JPH0513465B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0513465B2 JPH0513465B2 JP60169724A JP16972485A JPH0513465B2 JP H0513465 B2 JPH0513465 B2 JP H0513465B2 JP 60169724 A JP60169724 A JP 60169724A JP 16972485 A JP16972485 A JP 16972485A JP H0513465 B2 JPH0513465 B2 JP H0513465B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shoe
- vibrator
- probe
- pipe
- ultrasonic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、超音波により物体中の傷を検査する
超音波探傷器において、超音波の送信、反射波の
受信を行なう探触子に関する。
超音波探傷器において、超音波の送信、反射波の
受信を行なう探触子に関する。
（従来技術）
超音波探傷器には、透過方式と反射方式の２種
があるが、このうち反射方式とは超音波のパルス
を被検査物に入射させ、その反射波ほ状況により
被検査物の傷を検査するものである。
があるが、このうち反射方式とは超音波のパルス
を被検査物に入射させ、その反射波ほ状況により
被検査物の傷を検査するものである。
超音波探傷器において、超音波のパルスの送
信、反射波の受信をおこなうものが探触子であ
る。電気的パルスを探触子に送り、探触子に内蔵
された振動子で電気的パルスを超音波パルスに変
換して被検査物に送る。そして、反射して戻つた
反射波は振動子によつて電圧に変換され、増幅さ
れ、その時間的変化がブラウン管上に表示され
る。
信、反射波の受信をおこなうものが探触子であ
る。電気的パルスを探触子に送り、探触子に内蔵
された振動子で電気的パルスを超音波パルスに変
換して被検査物に送る。そして、反射して戻つた
反射波は振動子によつて電圧に変換され、増幅さ
れ、その時間的変化がブラウン管上に表示され
る。
この超音波探傷器により検査する対象として、
ブラント等における配管がある。この配管中の傷
を検査する場合、従来では第４図に示すように一
個の探傷子１を用いて、配管２の外側表面３を方
形に何度も軸方向と周方向に往復させながら走査
をしていた。
ブラント等における配管がある。この配管中の傷
を検査する場合、従来では第４図に示すように一
個の探傷子１を用いて、配管２の外側表面３を方
形に何度も軸方向と周方向に往復させながら走査
をしていた。
一方、多数の送受波器を配管の周方向に配置し
たマルチ型探触子も公知である。（特開昭58−
95255号公報参照） 更に、多数の振動子を配管の周方向に配置し
た、順次発信させるようにしたマルチ型探触子も
公知である。（実開昭55−167155号公報参照） （発明が解決しようとする問題点） しかし、前記一個の探触子１による検査では、
検査時間が長くなつて検査の能率が悪いものとな
り、検査員の熟練度によつては走査漏れとなる部
分が生じるおそれがある等の欠点がある。
たマルチ型探触子も公知である。（特開昭58−
95255号公報参照） 更に、多数の振動子を配管の周方向に配置し
た、順次発信させるようにしたマルチ型探触子も
公知である。（実開昭55−167155号公報参照） （発明が解決しようとする問題点） しかし、前記一個の探触子１による検査では、
検査時間が長くなつて検査の能率が悪いものとな
り、検査員の熟練度によつては走査漏れとなる部
分が生じるおそれがある等の欠点がある。
殊に、原子力プラントでは、検査員の放射線被
爆を最小限にするために、検査時間の低減は非常
に重要なこととなつている。
爆を最小限にするために、検査時間の低減は非常
に重要なこととなつている。
又、前記特開昭58−95255号公報及び実開昭55
−167155号公報に示すマルチ型の探触子では１個
をシユーに収納されていないため、走査のための
走行が困難である上、乱反射の影響を受けるおそ
れがあつた。
−167155号公報に示すマルチ型の探触子では１個
をシユーに収納されていないため、走査のための
走行が困難である上、乱反射の影響を受けるおそ
れがあつた。
本発明は、このような従来の探触子の欠点に鑑
みなされたものである。本発明の目的は、プラン
ト等における配管の傷を検査する場合に検査能率
が良好なものであり、かつ走査漏れとなる部分が
生じる可能性が少ない上、走査のための走行が簡
単であつて乱反射の影響を受けることのない超音
波探傷器の探触子を提供することにある。
みなされたものである。本発明の目的は、プラン
ト等における配管の傷を検査する場合に検査能率
が良好なものであり、かつ走査漏れとなる部分が
生じる可能性が少ない上、走査のための走行が簡
単であつて乱反射の影響を受けることのない超音
波探傷器の探触子を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
前記目的を達成するために、本発明は次のよう
に構成されている。
に構成されている。
電気振動と機械振動を相互に変換する振動子
と、該振動子が取付られ、かつ配管の探傷面であ
る外側曲面に当てるシユーとを少なくとも有する
超音波探傷器の探触子において、シユーを一個と
し、探傷検査する配管の外側曲面に適合した円弧
