JPH05122020A - スタテイツク型トランスフアーゲート順序回路 - Google Patents
スタテイツク型トランスフアーゲート順序回路Info
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- JPH05122020A JPH05122020A JP3279878A JP27987891A JPH05122020A JP H05122020 A JPH05122020 A JP H05122020A JP 3279878 A JP3279878 A JP 3279878A JP 27987891 A JP27987891 A JP 27987891A JP H05122020 A JPH05122020 A JP H05122020A
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- Japan
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- circuit
- latch circuit
- terminal
- output terminal
- transfer gate
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ダイナミック型と同等の高速動作が可能で、し
かも低速動作に対応し得るスタティック型トランスファ
ーゲート順序回路を提供する。 【構成】トランスファーゲートTGと、2つのインバー
タV1、V2と、入力端子D、出力端子QB、クロック
入力端子CCを有し、入力端子Dにトランスファーゲー
トTGの一端を接続し、トランスファーゲートTGの別
の一端をインバータV1の入力端子に、インバータV1
の出力端子を出力端子QBとインバータV2の入力端子
に、インバータV2の出力端子をインバータV1の入力
端子にそれぞれ接続する。
かも低速動作に対応し得るスタティック型トランスファ
ーゲート順序回路を提供する。 【構成】トランスファーゲートTGと、2つのインバー
タV1、V2と、入力端子D、出力端子QB、クロック
入力端子CCを有し、入力端子Dにトランスファーゲー
トTGの一端を接続し、トランスファーゲートTGの別
の一端をインバータV1の入力端子に、インバータV1
の出力端子を出力端子QBとインバータV2の入力端子
に、インバータV2の出力端子をインバータV1の入力
端子にそれぞれ接続する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高速で動作するラッチ回
路、分周器、プリスケーラなどの順序回路に関する。
路、分周器、プリスケーラなどの順序回路に関する。
【0002】
【従来の技術】どのような順序回路も、基本となるラッ
チ回路を組み合わせて構成する。そのラッチ回路を、ト
ランスファーゲート回路と、例えばCMOS技術を用い
て構成する場合、従来、大きくわけて図3のようなダイ
ナミック型のラッチ回路、図4のようなスタティック型
ラッチ回路を用いてきた。スタティック型ラッチ回路
は、電源を入れている限りラッチ情報を記憶するという
長所がある。一方スタティックな記憶動作を実現するた
めに、図4のトランスファーゲートTG2を用いて、出
力端子QBと端子QQの間をオンオフしていたためにラ
ッチ動作全体として、速度が遅いという欠点があった。
また、ダイナミック型のトランスファーゲートラッチ回
路は、使用するトランジスタ数が少なく、かつスタティ
ック型に比べて約2倍の高速動作が可能という長所があ
るが、一方、記憶保持機能を端子QQとグランド端子G
ND間の容量Cmの充電電荷の有無によって実現してい
るが、この充電電荷はトランジスタのリーク電流によっ
て揮発してしまうため、長期にわたるラッチ動作ができ
ないという欠点があった。
チ回路を組み合わせて構成する。そのラッチ回路を、ト
ランスファーゲート回路と、例えばCMOS技術を用い
て構成する場合、従来、大きくわけて図3のようなダイ
ナミック型のラッチ回路、図4のようなスタティック型
ラッチ回路を用いてきた。スタティック型ラッチ回路
は、電源を入れている限りラッチ情報を記憶するという
長所がある。一方スタティックな記憶動作を実現するた
めに、図4のトランスファーゲートTG2を用いて、出
力端子QBと端子QQの間をオンオフしていたためにラ
ッチ動作全体として、速度が遅いという欠点があった。
また、ダイナミック型のトランスファーゲートラッチ回
路は、使用するトランジスタ数が少なく、かつスタティ
ック型に比べて約2倍の高速動作が可能という長所があ
るが、一方、記憶保持機能を端子QQとグランド端子G
ND間の容量Cmの充電電荷の有無によって実現してい
るが、この充電電荷はトランジスタのリーク電流によっ
て揮発してしまうため、長期にわたるラッチ動作ができ
ないという欠点があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】順序回路は、従来、上
記のようなスタティック型ラッチ回路またはダイナミッ
ク型ラッチ回路を基本としているから、順序回路として
もスタティック型やダイナミック型のそれぞれのラッチ
回路についての上記のような欠点を有していた。本発明
は、ダイナミック型と同等の高速動作が可能で、しかも
低速動作に対応し得るスタティック型トランスファーゲ
ート順序回路を提供することを目的とする。
記のようなスタティック型ラッチ回路またはダイナミッ
ク型ラッチ回路を基本としているから、順序回路として
もスタティック型やダイナミック型のそれぞれのラッチ
回路についての上記のような欠点を有していた。本発明
は、ダイナミック型と同等の高速動作が可能で、しかも
低速動作に対応し得るスタティック型トランスファーゲ
ート順序回路を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めのスタティック型トランスファーゲート順序回路とし
てのラッチ回路は、例えば図1のラッチ回路SLに示す
ように、入力端子DにトランスファーゲートTGの一端
を接続し、トランスファーゲートTGの別の一端をイン
バータV1の入力端子に、インバータV1の出力端子を
出力端子QBとインバータV2の入力端子に、インバー
