JPH05121621A - 半導体素子のリード端子半田処理装置 - Google Patents

半導体素子のリード端子半田処理装置

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JPH05121621A
JPH05121621A JP30969891A JP30969891A JPH05121621A JP H05121621 A JPH05121621 A JP H05121621A JP 30969891 A JP30969891 A JP 30969891A JP 30969891 A JP30969891 A JP 30969891A JP H05121621 A JPH05121621 A JP H05121621A
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JP
Japan
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solder
lead terminal
semiconductor element
lead
processor
Prior art date
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Pending
Application number
JP30969891A
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English (en)
Inventor
Tsuguo Nakamura
嗣雄 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体素子の組立において、樹脂封止後のリ
ード端子の表面処理をクリーン化して、前後工程との設
備の複合化を行い生産ラインの合理化を可能とする。 【構成】 半導体素子1のリード端子2をカバーするチ
ャンバ11と、チャンバ11の内部に還元ガスを供給す
る吹出しノズル12を有するリード表面処理部と、半田
供給ノズル14を有する半田塗布部、そして塗布した半
田をレーザ光等により溶融させリード端子2に固着させ
る半田溶融部とを有し、リード表面の処理をドライ化す
ること、半田ガス発生を極少化することにより、汚染ガ
スの発生を極めて少なくし、清浄度の高い組立工程に設
置が可能であり設備の複合化ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子の組立工程
におけるリード端子の表面処理に関し、特に前後工程と
の複合化が可能な半田処理装置の構造に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体素子のリード表面処理に使
用される半田処理装置は図4に示すように、樹脂封止済
みの半導体素子1を複数個整列させ、リード端子2以外
の部分をチャック3により把持し、回転又は水平送りに
より各処理槽へ順次搬送し、上下動により各槽内に浸漬
可能な搬送機構により、前処理槽4,フラックス槽5,
半田槽6,洗浄槽7,水切り槽8及び乾燥槽9へと半導
体素子1が搬送され表面処理を行っていた。
【0003】前処理槽4では一般に酸系統の溶液をオー
バーフローさせている槽内に指定時間リード端子2を浸
漬し、リード端子2の表面の酸化膜を除去し、次に搬送
機構により移送・上下動を繰り返し、フラックス槽5,
半田槽6に送られ、半田槽6でリード端子2の表面に半
田層が形成される。
【0004】その後、前処理槽4,フラックス槽5で付
着した酸並びに表面活性剤を除去するため、洗浄槽7に
浸漬し流水洗浄後、水切り槽8でエアノズル10から乾
燥エアを吹き出し、最後に乾燥槽9の熱風ノズル10′
からの吹き出しにより乾燥していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半田処理装
置では、前処理槽4に酸の溶液を使用していること、及
びフラックス槽5に表面活性剤を含む溶液を使用してい
るため、リード端子2の浸漬・移動の際に、各槽の周囲
又は移動経路で溶液の飛散,滴下により装置の汚れ,酸
によるサビの発生等の問題があった。
【0006】さらに、半田槽6は常時半田を溶融状態に
しておくため、半田ガスによる装置の汚れ,室内雰囲気
の汚染という問題があり、組立工程のクリーンルーム内
に装置を設置することができず、工程の複合化に対しネ
ックとなっていた。
【0007】また、酸系統の溶液を使用しているため、
洗浄水を廃水処理しなければならないことにより、廃水
処理施設への投資及び排水の水質管理の面でコストアッ
プの要因となっていた。
【0008】本発明の目的は、リード端子の表面処理を
クリーン化し、かつ生産ラインの合理化を図る半導体素
子のリード端子半田処理装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体素子のリード端子半田処理装置
においては、半導体素子組立における樹脂封止後のリー
ド端子の半田処理装置であって、前記リード部をカバー
するチャンバとチャンバ内に還元ガスを供給するための
複数個のガス吹出しノズルを有するリート表面処理部
と、半田収納容器と半田供給ノズル及び半田供給ノズル
駆動機構からなる半田塗布部と、前記リード端子にレー
ザ光線を照射しながら光線を移動させ半田を溶融させる
半田溶融部とを含むものである。
【0010】また、前記半田溶融部に赤外線を用いたも
のである。
【0011】
【作用】リード端子表面の処理をドライ化すること、半
田ガス発生を抑えることにより、汚染ガスの発生を極小
にして、組立工程をクリーン化する。また、設備の複合
化を図り、生産ラインの合理化を図る。
【0012】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1は、本発明の一実施例であり、半田処理装置の
リード表面処理部と半田塗布部の断面図である。図2
は、本発明の半田溶融部の断面図である。図3は、本発
明の半田処理装置における基本機能の構成を示すブロッ
ク図である。
【0013】図1において、1は半導体素子で、モータ
又はシリンダ等から構成した搬送機構に取り付けられた
チャック3に把持される。
【0014】11は、リード処理部をカバーするチャン
バで、内部に還元ガス(不活性ガスでも可)を吹出すた
めに複数個の吹出しノズル12を設置してある。
【0015】13は、半田収納容器で、先端に半田供給
ノズル14を有し、ノズル駆動機構15に取り付けられ
ている。
【0016】図2に示す半田溶融部について、16はレ
ーザ照射口で、ヘッド移動ガイド17によりXY方向の
移動可能である。18は、照射されたレーザ光をリード
端子2の裏面に集めるように設置した凹面をもつ反射鏡
である。
【0017】次に動作を説明する。半導体素子1は図3
に示すように搬送機構部25のチャック3に把持され、
かつ制御部24の制御の下に供給部20からリード処理
部21,半田塗布部22,半田溶融部23の順に収納部
26まで送られる。
【0018】リード処理部21では、吹出しノズル12
から吹出される還元ガスによってリード端子2表面の酸
化膜が除去される。次に半田供給ノズル14からクリー
ム状の半田(粉末でも可)が供給され、ノズル駆動機構
15によりXYに動きリード端子2全面に半田が塗布さ
れる。
【0019】その後、半導体素子1は、半田溶融部22
に移動して、レーザ照射口16がヘッド移動ガイド17
により案内され、レーザ照射によりリード端子2の半田
を溶融し固着させる。半田溶融部22は、チャンバ11
によりカバーされ溶融により発生するガスは、チャンバ
11の外部にもれることはなく、チャンバ11に接続さ
れているダクトにより排気される。
【0020】本発明の別の実施例では、半田溶融部22
においてレーザ照射口16の移動に関し、ヘッド移動ガ
イド17によりXY方向に移動させるのでなく、図5に
示すようなポリゴンミラー19によりレーザ光を振るこ
とによっても、リード端子2全面を均一に半田溶融する
ことも可能である。
【0021】また、半田溶融手段としてレーザのかわり
に赤外線を適用した場合においても同様の作用を得るこ
とができる。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、リード表
面処理部を従来の酸を使用したウェット方式から還元ガ
スを使用するドライ方式にしたこと、リード端子に必要
量の半田のみを供給することにより、酸による汚染がま
ったくなくなり、及び半田から発生するガスが極めて少
ないことにより、組立工程内の空気を汚染することがな
い。さらに前後工程との工程複合化が可能となり、一貫
生産による合理化ラインの導入が可能となり、製造リー
ドタイムの短縮及び水処理施設の不要によるランニング
コストの低減等の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例におけるリード表面処理部と
半田塗布部の断面図である。
【図2】半田溶融部の断面図である。
【図3】本発明による半田処理装置の全体システムを示
すブロック図である。
【図4】従来の半田処理装置の例を示す図である。
【図5】本発明による別の実施例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 半導体素子 2 リード端子 3 チャック 4 前処理槽 5 フラックス槽 6 半田槽 7 洗浄槽 8 水切り槽 9 乾燥槽 10 エアノズル 10′ 熱風ノズル 11 チャンバ 12 吹出しノズル 13 半田収納容器 14 半田供給ノズル 15 ノズル駆動機構 16 レーザ照射光 17 ヘッド移動ガイド 18 反射鏡 19 ポリゴンミラー

