JPH05126818A - Ｔｏｃ計のデータ処理装置 - Google Patents
Ｔｏｃ計のデータ処理装置Info
- Publication number
- JPH05126818A JPH05126818A JP31532591A JP31532591A JPH05126818A JP H05126818 A JPH05126818 A JP H05126818A JP 31532591 A JP31532591 A JP 31532591A JP 31532591 A JP31532591 A JP 31532591A JP H05126818 A JPH05126818 A JP H05126818A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration curve
- range
- analog signal
- value
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＴＯＣ値に応じてそのアナログ信号を最適な
レンジで出力できるようにレンジ切換えを自動的に行な
う。 【構成】 測定値に応じた最適検量線が使用検量線最適
性判断部５により検量線記憶部４から選択され、演算部
６ではその検量線を用いてＴＯＣ値が算出され、アナロ
グ信号に換算される。そのアナログ信号の最適レンジは
アナログ信号レンジ最適性判断部９で決定され、アナロ
グ出力部１０からは決定された最適レンジでそのアナロ
グ信号が出力される。選択された検量線が直前の測定値
用の検量線と異なる場合には再測定がなされる。また、
レンジが切り換えられたときはレコーダに表示がなされ
る。
レンジで出力できるようにレンジ切換えを自動的に行な
う。 【構成】 測定値に応じた最適検量線が使用検量線最適
性判断部５により検量線記憶部４から選択され、演算部
６ではその検量線を用いてＴＯＣ値が算出され、アナロ
グ信号に換算される。そのアナログ信号の最適レンジは
アナログ信号レンジ最適性判断部９で決定され、アナロ
グ出力部１０からは決定された最適レンジでそのアナロ
グ信号が出力される。選択された検量線が直前の測定値
用の検量線と異なる場合には再測定がなされる。また、
レンジが切り換えられたときはレコーダに表示がなされ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はバッチ式ＴＯＣ（全有機
体炭素）計でＴＯＣ測定値をアナログ信号として出力す
るためのデータ処理装置に関するものである。従来のＴ
ＯＣ計のデータ処理装置では、検出部からの測定値に対
して検量線を用いてＴＯＣ値を算出し、そのＴＯＣ値を
アナログ信号に換算して予め設定された１つのレンジ
（フルスケール）で出力している。
体炭素）計でＴＯＣ測定値をアナログ信号として出力す
るためのデータ処理装置に関するものである。従来のＴ
ＯＣ計のデータ処理装置では、検出部からの測定値に対
して検量線を用いてＴＯＣ値を算出し、そのＴＯＣ値を
アナログ信号に換算して予め設定された１つのレンジ
（フルスケール）で出力している。
【０００２】
【発明が解決しようとする課題】アナログ信号を固定さ
れたレンジで出力していると、サンプルのＴＯＣ値がそ
のレンジを越えた場合にはアナログ信号のフルスケール
を越えてしまうため、例えば外部記録計で記録すること
ができなくなる。本発明はＴＯＣ値に応じてそのアナロ
グ信号を最適なレンジで出力できるようにレンジ切換え
を自動的に行なう機能を備えたデータ処理装置を提供す
ることを目的とするものである。
れたレンジで出力していると、サンプルのＴＯＣ値がそ
のレンジを越えた場合にはアナログ信号のフルスケール
を越えてしまうため、例えば外部記録計で記録すること
ができなくなる。本発明はＴＯＣ値に応じてそのアナロ
グ信号を最適なレンジで出力できるようにレンジ切換え
を自動的に行なう機能を備えたデータ処理装置を提供す
ることを目的とするものである。
【０００３】
【課題を解決するための手段】図１により本発明を説明
する。サンプルの測定値を記憶するために測定値記憶部
３が設けられ、検量線記憶部４には測定値の大きさに応
じた複数の検量線が記憶されている。測定値に応じた最
適検量線を選択するために使用検量線最適性判断部５が
設けられ、選択された検量線を用いて測定値からＴＯＣ
値を算出し、そのＴＯＣ値をアナログ信号に換算するた
めに演算部６が設けられている。アナログ信号を出力す
るために、そのアナログ信号の最適レンジを決定するア
