監
視するガス検出システムがプラント点検システムとして
開発されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来の多点ガス検出装
置は、上記のように構成されていたので、測定箇所が増
大するとともに、センサからの出力信号を伝送する光フ
ァイバー及び信号線の数が膨大となり、システムの規模
が大きくなるとともに、センサからの出力信号をまとめ
るためのコントローラに高機能性が要求され、装置コス
トが増大するという問題点があった。また、半導体セン
サはガスの選択性が悪く、検出対象外のガスにも反応す
ることから、誤動作が多いという問題点があった。
置は、上記のように構成されていたので、測定箇所が増
大するとともに、センサからの出力信号を伝送する光フ
ァイバー及び信号線の数が膨大となり、システムの規模
が大きくなるとともに、センサからの出力信号をまとめ
るためのコントローラに高機能性が要求され、装置コス
トが増大するという問題点があった。また、半導体セン
サはガスの選択性が悪く、検出対象外のガスにも反応す
ることから、誤動作が多いという問題点があった。
【0007】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたもので、複数の測定箇所におけるガス検出を一
本の光ファイバーで実現でき装置構成が簡単なガス検出
ネットワークを得ることを目的とするものである。
なされたもので、複数の測定箇所におけるガス検出を一
本の光ファイバーで実現でき装置構成が簡単なガス検出
ネットワークを得ることを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】第1の発明に係るガス検
出ネットワークは、ガスの吸収波長に同調した光を光フ
ァイバーに入射させる投光手段、測定箇所においてファ
イバー間の間隙を光ビームが透過するよう構成したガス
検出部、各検出部を光ファイバーで連結した光伝送手
段、光ファイバーからの出射光の強度変化を検出する信
号処理手段を備えたものである。
出ネットワークは、ガスの吸収波長に同調した光を光フ
ァイバーに入射させる投光手段、測定箇所においてファ
イバー間の間隙を光ビームが透過するよう構成したガス
検出部、各検出部を光ファイバーで連結した光伝送手
段、光ファイバーからの出射光の強度変化を検出する信
号処理手段を備えたものである。
【0009】また、第2の発明は上記光ファイバーネッ
トワークの最終出射側端面を光が反射できるよう加工
し、入射端面側で投受光可能とした光学手段を備えたも
のである。
トワークの最終出射側端面を光が反射できるよう加工
し、入射端面側で投受光可能とした光学手段を備えたも
のである。
【0010】第3の発明は、上記光ファイバーネットワ
ークにおいて、ガス検出用に周波数変調された光を光フ
ァイバーに入射する投光手段、測定箇所において半導体
センサ等の他のガスセンサを設置し、その出力信号を測
定箇所に対応して周波数変調された光信号に変換後光フ
ァイバーに入射させるセンサ信号入力手段、出射側にお
いて光信号の変調周波数及び強度を分離し検出できる受
光手段を備えたものである。
ークにおいて、ガス検出用に周波数変調された光を光フ
ァイバーに入射する投光手段、測定箇所において半導体
センサ等の他のガスセンサを設置し、その出力信号を測
定箇所に対応して周波数変調された光信号に変換後光フ
ァイバーに入射させるセンサ信号入力手段、出射側にお
いて光信号の変調周波数及び強度を分離し検出できる受
光手段を備えたものである。
【0011】第4の発明は、上記光ファイバーネットワ
ークにおいて、ガスの吸収波長に同調した単色光を光パ
ルスとして光ファイバーに入射させる投光手段、光ファ
イバー入射側で各測定箇所のファイバー端面からの反射
光を受光する受光手段、受光した光パルス列の強度を検
出する信号処理手段を備えたものである。
ークにおいて、ガスの吸収波長に同調した単色光を光パ
ルスとして光ファイバーに入射させる投光手段、光ファ
イバー入射側で各測定箇所のファイバー端面からの反射
光を受光する受光手段、受光した光パルス列の強度を検
出する信号処理手段を備えたものである。
【0012】第5の発明は、上記光ファイバーネットワ
ークにおいて、波長の異なる複数の単色光を各波長に対
応した周波数で変調した後、各光を重畳させてファイバ
ーに入射させる投光手段、ファイバーからの出射光を受
光する受光手段、受光手段からの出力信号を変調周波数
毎に分離し各波長の強度変化を検出する信号処理手段を
備えたものである。
ークにおいて、波長の異なる複数の単色光を各波長に対
応した周波数で変調した後、各光を重畳させてファイバ
ーに入射させる投光手段、ファイバーからの出射光を受
光する受光手段、受光手段からの出力信号を変調周波数
毎に分離し各波長の強度変化を検出する信号処理手段を
備えたものである。
【0013】第6の発明は、上記光ファイバーネットワ
ークにおいて、連続波長を有する白色光をファイバーに
入射させる投光手段、ファイバーからの出射光を波長分
離素子を用いて各波長成分毎に分離し受光する受光手
段、受光手段より得られた出力信号の変化を検出する信
号処理手段を備えたものである。
ークにおいて、連続波長を有する白色光をファイバーに
入射させる投光手段、ファイバーからの出射光を波長分
離素子を用いて各波長成分毎に分離し受光する受光手
段、受光手段より得られた出力信号の変化を検出する信
号処理手段を備えたものである。
【0014】
【作用】第1の発明では、測定箇所において検出対象の
ガスが存在する場合、検出部において光が吸収され、光
ファイバーを透過した光の強度は減少する。
ガスが存在する場合、検出部において光が吸収され、光
ファイバーを透過した光の強度は減少する。
【0015】第2の発明では、入射された光は光ファイ
バーの最終出射端面において反射され、入射光路と同じ
経路を通り、光ファイバーの入射端面から出射される。
このとき、いずれかの検出部において検出対象ガスが存
在する場合、出射光の強度が減少する。
