JPH05126780A - 溶液濃度測定方法 - Google Patents
溶液濃度測定方法Info
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- JPH05126780A JPH05126780A JP31173991A JP31173991A JPH05126780A JP H05126780 A JPH05126780 A JP H05126780A JP 31173991 A JP31173991 A JP 31173991A JP 31173991 A JP31173991 A JP 31173991A JP H05126780 A JPH05126780 A JP H05126780A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定の正確さを損なうことなく、従来よりも
迅速な測定が可能な溶液濃度測定方法を提供する。 【構成】 イオン電極法による溶液濃度測定装置を用い
て試料溶液の出力電位からその溶液濃度を算出する溶液
濃度測定方法において、校正液による1回の校正に続い
て2ないし4の試料溶液を測定することを繰り返し、校
正により得られた1つの出力電位C1を当該校正の前後
各1又は2の試料溶液の出力電位S1及びS2による溶液
濃度の算出に用いるイオン濃度測定方法。
迅速な測定が可能な溶液濃度測定方法を提供する。 【構成】 イオン電極法による溶液濃度測定装置を用い
て試料溶液の出力電位からその溶液濃度を算出する溶液
濃度測定方法において、校正液による1回の校正に続い
て2ないし4の試料溶液を測定することを繰り返し、校
正により得られた1つの出力電位C1を当該校正の前後
各1又は2の試料溶液の出力電位S1及びS2による溶液
濃度の算出に用いるイオン濃度測定方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、臨床検査等における各
種体液等の試料溶液の濃度を、イオン電極法により電極
の出力電位から求める溶液濃度測定方法に関する。
種体液等の試料溶液の濃度を、イオン電極法により電極
の出力電位から求める溶液濃度測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】イオン電極法は、各種のイオン選択性の
電極を用いて、その目的とするイオンを含む溶液につい
ての電極の出力電位から、検量線法その他の方法により
目的イオンの濃度を定量する方法であり、塩素その他の
各種イオンの外、固定化酵素膜をイオン電極に組み合わ
せることにより臨床検査における各種体液の分析にも応
用されている。
電極を用いて、その目的とするイオンを含む溶液につい
ての電極の出力電位から、検量線法その他の方法により
目的イオンの濃度を定量する方法であり、塩素その他の
各種イオンの外、固定化酵素膜をイオン電極に組み合わ
せることにより臨床検査における各種体液の分析にも応
用されている。
【0003】かかるイオン電極法による通常の溶液濃度
測定装置では、測定毎における電極の出力電位のシフト
やドリフト等を校正して正確な測定データーを得るため
に、従来から1つの試料溶液について1回の校正を行な
っていた。つまり、測定操作としては、試料溶液の測定
に先立って必ず校正操作を行うことを繰り返すので、校
正液と試料溶液を交互に測定していた。
測定装置では、測定毎における電極の出力電位のシフト
やドリフト等を校正して正確な測定データーを得るため
に、従来から1つの試料溶液について1回の校正を行な
っていた。つまり、測定操作としては、試料溶液の測定
に先立って必ず校正操作を行うことを繰り返すので、校
正液と試料溶液を交互に測定していた。
【0004】即ち、従来の校正と測定による時間に沿っ
た出力電位の波形を示せば図2のようになり、内部校正
液による一点校正の出力電位C3を得た後1つの試料溶
液を測定して出力電位S5を得る。その後も同様に校正
と各試料溶液の測定を繰り返して、順に校正液の出力電
位C4、次の試料溶液の出力電位S6、校正液の出力電位
C5、更に次の試料溶液の出力電位S7が得られる。
た出力電位の波形を示せば図2のようになり、内部校正
液による一点校正の出力電位C3を得た後1つの試料溶
液を測定して出力電位S5を得る。その後も同様に校正
と各試料溶液の測定を繰り返して、順に校正液の出力電
位C4、次の試料溶液の出力電位S6、校正液の出力電位
C5、更に次の試料溶液の出力電位S7が得られる。
【0005】この様に校正液と試料溶液を交互に測定
し、得られた校正液の出力電位を用いて(基準にし
て)、その校正直後の試料溶液の出力電位から当該試料
溶液の濃度が算出される。図2の出力電位の波形で言え
ば、校正液の出力電位C3を用いてその直後の1つの試
料溶液の出力電位S5から当該試料溶液の濃度を算出
し、以下同様に校正液の出力電位C4を用いて次の試料
溶液の出力電位S6から、及び校正液の出力電位C5を用
いて更に次の試料溶液の出力電位S7から、それぞれの
試料溶液の濃度が算出される。