ナログ信号レンジ最適性判断部９が設けられ、そのアナ
ログ信号をアナログ信号レンジ最適性判断部９で決定さ
れた最適レンジで出力するためにアナログ出力部１０が
設けられている。
する。サンプルの測定値を記憶するために測定値記憶部
３が設けられ、検量線記憶部４には測定値の大きさに応
じた複数の検量線が記憶されている。測定値に応じた最
適検量線を選択するために使用検量線最適性判断部５が
設けられ、選択された検量線を用いて測定値からＴＯＣ
値を算出し、そのＴＯＣ値をアナログ信号に換算するた
めに演算部６が設けられている。アナログ信号を出力す
るために、そのアナログ信号の最適レンジを決定するア
ナログ信号レンジ最適性判断部９が設けられ、そのアナ
ログ信号をアナログ信号レンジ最適性判断部９で決定さ
れた最適レンジで出力するためにアナログ出力部１０が
設けられている。
【０００４】図１にはさらに、使用検量線最適性判断部
５で選択された検量線が直前の測定値用の検量線と異な
る場合には再測定条件を設定して再測定を指示する再測
定条件設定部１１も設けられている。また、アナログ出
力部１０はレンジが切り換えられた場合に、レンジが異
なっていることを示す識別表示を出力する機能を備える
ことができる。
５で選択された検量線が直前の測定値用の検量線と異な
る場合には再測定条件を設定して再測定を指示する再測
定条件設定部１１も設けられている。また、アナログ出
力部１０はレンジが切り換えられた場合に、レンジが異
なっていることを示す識別表示を出力する機能を備える
ことができる。
【０００５】
【作用】あるサンプルの測定値に対して最適な検量線を
用いてＴＯＣ値を算出し、そのアナログ信号に最適なレ
ンジで出力している場合に、次のサンプルの測定値のた
めの検量線が前のサンプルのものでは最適でない場合に
は、使用検量線最適性判断部５によって新しい検量線が
選択され、その検量線に基づいて演算部６でＴＯＣ値が
算出される。そのＴＯＣ値を換算したアナログ信号は、
先のサンプルのアナログ信号出力用のレンジではフルス
ケールを越えて適当でない場合には、アナログ信号レン
ジ最適性判断部９によって最適なレンジが決定されて新
たなレンジで出力される。逆に、次のサンプルの測定値
が小さくなった場合にも最適な検量線と最適なレンジが
決定される。
用いてＴＯＣ値を算出し、そのアナログ信号に最適なレ
ンジで出力している場合に、次のサンプルの測定値のた
めの検量線が前のサンプルのものでは最適でない場合に
は、使用検量線最適性判断部５によって新しい検量線が
選択され、その検量線に基づいて演算部６でＴＯＣ値が
算出される。そのＴＯＣ値を換算したアナログ信号は、
先のサンプルのアナログ信号出力用のレンジではフルス
ケールを越えて適当でない場合には、アナログ信号レン
ジ最適性判断部９によって最適なレンジが決定されて新
たなレンジで出力される。逆に、次のサンプルの測定値
が小さくなった場合にも最適な検量線と最適なレンジが
決定される。
【０００６】再測定条件設定部１１が設けられている場
合には、測定値が大きく変わって検量線が変更された場
合には同じサンプルで再測定が行なわれる。アナログ出
力部１０が識別表示を出力する機能を備えているとき
は、レンジが切り換えられたときにレンジが異なってい
ることを示すようにレコーダ上に表示がなされる。
合には、測定値が大きく変わって検量線が変更された場
合には同じサンプルで再測定が行なわれる。アナログ出
力部１０が識別表示を出力する機能を備えているとき
は、レンジが切り換えられたときにレンジが異なってい
ることを示すようにレコーダ上に表示がなされる。
【０００７】
【実施例】図２は一実施例のブロック図を示す。検出部
２の出力がＭＰＵ（マイクロ・プロセッサ・ユニット）
７に取り込まれる。ＭＰＵ７では最適な検量線を用いて
ＴＯＣ値が算出され、アナログ信号に換算された後、最
適なレンジが選択されて、アナログ出力部１０から出力
される。測定値を一時的に記憶したりするためのＲＡＭ
などのメモリ８がＭＰＵ７に接続されている。図１と図
２を比較すると、図１の測定値記憶部３と検量線記憶部
４は図２のメモリ８に対応し、図１の使用検量線最適性
判断部５、演算部６、アナログ信号レンジ最適性判断部
９及び再測定条件設定部１１は図２のＭＰＵ７により実
現される。
２の出力がＭＰＵ（マイクロ・プロセッサ・ユニット）
７に取り込まれる。ＭＰＵ７では最適な検量線を用いて
ＴＯＣ値が算出され、アナログ信号に換算された後、最
適なレンジが選択されて、アナログ出力部１０から出力
される。測定値を一時的に記憶したりするためのＲＡＭ