状の当接面をシユーに形成し、シユーの上面に配
管の軸線方向に対し斜めの角度を持つ２つの斜面
をシユーの周方向に形成し、一方の斜面の周方向
に振動子を多数個配置し、他方の斜面に多数の溝
状の凹凸よりなるエツジを形成し、該エツジの上
に吸音材が設けられ、前記振動子を適宜の順番で
順次発振させて構成されている。
と、該振動子が取付られ、かつ配管の探傷面であ
る外側曲面に当てるシユーとを少なくとも有する
超音波探傷器の探触子において、シユーを一個と
し、探傷検査する配管の外側曲面に適合した円弧
状の当接面をシユーに形成し、シユーの上面に配
管の軸線方向に対し斜めの角度を持つ２つの斜面
をシユーの周方向に形成し、一方の斜面の周方向
に振動子を多数個配置し、他方の斜面に多数の溝
状の凹凸よりなるエツジを形成し、該エツジの上
に吸音材が設けられ、前記振動子を適宜の順番で
順次発振させて構成されている。
（実施例）
以下に、本発明の一実施例を第１図ないし第３
図に基づいて説明する。
図に基づいて説明する。
配管２の外側表面３に当てるアクリル等により
なる一個のシユー４の下面には、配管２の外側曲
面３に適合した円弧状の当接面５が形成されてい
る。シユー４は、全体的に円の半周以下の略円弧
状にされる。
なる一個のシユー４の下面には、配管２の外側曲
面３に適合した円弧状の当接面５が形成されてい
る。シユー４は、全体的に円の半周以下の略円弧
状にされる。
シユー４の上面には、配管２の軸線方向に対し
斜めの角度を持つ２つの斜面６1，６2がシユー４
の周方向に形成されている。この斜面６1，６2の
うち斜面６1には、振動子７がシユー４の周方向
に多数個配置される。振動子７は、電気振動と機
械振動を相互に変換するものであり、水晶、チタ
ン酸バリウム等が用いられる。振動子７はシユー
４の斜面６1に設けられ、配管２の軸線方向に対
して斜めに配置されている。そのため、振動子７
から送られる超音波パルスは配管２に対して斜め
の角度で入射する。超音波パルスを斜めの角度で
入射させるのは、配管２の板厚方向に発生した欠
陥を検出するのに有効だからである。
斜めの角度を持つ２つの斜面６1，６2がシユー４
の周方向に形成されている。この斜面６1，６2の
うち斜面６1には、振動子７がシユー４の周方向
に多数個配置される。振動子７は、電気振動と機
械振動を相互に変換するものであり、水晶、チタ
ン酸バリウム等が用いられる。振動子７はシユー
４の斜面６1に設けられ、配管２の軸線方向に対
して斜めに配置されている。そのため、振動子７
から送られる超音波パルスは配管２に対して斜め
の角度で入射する。超音波パルスを斜めの角度で
入射させるのは、配管２の板厚方向に発生した欠
陥を検出するのに有効だからである。
以上のように、本発明では、配管２の検査能率
向上のために、一個のシユー４の周方向に振動子
７を多数個配置するのである。
向上のために、一個のシユー４の周方向に振動子
７を多数個配置するのである。
ある振動子７からの超音波パルスが他の振動子
７のノイズとなつて混入することを避けるように
各振動子７の発振順番は適宜決められ、順次発振
される。
７のノイズとなつて混入することを避けるように
各振動子７の発振順番は適宜決められ、順次発振
される。
振動子７から発射された超音波パルスの一部が
配管２内に入らず表面で反射され反射エコーとな
るが、これがノイズとなつて検査精度上好ましく
ない。この反射エコーが振動子７に戻らないよう
に、シユー４の斜面６2に乱反射用の多数の溝上
の凹凸よりなるエツジ８が形成され、さらにエツ
ジ８の上にシリコンゴム等よりなる吸音材９が設
けられている。１０は振動子７の共振を吸収して
短いパルスを送受するダンパ材である。１１はシ
ユー４を収容するケースであり、１２は配線用の
プラグである。ダンパ材としてはエポキシ樹脂に
比重の大きいタングステン粉末を混合したもの等
が使用される。
配管２内に入らず表面で反射され反射エコーとな
るが、これがノイズとなつて検査精度上好ましく
ない。この反射エコーが振動子７に戻らないよう
に、シユー４の斜面６2に乱反射用の多数の溝上
の凹凸よりなるエツジ８が形成され、さらにエツ
ジ８の上にシリコンゴム等よりなる吸音材９が設
けられている。１０は振動子７の共振を吸収して
短いパルスを送受するダンパ材である。１１はシ
ユー４を収容するケースであり、１２は配線用の
プラグである。ダンパ材としてはエポキシ樹脂に
比重の大きいタングステン粉末を混合したもの等
が使用される。
以上のように構成した探触子１のシユー４の当
接面５を配管２の外側曲面３に当て、配管２の軸
方向に走査させることにより、一度の走査で広い
範囲の検査が可能である。
接面５を配管２の外側曲面３に当て、配管２の軸
方向に走査させることにより、一度の走査で広い
範囲の検査が可能である。
特に、原子炉等の悪環境下における配管２の検
査においては検査員保護の見地から特に短時間で
おこなうことが必要であり、このような場合に本
発明に係る探触子１を使用することはとりわけ有
効であるといえる。
査においては検査員保護の見地から特に短時間で
おこなうことが必要であり、このような場合に本
発明に係る探触子１を使用することはとりわけ有
効であるといえる。
（発明の効果）
本発明によれば、１個のシユーに多数の超音波
振動子を配置しているので、プラント等の配管の
探傷検査をするについて、一度の走査で広い範囲
を検査できるため、検査能率が良く、検査漏れが
生じる可能性も少ない上、走査のための走行も簡
単となる。。
振動子を配置しているので、プラント等の配管の