し、得られた校正液の出力電位を用いて(基準にし
て)、その校正直後の試料溶液の出力電位から当該試料
溶液の濃度が算出される。図2の出力電位の波形で言え
ば、校正液の出力電位C3を用いてその直後の1つの試
料溶液の出力電位S5から当該試料溶液の濃度を算出
し、以下同様に校正液の出力電位C4を用いて次の試料
溶液の出力電位S6から、及び校正液の出力電位C5を用
いて更に次の試料溶液の出力電位S7から、それぞれの
試料溶液の濃度が算出される。
【0006】しかしながら、かかる従来の方法では、1
つの試料溶液の測定とその校正との間で時間的ギャップ
が少ないので正確な測定を行うことが出来るものの、各
試料溶液毎にその測定に先立って1回の校正を行う必要
があるので、1つの試料溶液の測定に要する時間が長く
なり、濃度測定の処理速度が極めて遅いという欠点があ
った。
つの試料溶液の測定とその校正との間で時間的ギャップ
が少ないので正確な測定を行うことが出来るものの、各
試料溶液毎にその測定に先立って1回の校正を行う必要
があるので、1つの試料溶液の測定に要する時間が長く
なり、濃度測定の処理速度が極めて遅いという欠点があ
った。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる従来の
事情に鑑み、測定の正確さを損なうことなく、従来より
も迅速な測定が可能な溶液濃度測定方法を提供すること
を目的とする。
事情に鑑み、測定の正確さを損なうことなく、従来より
も迅速な測定が可能な溶液濃度測定方法を提供すること
を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のイオン電極法による溶液濃度測定装置を用
いて試料溶液の出力電位からその溶液濃度を算出する溶
液濃度測定方法においては、校正液による1回の校正に
続いて2ないし4の試料溶液を測定することを繰り返
し、校正により得られた1つの出力電位を当該校正の前
後各1ないし2の試料溶液の溶液濃度の算出に用いるこ
とを特徴とする。
め、本発明のイオン電極法による溶液濃度測定装置を用
いて試料溶液の出力電位からその溶液濃度を算出する溶
液濃度測定方法においては、校正液による1回の校正に
続いて2ないし4の試料溶液を測定することを繰り返
し、校正により得られた1つの出力電位を当該校正の前
後各1ないし2の試料溶液の溶液濃度の算出に用いるこ
とを特徴とする。
【0009】
【作用】本発明方法により行った校正液による校正と試
料溶液の測定で得られる出力電位の時間に沿った波形の
一例を図1に示した。1つの試料溶液の測定による出力
電位S1を得た後、校正液による一点校正を行って出力
電位C1を得る。引き続き2つの試料溶液を連続して測
定し、各々の出力電位S2、S3を連続して得る。次に、
校正液による校正を再度行って出力電位C2を得た後、
以下同様に1回の校正を挟んで2つの試料溶液の測定操
作を繰り返す。
料溶液の測定で得られる出力電位の時間に沿った波形の
一例を図1に示した。1つの試料溶液の測定による出力
電位S1を得た後、校正液による一点校正を行って出力
電位C1を得る。引き続き2つの試料溶液を連続して測
定し、各々の出力電位S2、S3を連続して得る。次に、
校正液による校正を再度行って出力電位C2を得た後、
以下同様に1回の校正を挟んで2つの試料溶液の測定操
作を繰り返す。
【0010】この様に1回の校正液での校正に続いて2
つの試料溶液を連続して測定し、この操作を繰り返して
行いながら、得られた1つの校正の出力電位を当該校正
の前後各1つの試料溶液の濃度の算出に用いる。図1の
例で言えば、校正液の出力電位C1を用いてその校正直
前の1つの試料溶液の出力電位S1と校正直後の1つの
試料溶液の出力電位S2の校正の基準とし、これら2つ
の試料溶液の濃度を算出する。同様に、次の校正液の出
力電位C2を用いて、その前後の出力電位S3及びS4か
ら各々の試料溶液の濃度を算出し、順次かかる計算が繰
り返される。
つの試料溶液を連続して測定し、この操作を繰り返して
行いながら、得られた1つの校正の出力電位を当該校正
の前後各1つの試料溶液の濃度の算出に用いる。図1の
例で言えば、校正液の出力電位C1を用いてその校正直
前の1つの試料溶液の出力電位S1と校正直後の1つの
試料溶液の出力電位S2の校正の基準とし、これら2つ
の試料溶液の濃度を算出する。同様に、次の校正液の出
力電位C2を用いて、その前後の出力電位S3及びS4か
ら各々の試料溶液の濃度を算出し、順次かかる計算が繰
り返される。
【0011】かかる本発明方法によって、校正の頻度を
従来よりも減少させることができ、しかも測定データー
の信頼性を確保することが出来る。従って、溶液濃度測
定装置のコンピュータ演算部において、図1のごとく1
回の校正をその前後各1の試料溶液の濃度算出に用いる
ように設定しておけば、従来よりも校正回数を半減でき
るので迅速で、且つ校正と測定の間で時間的ギャップが
ないので正確な濃度測定が可能となる。
従来よりも減少させることができ、しかも測定データー
の信頼性を確保することが出来る。従って、溶液濃度測
