JPH0512644A - 磁気記録媒体 - Google Patents
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- JPH0512644A JPH0512644A JP16554191A JP16554191A JPH0512644A JP H0512644 A JPH0512644 A JP H0512644A JP 16554191 A JP16554191 A JP 16554191A JP 16554191 A JP16554191 A JP 16554191A JP H0512644 A JPH0512644 A JP H0512644A
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Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 非磁性基板の温度を高めることなく成膜が可
能であり、且つ高抗磁力、高飽和磁化である優れた磁気
特性を有する二層膜型垂直磁気記録媒体を得ること。 【構成】 非磁性基板上に、低抗磁力磁性層と、高抗磁
力磁性層を有する磁気記録媒体において、該高抗磁力磁
性層を(Co100-x Pdx )100-y Cry (10≦x≦
40,5≦y≦25、x及びyは、at.%である。)で
表される組成を主成分とし、膜面にほぼ垂直な方向に磁
化容易軸を有する金属薄膜で構成する。
能であり、且つ高抗磁力、高飽和磁化である優れた磁気
特性を有する二層膜型垂直磁気記録媒体を得ること。 【構成】 非磁性基板上に、低抗磁力磁性層と、高抗磁
力磁性層を有する磁気記録媒体において、該高抗磁力磁
性層を(Co100-x Pdx )100-y Cry (10≦x≦
40,5≦y≦25、x及びyは、at.%である。)で
表される組成を主成分とし、膜面にほぼ垂直な方向に磁
化容易軸を有する金属薄膜で構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、金属薄膜を磁性層とす
る磁気記録媒体に関し、特に磁性層の組成を改良するこ
とにより、磁気特性が向上せしめられた、いわゆる二層
膜型垂直磁気記録に好適な磁気記録媒体に関するもので
ある。
る磁気記録媒体に関し、特に磁性層の組成を改良するこ
とにより、磁気特性が向上せしめられた、いわゆる二層
膜型垂直磁気記録に好適な磁気記録媒体に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】近年の、高密度記録化の要求に応えるべ
く磁気記録媒体の改良が鋭意進められている。中でも記
録密度の向上が最も期待される記録方式として、磁性層
に垂直磁化膜を使用したいわゆる垂直磁気方式がある。
く磁気記録媒体の改良が鋭意進められている。中でも記
録密度の向上が最も期待される記録方式として、磁性層
に垂直磁化膜を使用したいわゆる垂直磁気方式がある。
【0003】即ち、垂直磁気記録は、磁性層の膜面に垂
直な方向に磁化容易軸を有する垂直磁化膜を用いる方式
であり、特に金属薄膜型垂直磁化膜を磁性層とする磁気
記録媒体において、優れた高密度記録が実現されるた
め、各種の磁気材料組成、層の構成及び成膜方法の改良
が提案されている。特に、高透磁率を有する低抗磁力軟
磁性層と垂直磁化膜層との組み合わせによる二層膜型垂
直磁化媒体が高再生出力が得られるため注目されてきた
(特公昭58−91)。
直な方向に磁化容易軸を有する垂直磁化膜を用いる方式
であり、特に金属薄膜型垂直磁化膜を磁性層とする磁気
記録媒体において、優れた高密度記録が実現されるた
め、各種の磁気材料組成、層の構成及び成膜方法の改良
が提案されている。特に、高透磁率を有する低抗磁力軟
磁性層と垂直磁化膜層との組み合わせによる二層膜型垂
直磁化媒体が高再生出力が得られるため注目されてきた
(特公昭58−91)。
【0004】薄膜型垂直磁化膜材料については、CoC
r,CoCrTa,等でその優れた記録再生特性が知ら
れているが、通常のマグネトロンスパッタリング方式で
成膜する場合、垂直磁気異方性を得るためには少なくと
も100℃以上に非磁性基板を加熱する必要があった。
また、真空蒸着法では、更に高温の加熱が必要であり、
これは実用化への大きな課題があった。
r,CoCrTa,等でその優れた記録再生特性が知ら
れているが、通常のマグネトロンスパッタリング方式で
成膜する場合、垂直磁気異方性を得るためには少なくと
も100℃以上に非磁性基板を加熱する必要があった。
また、真空蒸着法では、更に高温の加熱が必要であり、
これは実用化への大きな課題があった。
【0005】即ち、磁性金属薄膜を成膜する際に、非磁
性基板を加熱するためには、成膜装置の構造が複雑とな
るとともに、基板材料からの放出ガスの影響、あるいは
使用可能な非磁性基板の種類が限定され、例えば、ポリ
エチレンテレフタレートフィルム等のプラスチック材料
の使用が困難である、等の問題点があった。
性基板を加熱するためには、成膜装置の構造が複雑とな
るとともに、基板材料からの放出ガスの影響、あるいは
使用可能な非磁性基板の種類が限定され、例えば、ポリ
エチレンテレフタレートフィルム等のプラスチック材料
の使用が困難である、等の問題点があった。
【0006】これらの問題点のため、垂直磁気記録媒体
の実用化が未だ遅れている。
の実用化が未だ遅れている。
【0007】一方、低温度での成膜でも高抗磁力が得ら