バーの最終出射端面において反射され、入射光路と同じ
経路を通り、光ファイバーの入射端面から出射される。
このとき、いずれかの検出部において検出対象ガスが存
在する場合、出射光の強度が減少する。
【0016】第3の発明では、いずれかの検出部におい
てガスが発生すると、ファイバーを透過した光は、ガス
検出用に変調された光信号の強度のみがガスの濃度に応
じて減少するとともに、測定箇所の位置に対応した周波
数による変調信号が検出される。
てガスが発生すると、ファイバーを透過した光は、ガス
検出用に変調された光信号の強度のみがガスの濃度に応
じて減少するとともに、測定箇所の位置に対応した周波
数による変調信号が検出される。
【0017】第4の発明では、単一の光パルスを光ファ
イバーに入射させると、検出部の光ファイバー端面によ
って一部が反射し、検出部間の距離に対応した間隔をも
つ光パルス列が光ファイバーの入射端から出射される。
検出部でガスが発生すると、発生箇所に対応した光パル
ス以降のパルス強度がガスの濃度に対応して減少する。
イバーに入射させると、検出部の光ファイバー端面によ
って一部が反射し、検出部間の距離に対応した間隔をも
つ光パルス列が光ファイバーの入射端から出射される。
検出部でガスが発生すると、発生箇所に対応した光パル
ス以降のパルス強度がガスの濃度に対応して減少する。
【0018】第5の発明では、ガスが発生すると、光フ
ァイバーを透過した光はガスに対応した波長の光の強度
のみが減少する。
ァイバーを透過した光はガスに対応した波長の光の強度
のみが減少する。
【0019】第6の発明では、ガスが発生すると、光フ
ァイバーを透過した光はガスに対応した波長成分の強度
のみが減少する。
ァイバーを透過した光はガスに対応した波長成分の強度
のみが減少する。
【0020】
実施例1.第1の発明について、その一実施例を図につ
いて説明する。図1は本発明の一実施例の装置構成を示
すもので、図において、1は光源、2はレンズ、3は光
ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集光レンズ、
6は検出箇所を固定するケース、7,8は光ファイバ
ー、9は集光用レンズ、10は光検出器、11は増幅
器、12は受光レベル変化を検出しガスの有無判定を行
う判定回路、100はハーフミラー、101は光検出
器、102は増幅器を示す。
いて説明する。図1は本発明の一実施例の装置構成を示
すもので、図において、1は光源、2はレンズ、3は光
ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集光レンズ、
6は検出箇所を固定するケース、7,8は光ファイバ
ー、9は集光用レンズ、10は光検出器、11は増幅
器、12は受光レベル変化を検出しガスの有無判定を行
う判定回路、100はハーフミラー、101は光検出
器、102は増幅器を示す。
【0021】次に、動作について説明する。ガスの吸光
波長に同調させた単色光源1から出た光はレンズ2を用
いて光ファイバー3の入射端面に絞り込むとともに、ハ
ーフミラー100によって一部分岐し光検出器101で
モニターされる。光ファイバーに入射された光は光ファ
イバー3を伝播し、検出部へ送られる。光ファイバー3
の出射端から出た光はコリメートレンズ4によって平行
ビームに変換され検出部の間隙を伝播した後、集光レン
ズ5によって光ファイバー7の入射端面上に絞り込まれ
る。以降ネットワーク上に設置された複数の検出部にお
いて同様の動作を繰り返し、最終端の光ファイバー8の
出射端から出射される。出射された光は集光レンズ9に
よって光検出器10上に集光される。増幅器11は光検
出器によって光電変換された受光強度信号を増幅し、判
定回路12に入力する。光ファイバーからの透過光強度
はガスの発生がない場合一定レベルを保持するが、検出
部においてガスが発生するとその濃度に応じて受光強度
が減少する。また、光検出器101によって受光された
モニター強度信号は増幅器102によって増幅され判定
回路12に入力される。判定回路12では、光ファイバ
ーの透過光強度とモニター強度との比を演算し、ガスの
発生による演算結果の変化を検知しガス発生の有無を判
定する。
波長に同調させた単色光源1から出た光はレンズ2を用
いて光ファイバー3の入射端面に絞り込むとともに、ハ
ーフミラー100によって一部分岐し光検出器101で
モニターされる。光ファイバーに入射された光は光ファ
イバー3を伝播し、検出部へ送られる。光ファイバー3
の出射端から出た光はコリメートレンズ4によって平行
ビームに変換され検出部の間隙を伝播した後、集光レン
ズ5によって光ファイバー7の入射端面上に絞り込まれ
る。以降ネットワーク上に設置された複数の検出部にお
いて同様の動作を繰り返し、最終端の光ファイバー8の
出射端から出射される。出射された光は集光レンズ9に
よって光検出器10上に集光される。増幅器11は光検
出器によって光電変換された受光強度信号を増幅し、判
定回路12に入力する。光ファイバーからの透過光強度
はガスの発生がない場合一定レベルを保持するが、検出
部においてガスが発生するとその濃度に応じて受光強度
が減少する。また、光検出器101によって受光された
モニター強度信号は増幅器102によって増幅され判定
回路12に入力される。判定回路12では、光ファイバ
ーの透過光強度とモニター強度との比を演算し、ガスの
発生による演算結果の変化を検知しガス発生の有無を判
定する。
【0022】実施例2.第2の発明について、その一実
施例を図について説明する。図2は本発明の一実施例の
装置構成図であり、図において、1は光源、2はレン
ズ、3は光ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集
光レンズ、6は検出箇所を固定するケース、7,8は光
ファイバー、9は集光用レンズ、10は光検出器、11
は増幅器、12は受光レベル変化を検出しガスの有無判
定を行う判定回路、13はハーフミラー、14はミラ