定装置のコンピュータ演算部において、図1のごとく1
回の校正をその前後各1の試料溶液の濃度算出に用いる
ように設定しておけば、従来よりも校正回数を半減でき
るので迅速で、且つ校正と測定の間で時間的ギャップが
ないので正確な濃度測定が可能となる。
【0012】尚、図1では校正液による1回の校正をそ
の前後各1の試料溶液の濃度算出に用いる例を示した
が、使用する電極そのものが安定であって且つ電極出力
のドリフト等がごく少ない条件の下であれば、1回の校
正に続いて3ないし4の試料溶液を測定し、校正により
得られた1つの出力電位を当該校正の前後各2までの試
料溶液の溶液濃度の算出に用いることも可能である。し
かしながら、1つの校正を基準とする試料溶液の数が増
えるほど、校正と測定の時間的ギャップが長くなるので
好ましくない。
の前後各1の試料溶液の濃度算出に用いる例を示した
が、使用する電極そのものが安定であって且つ電極出力
のドリフト等がごく少ない条件の下であれば、1回の校
正に続いて3ないし4の試料溶液を測定し、校正により
得られた1つの出力電位を当該校正の前後各2までの試
料溶液の溶液濃度の算出に用いることも可能である。し
かしながら、1つの校正を基準とする試料溶液の数が増
えるほど、校正と測定の時間的ギャップが長くなるので
好ましくない。
【0013】
【実施例】本発明方法の一具体例として、1回の校正を
その前後2つの試料溶液の濃度測定に用いる場合を説明
する。測定に用いた溶液濃度測定装置は、ナトリウムイ
オン電極としてNA−888及び比較電極としてHC−
888(共に東亜電波工業(株)製)を備え、1回の校
正をその前後各1の試料溶液の濃度算出に用いるように
予めコンピュータ演算部に設定した。
その前後2つの試料溶液の濃度測定に用いる場合を説明
する。測定に用いた溶液濃度測定装置は、ナトリウムイ
オン電極としてNA−888及び比較電極としてHC−
888(共に東亜電波工業(株)製)を備え、1回の校
正をその前後各1の試料溶液の濃度算出に用いるように
予めコンピュータ演算部に設定した。
【0014】標準液として下記表1に示す4種の濃度の
ナトリウム水溶液〜を準備し、校正液としてはナト
リウム濃度140.0mmol/lの水溶液を用いた:
ナトリウム水溶液〜を準備し、校正液としてはナト
リウム濃度140.0mmol/lの水溶液を用いた:
【表1】溶液 濃度(mmol/l) 溶液 濃度(mmol/l) 120.0 145.0 135.0 160.0
【0015】まず、溶液を測定した後、校正液による
校正を行い、引き続き2つの溶液とを測定し、次に
校正液により再度校正した後、最後に溶液を測定し
た。この操作により、イオン電極の出力電位として、図
1に示すように溶液に対応する出力電位S1、校正液
の出力電位C1、溶液に対応する出力電位S2、溶液
に対応する出力電位S3、校正液の出力電位C2、及び溶
液に対応する出力電位S4が得られ、コンピュータ演
算部により校正液の出力電位C1を用いて溶液と溶液
の出力電位S1とS2から両溶液、の濃度が算出さ
れ、更に校正液の出力電位C2を用いて溶液と溶液
の出力電位S3とS4から両溶液、の濃度を算出し
た。測定結果を下記表2に示した。
校正を行い、引き続き2つの溶液とを測定し、次に
校正液により再度校正した後、最後に溶液を測定し
た。この操作により、イオン電極の出力電位として、図
1に示すように溶液に対応する出力電位S1、校正液
の出力電位C1、溶液に対応する出力電位S2、溶液
に対応する出力電位S3、校正液の出力電位C2、及び溶
液に対応する出力電位S4が得られ、コンピュータ演
算部により校正液の出力電位C1を用いて溶液と溶液
の出力電位S1とS2から両溶液、の濃度が算出さ
れ、更に校正液の出力電位C2を用いて溶液と溶液
の出力電位S3とS4から両溶液、の濃度を算出し
た。測定結果を下記表2に示した。
【0016】比較のために、上記と同じイオン電極と比
較電極並びに校正液を使用し、従来法により1回の校正
後に1つの溶液を測定する操作を繰り返し、1回の校正
の出力電位をその直後の1つの溶液の濃度測定にのみ用
いて、表1の溶液〜の濃度を測定した。結果を下記
表2に併せて示した。
較電極並びに校正液を使用し、従来法により1回の校正
後に1つの溶液を測定する操作を繰り返し、1回の校正
の出力電位をその直後の1つの溶液の濃度測定にのみ用
いて、表1の溶液〜の濃度を測定した。結果を下記
表2に併せて示した。
【0017】
【表2】測定濃度(mmol/l) 溶液 本発明法 従 来 法 120.2 120.9 135.7 135.2 144.4 144.9 160.3 159.6
【0018】本発明法によれば、1つの溶液の測定毎に
1回の校正を行う従来法と良く一致した正確な測定デー
ターが得られるうえ、前記4つの溶液の濃度測定に要し
た時間が従来法では144秒であったのに対して、本発明
方法では108秒と大幅に減少させることが出来た。
1回の校正を行う従来法と良く一致した正確な測定デー
ターが得られるうえ、前記4つの溶液の濃度測定に要し