れる材料として、CoPt系の面内磁化膜、CoPtB
O系垂直磁化膜(特開平2−74012号など)が知ら
れているが、Pt材料は高価であるという実用上の問題
があった。
れる材料として、CoPt系の面内磁化膜、CoPtB
O系垂直磁化膜(特開平2−74012号など)が知ら
れているが、Pt材料は高価であるという実用上の問題
があった。
【0008】Ptより安価な材料で、且つ低温度の成膜
でも高抗磁力が得られる材料としてCoPd系の金属薄
膜が特開平1−191318号、特開平2−30104
号に開示されているが、Pd量が60%以上必要であり
材料コスト的にもまだ高価であり、且つ飽和磁化Msが
約400 emu/cc程度であり磁気特性の面でも充分なも
のではなかった。
でも高抗磁力が得られる材料としてCoPd系の金属薄
膜が特開平1−191318号、特開平2−30104
号に開示されているが、Pd量が60%以上必要であり
材料コスト的にもまだ高価であり、且つ飽和磁化Msが
約400 emu/cc程度であり磁気特性の面でも充分なも
のではなかった。
【0009】また、J.Appl.Phys.,52
(3),2453(1981)には、垂直磁化型の磁性
膜としてCo−Cr系の金属薄膜の磁気異方性に関する
記載があり、その中でCo−Cr中にPdやRhを少量
添加した合金薄膜の特性が開示されているが、大きな改
善がみられていない。
(3),2453(1981)には、垂直磁化型の磁性
膜としてCo−Cr系の金属薄膜の磁気異方性に関する
記載があり、その中でCo−Cr中にPdやRhを少量
添加した合金薄膜の特性が開示されているが、大きな改
善がみられていない。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記従来技
術の問題点に鑑みなされたものであり、非磁性基板の温
度を高めることなく成膜が可能であり、且つ高抗磁力、
高飽和磁化である優れた磁気特性を有する二層膜型垂直
磁気記録媒体を得ることを目的としている。
術の問題点に鑑みなされたものであり、非磁性基板の温
度を高めることなく成膜が可能であり、且つ高抗磁力、
高飽和磁化である優れた磁気特性を有する二層膜型垂直
磁気記録媒体を得ることを目的としている。
【0011】また、本発明の別の目的は、材料コストが
比較的安価である二層膜型垂直磁気記録媒体を提供する
ことにある。
比較的安価である二層膜型垂直磁気記録媒体を提供する
ことにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記本発明の目的は、非
磁性基板上に、低抗磁力磁性層と、高抗磁力磁性層を有
する磁気記録媒体において、該高抗磁力磁性層は(Co
100-x Pdx )100-y Cry (10≦x≦40,5≦y
≦25、x及びyは、at.%である。)で表される組成
を主成分とし、膜面にほぼ垂直な方向に磁化容易軸を有
する金属薄膜であることを特徴とする垂直磁気記録媒体
により達成される。
磁性基板上に、低抗磁力磁性層と、高抗磁力磁性層を有
する磁気記録媒体において、該高抗磁力磁性層は(Co
100-x Pdx )100-y Cry (10≦x≦40,5≦y
≦25、x及びyは、at.%である。)で表される組成
を主成分とし、膜面にほぼ垂直な方向に磁化容易軸を有
する金属薄膜であることを特徴とする垂直磁気記録媒体
により達成される。
【0013】さらに好ましくは、前記抵抗磁力磁性層が
膜面内に磁化容易軸を有する軟磁性層であることを特徴
とするものである。
膜面内に磁化容易軸を有する軟磁性層であることを特徴
とするものである。
【0014】ここで「軟磁性層」というのは、膜面内の
抗磁力が10Oe以下の高透磁率の磁性層を意味するもの
である。
抗磁力が10Oe以下の高透磁率の磁性層を意味するもの
である。
【0015】
【作用および効果】本発明の磁気記録媒体は、特定の組
成範囲にあるCo−Pd系合金にCrを特定範囲の組成
比加えることにより、得られる金属薄膜磁性層の磁気特
性を改良し特に垂直磁気異方性に優れた媒体の提供を可
能にしたものであり、また、Co−Pd系合金を主体と
した組成であるために、成膜の際の非磁性基板の温度を
高める必要がないので、製造方法が簡易なものでよく、
製造コストも比較的安価であり、また非磁性基板に要求
される耐熱性も軽減されているのでその選択の幅を広く
することができる。
成範囲にあるCo−Pd系合金にCrを特定範囲の組成
比加えることにより、得られる金属薄膜磁性層の磁気特
性を改良し特に垂直磁気異方性に優れた媒体の提供を可
能にしたものであり、また、Co−Pd系合金を主体と
した組成であるために、成膜の際の非磁性基板の温度を
高める必要がないので、製造方法が簡易なものでよく、
製造コストも比較的安価であり、また非磁性基板に要求
される耐熱性も軽減されているのでその選択の幅を広く
することができる。
【0016】即ち、本発明では、高抗磁力磁性層の金属
薄膜中のCoにPdを加えることにより発生する磁歪の
逆効果が磁気異方性を誘起するために、非磁性基板を高
めなくとも磁気異方性に優れた磁性膜を得ることができ
ると考えられる。
薄膜中のCoにPdを加えることにより発生する磁歪の
逆効果が磁気異方性を誘起するために、非磁性基板を高
めなくとも磁気異方性に優れた磁性膜を得ることができ
ると考えられる。
【0017】更に、Crを添加するとその偏析効果によ
り粒界分離性が高まるので、磁気特性が改良でき、特に