タV2の出力端子をインバータV1の入力端子にそれぞ
れ接続することとする。この場合に、さらに、インバー
タV2を構成するPMOSトランジスタのオン抵抗をR
1、トランスファーゲートTGと前段の論理ゲートVL
の出力端子とグランド端子GNDとの間の直列オン抵抗
をR2、インバータV1の論理しきい値電圧をVth、
電源電圧をVDとするとき、 (R2/(R1+R2))×VD<Vth の関係を有し、かつ、インバータV2を構成するNMO
Sトランジスタのオン抵抗をR3、トランスファーゲー
トTGと前段の論理ゲートVLの出力端子と電源電圧端
子VDDとの間の直列オン抵抗をR4とするとき、 (R3/(R3+R4))×VD>Vth の関係を有することとすればラッチ動作の確実性が得ら
れる。
めのスタティック型トランスファーゲート順序回路とし
てのラッチ回路は、例えば図1のラッチ回路SLに示す
ように、入力端子DにトランスファーゲートTGの一端
を接続し、トランスファーゲートTGの別の一端をイン
バータV1の入力端子に、インバータV1の出力端子を
出力端子QBとインバータV2の入力端子に、インバー
タV2の出力端子をインバータV1の入力端子にそれぞ
れ接続することとする。この場合に、さらに、インバー
タV2を構成するPMOSトランジスタのオン抵抗をR
1、トランスファーゲートTGと前段の論理ゲートVL
の出力端子とグランド端子GNDとの間の直列オン抵抗
をR2、インバータV1の論理しきい値電圧をVth、
電源電圧をVDとするとき、 (R2/(R1+R2))×VD<Vth の関係を有し、かつ、インバータV2を構成するNMO
Sトランジスタのオン抵抗をR3、トランスファーゲー
トTGと前段の論理ゲートVLの出力端子と電源電圧端
子VDDとの間の直列オン抵抗をR4とするとき、 (R3/(R3+R4))×VD>Vth の関係を有することとすればラッチ動作の確実性が得ら
れる。
【0005】あるいは上記の目的を達成するための分周
機能を有するスタティック型トラスファーゲート順序回
路は、例えば図5に示すように、ラッチ回路SL1の出
力端子をラッチ回路SL2の入力端子に、ラッチ回路S
L2の出力端子をインバータV3の入力端子に、インバ
ータV3の出力端子をラッチ回路SL1の入力端子と出
力端子QQにそれぞれ接続することとする。
機能を有するスタティック型トラスファーゲート順序回
路は、例えば図5に示すように、ラッチ回路SL1の出
力端子をラッチ回路SL2の入力端子に、ラッチ回路S
L2の出力端子をインバータV3の入力端子に、インバ
ータV3の出力端子をラッチ回路SL1の入力端子と出
力端子QQにそれぞれ接続することとする。
【0006】また、上記目的を達成するためのプリスケ
ーラ機能を有するスタティック型トランスファーゲート
順序回路は、例えば図8に示すように、2入力NAND
回路NDの出力端子をラッチ回路SL3の入力端子に、
ラッチ回路SL3の出力端子をラッチ回路SL4の入力
端子にそれぞれ接続し、ラッチ回路SL4の出力端子を
2入力NAND回路NDの第1の入力端子とOR回路O
Rの第1の入力端子に接続し、OR回路の出力端子をラ
ッチ回路SL5の入力端子に、ラッチ回路SL5の出力
端子をラッチ回路SL6の入力端子にそれぞれ接続し、
ラッチ回路SL6の出力端子を2入力NAND回路ND
の第2の入力端子に接続し、OR回路ORの第2の入力
端子に入力端子Mを、ラッチ回路SL4の出力端子に出
力端子QQをそれぞれ接続することとする。
ーラ機能を有するスタティック型トランスファーゲート
順序回路は、例えば図8に示すように、2入力NAND
回路NDの出力端子をラッチ回路SL3の入力端子に、
ラッチ回路SL3の出力端子をラッチ回路SL4の入力
端子にそれぞれ接続し、ラッチ回路SL4の出力端子を
2入力NAND回路NDの第1の入力端子とOR回路O
Rの第1の入力端子に接続し、OR回路の出力端子をラ
ッチ回路SL5の入力端子に、ラッチ回路SL5の出力
端子をラッチ回路SL6の入力端子にそれぞれ接続し、
ラッチ回路SL6の出力端子を2入力NAND回路ND
の第2の入力端子に接続し、OR回路ORの第2の入力
端子に入力端子Mを、ラッチ回路SL4の出力端子に出
力端子QQをそれぞれ接続することとする。
【0007】あるいは上記目的を達成するための2分の
1分周機能を有するスタティック型トランスファーゲー
ト順序回路は、例えば図10に示すように、ラッチ回路
SL7の出力端子をラッチ回路SL8の入力端子に、ラ
ッチ回路SL8の出力端子をラッチ回路SL9の入力端
子にそれぞれ接続し、ラッチ回路SL9の出力端子をラ
ッチ回路SL10の入力端子に、ラッチ回路SL10の
出力端子をラッチ回路SL7の入力端子にそれぞれ接続
し、ラッチ回路SL8の出力端子を出力端子QQに、ラ
ッチ回路SL10の出力端子を出力端子QBにそれぞれ
接続し、さらに、ラッチ回路SL7とSL9の出力端子
間、SL8とSL10の出力端子間、SL7とSL9の
各ラッチ回路内のトランスファーゲートの出力端子相互
間、SL8とSL10の各ラッチ回路内のトランスファ
ーゲートの出力端子相互間の4対の出力端子間の少なく
とも1対の出力端子間に、該出力端子の電圧レベルを相
互に反対のレベルに初期設定するセット回路RSを接続
することとする。
1分周機能を有するスタティック型トランスファーゲー
ト順序回路は、例えば図10に示すように、ラッチ回路
SL7の出力端子をラッチ回路SL8の入力端子に、ラ
ッチ回路SL8の出力端子をラッチ回路SL9の入力端
子にそれぞれ接続し、ラッチ回路SL9の出力端子をラ
ッチ回路SL10の入力端子に、ラッチ回路SL10の
出力端子をラッチ回路SL7の入力端子にそれぞれ接続
し、ラッチ回路SL8の出力端子を出力端子QQに、ラ
ッチ回路SL10の出力端子を出力端子QBにそれぞれ
接続し、さらに、ラッチ回路SL7とSL9の出力端子
間、SL8とSL10の出力端子間、SL7とSL9の
各ラッチ回路内のトランスファーゲートの出力端子相互
間、SL8とSL10の各ラッチ回路内のトランスファ
ーゲートの出力端子相互間の4対の出力端子間の少なく
とも1対の出力端子間に、該出力端子の電圧レベルを相
互に反対のレベルに初期設定するセット回路RSを接続