た時間が従来法では144秒であったのに対して、本発明
方法では108秒と大幅に減少させることが出来た。
【0019】
【発明の効果】本発明方法によれば、校正の頻度を従来
よりも減少させながら、しかも校正と試料溶液の測定と
の時間的ギャップを少なく保って測定データーの信頼性
を確保することが出来るので、従来よりも迅速で且つ正
確な濃度測定が可能となる。
よりも減少させながら、しかも校正と試料溶液の測定と
の時間的ギャップを少なく保って測定データーの信頼性
を確保することが出来るので、従来よりも迅速で且つ正
確な濃度測定が可能となる。
【図1】本発明法により時間に沿って得られる校正液と
試料溶液の出力電位の波形を示すグラフである。
試料溶液の出力電位の波形を示すグラフである。
【図2】従来法により時間に沿って得られる校正液と試
料溶液の出力電位の波形を示すグラフである。
料溶液の出力電位の波形を示すグラフである。
C1、C2、C3、C4、C5 校正液の出力電位 S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7 試料溶液の出力
電位
電位
フロントページの続き (72)発明者 上田 達 埼玉県狭山市大字北入曽613番地 東亜電 波工業株式会社狭山工場内
Claims (1)
- 【請求項1】 イオン電極法による溶液濃度測定装置を
用いて試料溶液の出力電位からその溶液濃度を算出する
溶液濃度測定方法において、校正液による1回の校正に
続いて2ないし4の試料溶液を測定することを繰り返
し、校正により得られた1つの出力電位を当該校正の前
後各1ないし2の試料溶液の溶液濃度の算出に用いるこ
とを特徴とする前記溶液濃度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03311739A JP3096823B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 溶液濃度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03311739A JP3096823B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 溶液濃度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05126780A true JPH05126780A (ja) | 1993-05-21 |
| JP3096823B2 JP3096823B2 (ja) | 2000-10-10 |
Family
ID=18020896
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03311739A Expired - Fee Related JP3096823B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 溶液濃度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3096823B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2008133121A1 (ja) * | 2007-04-17 | 2010-07-22 | アークレイ株式会社 | 基質濃度測定方法および基質濃度測定装置 |
| KR101855007B1 (ko) * | 2016-12-09 | 2018-05-04 | 광운대학교 산학협력단 | 센서의 신호 정확도 향상을 위한 보정 방법 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05255292A (ja) * | 1992-03-17 | 1993-10-05 | Okishiran Kagaku Kk | エポキシドの製造方法 |
-
1991
- 1991-10-30 JP JP03311739A patent/JP3096823B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2008133121A1 (ja) * | 2007-04-17 | 2010-07-22 | アークレイ株式会社 | 基質濃度測定方法および基質濃度測定装置 |
| JP5054765B2 (ja) * | 2007-04-17 | 2012-10-24 | アークレイ株式会社 | 基質濃度測定方法および基質濃度測定装置 |
| KR101855007B1 (ko) * | 2016-12-09 | 2018-05-04 | 광운대학교 산학협력단 | 센서의 신호 정확도 향상을 위한 보정 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3096823B2 (ja) | 2000-10-10 |
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