垂直磁気異方性に優れた金属薄膜を得ることができると
推定される。
り粒界分離性が高まるので、磁気特性が改良でき、特に
垂直磁気異方性に優れた金属薄膜を得ることができると
推定される。
【0018】本発明における磁気記録媒体における高抗
磁力磁性層の垂直方向の抗磁力は、少なくとも400Oe
以上、好ましくは500Oe以上、特に好ましくは600
Oe以上である。また、垂直方向の磁力線の成分の度合を
示す指標である垂直異方性磁界は、少なくとも3kOe 以
上が望ましい。この抗磁力は、一定の出力を保持するた
めに必要である。
磁力磁性層の垂直方向の抗磁力は、少なくとも400Oe
以上、好ましくは500Oe以上、特に好ましくは600
Oe以上である。また、垂直方向の磁力線の成分の度合を
示す指標である垂直異方性磁界は、少なくとも3kOe 以
上が望ましい。この抗磁力は、一定の出力を保持するた
めに必要である。
【0019】本発明の磁気記録媒体における前記高抗磁
力磁性層の組成は、(Co100-x Pdx )100-y Cry
と表示されるものであり、(Co−Pd)系合金に対す
るCrの組成比y(at.%)は5乃至25at.%であ
り、好ましくは10乃至20at.%である。Crの添加
量が多すぎるとMsが低下し、また少なすぎると垂直異
方性磁界(Hkeff)が充分な大きさにならず、垂直磁気
異方性が優れた物とはならないので好ましくない。
力磁性層の組成は、(Co100-x Pdx )100-y Cry
と表示されるものであり、(Co−Pd)系合金に対す
るCrの組成比y(at.%)は5乃至25at.%であ
り、好ましくは10乃至20at.%である。Crの添加
量が多すぎるとMsが低下し、また少なすぎると垂直異
方性磁界(Hkeff)が充分な大きさにならず、垂直磁気
異方性が優れた物とはならないので好ましくない。
【0020】本発明の前記高抗磁力磁性層の組成のうち
(Co−Pd)系合金のCoに対するPdの組成比x
(at.%)は、10乃至40at.%であり、好ましくは
10乃至30at.%である。
(Co−Pd)系合金のCoに対するPdの組成比x
(at.%)は、10乃至40at.%であり、好ましくは
10乃至30at.%である。
【0021】Pdの添加量が多すぎると、垂直方向の抗
磁力Hcが低くなり、また少なすぎると前記Hkeffが充
分に大きくならず好ましくない。
磁力Hcが低くなり、また少なすぎると前記Hkeffが充
分に大きくならず好ましくない。
【0022】以上のように、本発明の磁気記録媒体にお
ける高抗磁力磁性層の金属薄膜の組成をCo−Pd−C
rの3元系合金となし、且つその組成比を前記の範囲に
特定することにより、製造上利点の多い垂直磁気異方性
に優れた磁気記録媒体を提供することを可能にしたもの
である。
ける高抗磁力磁性層の金属薄膜の組成をCo−Pd−C
rの3元系合金となし、且つその組成比を前記の範囲に
特定することにより、製造上利点の多い垂直磁気異方性
に優れた磁気記録媒体を提供することを可能にしたもの
である。
【0023】なお、前記薄幕磁性層は、更に特性の向上
を図るため、前記合金組成に加えてPd,Cr添加効果
を損なわない範囲で、10at.%以下の酸素、窒素、炭
素、不活性ガス、金属、あるいは半金属等の添加元素を
加えても良い。
を図るため、前記合金組成に加えてPd,Cr添加効果
を損なわない範囲で、10at.%以下の酸素、窒素、炭
素、不活性ガス、金属、あるいは半金属等の添加元素を
加えても良い。
【0024】本発明の高抗磁力磁性層の金属薄膜の膜厚
は、通常、200乃至10,000A(オングストロー
ム)、望ましくは300乃至5000オングストローム
の範囲である。これは、余り薄いと出力が充分に取れ
ず、余り厚いと高域周波数での特性が低下する。
は、通常、200乃至10,000A(オングストロー
ム)、望ましくは300乃至5000オングストローム
の範囲である。これは、余り薄いと出力が充分に取れ
ず、余り厚いと高域周波数での特性が低下する。
【0025】低抗磁力磁性層としては、面内抗磁力が1
00エルステッド以下、好ましくは80Oe以下、特に好
ましくは50Oe以下の面内磁化膜であることが望まし
い。特に望ましくは高透磁率を有するいわゆる軟磁性薄
膜が望ましい。この軟磁性薄膜の抗磁力は、10Oe以下
である。
00エルステッド以下、好ましくは80Oe以下、特に好
ましくは50Oe以下の面内磁化膜であることが望まし
い。特に望ましくは高透磁率を有するいわゆる軟磁性薄
膜が望ましい。この軟磁性薄膜の抗磁力は、10Oe以下
である。
【0026】例えば、パーマロイ系合金、Co−Cr−
Ta,Co−Cr−Nb,Co−Nb−Zr,Coある
いは部分酸化膜,Fe,等の薄膜が挙げられる。
Ta,Co−Cr−Nb,Co−Nb−Zr,Coある
いは部分酸化膜,Fe,等の薄膜が挙げられる。
【0027】前記低抗磁力磁性層の膜厚としては、20
0乃至10,000A、望ましくは300乃至5000
オングストロームで選ばれる。これは、余り薄いと出力
が低下するし、余り厚すぎるとコスト的に不利となる。
0乃至10,000A、望ましくは300乃至5000
オングストロームで選ばれる。これは、余り薄いと出力
が低下するし、余り厚すぎるとコスト的に不利となる。
【0028】低抗磁力磁性層の磁気特性、特に透磁率に
ついては磁気ヘッドとの相対移動方向に対して一様であ
ることが望ましい。このため、ディスク形態においては
磁化容易軸方向がディスクの半径方向で、磁化困難軸方