などのメモリ８がＭＰＵ７に接続されている。図１と図
２を比較すると、図１の測定値記憶部３と検量線記憶部
４は図２のメモリ８に対応し、図１の使用検量線最適性
判断部５、演算部６、アナログ信号レンジ最適性判断部
９及び再測定条件設定部１１は図２のＭＰＵ７により実
現される。
【０００８】図３に本発明が適用されるＴＯＣ計の一例
を示す。流通型サンプル容器１２には下側の入口からサ
ンプルが流れ込み、上側の出口からサンプルが排出され
ていく。サンプル容器１２のサンプルは試料注入部１４
によって一定量が採取され、ＴＣ反応部１６又はＩＣ反
応部１８へ切り替えて導かれる。ＴＣ反応部１６には酸
化触媒が充填されたＴＣ燃焼管が設けられ、そのＴＣ燃
焼管を加熱するためにその外側に加熱炉が設けられてい
る。ＴＣ反応部１６にはキャリアガス供給部２０から純
酸素ガス、又はＣＯ2や炭化水素を除いた高純度空気が
キャリアガスとしてガス流量が制御されて供給される。
ＴＣ反応部１６では供給された試料中の炭素成分が全て
ＣＯ2ガスに変換されてＣＯ2検出部の非分散型赤外線式
ガス分析計（ＮＤＩＲ）２２の測定セルへ導かれて検出
される。ＩＣ反応部１８では無機炭素がＣＯ2ガスとし
て発生し、キャリアガスとともにＮＤＩＲ２２の測定セ
ルへ導かれて検出される。試料注入部１４はＴＣやＩＣ
の検量線作成用に標準液２３も注入することができるよ
うになっている。
を示す。流通型サンプル容器１２には下側の入口からサ
ンプルが流れ込み、上側の出口からサンプルが排出され
ていく。サンプル容器１２のサンプルは試料注入部１４
によって一定量が採取され、ＴＣ反応部１６又はＩＣ反
応部１８へ切り替えて導かれる。ＴＣ反応部１６には酸
化触媒が充填されたＴＣ燃焼管が設けられ、そのＴＣ燃
焼管を加熱するためにその外側に加熱炉が設けられてい
る。ＴＣ反応部１６にはキャリアガス供給部２０から純
酸素ガス、又はＣＯ2や炭化水素を除いた高純度空気が
キャリアガスとしてガス流量が制御されて供給される。
ＴＣ反応部１６では供給された試料中の炭素成分が全て
ＣＯ2ガスに変換されてＣＯ2検出部の非分散型赤外線式
ガス分析計（ＮＤＩＲ）２２の測定セルへ導かれて検出
される。ＩＣ反応部１８では無機炭素がＣＯ2ガスとし
て発生し、キャリアガスとともにＮＤＩＲ２２の測定セ
ルへ導かれて検出される。試料注入部１４はＴＣやＩＣ
の検量線作成用に標準液２３も注入することができるよ
うになっている。
【０００９】ＮＤＩＲ２２の検出値を処理するために、
図２にも示されているように、ＭＰＵ７が設けられてお
り、ＭＰＵ７でＴＣ値とＩＣ値とからＴＯＣ値を算出
し、ＴＯＣ値をレコーダに出力するためにアナログ出力
部１０がＭＰＵ７に接続されている。２６は測定値を表
示したり印字する測定値表示・印字部である。
図２にも示されているように、ＭＰＵ７が設けられてお
り、ＭＰＵ７でＴＣ値とＩＣ値とからＴＯＣ値を算出
し、ＴＯＣ値をレコーダに出力するためにアナログ出力
部１０がＭＰＵ７に接続されている。２６は測定値を表
示したり印字する測定値表示・印字部である。
【００１０】図４と図５により一実施例の動作を説明す
る。１つのサンプルの測定が終了すると、その測定値に
対して現在使用している検量線が最適かどうかが判断さ
れる（ステップＳ１→Ｓ２）。最適であればその検量線
を用いてＴＯＣ値が算出される（ステップＳ３）。次
に、そのＴＯＣ値に対してアナログ信号レンジが最適で
あるかどうかが判断され（ステップＳ４）、最適であれ
ばそのレンジでアナログ出力値が算出され、出力される
（ステップＳ５）。
る。１つのサンプルの測定が終了すると、その測定値に
対して現在使用している検量線が最適かどうかが判断さ
れる（ステップＳ１→Ｓ２）。最適であればその検量線
を用いてＴＯＣ値が算出される（ステップＳ３）。次
に、そのＴＯＣ値に対してアナログ信号レンジが最適で
あるかどうかが判断され（ステップＳ４）、最適であれ
ばそのレンジでアナログ出力値が算出され、出力される
（ステップＳ５）。
【００１１】ステップＳ４においてアナログ信号出力レ
ンジが最適でなければ、レンジが変更される（ステップ
ＳＴ６）。その際、変更前のレンジよりも高いレンジに
変更された場合には、前のレンジによる出力と区別する
ために、一端０Ｖ（４ｍＡ）を出力した後、変更された
レンジでアナログ出力値を算出し、出力する（ステップ
Ｓ７→Ｓ８→Ｓ５）（図５のａを参照）。変更されたレ
ンジが変更前のレンジより低い場合には０Ｖを出力する
ことはしない（ステップＳ７→Ｓ５）（図５のｂを参