することとする。
【0008】
【作用】本発明の順序回路は、図1のスタティック型ラ
ッチ回路が基本となっている。このラッチ回路は、図3
に示されるような従来のダイナミック型ラッチ回路の出
力に上記のように、あるいは図1に示すようにインバー
タV2の回路を付加した構成を有しており、後述におい
てさらに説明するように、この付加回路がスタティック
型としての記憶機能をダイナミック型のラッチ動作に与
えることになる。しかもこの場合のインバータV2をで
きるだけ小さく選定することができ、また従来のスタテ
ィック型ラッチ回路のようにトランスファーゲートTG
2を含むこともないから、この付加回路が高速動作を阻
害するようにはならない。すなわち、本発明は高速なダ
イナミック型順序回路にメモリ機能を付加することによ
って、スタティック動作を行い、かつダイナミック型に
ほぼ匹敵する動作速度を有する、高速の順序回路を提供
するものである。上記の手段の中で不等式で示した条件
は、ラッチ動作を確実に行うために必要な条件を与える
ものである。また上記の分周機能を有する本発明の手段
の中で、例えば図10に示す構成のものは、図5に示す
構成のものより、クリティカルパスに含まれるインバー
タの数が1段分少ないので、一層の高速化をすることが
可能になる。
ッチ回路が基本となっている。このラッチ回路は、図3
に示されるような従来のダイナミック型ラッチ回路の出
力に上記のように、あるいは図1に示すようにインバー
タV2の回路を付加した構成を有しており、後述におい
てさらに説明するように、この付加回路がスタティック
型としての記憶機能をダイナミック型のラッチ動作に与
えることになる。しかもこの場合のインバータV2をで
きるだけ小さく選定することができ、また従来のスタテ
ィック型ラッチ回路のようにトランスファーゲートTG
2を含むこともないから、この付加回路が高速動作を阻
害するようにはならない。すなわち、本発明は高速なダ
イナミック型順序回路にメモリ機能を付加することによ
って、スタティック動作を行い、かつダイナミック型に
ほぼ匹敵する動作速度を有する、高速の順序回路を提供
するものである。上記の手段の中で不等式で示した条件
は、ラッチ動作を確実に行うために必要な条件を与える
ものである。また上記の分周機能を有する本発明の手段
の中で、例えば図10に示す構成のものは、図5に示す
構成のものより、クリティカルパスに含まれるインバー
タの数が1段分少ないので、一層の高速化をすることが
可能になる。
【0009】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例であって、
(a)では論理シンボルにより回路記述しており、
(b)ではMOSトランジスタを用いたシンボルにより
回路記述をしている。図2は図1の入出力波形のタイミ
ング図である。図1で、SLは本発明のスタティック型
ラッチ回路、TGはトランスファーゲート、V1、V2
はインバータ、Dはデータ入力端子、QBは出力端子、
CCはクロック信号入力端子、CBは逆相のクロック信
号入力端子、VDDは電源電圧端子、GNDは回路を接
地するグランド端子、VLは本発明の説明のために付加
した、任意の論理ゲートである。さらにこの回路は、イ
ンバータV2のオン抵抗が、入力端子Dに印加される論
理結果に影響がない程度に大きいことを特徴としてい
る。以下にこの特徴を具体的なCMOS回路によって設
計する際の、回路設計条件を記載する。この条件とは、
インバータV2を構成するPMOSトランジスタのオン
抵抗をR1、トランスファーゲートTGと前段のCMO
S論理ゲートVLの出力端子とグド端子GNDとの間の
直列オン抵抗をR2、インバータV1の論理しきい値電
圧をVth、電源電圧をVDとすると、 (R2/(R1+R2))×VD<Vth (1) の関係を有し、かつ、インバータV2を構成するNMO
Sトランジスタのオン抵抗をR3、トランスファーゲー
トTGと前段のCMOS論理ゲートVLの出力端子と電
源電圧端子VDDとの間の直列オン抵抗をR4とする
と、 (R3/(R3+R4))×VD>Vth (2) の関係を有することである。以下にこのような条件が必
要なことを、実際のラッチ動作の中で詳細に説明する。
図2において、時間t1にクロック信号がハイレベルに
なると、トランスファーゲートTGがオン状態になる。
従って、CMOS論理ゲートVLの出力は端子QQを通
過して、インバータV1に入力され、出力端子QBより
反転信号となって出力される。次に、この信号がインバ
ータV2を通り、端子QQには元の信号レベルが出力さ
れる。次にクロック電圧が立ち下がると、トランスファ
ーゲートTGがオフ状態になるが、インバータV2のた
めに、端子QQの電位はDC的に保持される。出力端子
QBからは、インバータV1とV2のデータ記憶作用に
よって、クロックが立ち下がったときの信号が、t2ま
でそのまま保持されて出力され続ける。これはラッチ機
能そのものである。その後、図2のt2時刻の場合に
は、出力端子QBの信号はロウレベル、入力端子Dの信
号もロウレベルである。t2時刻の直後、トランスファ
ーゲートTGとCMOS論理ゲートを構成するNMOS
がオン状態になる。また、インバータV2を構成するP
MOSはt2時刻以前からオン状態にある。したがっ
て、端子QQの電位は、インバータV2を構成するPM
OSトランジスタのオン抵抗をR1、トランスファーゲ
ートTGと前段のCMOS論理ゲートVLの出力端子と
グランド端子GNDとの間の直列オン抵抗をR2、イン
バータV1の論理しきい値電圧をVth、電源電圧をV
Dとすると、一旦 V(QQ)=(R2/(R1+R2))×VD (3) となる。このとき、 V(QQ)<Vth (4) であれば、インバータV1は反転動作を開始して、出力
端子QBの電位はハイレベル、端子QQの電位はロウレ
ベルに落ち着くことになる。しかし、もし V(QQ)>Vth (5) であれば、インバータV1は反転動作を実行できず、し
たがって、出力端子QBの電位はロウレベル、端子QQ
の電位もハイレベルのままとなり、ラッチ信号の書換え
は行えなくなってしまう。以上が第1式の条件である。
時刻t4には、全く逆の現象が起きるので、第2式の条
件が導かれることは、明かであろう。このような構成な