向が円周方向を向くように形成するのが特に望ましい。
ついては磁気ヘッドとの相対移動方向に対して一様であ
ることが望ましい。このため、ディスク形態においては
磁化容易軸方向がディスクの半径方向で、磁化困難軸方
向が円周方向を向くように形成するのが特に望ましい。
【0029】本発明の磁性層の全厚(高抗磁力と低抗磁
力との膜厚の合計の膜厚)は、通常、500乃至150
00オングストロームである。
力との膜厚の合計の膜厚)は、通常、500乃至150
00オングストロームである。
【0030】また、後述のように、上記の垂直磁気異方
性を有する高保磁力磁性層の下に中間層を介して、膜面
内に磁化容易軸を有する低抗磁力磁性層を設けた構造の
垂直磁化媒体として実施することも可能である。
性を有する高保磁力磁性層の下に中間層を介して、膜面
内に磁化容易軸を有する低抗磁力磁性層を設けた構造の
垂直磁化媒体として実施することも可能である。
【0031】本発明の磁気記録媒体の金属薄膜磁性層の
形成には、各種薄膜形成方法を適用することができる
が、特にスパッタリング、真空蒸着等の真空成膜法が本
発明をより有効に実施しうる点で望ましい。
形成には、各種薄膜形成方法を適用することができる
が、特にスパッタリング、真空蒸着等の真空成膜法が本
発明をより有効に実施しうる点で望ましい。
【0032】所定の組成の合金薄膜を得るには、薄膜組
成に近い組成の合金ターゲット、あるいは複合ターゲッ
トにてスパッタリング成膜を行ってもよいし、また複数
のターゲットを同時にスパッタリング(多元同時スパッ
タ)することにより、非磁性基板上に所定の組成の合金
薄膜を形成してもよい。
成に近い組成の合金ターゲット、あるいは複合ターゲッ
トにてスパッタリング成膜を行ってもよいし、また複数
のターゲットを同時にスパッタリング(多元同時スパッ
タ)することにより、非磁性基板上に所定の組成の合金
薄膜を形成してもよい。
【0033】特に、後者の多元同時スパッタは、粒界の
分離性を高めるので磁気異方性を誘起し易く、本発明の
高抗磁力磁性層の形成に望ましい方法である。例えば、
CoPd合金ターゲットとCrターゲットを組み合わせ
た2元同時スパッタリングすることによりCrの偏析効
果を更に高めて、磁気異方性の優れた金属薄膜を得るこ
とができる。
分離性を高めるので磁気異方性を誘起し易く、本発明の
高抗磁力磁性層の形成に望ましい方法である。例えば、
CoPd合金ターゲットとCrターゲットを組み合わせ
た2元同時スパッタリングすることによりCrの偏析効
果を更に高めて、磁気異方性の優れた金属薄膜を得るこ
とができる。
【0034】本発明においては、高抗磁力磁性薄膜層の
内部応力に起因する磁歪の効果が効いていると考えら
れ、スパッタリング時の成膜室の真空槽内の不活性ガス
の圧力により、得られる磁気特性が変化するので製造の
際にはガス圧に留意することが望ましい。
内部応力に起因する磁歪の効果が効いていると考えら
れ、スパッタリング時の成膜室の真空槽内の不活性ガス
の圧力により、得られる磁気特性が変化するので製造の
際にはガス圧に留意することが望ましい。
【0035】例えば、不活性ガスにArを使用する場
合、Arガス圧は、5×10-3Torr以上にすることが望
ましい。
合、Arガス圧は、5×10-3Torr以上にすることが望
ましい。
【0036】一方、低抗磁力磁性層についても、合金タ
ーゲット、あるいは複合ターゲットによるスパッタリン
グ、あるいは多元ターゲットによる同時スパッタリング
等が、所望の磁気特性を得るために用いられる。
ーゲット、あるいは複合ターゲットによるスパッタリン
グ、あるいは多元ターゲットによる同時スパッタリング
等が、所望の磁気特性を得るために用いられる。
【0037】また、上記の高抗磁力磁性層、及び低抗磁
力磁性層の特性をより向上させるため、例えばスパッタ
成膜時のスパッタガス圧力、真空中の残留ガス雰囲気、
基板温度、基板表面の吸着物除去、基板からの脱ガスの
低減、成膜速度、などについての最適化が望ましいのは
勿論である。
力磁性層の特性をより向上させるため、例えばスパッタ
成膜時のスパッタガス圧力、真空中の残留ガス雰囲気、
基板温度、基板表面の吸着物除去、基板からの脱ガスの
低減、成膜速度、などについての最適化が望ましいのは
勿論である。
【0038】本発明の磁気記録媒体における非磁性基板
としては、Al,Al合金などの金属、ガラス、セラミ
ックス、合成樹脂などから形成される非磁性基板、ある
いは表面処理、下地層を有する非磁性基板が用いられ
る。例えば、Al系合金、Ni−P下地付きAl基板、
各種強化ガラス、各種セラミクス、ポリエチレンテレフ
タレート、ポリイミド、ポリエーテルイミド、無機・有
機複合材料などが用いられる。
としては、Al,Al合金などの金属、ガラス、セラミ
ックス、合成樹脂などから形成される非磁性基板、ある
いは表面処理、下地層を有する非磁性基板が用いられ
る。例えば、Al系合金、Ni−P下地付きAl基板、
各種強化ガラス、各種セラミクス、ポリエチレンテレフ
タレート、ポリイミド、ポリエーテルイミド、無機・有
機複合材料などが用いられる。
【0039】従来の垂直磁気記録用媒体の製造には、磁
性層の垂直磁化性を高めるために磁性層の成膜の際に基
板温度を高めることが必要であった。しかし、本発明に
おいては、成膜時に非磁性基板を高温度に加熱する必要
がないから、ポリエチレンテレフタレート耐熱性が比較
的低いプラスチック材料を基板として採用することも可