ー、100はハーフミラー、101は光検出器、102
は増幅器を示す。
施例を図について説明する。図2は本発明の一実施例の
装置構成図であり、図において、1は光源、2はレン
ズ、3は光ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集
光レンズ、6は検出箇所を固定するケース、7,8は光
ファイバー、9は集光用レンズ、10は光検出器、11
は増幅器、12は受光レベル変化を検出しガスの有無判
定を行う判定回路、13はハーフミラー、14はミラ
ー、100はハーフミラー、101は光検出器、102
は増幅器を示す。
【0023】次に動作について説明する。ガスの吸光波
長に同調させた単色光源1から出た光をレンズ2を用い
て光ファイバー3の入射端面に絞り込むとともに、ハー
フミラー100によって一部分岐し光検出器101でモ
ニターされる。入射された光は光ファイバー3を伝播
し、検出部に送られる。光ファイバー3の出射端から出
た光はコリメートレンズ4によって平行ビームに変換さ
れ検出部の間隙を伝播し集光レンズ5によって光ファイ
バー7の入射端面上に絞り込まれる。以降ネットワーク
上に設置された各検出部において同様の動作を繰り返
し、最終の光ファイバー8を伝播し出射端に到達する。
出射端にはミラー14が設置されており、伝播してきた
光はここで反射され、同じ光ファイバーを通り入射側に
向かって伝播する。光ファイバー3の入射側から出てき
た光はハーフミラー13によって分岐され、光検出器1
0上に集光される。増幅器11は光検出器によって光電
変換された受光強度信号を増幅し、判定回路12に入力
する。また、光検出器101によって受光されたモニタ
ー強度信号は増幅器102によって増幅され判定回路1
2に入力される。光ファイバーからの透過光強度はガス
の発生がない場合は一定レベルを保持するが、検出部に
おいてガスが発生するとその濃度に応じて受光強度が減
少する。判定回路12では光ファイバーの透過光強度と
モニター強度との比を演算し、ガスの発生による演算結
果の変化を検知しガス発生の有無を判定する。
長に同調させた単色光源1から出た光をレンズ2を用い
て光ファイバー3の入射端面に絞り込むとともに、ハー
フミラー100によって一部分岐し光検出器101でモ
ニターされる。入射された光は光ファイバー3を伝播
し、検出部に送られる。光ファイバー3の出射端から出
た光はコリメートレンズ4によって平行ビームに変換さ
れ検出部の間隙を伝播し集光レンズ5によって光ファイ
バー7の入射端面上に絞り込まれる。以降ネットワーク
上に設置された各検出部において同様の動作を繰り返
し、最終の光ファイバー8を伝播し出射端に到達する。
出射端にはミラー14が設置されており、伝播してきた
光はここで反射され、同じ光ファイバーを通り入射側に
向かって伝播する。光ファイバー3の入射側から出てき
た光はハーフミラー13によって分岐され、光検出器1
0上に集光される。増幅器11は光検出器によって光電
変換された受光強度信号を増幅し、判定回路12に入力
する。また、光検出器101によって受光されたモニタ
ー強度信号は増幅器102によって増幅され判定回路1
2に入力される。光ファイバーからの透過光強度はガス
の発生がない場合は一定レベルを保持するが、検出部に
おいてガスが発生するとその濃度に応じて受光強度が減
少する。判定回路12では光ファイバーの透過光強度と
モニター強度との比を演算し、ガスの発生による演算結
果の変化を検知しガス発生の有無を判定する。
【0024】実施例3.第3の発明に関して、一実施例
を図について説明する。図3は本発明の一実施例の装置
構成図であり、図において、1は光源、2はレンズ、3
は光ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集光レン
ズ、6は検出箇所を固定するケース、7,8は光ファイ
バー、9は集光用レンズ、10は光検出器、11は増幅
器、12は受光レベル変化を検出しガスの有無判定を行
う判定回路、15は光源1を周波数変調する変調回路、
16は半導体ガスセンサ、17はガスセンサ16からの
出力信号を測定箇所の位置に対応した周波数で変調しそ
の出力信号で光源を駆動する駆動回路、18は発光素
子、19は検波回路、20、21、22、23は設定さ
れた周波数で検波した信号のレベルを検出する出力レベ
ル検出回路、100はハーフミラー、101は光検出
器、102は増幅器を示す。
を図について説明する。図3は本発明の一実施例の装置
構成図であり、図において、1は光源、2はレンズ、3
は光ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集光レン
ズ、6は検出箇所を固定するケース、7,8は光ファイ
バー、9は集光用レンズ、10は光検出器、11は増幅
器、12は受光レベル変化を検出しガスの有無判定を行
う判定回路、15は光源1を周波数変調する変調回路、
16は半導体ガスセンサ、17はガスセンサ16からの
出力信号を測定箇所の位置に対応した周波数で変調しそ
の出力信号で光源を駆動する駆動回路、18は発光素
子、19は検波回路、20、21、22、23は設定さ
れた周波数で検波した信号のレベルを検出する出力レベ
ル検出回路、100はハーフミラー、101は光検出
器、102は増幅器を示す。
【0025】次に動作について説明する。変調回路は周
波数f1で光源1からでた光を周波数変調させる。光源
から出た光はレンズ2によって光ファイバー3の入射端
面上に絞り込まれるとともに、ハーフミラー100によ
って一部分岐し光検出器101でモニターされる。光フ
ァイバーに入射された光は光ファイバー3を伝播し、検
出部に送られる。光ファイバー3の出射端から出た光は
コリメートレンズ4によって平行ビームに変換され検出
部の間隙を伝播し集光レンズ5によって光ファイバー7
の入射端面上に絞り込まれる。以降ネットワーク上に設
置された各検出部において同様の動作を繰り返し、最終
の光ファイバー8を伝播し出射端に到達する。検出部に