探傷検査をするについて、一度の走査で広い範囲
を検査できるため、検査能率が良く、検査漏れが
生じる可能性も少ない上、走査のための走行も簡
単となる。。
また、各々の振動子を順次発振させるので、ノ
イズが少なく、検査精度の向上が得られるもので
ある。
イズが少なく、検査精度の向上が得られるもので
ある。
更にまた、斜面にエツジを形成しかつ該斜面の
上に吸音材を設けているので乱反射が吸収され、
検査精度が向上する。
上に吸音材を設けているので乱反射が吸収され、
検査精度が向上する。
第１図は、本発明の一実施例に係る探触子の原
理図と配管を示した斜視図である。第２図は、本
発明の一実施例に係る探触子の縦断面図である。
第３図は、シユー部分を示す正面図である。第４
図は従来に探触子と配管を示した斜視図である。 １：探触子、２：配管、３：外側曲面、４：シ
ユー、５：当接面、７：振動子。
理図と配管を示した斜視図である。第２図は、本
発明の一実施例に係る探触子の縦断面図である。
第３図は、シユー部分を示す正面図である。第４
図は従来に探触子と配管を示した斜視図である。 １：探触子、２：配管、３：外側曲面、４：シ
ユー、５：当接面、７：振動子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 電気振動と機械振動を相互に変換する振動子
７と、該振動子７が取付られ、かつ配管２の探傷
面である外側曲面３に当てるシユー４とを少なく
とも有する超音波探傷器の探触子１において、 シユー４を一個とし、探傷検査する配管２の外
側曲面３に適合した円弧状の当接面５をシユー４
に形成し、シユー４の上面に配管２の軸線方向に
対し斜めの角度を持つ２つの斜面６1，６2をシユ
ー４の周方向に形成し、一方の斜面６1の周方向
に振動子７を多数個配置し、他方の斜面６2に多
数の溝状の凹凸よりなるエツジ８を形成し、該エ
ツジ８の上に吸音材９が設けられ、前記振動子７
を適宜の順番で順次発振させることを特徴とする
超音波探傷器と探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60169724A JPS6230951A (ja) | 1985-08-02 | 1985-08-02 | 超音波探傷器の探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60169724A JPS6230951A (ja) | 1985-08-02 | 1985-08-02 | 超音波探傷器の探触子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6230951A JPS6230951A (ja) | 1987-02-09 |
| JPH0513465B2 true JPH0513465B2 (ja) | 1993-02-22 |
Family
ID=15891677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60169724A Granted JPS6230951A (ja) | 1985-08-02 | 1985-08-02 | 超音波探傷器の探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6230951A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0664027B2 (ja) * | 1988-08-23 | 1994-08-22 | 川崎製鉄株式会社 | 管用斜角探傷ヘツド及びそれを用いた管用斜角探傷装置 |
| US7975549B2 (en) * | 2007-06-19 | 2011-07-12 | The Boeing Company | Method, apparatus and system for inspecting a workpiece having a curved surface |
| JP5567561B2 (ja) * | 2008-07-24 | 2014-08-06 | エアバス オペレーションズ リミティド | 曲面状ワークピースのための超音波検査装置 |
| JP6014525B2 (ja) * | 2013-03-22 | 2016-10-25 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 超音波探傷の探触子および超音波探傷方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5841491Y2 (ja) * | 1979-05-20 | 1983-09-19 | 新日本製鐵株式会社 | 管の斜角超音波探傷用探触子 |
| JPS5895255A (ja) * | 1981-12-02 | 1983-06-06 | Hitachi Ltd | マルチ型超音波探触子 |
| JPS59151057A (ja) * | 1983-02-17 | 1984-08-29 | Toshiba Corp | 超音波探傷装置 |
-
1985
- 1985-08-02 JP JP60169724A patent/JPS6230951A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6230951A (ja) | 1987-02-09 |
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