能である。非磁性基板の形態としては、ディスク状形態
のほかに、テープ状形態にも勿論適用できる。
性層の垂直磁化性を高めるために磁性層の成膜の際に基
板温度を高めることが必要であった。しかし、本発明に
おいては、成膜時に非磁性基板を高温度に加熱する必要
がないから、ポリエチレンテレフタレート耐熱性が比較
的低いプラスチック材料を基板として採用することも可
能である。非磁性基板の形態としては、ディスク状形態
のほかに、テープ状形態にも勿論適用できる。
【0040】また、本発明の磁気記録媒体においては、
磁気記録特性、あるいはヘッドと媒体間の摺動特性の更
なる改善のために、前記低抗磁力磁性層と高抗磁力磁性
層との間、あるいは非磁性基板と低抗磁力磁性層との間
に非磁性中間層を設けても良い。この非磁性中間層の組
成としては、例えば、Cr,Mo,W,V,Nb,T
a,Si,Ge,Ti,などの金属、酸化物、窒化物、
あるいは炭化物などの薄膜を用いることができる。
磁気記録特性、あるいはヘッドと媒体間の摺動特性の更
なる改善のために、前記低抗磁力磁性層と高抗磁力磁性
層との間、あるいは非磁性基板と低抗磁力磁性層との間
に非磁性中間層を設けても良い。この非磁性中間層の組
成としては、例えば、Cr,Mo,W,V,Nb,T
a,Si,Ge,Ti,などの金属、酸化物、窒化物、
あるいは炭化物などの薄膜を用いることができる。
【0041】これらの非磁性中間層の効果は、エピタキ
シャルな効果、もしくは非磁性基板からの不純物ガス等
の磁性薄膜中への混入が防止されて、垂直磁化的に優れ
た構造の磁性層の形成を容易にするためではないかと考
えられる。
シャルな効果、もしくは非磁性基板からの不純物ガス等
の磁性薄膜中への混入が防止されて、垂直磁化的に優れ
た構造の磁性層の形成を容易にするためではないかと考
えられる。
【0042】非磁性中間層の膜厚としては、例えば20
0〜10,000Aであればよい。磁性層の成膜方法と
しては、磁性層と同じくスパッタリング、真空蒸着等の
真空成膜法が非磁性層の効果を薄膜磁気記録層に反映さ
せる上で好ましい。
0〜10,000Aであればよい。磁性層の成膜方法と
しては、磁性層と同じくスパッタリング、真空蒸着等の
真空成膜法が非磁性層の効果を薄膜磁気記録層に反映さ
せる上で好ましい。
【0043】また、本発明をより効果的に実施するた
め、高抗磁力磁性層の上に、保護層および潤滑層を設け
ても良い。例えば、保護層としては、カーボン薄膜、酸
化膜、窒化膜、炭化膜、金属薄膜、合金薄膜、などが用
いられる。潤滑層としては、金属薄膜型磁気記録媒体用
の潤滑剤として知られている各種の化合物を使用するこ
とができる。中でもパーフロロカーボン系潤滑剤は、潤
滑効果の上で望ましい。
め、高抗磁力磁性層の上に、保護層および潤滑層を設け
ても良い。例えば、保護層としては、カーボン薄膜、酸
化膜、窒化膜、炭化膜、金属薄膜、合金薄膜、などが用
いられる。潤滑層としては、金属薄膜型磁気記録媒体用
の潤滑剤として知られている各種の化合物を使用するこ
とができる。中でもパーフロロカーボン系潤滑剤は、潤
滑効果の上で望ましい。
【0044】このように、本発明によれば、軟磁性層上
にCo−Cr−Pd系合金垂直磁化膜を設けた磁気記録
媒体において、垂直磁化膜の各元素の組成比を(Co
100-x Pdx )100-y Cry(10≦x≦40,5≦y
≦25、x及びyは、at.%である。)と特定すること
によって、成膜時の非磁性基板の温度を高めることなく
垂直磁気特性に優れた磁気記録媒体が得られる。
にCo−Cr−Pd系合金垂直磁化膜を設けた磁気記録
媒体において、垂直磁化膜の各元素の組成比を(Co
100-x Pdx )100-y Cry(10≦x≦40,5≦y
≦25、x及びyは、at.%である。)と特定すること
によって、成膜時の非磁性基板の温度を高めることなく
垂直磁気特性に優れた磁気記録媒体が得られる。
【0045】
(実施例1)マグネトロン・スパッタ装置の真空槽内に
125mm径のCo80Pd20at.%の組成を有する合金タ
ーゲットとCrターゲットを設置した。次いで前記真空
槽内にアルゴンガスを導入し10×10-3Torrの雰囲気
下で2元同時スパッタリングをおこない、ガラス基板上
にCoPdCr合金薄膜を形成した。
125mm径のCo80Pd20at.%の組成を有する合金タ
ーゲットとCrターゲットを設置した。次いで前記真空
槽内にアルゴンガスを導入し10×10-3Torrの雰囲気
下で2元同時スパッタリングをおこない、ガラス基板上
にCoPdCr合金薄膜を形成した。
【0046】ここでCo80Pd20ターゲットには2.0
kWのRF電力を、Crターゲットには0〜300WのD
C電力をそれぞれ投入することにより、得られる金属薄
膜の組成を変化させた。
kWのRF電力を、Crターゲットには0〜300WのD
C電力をそれぞれ投入することにより、得られる金属薄
膜の組成を変化させた。
【0047】このようにして作成された、2000Aの
膜厚の金属薄膜の組成を、ICP(Inductively Couple
d Plasma Analysis )で転正したXRF(蛍光X線分
析)によって定量した。
膜厚の金属薄膜の組成を、ICP(Inductively Couple
d Plasma Analysis )で転正したXRF(蛍光X線分
析)によって定量した。
【0048】その定量結果を下記の表1に示す。
【0049】
【表1】
【0050】本定量結果より、成膜されたCoPdCr
系合金の薄膜には、ターゲット組成であるCo:Pd=
80:20の比率を保ちながら、Crの成膜パワーに比
例した組成のCrが金属薄膜中に取り込まれていること
が分かった。
系合金の薄膜には、ターゲット組成であるCo:Pd=
80:20の比率を保ちながら、Crの成膜パワーに比
例した組成のCrが金属薄膜中に取り込まれていること
が分かった。
【0051】(実施例2〜6)実施例1において、Co
80Pd20のターゲットをCo90Pd10(実施例2),C
o70Pd30(実施例3),Co75pd25(実施例4),
Co65Pd35(実施例5),Co60Pd40(実施例6)
に替えた以外は、実施例1と同一の条件でそれぞれの組
成の磁性層を前記ガラス基板の上に成膜して実施例2、
実施例3、実施例4、実施例5及び実施例6の磁気記録
媒体の試料を得た。
80Pd20のターゲットをCo90Pd10(実施例2),C
o70Pd30(実施例3),Co75pd25(実施例4),
Co65Pd35(実施例5),Co60Pd40(実施例6)
に替えた以外は、実施例1と同一の条件でそれぞれの組
成の磁性層を前記ガラス基板の上に成膜して実施例2、
実施例3、実施例4、実施例5及び実施例6の磁気記録
媒体の試料を得た。
【0052】(比較例1)実施例1において、Co80P
d20のターゲットをCoに替えた以外は、実施例1と同
一の条件で磁気記録媒体の試料を得た。
d20のターゲットをCoに替えた以外は、実施例1と同
一の条件で磁気記録媒体の試料を得た。
【0053】以上のようにして得られた磁気記録媒体の
試料の磁気特性を、振動試料型磁力計(VSM)を使用
して測定した結果が以下の図1〜3である。
試料の磁気特性を、振動試料型磁力計(VSM)を使用
して測定した結果が以下の図1〜3である。
【0054】垂直異方性は、面内の磁化曲線から実効的
な垂直異方性磁界Hkeffを求めて評価した。
な垂直異方性磁界Hkeffを求めて評価した。
【0055】前記垂直磁気異方性磁界Hkeffには、IE
EE Trans.Magn.23(5),2443
(1987)に記載されている方法を採用した。即ち、
図4に示す磁気記録媒体の金属薄膜磁性層の面内方向の
磁化曲線の原点Oから磁化曲線に引いた接線Aと横軸の
H(抗磁力)軸に平行な直線M=Msとの交点P座標の
抗磁力Hの値をHkeffとした。
EE Trans.Magn.23(5),2443
(1987)に記載されている方法を採用した。即ち、
図4に示す磁気記録媒体の金属薄膜磁性層の面内方向の
磁化曲線の原点Oから磁化曲線に引いた接線Aと横軸の
H(抗磁力)軸に平行な直線M=Msとの交点P座標の
抗磁力Hの値をHkeffとした。
【0056】図1は、CoPdCr金属薄膜の三元系の
各組成と垂直異方性磁界Hkeffとの関係図である。図1
の中で、各組成の点の側の数値は、kOe の単位で表した
垂直異方性磁界の測定値である。また、各測定点から読
み取られるHkeffが2.0、3.0、4.0及び5.0
kOe である等磁界線も同図中に表示してある。
各組成と垂直異方性磁界Hkeffとの関係図である。図1
の中で、各組成の点の側の数値は、kOe の単位で表した
垂直異方性磁界の測定値である。また、各測定点から読
み取られるHkeffが2.0、3.0、4.0及び5.0
kOe である等磁界線も同図中に表示してある。
【0057】図1よりCr量が5at.%以上の領域で
は、CoPd組成比に関わらずCr添加量の増加に伴
い、垂直異方性磁界Hkeffが大きくなることが確認され
た。
は、CoPd組成比に関わらずCr添加量の増加に伴
い、垂直異方性磁界Hkeffが大きくなることが確認され
た。
【0058】また同一のCr量で比較するとPd量10
at.%以上で垂直異方性磁界Hkeffが大きくなる効果が
あることが分かった。
at.%以上で垂直異方性磁界Hkeffが大きくなる効果が
あることが分かった。
【0059】図2は、CoPdCr金属薄膜の三元系の
各組成と飽和磁化Msとの関係図であり、縦軸は飽和磁
化Ms(emu/cc),横軸はCr濃度(at.%)であり、
パラメータとしてはCoPd組成比である。
各組成と飽和磁化Msとの関係図であり、縦軸は飽和磁
化Ms(emu/cc),横軸はCr濃度(at.%)であり、
パラメータとしてはCoPd組成比である。
【0060】図2からPdの添加によるMsの低下は、
Cr添加のMsの低下に比べて、はるかにその影響が小
さいことが分かった。
Cr添加のMsの低下に比べて、はるかにその影響が小
さいことが分かった。
【0061】図3はCoPdCr金属薄膜の三元系の各
組成と膜面に垂直方向の抗磁力Hcとの関係図である。
図3の中で、各組成の点の側の数値はOeの単位で表した
垂直方向の抗磁力である。また、各測定点から読み取ら
れる抗磁力が400、500、600及び700Oeの等
抗磁力線も同図中に表示してある。
組成と膜面に垂直方向の抗磁力Hcとの関係図である。
図3の中で、各組成の点の側の数値はOeの単位で表した
垂直方向の抗磁力である。また、各測定点から読み取ら
れる抗磁力が400、500、600及び700Oeの等
抗磁力線も同図中に表示してある。
【0062】これにより、Pd添加量が多くなるとHc
が低くなる傾向があることが分かった。
が低くなる傾向があることが分かった。
【0063】(実施例7)125mm径の(Co80P
d20)85Cr15at.%の組成を有する合金ターゲット