ので、本特許のようにインバータV2が付加されたトラ
ンスファーゲート型ラッチ回路はスタティック動作を行
うことになる。図3の従来のダイナミック型ラッチ回路
では、インバータV2がないためクロックがロウレベル
になると、電位を固定するパスがないために、端子QQ
の電位は次第に変化してしまうため、ダイナミックなラ
ッチ動作しか行うことができない。このインバータV2
は、小さければ小さいほど、上記条件を満たし易くなる
ばかりでなく、CMOS論理ゲートVLに対する負荷が
軽くなり、ラッチ回路全体として動作速度が向上するこ
とは明かである。インバータV1は小さければ小さいほ
ど、CMOS論理ゲートVLに対する負荷は軽くなる
が、一方次段へのドライブ能力が低下し、ひいてはラッ
チ回路全体として、動作速度の低下をまねくので、この
かねあいとなる。またインバータV2が次第に小さくな
って、寄生容量成分がトランスファーゲートTGの持つ
寄生容量に比べて、無視できるほど小さくなった極限状
態では、その動作速度は、図3のダイナミックなラッチ
回路の動作速度に近づくこともまた明かであろう。イン
バータV2の大きさの下限は、端子QQに寄生する容量
に充電されている電荷を放電しようとする、MOSトラ
ンジスタのリーク電流に打ち勝つ電流がインバータV2
から供給できることが条件となって決定される。この電
流は現在のMOSトランジスタ製作技術の現状で、ピコ
アンペアオーダーかそれ以下である。このリーク電流は
本発明回路で要求されるものと比べて、ほとんど考慮す
る必要がないほど小さく、実際問題として、インバータ
V2の設計上の下限を考慮する必要はない。作れるだけ
小さく作っておくことが望ましい。もし、上記第1式、
第2式の条件を満たさない場合には、ラッチ信号の書換
えを行うことはできない。その代表的な例として、トラ
ンスファーゲートTGに用いられているMOSトランジ
スタや、CMOS論理ゲートとインバータV1、V2に
用いられているトランジスタに、まったく同じ仕様のも
のを用いた場合を挙げることができる。このような場合
には、本発明のような効果は実現できない。このオン抵
抗を上式の条件に適合するものとする具体的な手段とし
て、最も簡便な方法は、使用しているMOSトランジス
タの幅を変化させることであるが、そのほかにも、トラ
ンジスタのゲート長や、しきい値電圧を変えるなど、様
々な手段によって実現できることは明かである。また現
在CMOSメモリなどで試みられている、ポリシリコン
FETや、シン・フィルム・トランジスタ(TFT)も
使用可能である。また、上記説明のなかでは、CMOS
インバータのみを念頭において説明してきたが、小さな
NMOSとポリシリコン等による高抵抗、小さなPMO
Sと高抵抗を組み合わせたインバータなどを使用するこ
とも可能である。また、トランスファーゲートも図1
(b)のようなCMOS型のトランスファーゲートのほ
かにも、NMOSトランスファーゲートまたはPMOS
トランスファーゲートのみで構成できることは明かであ
る。またMOSトランジスタの他にも、MESFETな
どでも同様の回路が実現できることも明かであろう。
(a)では論理シンボルにより回路記述しており、
(b)ではMOSトランジスタを用いたシンボルにより
回路記述をしている。図2は図1の入出力波形のタイミ
ング図である。図1で、SLは本発明のスタティック型
ラッチ回路、TGはトランスファーゲート、V1、V2
はインバータ、Dはデータ入力端子、QBは出力端子、
CCはクロック信号入力端子、CBは逆相のクロック信
号入力端子、VDDは電源電圧端子、GNDは回路を接
地するグランド端子、VLは本発明の説明のために付加
した、任意の論理ゲートである。さらにこの回路は、イ
ンバータV2のオン抵抗が、入力端子Dに印加される論
理結果に影響がない程度に大きいことを特徴としてい
る。以下にこの特徴を具体的なCMOS回路によって設
計する際の、回路設計条件を記載する。この条件とは、
インバータV2を構成するPMOSトランジスタのオン
抵抗をR1、トランスファーゲートTGと前段のCMO
S論理ゲートVLの出力端子とグド端子GNDとの間の
直列オン抵抗をR2、インバータV1の論理しきい値電
圧をVth、電源電圧をVDとすると、 (R2/(R1+R2))×VD<Vth (1) の関係を有し、かつ、インバータV2を構成するNMO
Sトランジスタのオン抵抗をR3、トランスファーゲー
トTGと前段のCMOS論理ゲートVLの出力端子と電
源電圧端子VDDとの間の直列オン抵抗をR4とする
と、 (R3/(R3+R4))×VD>Vth (2) の関係を有することである。以下にこのような条件が必
要なことを、実際のラッチ動作の中で詳細に説明する。
図2において、時間t1にクロック信号がハイレベルに
なると、トランスファーゲートTGがオン状態になる。
従って、CMOS論理ゲートVLの出力は端子QQを通
過して、インバータV1に入力され、出力端子QBより
反転信号となって出力される。次に、この信号がインバ
ータV2を通り、端子QQには元の信号レベルが出力さ
れる。次にクロック電圧が立ち下がると、トランスファ
ーゲートTGがオフ状態になるが、インバータV2のた
めに、端子QQの電位はDC的に保持される。出力端子
QBからは、インバータV1とV2のデータ記憶作用に
よって、クロックが立ち下がったときの信号が、t2ま
でそのまま保持されて出力され続ける。これはラッチ機
能そのものである。その後、図2のt2時刻の場合に
は、出力端子QBの信号はロウレベル、入力端子Dの信
号もロウレベルである。t2時刻の直後、トランスファ
ーゲートTGとCMOS論理ゲートを構成するNMOS
がオン状態になる。また、インバータV2を構成するP
MOSはt2時刻以前からオン状態にある。したがっ
て、端子QQの電位は、インバータV2を構成するPM
OSトランジスタのオン抵抗をR1、トランスファーゲ
ートTGと前段のCMOS論理ゲートVLの出力端子と
グランド端子GNDとの間の直列オン抵抗をR2、イン
バータV1の論理しきい値電圧をVth、電源電圧をV
Dとすると、一旦 V(QQ)=(R2/(R1+R2))×VD (3) となる。このとき、 V(QQ)<Vth (4) であれば、インバータV1は反転動作を開始して、出力