は半導体ガスセンサなどのガスセンサが並んで設置され
ており、ガスの発生がある場合、半導体ガスセンサ16
は信号を発生する。この出力信号にたいし駆動回路17
は予め設定された周波数f2で変調し、発光素子18を
駆動する。発光素子から出射された光は検出部における
ファイバーの入射端面に入射され、光ファイバー中を伝
播するガス検出用の光に重畳される。各検出部において
同様の半導体ガスセンサが設置されており、検出部の位
置に対応して異なった周波数(f3,・・・,fn)で
変調する。光ファイバーから出射された光はレンズ9に
よって光検出器10上に集光される。光検出器10から
の出力信号は増幅器11によって増幅され、検波器19
に入力される。検波器19は入力された信号を予め設定
した周波数(f1,f2,・・・,fn)で検波し、得
られた各周波数成分を対応するレベル検出回路20,2
1,22,23に出力する。ガス検出用の周波数成分を
検知するレベル検出回路では、得られた信号レベルとモ
ニター強度との比を演算し、その変化からガスの有無を
判定する。一方、半導体ガスセンサの出力信号の変調周
波数成分を検知するレベル検出回路では、各周波数成分
の信号の有無を検知し、出力のある周波数を同定する事
により、ガスの発生位置を検出する。
波数f1で光源1からでた光を周波数変調させる。光源
から出た光はレンズ2によって光ファイバー3の入射端
面上に絞り込まれるとともに、ハーフミラー100によ
って一部分岐し光検出器101でモニターされる。光フ
ァイバーに入射された光は光ファイバー3を伝播し、検
出部に送られる。光ファイバー3の出射端から出た光は
コリメートレンズ4によって平行ビームに変換され検出
部の間隙を伝播し集光レンズ5によって光ファイバー7
の入射端面上に絞り込まれる。以降ネットワーク上に設
置された各検出部において同様の動作を繰り返し、最終
の光ファイバー8を伝播し出射端に到達する。検出部に
は半導体ガスセンサなどのガスセンサが並んで設置され
ており、ガスの発生がある場合、半導体ガスセンサ16
は信号を発生する。この出力信号にたいし駆動回路17
は予め設定された周波数f2で変調し、発光素子18を
駆動する。発光素子から出射された光は検出部における
ファイバーの入射端面に入射され、光ファイバー中を伝
播するガス検出用の光に重畳される。各検出部において
同様の半導体ガスセンサが設置されており、検出部の位
置に対応して異なった周波数(f3,・・・,fn)で
変調する。光ファイバーから出射された光はレンズ9に
よって光検出器10上に集光される。光検出器10から
の出力信号は増幅器11によって増幅され、検波器19
に入力される。検波器19は入力された信号を予め設定
した周波数(f1,f2,・・・,fn)で検波し、得
られた各周波数成分を対応するレベル検出回路20,2
1,22,23に出力する。ガス検出用の周波数成分を
検知するレベル検出回路では、得られた信号レベルとモ
ニター強度との比を演算し、その変化からガスの有無を
判定する。一方、半導体ガスセンサの出力信号の変調周
波数成分を検知するレベル検出回路では、各周波数成分
の信号の有無を検知し、出力のある周波数を同定する事
により、ガスの発生位置を検出する。
【0026】実施例4.次に第4の発明に関して、一実
施例を図について説明する。図4は本発明の一実施例の
装置構成図であり、図5は光ファイバーへの入射光及び
ファイバーからの反射光の光波形を示す図である。図に
おいて、1は光源、2はレンズ、3は光ファイバー、4
はコリメートレンズ、5は集光レンズ、6は検出箇所を
固定するケース、7,8は光ファイバー、10は光検出
器、11は増幅器、13はハーフミラー、24は光源を
駆動するための駆動回路、25は検出部における光ファ
イバー出射端面に塗布された無反射コーテイング部、2
6は検出部における光ファイバー入射端面に塗布された
反射コーテイング部、27は光源から出射された光の強
度波形、28はガスの発生がない場合に光ファイバーの
入射端面から出てくる光の強度波形、29はガスの発生
がある場合に光ファイバーの入射端面から出てくる光の
強度波形、30は反射されてきた光パルスによるパルス
信号をそれぞれ時系列的に分離するパルス分離回路、3
1はクロック発振回路、32,33,34は分離された
パルス信号のピーク値を保持するピークホールド回路、
35,36,37はピークホールドされた値をデジタル
信号に変換するA/D回路、38はそれぞれのA/D回
路からの出力信号を基にガス発生の有無、及びガス発生
箇所を特定する判定回路、100はハーフミラー、10
1は光検出器、102は増幅器、104は光パルスのピ
ーク値をデジタル化するA/D回路を示す。
施例を図について説明する。図4は本発明の一実施例の
装置構成図であり、図5は光ファイバーへの入射光及び
ファイバーからの反射光の光波形を示す図である。図に
おいて、1は光源、2はレンズ、3は光ファイバー、4
はコリメートレンズ、5は集光レンズ、6は検出箇所を
固定するケース、7,8は光ファイバー、10は光検出
器、11は増幅器、13はハーフミラー、24は光源を
駆動するための駆動回路、25は検出部における光ファ
イバー出射端面に塗布された無反射コーテイング部、2
6は検出部における光ファイバー入射端面に塗布された
反射コーテイング部、27は光源から出射された光の強
度波形、28はガスの発生がない場合に光ファイバーの
入射端面から出てくる光の強度波形、29はガスの発生
がある場合に光ファイバーの入射端面から出てくる光の
強度波形、30は反射されてきた光パルスによるパルス
信号をそれぞれ時系列的に分離するパルス分離回路、3
1はクロック発振回路、32,33,34は分離された
パルス信号のピーク値を保持するピークホールド回路、
35,36,37はピークホールドされた値をデジタル
信号に変換するA/D回路、38はそれぞれのA/D回
路からの出力信号を基にガス発生の有無、及びガス発生
箇所を特定する判定回路、100はハーフミラー、10
1は光検出器、102は増幅器、104は光パルスのピ
