JPH0513070U - 光結合半導体装置 - Google Patents
光結合半導体装置Info
- Publication number
- JPH0513070U JPH0513070U JP5941891U JP5941891U JPH0513070U JP H0513070 U JPH0513070 U JP H0513070U JP 5941891 U JP5941891 U JP 5941891U JP 5941891 U JP5941891 U JP 5941891U JP H0513070 U JPH0513070 U JP H0513070U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 応答速度が速く、かつ静電カップリングによ
る誤動作に強い光結合半導体装置を提供する。 【構成】 ホトトランジスタのベース領域2上にメッシ
ュ電極9を作成し、このメッシュ電極9をエミッタ電極
7と接続する。 【効果】 ベース領域上のメッシュ電位により、発光ダ
イオードとホトトランジスタ間の容量の内、ベース領域
の表面積に比例する容量CGPBが実質的に大幅に減少す
る。
る誤動作に強い光結合半導体装置を提供する。 【構成】 ホトトランジスタのベース領域2上にメッシ
ュ電極9を作成し、このメッシュ電極9をエミッタ電極
7と接続する。 【効果】 ベース領域上のメッシュ電位により、発光ダ
イオードとホトトランジスタ間の容量の内、ベース領域
の表面積に比例する容量CGPBが実質的に大幅に減少す
る。
Description
【0001】
本考案は、発光ダイオードとホトトランジスタを1つのパッケージに封入して なる光結合半導体装置に関する。
【0002】
光結合半導体装置(ホトカプラ)において、発光ダイオードとホトトランジス タ間に急峻なパルス電圧が掛かると、ホトトランジスタが誤動作する現象はよく 知られている。これは、発光ダイオードとホトトランジスタ間の容量による静電 カップリングによるものである。
【0003】 (従来例1) 図3は従来例1に係る光結合半導体装置のホトトランジスタ側の構造を示す断 面図、図4は同じくその光結合半導体装置の静電カップリングを説明する等価回 路図である。
【0004】 発光ダイオードLEDとホトトランジスタPT間の容量は、ホトトランジスタ のN型コレクタ領域1の表面積に比例する容量CGPCと、P+型ベース領域2の表 面積に比例する容量CGPBと、N+型エミッタ領域3の表面積に比例する容量CGP E に分離できる。
【0005】 容量CGPC,CGPB,CGPEにおいて、最も重要なものはベース領域2の表面積 に比例する容量CGPBである。なぜならば、容量CGPBに対応する静電カップリン グがベース電流となり、hFE(一般にhFEは10〜5000)倍に増幅されるた めである。なお、図3中、7はエミッタ電極、8はベース電極である。
【0006】
上記従来例1に係る光結合半導体装置では、容量CGPBに対応する静電カップ リングがベース電流となり、hFE倍に増幅されるから、静電カップリングによる 誤動作が発生する。
【0007】 そこで、上記容量CGPBを減少して、静電カップリングによる誤動作を防止す る技術(従来例2)が開示されている。
【0008】 (従来例2) 図5は従来例2に係る光結合半導体装置のホトトランジスタ側の構造を示す断 面図である。
【0009】 図示の如く、N型コレクタ領域1,P+型ベース領域2,N+型エミッタ領域3 の基本的構造は、図3のものと同じである。しかし、ここではベース領域2の主 たる部分を覆うようにエミッタ領域3を形成している。この結果、ベース領域2 の表面積に比例する容量CGPBは大幅に減少し、これに対応する静電カップリン グによる影響は大幅に低減される。なお、図中、4は金属層、5はコレクタベー ス接合、6はエミッタ・ベース接合である。
【0010】 しかしながら、上記従来例2に係る光結合半導体装置は、エミッタ・ベースの 接合容量が大きいため、応答速度が遅くなっている。
【0011】 本考案は、上記に鑑み、応答速度が速く、かつ静電カップリングによる誤動作 に強い光結合半導体装置の提供を目的とする。
【0012】
本考案による課題解決手段は、図1,2の如く、1つのパッケージ内で発光ダ イオードLEDとホトトランジスタPTとが光学的に結合されてなる光結合半導 体装置において、前記ホトトランジスタPTのベース領域2上にメッシュ電極9 が形成され、該メッシュ電極9がエミッタ電極7に接続されたものである。
【0013】
上記課題解決手段において、ベース領域2の主たる部分にメッシュ電極9を形 成して覆うようにし、その電位をエミッタと同じようにしているため容量CGPB は大幅に減少し、これに対応する静電カップリングによる影響は大幅に低減され る。
【0014】 また、上記のようにメッシュ電極9にて大幅なシールド効果が得られるから、 ベース領域2の主たる部分を覆うようにエミッタ領域3を形成する必要がなくな り、エミッタ・ベースの接合容量は小さく済むから、応答速度は速くなる。
【0015】
図1は本考案の一実施例に係る光結合半導体装置のホトトランジスタ側の構造 を示す断面図、図2は同じくそのホトトランジスタ側の要部拡大断面図である。
【0016】 図示の如く、本実施例の光結合半導体装置(ホトカプラ)は、1つのパッケー ジ内で発光ダイオードLEDとホトトランジスタPTとが光学的に結合されてな り、前記ホトトランジスタPTは、N型コレクタ領域1、P+型ベース領域2お よびN型エミッタ領域3を有しており、その基本構造は図3に示したものと同じ である。
【0017】 そして、前記P+型ベース領域2のSiO2膜10上には、メッシュ電極9が形 成されている。該メッシュ電極9は、複数のアルミニウム電極9a,9b,9c ,…が一定の間隔をあけて設けられたものであり、エミッタ電極7に接続され、 これと同電位とされている。なお、その他の構成は、従来技術と同様である。
【0018】 一般に光結合半導体装置において、発光ダイオードLEDとホトトランジスタ PT間の急峻なパルス電圧が掛かると、発光ダイオードLEDとホトトランジス タPT間の容量による静電カップリングによりホトトランジスタPTが誤動作す ることがある。