端子QBの電位はハイレベル、端子QQの電位はロウレ
ベルに落ち着くことになる。しかし、もし V(QQ)>Vth (5) であれば、インバータV1は反転動作を実行できず、し
たがって、出力端子QBの電位はロウレベル、端子QQ
の電位もハイレベルのままとなり、ラッチ信号の書換え
は行えなくなってしまう。以上が第1式の条件である。
時刻t4には、全く逆の現象が起きるので、第2式の条
件が導かれることは、明かであろう。このような構成な
ので、本特許のようにインバータV2が付加されたトラ
ンスファーゲート型ラッチ回路はスタティック動作を行
うことになる。図3の従来のダイナミック型ラッチ回路
では、インバータV2がないためクロックがロウレベル
になると、電位を固定するパスがないために、端子QQ
の電位は次第に変化してしまうため、ダイナミックなラ
ッチ動作しか行うことができない。このインバータV2
は、小さければ小さいほど、上記条件を満たし易くなる
ばかりでなく、CMOS論理ゲートVLに対する負荷が
軽くなり、ラッチ回路全体として動作速度が向上するこ
とは明かである。インバータV1は小さければ小さいほ
ど、CMOS論理ゲートVLに対する負荷は軽くなる
が、一方次段へのドライブ能力が低下し、ひいてはラッ
チ回路全体として、動作速度の低下をまねくので、この
かねあいとなる。またインバータV2が次第に小さくな
って、寄生容量成分がトランスファーゲートTGの持つ
寄生容量に比べて、無視できるほど小さくなった極限状
態では、その動作速度は、図3のダイナミックなラッチ
回路の動作速度に近づくこともまた明かであろう。イン
バータV2の大きさの下限は、端子QQに寄生する容量
に充電されている電荷を放電しようとする、MOSトラ
ンジスタのリーク電流に打ち勝つ電流がインバータV2
から供給できることが条件となって決定される。この電
流は現在のMOSトランジスタ製作技術の現状で、ピコ
アンペアオーダーかそれ以下である。このリーク電流は
本発明回路で要求されるものと比べて、ほとんど考慮す
る必要がないほど小さく、実際問題として、インバータ
V2の設計上の下限を考慮する必要はない。作れるだけ
小さく作っておくことが望ましい。もし、上記第1式、
第2式の条件を満たさない場合には、ラッチ信号の書換
えを行うことはできない。その代表的な例として、トラ
ンスファーゲートTGに用いられているMOSトランジ
スタや、CMOS論理ゲートとインバータV1、V2に
用いられているトランジスタに、まったく同じ仕様のも
のを用いた場合を挙げることができる。このような場合
には、本発明のような効果は実現できない。このオン抵
抗を上式の条件に適合するものとする具体的な手段とし
て、最も簡便な方法は、使用しているMOSトランジス
タの幅を変化させることであるが、そのほかにも、トラ
ンジスタのゲート長や、しきい値電圧を変えるなど、様
々な手段によって実現できることは明かである。また現
在CMOSメモリなどで試みられている、ポリシリコン
FETや、シン・フィルム・トランジスタ(TFT)も
使用可能である。また、上記説明のなかでは、CMOS
インバータのみを念頭において説明してきたが、小さな
NMOSとポリシリコン等による高抵抗、小さなPMO
Sと高抵抗を組み合わせたインバータなどを使用するこ
とも可能である。また、トランスファーゲートも図1
(b)のようなCMOS型のトランスファーゲートのほ
かにも、NMOSトランスファーゲートまたはPMOS
トランスファーゲートのみで構成できることは明かであ
る。またMOSトランジスタの他にも、MESFETな
どでも同様の回路が実現できることも明かであろう。
【0010】図5は本発明の第2の実施例であって、第
1の実施例に示したスタティック型ラッチ回路を組み合
わせることによって実現した2分の1分周器の構成例で
ある。ここにSL1、SL2はスタティック型ラッチ回
路、V3はCMOSインバータである。またCCはクロ
ック信号入力端子、CBは逆相のクロック信号入力端
子、QQはクロック信号の2分の1周波数を出力する出
力端子である。またQQ1、QQ2は各々内部端子を指
している図6は図5の各端子の状態表であり、この分周
器に入力されるクロックが変化するごとに、各端子の電
圧が、ハイ(H)になるか、ロウ(L)になるかを示す
ものである。この図からクロックの2倍の周期の、従っ
て2分の1の周波数の信号が出力端子QQから出力され
ることがわかる。この2分の1分周器もラッチ回路と同
じように、ラッチ回路SL1、SL2に内臓されてい
る、インバータを極小のものにすることによって、図7
に示したダイナミック型2分の1分周器とほぼ同等の高
速性能を実現できることは明かである。また、トランス
ファーゲートもCMOS型のトランスファーゲートのほ
かにも、NMOSトランスファーゲートまたはPMOS
トランスファーゲートのみで構成できることは明かであ
る。またNMOSトランスファーゲートをSL1とし
て、PMOSトランスファーゲートをSL2として混載
すれば、逆相クロックCBを用いずに、クロックCCの
みを入力する単相クロック型の分周器を構成できること
もまた明かである。
1の実施例に示したスタティック型ラッチ回路を組み合
わせることによって実現した2分の1分周器の構成例で
ある。ここにSL1、SL2はスタティック型ラッチ回
路、V3はCMOSインバータである。またCCはクロ
ック信号入力端子、CBは逆相のクロック信号入力端
子、QQはクロック信号の2分の1周波数を出力する出
力端子である。またQQ1、QQ2は各々内部端子を指
している図6は図5の各端子の状態表であり、この分周
器に入力されるクロックが変化するごとに、各端子の電
圧が、ハイ(H)になるか、ロウ(L)になるかを示す
ものである。この図からクロックの2倍の周期の、従っ
て2分の1の周波数の信号が出力端子QQから出力され
ることがわかる。この2分の1分周器もラッチ回路と同
じように、ラッチ回路SL1、SL2に内臓されてい
る、インバータを極小のものにすることによって、図7
に示したダイナミック型2分の1分周器とほぼ同等の高
速性能を実現できることは明かである。また、トランス
ファーゲートもCMOS型のトランスファーゲートのほ
かにも、NMOSトランスファーゲートまたはPMOS