ーク値をデジタル化するA/D回路を示す。
【0027】次に動作について説明する。駆動回路24
は出射光が27のようなパルス状にに点灯するよう光源
1を駆動する。光源1からの出射光はレンズ2によって
光ファイバー3の入射端面上に絞り込まれるとともに、
ハーフミラー100によって一部分岐し光検出器101
でモニターされる。光ファイバーに入射した光は光ファ
イバー3の中を伝播する。光ファイバー3を伝播した光
は検出部において光ファイバー3から出射され、コリメ
ートレンズ4によって平行ビームに変換され、検出部の
空間中を伝播した後、集光レンズ5によって光ファイバ
ー7の入射端面上に絞り込まれる。この時光ファイバー
3の出射端面25には光が反射しないよう無反射コーテ
イングし、一方、光ファイバー7の入射端面26には若
干の反射率を持つようコーテイングを施す。この結果、
検出部を透過した光のうち一部が出射端面25で入射側
に反射され、光ファイバー3の入射端面から出射されハ
ーフミラー13を介して光検出器10に入射される。こ
の動作が各検出部において繰り返され、一つの入射光パ
ルス27に対して各検出部から入射光の一部が反射さ
れ、光ファイバーから戻ってくる光は、28に示すよう
にパルス列として観測される。この時は各パルスは各検
出部間の距離に対応する間隔をもって発生し、ガスがな
い場合各パルスのピーク値は光ファイバーの端面の反射
率及び光ファイバー中の伝播による減衰によって、光フ
ァイバーの入射端面から遠くの検出部からの反射光にな
るにつれて波形28に示す様に規則的に減衰する。一
方、いずれかの検出部においてガスが発生した場合、ガ
スによって光が吸収されることから、ガスの発生があっ
た測定箇所から反射した光パルスのピーク値が減少し、
この箇所より以遠からの光パルスも減少する。増幅器1
1は光検出器からのパルス列信号を増幅し、パルス分離
回路30に入力する。クロック発振回路31は光源の発
光パルスに同期したクロックを発生し、パルス分離器3
0、ピークホールド回路32,33,34に入力する。
パルス分離回路は入力されてきたパルス列を時系列的に
分離し、それぞれのパルスを順番にピークホールド回路
32,33,34に入力する。ピークホールド回路では
各パルスのピーク値を保持し、それぞれA/D回路3
5,36,37に入力しデジタル信号に変換した後、判
定回路38へ出力する。また、判定回路38には、入射
光パルスのピーク強度のモニター結果も入力される。判
定回路38では、各パルスのピーク値をモニター結果に
よって補正を行い、この補正値と予め求めておいたガス
の発生がない場合のピーク値とを比較し、それぞれのパ
ルスについて両者のピーク値に差があるかどうかを常に
観測する。ピーク値に差が発生した場合、発生したパル
スの順番により発生箇所の特定を行うとともに、その差
の値によりガスの発生濃度を算出する。
は出射光が27のようなパルス状にに点灯するよう光源
1を駆動する。光源1からの出射光はレンズ2によって
光ファイバー3の入射端面上に絞り込まれるとともに、
ハーフミラー100によって一部分岐し光検出器101
でモニターされる。光ファイバーに入射した光は光ファ
イバー3の中を伝播する。光ファイバー3を伝播した光
は検出部において光ファイバー3から出射され、コリメ
ートレンズ4によって平行ビームに変換され、検出部の
空間中を伝播した後、集光レンズ5によって光ファイバ
ー7の入射端面上に絞り込まれる。この時光ファイバー
3の出射端面25には光が反射しないよう無反射コーテ
イングし、一方、光ファイバー7の入射端面26には若
干の反射率を持つようコーテイングを施す。この結果、
検出部を透過した光のうち一部が出射端面25で入射側
に反射され、光ファイバー3の入射端面から出射されハ
ーフミラー13を介して光検出器10に入射される。こ
の動作が各検出部において繰り返され、一つの入射光パ
ルス27に対して各検出部から入射光の一部が反射さ
れ、光ファイバーから戻ってくる光は、28に示すよう
にパルス列として観測される。この時は各パルスは各検
出部間の距離に対応する間隔をもって発生し、ガスがな
い場合各パルスのピーク値は光ファイバーの端面の反射
率及び光ファイバー中の伝播による減衰によって、光フ
ァイバーの入射端面から遠くの検出部からの反射光にな
るにつれて波形28に示す様に規則的に減衰する。一
方、いずれかの検出部においてガスが発生した場合、ガ
スによって光が吸収されることから、ガスの発生があっ
た測定箇所から反射した光パルスのピーク値が減少し、
この箇所より以遠からの光パルスも減少する。増幅器1
1は光検出器からのパルス列信号を増幅し、パルス分離
回路30に入力する。クロック発振回路31は光源の発
光パルスに同期したクロックを発生し、パルス分離器3
0、ピークホールド回路32,33,34に入力する。
パルス分離回路は入力されてきたパルス列を時系列的に
分離し、それぞれのパルスを順番にピークホールド回路
32,33,34に入力する。ピークホールド回路では
各パルスのピーク値を保持し、それぞれA/D回路3
5,36,37に入力しデジタル信号に変換した後、判
定回路38へ出力する。また、判定回路38には、入射
光パルスのピーク強度のモニター結果も入力される。判
定回路38では、各パルスのピーク値をモニター結果に
よって補正を行い、この補正値と予め求めておいたガス
の発生がない場合のピーク値とを比較し、それぞれのパ
ルスについて両者のピーク値に差があるかどうかを常に
観測する。ピーク値に差が発生した場合、発生したパル
スの順番により発生箇所の特定を行うとともに、その差
の値によりガスの発生濃度を算出する。
【0028】実施例5.次に第5の発明に関して、一実
施例を図について説明する。図6は本発明の一実施例の
装置構成図であり、図において、1,42,44は光
源、3は光ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集
光レンズ、6は検出箇所を固定するケース、7,8は光
ファイバー、9は集光用レンズ、10,52,56は光