【0019】 本実施例では、ベース領域2の主たる部分にメッシュ電極9を形成して覆うよ うにしている。発光ダイオードLEDとホトトランジスタPT、すなわち各アル ミニウム電極9a,9b,9c,…との間の電気力線は、図2に示すように広が り、大幅なシールド効果が得られる。すなわち、ベース領域2上にメッシュ電極 9を形成することで、ベース領域2の表面積に比例する容量CGPBは実質的に大 幅に減少し、これに対応する静電カップリングによる影響は大幅に低減される。
【0020】 また、上記のようにメッシュ電極9を用いることで大幅なシールド効果が得ら れるから、図5に示した従来例2のように、ベース領域2の主たる部分を覆うよ うにエミッタ領域3を形成する必要がなくなる。そのため、エミッタ・ベースの 接合容量は小さく済むから、応答速度は速くなる。
【0021】 アルミニウム製のメッシュ電極9上に照射された発光ダイオードLEDの光は 、メッシュ電極9にて反射されホトトランジスタPTの高感度が低下するので、 アルミニウム製のメッシュ電極9の幅は細いほどより効果的となる。
【0022】 なお、本考案は、上記実施例に限定されるものではなく、本考案の範囲内で上 記実施例に多くの修正および変更を加え得ることは勿論である。
【0023】 例えば、メッシュ電極9はポリシリコン,薄膜金属,透明電極であってもよい 。また、メッシュ電位をコレクタと同じにしてもよい。
【0024】 また、本考案は、NPNP構造を有するホトサイリスタ,ホトトライアックに も適用できる。
【0025】
以上の説明から明らかな通り、本考案によると、ホトトランジスタのベース領 域上にメッシュ電極を形成するだけで、簡単なシールド構造により静電カップリ ングの影響を除去でき、急峻なパルス電圧印加による誤動作がなくなる。
【0026】 そのため、ベース領域の主たる部分を覆うようにエミッタ領域を形成する必要 がなくなるから、エミッタベースの接合容量を小さくでき応答速度も速くなる。
【図1】図1は本考案の一実施例に係る光結合半導体装
置のホトトランジスタ側の構造を示す断面図である。
置のホトトランジスタ側の構造を示す断面図である。
【図2】図2は同じくそのホトトランジスタ側の要部拡
大断面図である。
大断面図である。
【図3】図3は従来例1に係る光結合半導体装置のホト
トランジスタ側の構造を示す断面図である。
トランジスタ側の構造を示す断面図である。
【図4】図4は同じくその光結合半導体装置の静電カッ
プリングを説明する等価回路図である。
プリングを説明する等価回路図である。
【図5】図5は従来例2に係る光結合半導体装置のホト
トランジスタ側の構造を示す断面図である。
トランジスタ側の構造を示す断面図である。
2 ベース領域 7 エミッタ電極 9 メッシュ電極
Claims (1)
- 【請求項1】 1つのパッケージ内で発光ダイオードと
ホトトランジスタとが光学的に結合されてなる光結合半
導体装置において、前記ホトトランジスタのベース領域
上にメッシュ電極が形成され、該メッシュ電極がエミッ
タ電極に接続されたことを特徴とする光結合半導体装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991059418U JP2605239Y2 (ja) | 1991-07-29 | 1991-07-29 | 光結合半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991059418U JP2605239Y2 (ja) | 1991-07-29 | 1991-07-29 | 光結合半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0513070U true JPH0513070U (ja) | 1993-02-19 |
| JP2605239Y2 JP2605239Y2 (ja) | 2000-07-04 |
Family
ID=13112703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991059418U Expired - Lifetime JP2605239Y2 (ja) | 1991-07-29 | 1991-07-29 | 光結合半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2605239Y2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6142974A (ja) * | 1984-08-06 | 1986-03-01 | Sharp Corp | 光結合素子 |
| JPS6430861U (ja) * | 1987-08-19 | 1989-02-27 | ||
| JPH03203381A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Sony Corp | 光センサ |
-
1991
- 1991-07-29 JP JP1991059418U patent/JP2605239Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6142974A (ja) * | 1984-08-06 | 1986-03-01 | Sharp Corp | 光結合素子 |
| JPS6430861U (ja) * | 1987-08-19 | 1989-02-27 | ||
| JPH03203381A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Sony Corp | 光センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2605239Y2 (ja) | 2000-07-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |