JPH05133978A - プリント配線板の電気的検査用プローブピン - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント配線板の回路パターンの導通検査、
絶縁良否の判定などの電気的検査において、スルーホー
ルの半田孔詰まりがある場合でもスルホール内断線不良
を確実に検出することができるようにする。 【構成】 プリント配線板のスルーホールなどに接触さ
せるプローブピン10の先端部のみを、選択的に硬質の絶
縁体10b により被覆し、半田孔詰まりを起こしたスルー
ホールの検査の際は、孔内に詰まった半田に先端絶縁部
が接触し、導通不良となるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板の電気
的検査用プローブピンに係り、特にプリント配線板の回
路パターンの導通の検査、または絶縁良否の判定を行う
ために、検査用測定子として表面実装用パッドやスルー
ホールなどに接触させるプローブピンに関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、機器の高機能化や小型化および低
コスト化などの要請に応じて、フラットパッケージタイ
プ、あるいはチップタイプなどの電子部品を、プリント
配線板の主面に搭載し、その主面に形成されている導体
パターンの所定のパッドに接続する表面実装方式が行わ
れている。

【０００３】上記した表面実装用のプリント配線板の電
気的検査は、一般に次のように行われている。すなわ
ち、たとえば図５に側面的に示すように、導電性金属に
てほぼ円錐形状に形成されたプローブピン１を使用し、
これをプリント配線板の所要の表面実装用パッドに当て
る。また、図６に断面的に示すように、２本のプローブ
ピン１を、プリント配線板２の層間導通用または部品実
装用などのスルーホール３内にそれぞれ両側から挿入
し、各プローブピン１の外周面をそれぞれスルーホール
３内壁面の導体層４に接触させる。そして、これらのプ
ローブピン１の間に適当な電圧を印加することによっ
て、パッドおよびスルーホール３ごとの導通の有無を検
査し、回路の導通検査および絶縁の良否判定を行ってい
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記プ
ローブピン１を用いた従来の検査方法では、図７に断面
的に示すように、スルーホール３内の導体層４に断線不
良が生じており、かつ孔内に半田５が詰まっている場合
には、孔詰まりした半田５によってプローブピン１間の
導通が図れるため、断線不良の検出が不可能であった。

【０００５】また、プリント配線板２の製造の際には、
最終加工工程の一つであるソルダーコーティング後、部
品実装用などのスルーホール３の半田５孔詰まりを、以
下に示すようなホールチェッカーにより検査し摘出排除
している。すなわち、図８に断面的に示すように、たと
えば蛍光灯６から発する光７が、スルーホール３内を通
過する光量を、たとえばＣＣＤセンサー８により感知
し、孔数を計測検出するとともに、検出孔数の大小によ
り、孔明きの良否を判定するように構成されたホールチ
ェッカー９により、半田５孔詰まりの有無が検査されて
いる。しかし、このようなホールチェッカー９は、プリ
ント配線板２上に発生するプレス加工時の端面ばり、ご
みなどにより誤動作することがあるため、検査精度が必
ずしも高くなく、半田５孔詰まりのあるプリント配線板
２が摘出されずに電気的検査工程へ流入し、前記問題点
が生じる原因となっていた。

【０００６】本発明はこのような問題を解決するために
なされたもので、プリント配線板の電気的検査におい
て、スルーホールの断線不良を確実に検出することがで
きるプローブピンの提供を目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明に係るプリント配
線板の電気的検査用プローブピンは、プリント配線板の
主面に形成された表面実装用パッドあるいはスルーホー
ルに接触させて電気的な検査を行うためほぼ円錐状に形
成された導電性金属製プローブピンにおいて、前記プロ
ーブピン先端部を硬質の絶縁体により選択的に被覆した
ことを特徴とする。

【０００８】

【作用】本発明に係るプローブピンによれば、先端部の
表面が硬質の絶縁体により被覆されているので、これ
を、プリント配線板の表面実装用パッドあるいはスルー
ホールに接触させ電気的検査を行う測定子として使用し
た場合、半田孔詰まりしているスルーホールにおいて
は、先端部の絶縁体が孔内に詰まった半田に接触するた
め、プローブピン間の導通が検出されず不良と判定され
る。

【０００９】このようにスルーホールに半田孔詰まりが
ある場合は、全て導通不良と判定され摘出されるので、
プリント配線板の孔内断線の不良を誤って見逃すことが
なく、半田詰まりのあるプリント配線板を確実に検出す
ることができる。