検出器、11,53,57は増幅器、12,54,58
は受光レベル変化を検出しガスの有無判定を行う判定回
路、39,43,45はコリメートレンズ、40,41
はハーフミラー、46は集光レンズ、47はコリメート
レンズ、48,49はダイクロイックミラー、50,5
1,55は集光レンズ、100はハーフミラー、101
は光検出器、102は増幅器、104,107はハーフ
ミラー、105,108は光検出器、106,109は
増幅器、110は検波回路、111,112,113は
レベル検出器を示す。
施例を図について説明する。図6は本発明の一実施例の
装置構成図であり、図において、1,42,44は光
源、3は光ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集
光レンズ、6は検出箇所を固定するケース、7,8は光
ファイバー、9は集光用レンズ、10,52,56は光
検出器、11,53,57は増幅器、12,54,58
は受光レベル変化を検出しガスの有無判定を行う判定回
路、39,43,45はコリメートレンズ、40,41
はハーフミラー、46は集光レンズ、47はコリメート
レンズ、48,49はダイクロイックミラー、50,5
1,55は集光レンズ、100はハーフミラー、101
は光検出器、102は増幅器、104,107はハーフ
ミラー、105,108は光検出器、106,109は
増幅器、110は検波回路、111,112,113は
レベル検出器を示す。
【0029】次に動作について説明する。光源1,4
2,44の波長はそれぞれ異なる対象ガスが持つ吸光波
長λ1,λ2,λ3に同調させるとともに、各波長に対
応して異なった周波数(f1,f2,f3)で変調させ
る。各光源から出射された光はコリメートレンズ39,
43,45によって平行ビームに変化された後、ハーフ
ミラー40、41を介して一本のビームに重畳させ、集
光レンズ46によって光ファイバー3の入射端面上に絞
り込まれるとともに、各波長λ1,λ2,λ3毎にそれ
ぞれハーフミラー100,104,108によって一部
分岐し各光検出器、102、106,109によって増
幅され、判定回路12,58,54に入力される。入射
された光は光ファイバー3を伝播し、検出部に送られ
る。光ファイバー8から出射された光はレンズ9によっ
て光検出器10上に集光される。光検出器10からの出
力信号は増幅器11によって増幅され、検波器110に
入力される。検波器110は入力された信号を予め設定
した周波数(f1,f2,f3)で検波し、得られた各
周波数成分を対応するレベル検出回路111,112,
113に出力する。レベル検出回路では、変調周波数に
対応する各波長毎に得られた信号レベルとモニター強度
との比を演算し、その変化からガスの有無を判定する。
光ファイバーからの透過光強度はガスの発生がない場合
は一定レベルを保持するが、検出部においてガスが発生
するとその濃度に応じて受光強度が減少する。
2,44の波長はそれぞれ異なる対象ガスが持つ吸光波
長λ1,λ2,λ3に同調させるとともに、各波長に対
応して異なった周波数(f1,f2,f3)で変調させ
る。各光源から出射された光はコリメートレンズ39,
43,45によって平行ビームに変化された後、ハーフ
ミラー40、41を介して一本のビームに重畳させ、集
光レンズ46によって光ファイバー3の入射端面上に絞
り込まれるとともに、各波長λ1,λ2,λ3毎にそれ
ぞれハーフミラー100,104,108によって一部
分岐し各光検出器、102、106,109によって増
幅され、判定回路12,58,54に入力される。入射
された光は光ファイバー3を伝播し、検出部に送られ
る。光ファイバー8から出射された光はレンズ9によっ
て光検出器10上に集光される。光検出器10からの出
力信号は増幅器11によって増幅され、検波器110に
入力される。検波器110は入力された信号を予め設定
した周波数(f1,f2,f3)で検波し、得られた各
周波数成分を対応するレベル検出回路111,112,
113に出力する。レベル検出回路では、変調周波数に
対応する各波長毎に得られた信号レベルとモニター強度
との比を演算し、その変化からガスの有無を判定する。
光ファイバーからの透過光強度はガスの発生がない場合
は一定レベルを保持するが、検出部においてガスが発生
するとその濃度に応じて受光強度が減少する。
【0030】実施例6.次に第6の発明に関して、一実
施例を図について説明する。第7図は本発明の一実施例
の装置構成図であり、図において、1は光源、2はレン
ズ、3は光ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集
光レンズ、6は検出箇所を固定するケース、7,8は光
ファイバー、9は集光用レンズ、59はスリット、60
は回折格子、61はラインセンサ、62はラインセンサ
駆動回路、63はA/D回路、64は波形比較回路を示
す。
施例を図について説明する。第7図は本発明の一実施例
の装置構成図であり、図において、1は光源、2はレン
ズ、3は光ファイバー、4はコリメートレンズ、5は集
光レンズ、6は検出箇所を固定するケース、7,8は光
ファイバー、9は集光用レンズ、59はスリット、60
は回折格子、61はラインセンサ、62はラインセンサ
駆動回路、63はA/D回路、64は波形比較回路を示
す。
【0031】次に動作について説明する。連続波長を有
する光源1から出射された光をレンズ2を用いて光ファ
イバー3の入射端面に絞り込む。入射された光は光ファ
イバー3を伝播し、検出部における光ファイバー3の出
射端から出た光はコリメートレンズ4によって平行ビー
ムに変換され検出部の間隙を伝播し集光レンズ5によっ
て光ファイバー7の入射端面上に絞り込まれる。以降ネ
ットワーク上に設置された各検出部において同様の動作
を繰り返し、最後端の光ファイバー8の出射端から出射
される。出射された光はレンズ9によってスリット59
上に絞り込まれ、回折格子60上に照射される。入射さ