トランスファーゲートのみで構成できることは明かであ
る。またNMOSトランスファーゲートをSL1とし
て、PMOSトランスファーゲートをSL2として混載
すれば、逆相クロックCBを用いずに、クロックCCの
みを入力する単相クロック型の分周器を構成できること
もまた明かである。
【0011】図8は本発明の第3の実施例であって、プ
リスケーラ回路である。SL3、SL4、SL5、SL
6はスタティック型CMOSラッチ回路、NDはCMO
S2入力NAND回路、ORはCMOS2入力OR回
路、QQは出力端子、Mは入力端子、QQ3、QQ4、
QQ5、QQ6は内部端子である。
リスケーラ回路である。SL3、SL4、SL5、SL
6はスタティック型CMOSラッチ回路、NDはCMO
S2入力NAND回路、ORはCMOS2入力OR回
路、QQは出力端子、Mは入力端子、QQ3、QQ4、
QQ5、QQ6は内部端子である。
【0012】図9は図8の各端子の状態表であり、入力
信号Mがロウレベルの時に、このプリスケーラ回路に入
力されるクロックが変化するごとに、各端子の電圧が、
ハイレベル(H)になるか、ロウレベル(L)になるか
を示すものである。この図からクロックの3倍の周期
の、従って3分の1の周波数の信号が出力端子QQから
出力されることがわかる。入力信号Mがハイレベルの時
には、OR回路ORの出力は常にロウに固定されるの
で、このプリスケーラ回路は、図4の2分の1分周器と
等価になる。このプリスケーラもラッチ回路と同等の条
件で設計を行えば、ダイナミック型とほぼ同等の高速性
能を実現できることは明かである。
信号Mがロウレベルの時に、このプリスケーラ回路に入
力されるクロックが変化するごとに、各端子の電圧が、
ハイレベル(H)になるか、ロウレベル(L)になるか
を示すものである。この図からクロックの3倍の周期
の、従って3分の1の周波数の信号が出力端子QQから
出力されることがわかる。入力信号Mがハイレベルの時
には、OR回路ORの出力は常にロウに固定されるの
で、このプリスケーラ回路は、図4の2分の1分周器と
等価になる。このプリスケーラもラッチ回路と同等の条
件で設計を行えば、ダイナミック型とほぼ同等の高速性
能を実現できることは明かである。
【0013】図10は本発明の第4の実施例であって、
2分の1分周器である。SL7、SL8、SL9、SL
10はスタティック型CMOSラッチ回路、QQは出力
端子、QQ7、QQ8、QQ9、QQ10は内部端子、
CCはクロック入力端子、CBは逆相クロック入力端子
である。またRSはこれら内部端子の電圧の初期状態を
セットするためのセット回路である。このセット回路に
よって、内部端子対QQ7とQQ9、またはQQ8とQ
Q10を、逆のレベルにセットする必要がある。あるい
は、SL7とSL9の出力端子対やSL8とSL10の
出力端子対も、各端子対の端子間相互に反対の論理レベ
ルにある必要があるので、このような反対の論理レベル
の端子対の1対またはそれ以上の対に対してセット回路
により電圧の初期設定をする。この場合に、複数の端子
対にセット回路を接続すれば、回路の安定度ならびにセ
ット後の収束性を高めることができる。
2分の1分周器である。SL7、SL8、SL9、SL
10はスタティック型CMOSラッチ回路、QQは出力
端子、QQ7、QQ8、QQ9、QQ10は内部端子、
CCはクロック入力端子、CBは逆相クロック入力端子
である。またRSはこれら内部端子の電圧の初期状態を
セットするためのセット回路である。このセット回路に
よって、内部端子対QQ7とQQ9、またはQQ8とQ
Q10を、逆のレベルにセットする必要がある。あるい
は、SL7とSL9の出力端子対やSL8とSL10の
出力端子対も、各端子対の端子間相互に反対の論理レベ
ルにある必要があるので、このような反対の論理レベル
の端子対の1対またはそれ以上の対に対してセット回路
により電圧の初期設定をする。この場合に、複数の端子
対にセット回路を接続すれば、回路の安定度ならびにセ
ット後の収束性を高めることができる。
【0014】セット回路の具体例としては、例えば、Q
Q9にはNMOSトランジスタのドレインを接続し、ソ
ースをGND端子に接続し、ゲートにセットパルスのハ
イレベル信号を入力する。また端子QQ7にはPMOS
トランジスタのドレインを接続し、ソースをVDD端子
に接続し、ゲートにセットパルスの反転信号(ロウレベ
ル)を入力する。このことによって上記のようなセット
が可能となる。
Q9にはNMOSトランジスタのドレインを接続し、ソ
ースをGND端子に接続し、ゲートにセットパルスのハ
イレベル信号を入力する。また端子QQ7にはPMOS
トランジスタのドレインを接続し、ソースをVDD端子
に接続し、ゲートにセットパルスの反転信号(ロウレベ
ル)を入力する。このことによって上記のようなセット
が可能となる。
【0015】図11は図10の入出力波形のタイミング
図で、入力されるクロックが変化するごとに、各端子の
電圧が、ハイレベル(H)になるか、ロウレベル(L)
になるかを示す状態図である。この図からクロックの2
倍の周期の、従って2分の1の周波数の信号が出力端子
QQから出力されることがわかる。この第4の実施例は
第2の実施例と同じスタティックな2分の1分周器であ
る。第4の実施例は第2の実施例に比べて、トランジス
タの数や、消費電力は約2倍必要であるが、最高動作周
波数も約2倍の高速であるという特徴がある。高速であ
る理由は、第2の実施例の回路において、最も動作速度
を律しているのが、ラッチ回路SL2とインバータV3
を信号が伝搬する時間であるのに対し、第4の実施例の
回路においては、すべてのラッチ回路SL7、SL8、
SL9、SL10のいずれかを信号が伝搬する時間であ
るためである。すなわち、この時間差である、インバー
タV3を信号が伝搬する時間分だけ、第4の実施例の速
度が高速になるわけである。このように、第2の実施例
は高速ではあるが、中でも低消費電力用として、第4の
実施例は、より高速動作用としての特徴がある。このほ
か、上記したラッチ回路や分周器、プリスケーラを組み
合わせることによって、スタティック型のDタイプフリ
ップフロップやシフトレジスタなど、さまざまな順序回
路を実現できることは明かである。