【００１０】

【実施例】以下、図１〜図４を参照して本発明の実施例
を説明する。

【００１１】図１は本発明に係る電気的検査用プローブ
ピンの一構造例を一部切欠して断面的に示したもので、
このプローブピン10は、銅などの導電金属にてほぼ円錐
状に形成された本体部10a と、この本体部10a の先端部
外周を被覆して設けられたテフロン（フッ素樹脂）など
の絶縁被覆層10b とから構成されている。

【００１２】このような構造のプローブピン10を使用
し、図２に断面的に示すようにプリント配線板２の電気
的検査を行う場合、スルホール３内導体層４の断線があ
り、かつ半田５孔詰まりを起こしたスルーホール３にお
いては、スルホール３内に詰まった半田５にプローブピ
ン10先端部のテフロンなどの絶縁被覆層10b が接触する
ため、電気的検査結果は導通不良、すなわち断線とな
る。

【００１３】また図３に断面的に示すように、前記構成
のプローブピン10を、半田５孔詰まりおよびスルホール
内導電層４の断線も無い正常なスルーホール３に挿入し
た場合には、導電金属からなるピン本体部10a がスルー
ホール３内壁面の導体層４に接触するので、正常な導通
が検出される。

【００１４】このように、本発明に係るプローブピン10
によれば、従来は検出が不可能であった半田５孔詰まり
がある場合のスルーホール３内断線を、容易にかつ確実
に検出することができる。また、プレス加工時に生じる
プリント配線板２の端面ばり、ごみなどにより、ホール
チェッカーに誤動作を生じ、これにより半田５孔詰まり
のあるプリント配線板２が電気的検査工程に混入したと
きも、孔詰まりを生じたスルーホールを確実に検出し不
良品として摘出排除することができる。

【００１５】図４は本発明に係るプローブピンの他の構
成例を一部切欠して断面的に示したもので、導電金属に
てほぼ円錐状に形成された本体部10a の先端部に、硬質
ガラスからなる絶縁部10b が接着・埋め込まれた構造を
成している。しかして、前記構成例の場合と同様に、従
来検出不可能であった半田５孔詰まりがある場合のスル
ーホール３内断線も、確実に検出することができる。

【００１６】

【発明の効果】以上説明したように本発明の電気的検査
用プローブピンによれば、プリント配線板に半田孔詰ま
りがある場合でも、スルーホール内導体層の断線不良な
どを正確に検出し摘出排除することができる。また、半
田孔詰まりがあるプリント配線板が光学的チェック工程
で摘出されず電気的検査工程へ混入した場合にも、この
ような不具合を容易に検出し摘出することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電気的検査用プローブピンの一構
造例を示す一部切欠断面図。

【図２】本発明に係る電気的検査用プローブピンを孔内
断線不良がありかつ半田孔詰まりとなっているプリント
配線板のスルーホールに接触させた状態を示す断面図。

【図３】本発明に係る電気的検査用プローブピンを正常
なプリント配線板のスルーホールに接触させた状態を示
す断面図。

【図４】本発明に係る電気的検査用プローブピンの他の
構造例を示す一部切欠断面図。

【図５】従来の電気的検査用プローブピンの構造を示す
側面図。

【図６】従来のプローブピンを正常なプリント配線板の
スルーホールに接触させた状態を示す断面図。

【図７】従来のプローブピンを孔内断線不良がありかつ
半田孔詰まりのあるプリント配線板のスルーホールに接
触させた状態を示す断面図。

【図８】プリンと配線板のホールチェッカーのハードウ
ェアの概略構成を示す側面図。

【符号の説明】

１、10…プローブピン ２…プリント配線板 ３…
スルホール ４…スルホール内壁面の導体層 ５…
半田 ６…蛍光灯 ７…光 ８…ＣＣＤセンサ
９…ホールチェッカー 10a …プローブピン本体部
10b …絶縁被覆層

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プリント配線板の主面に形成された表面
   実装用パッドあるいはスルーホールに接触させて電気的
   な検査を行うためほぼ円錐状に形成された導電性金属製
   プローブピンにおいて、 前記プローブピン先端部を硬質の絶縁体により選択的に
   被覆したことを特徴とするプリント配線板の電気的検査
   用プローブピン。