れた光は回折格子60によって分散され、回折格子の焦
点面上に設置されたラインセンサ61上に光の波長の順
に結像される。ラインセンサからの出力信号はファイバ
ーの透過光強度の波長分布を反映しており、波形比較回
路64に入力される。波形比較回路64では、入力され
た透過光強度の波長分布と予め求められたガスのない場
合の波長分布との比較を行い、両者において強度に差が
発生している波長の値によって発生したガスの種類を、
強度差の値によってガスの濃度をそれぞれ検出する。
する光源1から出射された光をレンズ2を用いて光ファ
イバー3の入射端面に絞り込む。入射された光は光ファ
イバー3を伝播し、検出部における光ファイバー3の出
射端から出た光はコリメートレンズ4によって平行ビー
ムに変換され検出部の間隙を伝播し集光レンズ5によっ
て光ファイバー7の入射端面上に絞り込まれる。以降ネ
ットワーク上に設置された各検出部において同様の動作
を繰り返し、最後端の光ファイバー8の出射端から出射
される。出射された光はレンズ9によってスリット59
上に絞り込まれ、回折格子60上に照射される。入射さ
れた光は回折格子60によって分散され、回折格子の焦
点面上に設置されたラインセンサ61上に光の波長の順
に結像される。ラインセンサからの出力信号はファイバ
ーの透過光強度の波長分布を反映しており、波形比較回
路64に入力される。波形比較回路64では、入力され
た透過光強度の波長分布と予め求められたガスのない場
合の波長分布との比較を行い、両者において強度に差が
発生している波長の値によって発生したガスの種類を、
強度差の値によってガスの濃度をそれぞれ検出する。
【0032】
【発明の効果】第1の発明においては、ガスの吸光現象
を利用して、複数の測定箇所を一本の光ファイバーで連
結し、最終の光ファイバーの透過光強度変化を検知する
事によりガス検出を行えるよう構成したことから、複数
箇所のガス検出を簡単な構成で実現可能となった。
を利用して、複数の測定箇所を一本の光ファイバーで連
結し、最終の光ファイバーの透過光強度変化を検知する
事によりガス検出を行えるよう構成したことから、複数
箇所のガス検出を簡単な構成で実現可能となった。
【0033】第2の発明は、上記ガス検出ネットワーク
において、光ファイバーの最終端に光を反射するよう構
成した事から、光ファイバーの入射側において投受光が
可能となり、装置の小型化を実現した。
において、光ファイバーの最終端に光を反射するよう構
成した事から、光ファイバーの入射側において投受光が
可能となり、装置の小型化を実現した。
【0034】第3の発明は、測定箇所において半導体ガ
スセンサを併設しその出力信号を光信号としてファイバ
ー内に入射できる構成としたことから、ガスの有無と発
生場所の同時検出が可能となった。
スセンサを併設しその出力信号を光信号としてファイバ
ー内に入射できる構成としたことから、ガスの有無と発
生場所の同時検出が可能となった。
【0035】第4の発明は、光パルスを光ファイバーに
入射し、測定箇所におけるファイバー端面からの反射光
を受光できるよう光学系を構成し、受光した光パルス列
の各パルスのピーク値を検出できるよう信号処理系を構
成したことから、他のガスセンサの併設が不要な簡単な
構成でガスの有無と発生場所の同時検出が可能となっ
た。
入射し、測定箇所におけるファイバー端面からの反射光
を受光できるよう光学系を構成し、受光した光パルス列
の各パルスのピーク値を検出できるよう信号処理系を構
成したことから、他のガスセンサの併設が不要な簡単な
構成でガスの有無と発生場所の同時検出が可能となっ
た。
【0036】第5の発明は、種類の異なる複数のガスの
吸光波長に同調させた複数の光を光ファイバーに入射さ
せるとともに、光ファイバーを出射した光を上記各波長
にそれぞれ分離し各波長の透過光強度を検出できるよう
構成したため、実時間で複数のガスを検出可能となっ
た。
吸光波長に同調させた複数の光を光ファイバーに入射さ
せるとともに、光ファイバーを出射した光を上記各波長
にそれぞれ分離し各波長の透過光強度を検出できるよう
構成したため、実時間で複数のガスを検出可能となっ
た。
【0037】第6の発明は、連続する発光スペクトルを
有する光を光ファイバーに入射し、出射側において、各
波長成分に分離し、各波長の透過光強度を検出できるよ
う構成したことから、実時間で複数のガスを検出可能と
なった。
有する光を光ファイバーに入射し、出射側において、各
波長成分に分離し、各波長の透過光強度を検出できるよ
う構成したことから、実時間で複数のガスを検出可能と
なった。
【図1】第1の発明に関する一実施例の装置構成図であ
る。
る。
【図2】第2の発明に関する一実施例の装置構成図であ
る。
る。
【図3】第3の発明に関する一実施例の装置構成図であ
る。
る。
【図4】第4の発明に関する一実施例の装置構成図であ
る。
る。
【図5】入射光パルスと反射光光パルス列との関係を示
す特性図である。
す特性図である。
【図6】第5の発明に関する一実施例の装置構成図であ
る。
る。
【図7】第6の発明に関する一実施例の装置構成図であ
る。
る。
【図8】従来装置に関する装置構成図である。
1 光源
3,7,8 光ファイバー
10 光検出器
11 増幅器
12 判定回路
13 ハーフミラー
14 ミラー
15 変調回路
16 半導体ガスセンサ
17 駆動回路
18 発光素子
19 検波回路
20,21,22,23, 出力レベル検出回路
24 光源駆動回路
30 パルス分離回路
32,33,34 ピークホールド回路
38 判定回路
42,44 光源
110 検波回路
111,112,113 レベル検出回路
40,41,104,107 ハーフミラー
105 光検出器
108 光検出器
60 回折格子
61 ラインセンサ
62 ラインセンサ駆動回路
64 波形比較回路
Claims (6)
- 【請求項1】 ガスの吸収波長に同調した光を光ファイ
バーに入射させるとともに一部を分岐し強度をモニター
する投光手段、測定箇所においてファイバー間に間隙を