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子組立における樹脂封止後のリ
    ード端子の半田処理装置であって、 前記リード部をカバーするチャンバとチャンバ内に還元
    ガスを供給するための複数個のガス吹出しノズルを有す
    るリート表面処理部と、 半田収納容器と半田供給ノズル及び半田供給ノズル駆動
    機構からなる半田塗布部と、 前記リード端子にレーザ光線を照射しながら光線を移動
    させ半田を溶融させる半田溶融部とを含むことを特徴と
    する半導体素子のリード端子半田処理装置。
  2. 【請求項2】 前記半田溶融部に赤外線を用いたことを
    特徴とする請求項1に記載の半導体素子のリード端子半
    田処理装置。
JP30969891A 1991-10-29 1991-10-29 半導体素子のリード端子半田処理装置 Pending JPH05121621A (ja)

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JP30969891A JPH05121621A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 半導体素子のリード端子半田処理装置

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JP30969891A JPH05121621A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 半導体素子のリード端子半田処理装置

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Publication Number Publication Date
JPH05121621A true JPH05121621A (ja) 1993-05-18

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ID=17996212

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JP30969891A Pending JPH05121621A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 半導体素子のリード端子半田処理装置

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JP (1) JPH05121621A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009501980A (ja) * 2005-07-15 2009-01-22 レボリューション マネー,インコーポレイテッド 取引カードの即時発行システム及び方法
US7649152B2 (en) 2004-09-24 2010-01-19 Tdk Corporation Conductive ball bonding method and conductive ball bonding apparatus

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US7649152B2 (en) 2004-09-24 2010-01-19 Tdk Corporation Conductive ball bonding method and conductive ball bonding apparatus
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