図で、入力されるクロックが変化するごとに、各端子の
電圧が、ハイレベル(H)になるか、ロウレベル(L)
になるかを示す状態図である。この図からクロックの2
倍の周期の、従って2分の1の周波数の信号が出力端子
QQから出力されることがわかる。この第4の実施例は
第2の実施例と同じスタティックな2分の1分周器であ
る。第4の実施例は第2の実施例に比べて、トランジス
タの数や、消費電力は約2倍必要であるが、最高動作周
波数も約2倍の高速であるという特徴がある。高速であ
る理由は、第2の実施例の回路において、最も動作速度
を律しているのが、ラッチ回路SL2とインバータV3
を信号が伝搬する時間であるのに対し、第4の実施例の
回路においては、すべてのラッチ回路SL7、SL8、
SL9、SL10のいずれかを信号が伝搬する時間であ
るためである。すなわち、この時間差である、インバー
タV3を信号が伝搬する時間分だけ、第4の実施例の速
度が高速になるわけである。このように、第2の実施例
は高速ではあるが、中でも低消費電力用として、第4の
実施例は、より高速動作用としての特徴がある。このほ
か、上記したラッチ回路や分周器、プリスケーラを組み
合わせることによって、スタティック型のDタイプフリ
ップフロップやシフトレジスタなど、さまざまな順序回
路を実現できることは明かである。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
高速なダイナミック型にほぼ匹敵する動作速度を有す
る、スタティック型の順序回路を実現することができ
る。
高速なダイナミック型にほぼ匹敵する動作速度を有す
る、スタティック型の順序回路を実現することができ
る。
【図1】本発明の第1の実施例のスタティック型ラッチ
回路。(a)は回路図シンボルにより記述したもの、
(b)はトランジスタを用いた本発明ラッチ回路を記述
したもの。
回路。(a)は回路図シンボルにより記述したもの、
(b)はトランジスタを用いた本発明ラッチ回路を記述
したもの。
【図2】図1のラッチ回路の入出力波形のタイミング
図。
図。
【図3】従来のダイナミック型ラッチ回路図。(a)は
回路図シンボルにより記述したもの、(b)はトランジ
スタを用いて回路記述をしたもの。
回路図シンボルにより記述したもの、(b)はトランジ
スタを用いて回路記述をしたもの。
【図4】従来のスタティック型ラッチ回路図。
【図5】本発明の第2の実施例のスタティック型の2分
の1分周器図。
の1分周器図。
【図6】図5の各端子の状態表図。
【図7】従来のダイナミック型2分の1分周器図。
【図8】本発明の第3の実施例のスタティック型の2分
の1・3分の1プリスケーラ図。
の1・3分の1プリスケーラ図。
【図9】図8の各端子の状態表図。
【図10】本発明の第4の実施例のスタティック型2分
の1分周器図。回路図シンボルにより記述している。
の1分周器図。回路図シンボルにより記述している。
【図11】図10の入出力波形のタイミング図。
D…データ入力端子 QB…ラッチされたデータの出力端子 CC…クロック信号入力端子 CB…逆相のクロック信号入力端子 VDD…電源電圧端子 GND…回路を接地するグランド端子 Cm…寄生容量 V1〜V3…CMOSインバータ TG、TG1、TG2…CMOSのトランスファーゲー
ト VL…CMOS論理ゲート SL1〜SL10…スタティック型ラッチ回路 QQ…クロック信号の2分の1周波数を出力する出力端
子 QB…QQの反転信号を出力する出力端子 QQ1〜QQ10…内部端子 M…2分の1、3分の1分周切り替え用の入力端子 OR…OR論理回路 ND…2入力NAND論理回路 RS…セット回路
ト VL…CMOS論理ゲート SL1〜SL10…スタティック型ラッチ回路 QQ…クロック信号の2分の1周波数を出力する出力端
子 QB…QQの反転信号を出力する出力端子 QQ1〜QQ10…内部端子 M…2分の1、3分の1分周切り替え用の入力端子 OR…OR論理回路 ND…2入力NAND論理回路 RS…セット回路
Claims (5)
- 【請求項1】論理ゲートVLの出力に接続して、クロッ
クの入力により該論理ゲートの出力をラッチするラッチ
回路としてのスタティック型トランスファーゲート順序
回路において、 トランスファーゲートTGと、2つのインバータV1、
V2と、入力端子D、出力端子QB、電源電圧端子VD
D、回路を接地するグランド端子GND、クロック入力
端子CCを有し、 入力端子DにトランスファーゲートTGの一端を接続
し、トランスファーゲートTGの別の一端をインバータ
V1の入力端子に、インバータV1の出力端子を出力端
子QBとインバータV2の入力端子に、インバータV2
の出力端子をインバータV1の入力端子にそれぞれ接続
することを特徴とするスタティック型トランスファーゲ
ート順序回路。 - 【請求項2】請求項1において、さらに、インバータV
2を構成するPMOSトランジスタのオン抵抗をR1、
トランスファーゲートTGと前段の論理ゲートVLの出
力端子とグランド端子GNDとの間の直列オン抵抗をR
2、インバータV1の論理しきい値電圧をVth、電源
電圧をVDとするとき、 (R2/(R1+R2))×VD<Vth の関係を有し、かつ、 インバータV2を構成するNMOSトランジスタのオン
抵抗をR3、トランスファーゲートTGと前段の論理ゲ
ートVLの出力端子と電源電圧端子VDDとの間の直列
オン抵抗をR4とするとき、 (R3/(R3+R4))×VD>Vth の関係を有することを特徴とするスタティック型トラン
スファーゲート順序回路。 - 【請求項3】請求項1または請求項2に記載のスタティ
ック型トランスファーゲート順序回路としてのラッチ回
路SL1、SL2と、1つのインバータV3と、出力端
子QQを有し、 ラッチ回路SL1の出力端子をラッチ回路SL2の入力
端子に、ラッチ回路SL2の出力端子をインバータV3
の入力端子に、インバータV3の出力端子をラッチ回路
SL1の入力端子と上記出力端子QQにそれぞれ接続す
ることを特徴とする、分周機能を有するスタティック型
トラスファーゲート順序回路。 - 【請求項4】請求項1または請求項2に記載のスタティ
ック型トランスファーゲート順序回路としてのラッチ回
路SL3、SL4、SL5、SL6と、1つの2入力N