設けその間を光ビームが透過するよう構成した複数のガ
ス検出部、各検出部を光ファイバーで連結した光伝送手
段、光ファイバーからの出射光の強度とモニター強度と
の比の変化を検出する信号処理手段を備えたことを特徴
とするガス検出ネットワーク。 - 【請求項2】 ガスの吸収波長に同調した光を光ファイ
バーに入射させるとともに一部を分岐し強度をモニター
する投光手段、測定箇所においてファイバー間に間隙を
設けその間を光ビームが透過するよう構成した複数のガ
ス検出部、各検出部を光ファイバーで連結した光伝送手
段、光ファイバーの最終端面において光を反射する反射
手段、光ファイバーからの出射光の強度とモニター強度
との比の変化を検出する信号処理手段を備えたことを特
徴とするガス検出ネットワーク。 - 【請求項3】 ガスの吸光波長に同調しガス検出用に周
波数変調された光を光ファイバーに入射させるととも
に、一部を分岐し強度をモニターする投光手段、測定箇
所においてファイバー間に間隙を設けその間を光ビーム
が透過するよう構成した複数のガス検出部、各検出部を
光ファイバーで連結した光伝送手段、測定箇所において
半導体センサ等の他のガスセンサを設置し、その出力信
号を測定箇所に対応した周波数で変調した光信号に変換
した後光ファイバーに入射させるセンサ信号入力手段、
出射側において検出された出力信号を変調周波数毎に分
離し各信号の強度を検出するとともに、各変調周波数毎
にファイバーの透過光強度とモニター強度との比を演算
しその変化を検出する信号処理手段を備えたことを特徴
とするガス検出ネットワーク。 - 【請求項4】 ガスの吸収波長に同調した単色光を光パ
ルスとして光ファイバーに入射させるとともに、一部を
分岐し強度をモニターする投光手段、測定箇所において
ファイバー間に間隙を設けその間を光ビームが透過する
よう構成した複数のガス検出部、各検出部を光ファイバ
ーで連結した光伝送手段、光ファイバー入射側で各測定
箇所のファイバー端面からの反射光を受光する受光手
段、受光した光パルス列を各パルス毎に分離しそのピー
ク強度を検出するとともに得られたピーク強度をモニタ
ー強度によって補正し、各パルスのピーク強度の時系列
的な発生状況から発生ガスの濃度及び発生位置の特定を
行う信号処理手段を備えたことを特徴とするガス検出ネ
ットワーク。 - 【請求項5】 複数のガスの吸光波長に同調させるとと
もに、各波長に対応した周波数で変調させた複数の単色
光を重畳させてファイバーに入射させるとともに一部分
岐し、各波長の発光強度をモニターする投光手段、測定
箇所においてファイバー間に間隙を設けその間を光ビー
ムが透過するよう構成した複数のガス検出部、各検出部
を光ファイバーで連結した光伝送手段、ファイバーから
の出射光を受光する受光手段、受光手段からの出力信号
を変調周波数毎に分離し、各波長の強度を検出するとと
もにモニター強度との比を演算しその変化を検出する信
号処理手段を備えたことを特徴とするガス検出ネットワ
ーク。 - 【請求項6】 連続波長を有する光をファイバーに入射
させる投光手段、測定箇所においてファイバー間に間隙
を設けその間を光ビームが透過するよう構成した複数の
ガス検出部、各検出部を光ファイバーで連結した光伝送
手段、光ファイバーからの出射光を波長分離素子を用い
て各波長成分毎に分離し受光する受光手段、受光手段よ
り得られた出力信号の変化を検出する信号処理手段を備
えたことを特徴とするガス検出ネットワーク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16254491A JPH0510879A (ja) | 1991-07-03 | 1991-07-03 | ガス検出ネツトワーク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16254491A JPH0510879A (ja) | 1991-07-03 | 1991-07-03 | ガス検出ネツトワーク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0510879A true JPH0510879A (ja) | 1993-01-19 |
Family
ID=15756620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16254491A Pending JPH0510879A (ja) | 1991-07-03 | 1991-07-03 | ガス検出ネツトワーク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0510879A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5656122A (en) * | 1993-07-30 | 1997-08-12 | Lam Research Corporation | Shadow clamp |
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| JP2017194399A (ja) * | 2016-04-22 | 2017-10-26 | 日本電気株式会社 | ガス検知システム |
-
1991
- 1991-07-03 JP JP16254491A patent/JPH0510879A/ja active Pending
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| CN103149169B (zh) * | 2013-02-28 | 2015-08-26 | 山东大学 | 利用痕量水气检测装置的标定系统对器件内部水进行标定的方法 |
| WO2017090516A1 (ja) * | 2015-11-24 | 2017-06-01 | 日本電気株式会社 | ガス検知システム |
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