照）。ステップＳ２の判断で使用検量線が最適でない場
合には、検量線が最適なものに変更されて、再測定が行
なわれる（ステップＳ２→Ｓ９）。再測定の間は前回の
サンプルの測定値のアナログ信号が出力され続ける（図
５のｂ，ｃを参照）。測定値が小さくなってレンジが変
更前のレンジより小さいレンジに変更される場合の基準
としては、その測定値が小さいレンジの９０％以内にな
れば小さい方のレンジで出力されるようにプログラムし
ておく。
ンジが最適でなければ、レンジが変更される（ステップ
ＳＴ６）。その際、変更前のレンジよりも高いレンジに
変更された場合には、前のレンジによる出力と区別する
ために、一端０Ｖ（４ｍＡ）を出力した後、変更された
レンジでアナログ出力値を算出し、出力する（ステップ
Ｓ７→Ｓ８→Ｓ５）（図５のａを参照）。変更されたレ
ンジが変更前のレンジより低い場合には０Ｖを出力する
ことはしない（ステップＳ７→Ｓ５）（図５のｂを参
照）。ステップＳ２の判断で使用検量線が最適でない場
合には、検量線が最適なものに変更されて、再測定が行
なわれる（ステップＳ２→Ｓ９）。再測定の間は前回の
サンプルの測定値のアナログ信号が出力され続ける（図
５のｂ，ｃを参照）。測定値が小さくなってレンジが変
更前のレンジより小さいレンジに変更される場合の基準
としては、その測定値が小さいレンジの９０％以内にな
れば小さい方のレンジで出力されるようにプログラムし
ておく。
【００１２】図５に示されるように、レンジの切換えで
は変更前のレンジより大きい側に切り換えられる場合に
は、測定値のアナログ信号の出力前に一端０Ｖまで下が
るように識別表示がなされる。逆に大きいレンジに切り
換えられる場合には、そのような識別表示はなされな
い。しかし、識別表示は０Ｖまで下げるこのような方式
に限らず、記号をつけるなど、他の表示方式でもよい。
また、レンジが２段階以上に切り換わった場合も１段階
の切換えと２段階の切換えの区別はこの実施例ではなさ
れないが、さらにそのような多段階の切換えを異なる表
示で識別できるようにしてもよい。また、実施例では検
量線の切換えとレンジの切換えを必ずしも対応させては
いないが、これを１対１に対応させて、検量線が変更さ
れたときには必ずレンジも切り換えられるようにプログ
ラムしておいてもよい。
は変更前のレンジより大きい側に切り換えられる場合に
は、測定値のアナログ信号の出力前に一端０Ｖまで下が
るように識別表示がなされる。逆に大きいレンジに切り
換えられる場合には、そのような識別表示はなされな
い。しかし、識別表示は０Ｖまで下げるこのような方式
に限らず、記号をつけるなど、他の表示方式でもよい。
また、レンジが２段階以上に切り換わった場合も１段階
の切換えと２段階の切換えの区別はこの実施例ではなさ
れないが、さらにそのような多段階の切換えを異なる表
示で識別できるようにしてもよい。また、実施例では検
量線の切換えとレンジの切換えを必ずしも対応させては
いないが、これを１対１に対応させて、検量線が変更さ
れたときには必ずレンジも切り換えられるようにプログ
ラムしておいてもよい。
【００１３】
【発明の効果】本発明ではアナログ信号のレンジをサン
プルのＴＯＣ値に対応して拡大したり、元のレンジに復
帰したりする動作を自動的に行なわせるようにしたの
で、広い範囲で正確なアナログ信号を出力することがで
きる。検量線を変更した際に再測定するようにすれば、
より正確な測定を行なうことができる。レンジが切り換
えられたときにレンジが異なっていることの識別も同じ
アナログ信号で行なうようにすれば、構成が簡単にな
り、また安価な１ペンレコーダで全てを記録できるた
め、装置コストの面でも有利である。
プルのＴＯＣ値に対応して拡大したり、元のレンジに復
帰したりする動作を自動的に行なわせるようにしたの
で、広い範囲で正確なアナログ信号を出力することがで
きる。検量線を変更した際に再測定するようにすれば、
より正確な測定を行なうことができる。レンジが切り換
えられたときにレンジが異なっていることの識別も同じ
アナログ信号で行なうようにすれば、構成が簡単にな
り、また安価な１ペンレコーダで全てを記録できるた
め、装置コストの面でも有利である。
【図１】本発明を示すブロック図である。
【図２】一実施例を示すブロック図である。
【図３】本発明が適用されるＴＯＣ計を示す流路図であ
る。
る。
【図４】一実施例の動作を示すフローチャート図であ
る。
る。
【図５】動作の一例を示すレコーダの出力例を示す波形
図である。
図である。