を、マグネトロンスパッタ装置の真空槽内に設置した。
d20)85Cr15at.%の組成を有する合金ターゲット
を、マグネトロンスパッタ装置の真空槽内に設置した。
【0064】次いで真空槽内にアルゴンガスを導入し
て、10x10-3Torrの雰囲気下で、1.0kWのDC電
力を(Co80Pd20)85Cr15at.%合金ターゲットに
投入することにより、磁気記録媒体の試料を得た。この
時、基板には厚さ75ミクロンのポリエチレンテレフタ
ート(PET)を用いて、磁性層の膜厚は2000Aと
した。
て、10x10-3Torrの雰囲気下で、1.0kWのDC電
力を(Co80Pd20)85Cr15at.%合金ターゲットに
投入することにより、磁気記録媒体の試料を得た。この
時、基板には厚さ75ミクロンのポリエチレンテレフタ
ート(PET)を用いて、磁性層の膜厚は2000Aと
した。
【0065】(実施例8)125mm径の(Co80P
d20)85Cr15at.%の組成を有する合金ターゲット及
びCu−Mo Permalloy(組成Cu:5.8
wt%,Fe:13.9wt%,Mo:3.7wt%,Ni:
bal)ターゲットを、マグネトロンスパッタ装置の真
空槽内に設置した。
d20)85Cr15at.%の組成を有する合金ターゲット及
びCu−Mo Permalloy(組成Cu:5.8
wt%,Fe:13.9wt%,Mo:3.7wt%,Ni:
bal)ターゲットを、マグネトロンスパッタ装置の真
空槽内に設置した。
【0066】次いで真空槽内にアルゴンガスを導入し
て、1×10-3Torrの雰囲気下で、500WのDC電力
を用いてCu−Mo Permalloyターゲットの
スパッタリングを行い、ポリエチレンテレフタレート
(PET)基板上に5000Aの膜厚のパーマロイ層を
形成した。
て、1×10-3Torrの雰囲気下で、500WのDC電力
を用いてCu−Mo Permalloyターゲットの
スパッタリングを行い、ポリエチレンテレフタレート
(PET)基板上に5000Aの膜厚のパーマロイ層を
形成した。
【0067】さらにその上に(Co80Pd20)85Cr15
at.%合金ターゲットを1.0kWのDC電力でスパッタ
することにより、10×10-3Torrの雰囲気下で100
0Aの膜厚の(Co80Pd20)85Cr15高抗磁力層を形
成し、磁気記録媒体の試料を得た。
at.%合金ターゲットを1.0kWのDC電力でスパッタ
することにより、10×10-3Torrの雰囲気下で100
0Aの膜厚の(Co80Pd20)85Cr15高抗磁力層を形
成し、磁気記録媒体の試料を得た。
【0068】以上のようにして得られた実施例7及び8
の両試料の(Co80Pd20)85Cr15層の磁気特性を評
価するために、波長830nmの半導体レーザーを用いた
カーヒステリシス測定装置を用いて測定した結果を図5
に示す。
の両試料の(Co80Pd20)85Cr15層の磁気特性を評
価するために、波長830nmの半導体レーザーを用いた
カーヒステリシス測定装置を用いて測定した結果を図5
に示す。
【0069】図5に示したのは実施例7及び8の両試料
の、成膜面側から測定した記録膜の垂直方向のカーヒス
テリシスループである。パーマロイ層上の(Co80Pd
20)85Cr15層の方が抗磁力が大きくなるのは、成長初
期層がなくなり膜厚方向に膜の均一性が増したためであ
ると考えられる。
の、成膜面側から測定した記録膜の垂直方向のカーヒス
テリシスループである。パーマロイ層上の(Co80Pd
20)85Cr15層の方が抗磁力が大きくなるのは、成長初
期層がなくなり膜厚方向に膜の均一性が増したためであ
ると考えられる。
【0070】(実施例9)125mm径のCo80Pd20a
t.%の組成を有する合金ターゲットとCrターゲット
及びCo84Cr13Nb3at.%ターゲットを、マグネト
ロンスパッタ装置の真空槽内に設置した。
t.%の組成を有する合金ターゲットとCrターゲット
及びCo84Cr13Nb3at.%ターゲットを、マグネト
ロンスパッタ装置の真空槽内に設置した。
【0071】次いで真空槽内にアルゴンガスを導入し
て、1×10-3Torrの雰囲気下で、500WのDC電力
を用いてCoCrNbターゲットのスパッタリングを行
い、厚さ75ミクロンのPETベース上に900Aの膜
厚のCoCrNb軟磁性層を形成した。
て、1×10-3Torrの雰囲気下で、500WのDC電力
を用いてCoCrNbターゲットのスパッタリングを行
い、厚さ75ミクロンのPETベース上に900Aの膜
厚のCoCrNb軟磁性層を形成した。
【0072】さらにその上にCo80Pd20ターゲットに
は2.0kWのRF電力を、Crターゲットには150W
のDC電力をそれぞれ投入することにより、10×10
-3Torrの雰囲気下で1000Aの膜厚の(Co80P
d20)86Cr14高抗磁力層を形成し、磁気記録媒体の試
料を得た。
は2.0kWのRF電力を、Crターゲットには150W
のDC電力をそれぞれ投入することにより、10×10
-3Torrの雰囲気下で1000Aの膜厚の(Co80P
d20)86Cr14高抗磁力層を形成し、磁気記録媒体の試
料を得た。
【0073】(実施例10)125mm径のCo80Pd20
at.%の組成を有する合金ターゲットとCrターゲット
を、マグネトロンスパッタ装置の真空槽内に設置した。
at.%の組成を有する合金ターゲットとCrターゲット