AND回路NDと1つの2入力OR回路ORと、出力端
子QQ、入力端子Mを有し、 2入力NAND回路NDの出力端子をラッチ回路SL3
の入力端子に、ラッチ回路SL3の出力端子をラッチ回
路SL4の入力端子にそれぞれ接続し、 ラッチ回路SL4の出力端子を2入力NAND回路ND
の第1の入力端子とOR回路ORの第1の入力端子に接
続し、 OR回路の出力端子をラッチ回路SL5の入力端子に、
ラッチ回路SL5の出力端子をラッチ回路SL6の入力
端子にそれぞれ接続し、 ラッチ回路SL6の出力端子を2入力NAND回路ND
の第2の入力端子に接続し、 OR回路ORの第2の入力端子に入力端子Mを、ラッチ
回路SL4の出力端子に出力端子QQをそれぞれ接続す
ることを特徴とする、プリスケーラ機能を有するスタテ
ィック型トランスファーゲート順序回路。 - 【請求項5】請求項1または請求項2に記載のスタティ
ック型トランスファーゲート順序回路としてのラッチ回
路SL7、SL8、SL9、SL10と、ラッチ回路の
出力端子、またはラッチ回路内のトランスファーゲート
の出力端子の初期電圧レベルをセットするためのセット
回路RSと、出力端子QQおよびQBを有し、 ラッチ回路SL7の出力端子をラッチ回路SL8の入力
端子に、ラッチ回路SL8の出力端子をラッチ回路SL
9の入力端子にそれぞれ接続し、 ラッチ回路SL9の出力端子をラッチ回路SL10の入
力端子に、ラッチ回路SL10の出力端子をラッチ回路
SL7の入力端子にそれぞれ接続し、 ラッチ回路SL8の出力端子を上記出力端子QQに、ラ
ッチ回路SL10の出力端子を上記出力端子QBにそれ
ぞれ接続し、さらに、 ラッチ回路SL7とSL9の出力端子間、SL8とSL
10の出力端子間、SL7とSL9の各ラッチ回路内の
トランスファーゲートの出力端子相互間、SL8とSL
10の各ラッチ回路内のトランスファーゲートの出力端
子相互間の4対の出力端子間の少なくとも1対の出力端
子間に、該出力端子の電圧レベルを相互に反対のレベル
に初期設定するセット回路RSを接続することを特徴と
する、2分の1分周機能を有するスタティック型トラン
スファーゲート順序回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3279878A JPH05122020A (ja) | 1991-10-25 | 1991-10-25 | スタテイツク型トランスフアーゲート順序回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3279878A JPH05122020A (ja) | 1991-10-25 | 1991-10-25 | スタテイツク型トランスフアーゲート順序回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05122020A true JPH05122020A (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=17617199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3279878A Pending JPH05122020A (ja) | 1991-10-25 | 1991-10-25 | スタテイツク型トランスフアーゲート順序回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05122020A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0964519A3 (en) * | 1998-06-12 | 2000-10-11 | Nec Corporation | Semiconductor integrated logic circuit with sequential circuits capable of preventing sub-threshold leakage current |
| US6188246B1 (en) | 1998-05-20 | 2001-02-13 | Nec Corporation | Semiconductor circuit with sequential circuit which can prevent leakage current |
| JP2017076942A (ja) * | 2015-10-16 | 2017-04-20 | ローム株式会社 | チョッパ安定化アンプ |
-
1991
- 1991-10-25 JP JP3279878A patent/JPH05122020A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6188246B1 (en) | 1998-05-20 | 2001-02-13 | Nec Corporation | Semiconductor circuit with sequential circuit which can prevent leakage current |
| EP0964519A3 (en) * | 1998-06-12 | 2000-10-11 | Nec Corporation | Semiconductor integrated logic circuit with sequential circuits capable of preventing sub-threshold leakage current |
| US6246265B1 (en) | 1998-06-12 | 2001-06-12 | Nec Corporation | Semiconductor integrated logic circuit with sequential circuits capable of preventing subthreshold leakage current |
| JP2017076942A (ja) * | 2015-10-16 | 2017-04-20 | ローム株式会社 | チョッパ安定化アンプ |
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