２ 検出部 ３ 測定値記憶部 ４ 検量線記憶部 ５ 使用検量線最適性判断部 ６ 演算部 ７ ＭＰＵ ８ メモリ ９ アナログ信号レンジ最適性判断部 １０ アナログ出力部 １１ 再測定条件設定部
フロントページの続き (72)発明者 松久 浩明 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内
Claims (3)
- 【請求項１】 バッチ式ＴＯＣ計の検出部の測定値から
ＴＯＣ値を算出し、それに対応するアナログ信号を出力
するデータ処理装置において、サンプルの測定値を記憶
する測定値記憶部と、測定値の大きさに応じた複数の検
量線を記憶している検量線記憶部と、測定値に応じた最
適検量線を選択する使用検量線最適性判断部と、選択さ
れた検量線を用いて測定値からＴＯＣ値を算出し、その
ＴＯＣ値をアナログ信号に換算する演算部と、換算され
たアナログ信号の最適レンジを決定するアナログ信号レ
ンジ最適性判断部と、アナログ信号をアナログ信号レン
ジ最適性判断部で決定された最適レンジで出力するアナ
ログ出力部とを備えたデータ処理装置。 - 【請求項２】 使用検量線最適性判断部で選択された検
量線が直前の測定値用の検量線と異なる場合には再測定
条件を設定して再測定を指示する再測定条件設定部を更
に備えている請求項１に記載のデータ処理装置。 - 【請求項３】 アナログ出力部はレンジが切り換えられ
た場合に、レンジが異なっていることを示す識別表示も
出力する請求項１又は２に記載のデータ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31532591A JPH05126818A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Ｔｏｃ計のデータ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31532591A JPH05126818A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Ｔｏｃ計のデータ処理装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8136425A Division JP3067640B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | Ｔｏｃ計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05126818A true JPH05126818A (ja) | 1993-05-21 |
Family
ID=18064049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31532591A Pending JPH05126818A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Ｔｏｃ計のデータ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05126818A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0213822A (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-18 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| JPH0331759A (ja) * | 1989-06-29 | 1991-02-12 | Shimadzu Corp | 全有機炭素の測定方法 |
-
1991
- 1991-10-31 JP JP31532591A patent/JPH05126818A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0213822A (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-18 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| JPH0331759A (ja) * | 1989-06-29 | 1991-02-12 | Shimadzu Corp | 全有機炭素の測定方法 |
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