を、マグネトロンスパッタ装置の真空槽内に設置した。
【0074】次いで真空槽内にアルゴンガスを導入し
て、1×10-3Torrの雰囲気下で、500WのDC電力
を用いてCoPdターゲットのスパッタリングを行い、
厚さ75ミクロンのPETベース上に500Aの膜厚の
CoPd軟磁性層を形成した。さらにその上にCo80P
d20ターゲットには2.0kWのRF電力を、Crターゲ
ットには150WのDC電力をそれぞれ投入することに
より、10×10-3Torrの雰囲気下で2000Aの膜厚
の(Co80Pd20)86Cr14高抗磁力層を形成し、磁気
記録媒体の試料を得た。
て、1×10-3Torrの雰囲気下で、500WのDC電力
を用いてCoPdターゲットのスパッタリングを行い、
厚さ75ミクロンのPETベース上に500Aの膜厚の
CoPd軟磁性層を形成した。さらにその上にCo80P
d20ターゲットには2.0kWのRF電力を、Crターゲ
ットには150WのDC電力をそれぞれ投入することに
より、10×10-3Torrの雰囲気下で2000Aの膜厚
の(Co80Pd20)86Cr14高抗磁力層を形成し、磁気
記録媒体の試料を得た。
【0075】以上のようにして作成した磁気記録媒体
を、3.5インチの磁気ディスクに打ち抜き、アモルフ
ァスーフェライト複合型リングヘッド(ギャップ長さ
0.23um)によって記録・再生特性を評価した。その
結果を図6に示す。
を、3.5インチの磁気ディスクに打ち抜き、アモルフ
ァスーフェライト複合型リングヘッド(ギャップ長さ
0.23um)によって記録・再生特性を評価した。その
結果を図6に示す。
【0076】軟磁性層が無い場合(実施例7)に比べ、
実施例8,9,10では、広い記録密度範囲において、
一段と再生出力が向上し、極めて優れた記録・再生特性
を有することがわかる。
実施例8,9,10では、広い記録密度範囲において、
一段と再生出力が向上し、極めて優れた記録・再生特性
を有することがわかる。
【図1】CoPdCr金属薄膜の三元系の各組成と垂直
異方性磁界Hkeffとの関係図
異方性磁界Hkeffとの関係図
【図2】CoPdCr金属薄膜の三元系の各組成と飽和
磁化Msとの関係図
磁化Msとの関係図
【図3】CoPdCr金属薄膜の三元系の各組成と膜面
に垂直方向の抗磁力Hcとの関係図
に垂直方向の抗磁力Hcとの関係図
【図4】磁気記録媒体の金属薄膜磁性層の面内方向の磁
化曲線を示す図
化曲線を示す図
【図5】実施例7及び8の両試料の、成膜面側から測定
した記録膜の垂直方向のカーヒステリシスループ
した記録膜の垂直方向のカーヒステリシスループ
【図6】実施例7,8,9および10の記録密度と再生
出力との関係図
出力との関係図
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年6月26日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0047
【補正方法】変更
【補正内容】
【0047】このようにして作成された、2000Aの
膜厚の金属薄膜の組成を、ICP(Inductively Couple
d Plasma Analysis )で較正したXRF(蛍光X線分
析)によって定量した。
膜厚の金属薄膜の組成を、ICP(Inductively Couple
d Plasma Analysis )で較正したXRF(蛍光X線分
析)によって定量した。
Claims (2)
- 【請求項1】 非磁性基板上に、低抗磁力磁性層と高抗
磁力磁性層を有する磁気記録媒体において、該高抗磁力
磁性層が(Co100-x Pdx)100-y Cry (10≦x
≦40,5≦y≦25、x及びyは、at.%である。)
で表される組成を主成分とし、膜面にほぼ垂直な方向に
磁化容易軸を有する金属薄膜であることを特徴とする磁
気記録媒体。 - 【請求項2】 前記低抗磁力磁性層が膜面内に磁化容易
軸を有する軟磁性層であることを特徴とする請求項1の
磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16554191A JPH0512644A (ja) | 1991-07-05 | 1991-07-05 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16554191A JPH0512644A (ja) | 1991-07-05 | 1991-07-05 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0512644A true JPH0512644A (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=15814345
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16554191A Withdrawn JPH0512644A (ja) | 1991-07-05 | 1991-07-05 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0512644A (ja) |
-
1991
- 1991-07-05 JP JP16554191A patent/JPH0512644A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981008 |