JPH0328375Y2 - - Google Patents

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JPH0328375Y2
JPH0328375Y2 JP7649488U JP7649488U JPH0328375Y2 JP H0328375 Y2 JPH0328375 Y2 JP H0328375Y2 JP 7649488 U JP7649488 U JP 7649488U JP 7649488 U JP7649488 U JP 7649488U JP H0328375 Y2 JPH0328375 Y2 JP H0328375Y2
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JP
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probe
flange
bolt
ultrasonic
slit
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JP7649488U
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JPS63200160U (ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、部材に組立てられた特殊形状のボル
トを検査する超音波探傷プローブに関する。まず
検査対象である特殊形状のボルトと、該ボルトを
部材に組込んだ状態を第1図に示す。
このボルト1は、下部外周に雄ねじ1aを形成
し、中央外周にフランジ1bを形成し、更に上端
から中央部にかけて軸方向に沿うスリツト1cを
形成している。このボルト1は、部材2に座金3
を介してナツト4で締付けることにより、ナツト
4とフランジ1b間で固定され、またボルト1の
頭部は部材5にはめ込まれている。このボルト1
は、部材2と5の位置決めをなすもので、スリツ
ト1cがばねの役割りをして部材2,5間の「ガ
タツキ」を吸収するものである。
このように組立てられたボルト1において、ボ
ルト1の健全性、すなわちフランジ付根部a,b
の欠陥の有無を超音波探傷試験により調べる場
合、ボルト1が部材2,5内に埋没しているため
に、ボルト頭先端1dあるいはスリツト面1eか
ら超音波を入射させる必要がある。
しかしボルト頭先端1dから超音波を入射させ
る方法は、入射方向が適切とはいえない。すなわ
ちフランジ付根部a,bに欠陥の入る方向は、ボ
ルト1の応力解析及び事故品の調査により約45゜
の方向であることが知られている。従つてこの欠
陥に超音波が当つても、反射方向は入射方向から
約90゜ずれ、受信し難い。
これに対しスリツト面1eから超音波を入射さ
せる方法は第2図に示すように振動子8から送ら
れた超音波Uはウエツジ7を通り、ボルト外周面
1f及び欠陥6で反射され、更に上記ボルト外周
面1fを反射して上記振動子8で受信されること
となる。
しかしこの方法は、フランジの角1gが理論的
に反射し易い形状を有していることと、この種の
ボルト1においてはフランジの角1gのビーム路
程(超音波伝播時間)が予想される欠陥6の位置
とほぼ等しいこととから、フランジの角1gを反
射源とする疑似エコーU′が発生する問題がある。
すなわち振動子8から発信した超音波は、ウエ
ツジ7で方向を定められ、被検物であるボルト1
dの外周面1fでバウンドしてフランジ付根部
a,bに到達する。ここに欠陥6があれば、欠陥
面で超音波が反射し、エコーとして同じ経路を通
つて振動子8に受信される。しかしこの際、超音
波ビームは、振動子8の寸法と周波数に依存する
拡がりを有するため、一部が外周面1fでバウン
ドせずに直進する。この超音波U′は、フランジ
の角1gに到達し、ここで反射波が生じて、欠陥
6からの反射波とまぎらわしいエコーが振動子8
で受信される。
なお振動子が単一な場合すなわち振動子が送受
信を兼ねる場合にも、疑似エコーを受信しない角
度及び位置の設定は可能であるが、欠陥からの反
射率は、音波が欠陥に対し直交する条件で最大
で、傾くにしたがつて低下するため、反射率に起
因する欠陥検出能の低下をきたすことにある。
本考案は上記事情に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、超音波を確実に入射でき
るとともに疑似エコーを受信しない超音波探傷プ
ローブを得んとするものである。
すなわち本考案は、一端から中央部にかけて軸
方向に沿うスリツトを形成し、中央部外周にフラ
ンジを形成し、他端部外周に雄ねじ部を形成して
なるボルトの該スリツト内に挿入されて、該雄ね
じ部のフランジ部付根部の欠陥を検査する超音波
探傷プローブにおいて、プローブ本体に形成した
フレーム部に、該本体から湾曲状に突出した2枚
の板ばねと、回転軸を介し、かつフレームとの間
に回転ストツパを設けて特定の範囲において回転
自在に設けた探触子をそれぞれ取付け、かつ該探
触子に超音波の送受信方向の前後に送信用振動子
と受信用振動子とをそれぞれウエツジを介して配
置し、さらに前記両振動子の間に遮音用仕切板を
配置してなる超音波探傷プローブである。
以下本考案を図示する実施例を参照して説明す
る。
第3図は超音波探傷プローブの平面図を示した
ものである。このプローブは、プローブ本体11
にフレーム部12を形成し、このフレーム部12
の両側に板ばね13,13の両端を取付けてい
る。板ばね13は、第4図に示すように上記フレ
ーム部12から湾曲状に突出して設けられてい
る。更に上記フレーム部12内には、探触子ケー
ス14で補強された探触子15が回転軸16を介
して取付けられている。この探触子ケース14に
は、第5図に示すように回転ストツパー14aが
突出し、フレーム部12に形成した溝12a内に
挿入されている。この回転ストツパー14aは探
触子15が矢印方向へ回動するのを必要最小限に
抑えるためのものである。なお図中17はプロー
ブホルダー、18は超音波探傷器に接続される同
軸ケーブルである。
更に探触子15は、第8図に示すように前部の
送信用ウエツジ19に送信用の振動子20を、後
部の受信用ウエツジ21に受信用の振動子22を
独立して配設し、これらウエツジ19,21間に
仕切板23を介装している。この仕切板23は送
信用振動子20がウエツジ19,21を通じて受
信用振動子22に直接伝播するのを防ぐものであ
る。
なお振動子を送信用と受信用と独立させること
は、金属の薄板を探傷する際に不感帯(送信波の
影響で探触子近傍の探傷ができない部分)を軽減
する目的、あるいは特定部分の超音波の強度を強
くする目的では公知である。しかしこれらは本考
案の如く疑似エコーを軽減することを目的とした
ものではない。
次にこの超音波探傷プローブの作用を説明す
る。
第6図及び第7図に示すように、ボルト1のス
リツト1cへプローブを挿入すると、板ばね1
3,13がスリツト面1e′に当り、この反作用に
より反対側のスリツト面1eに探触子15が密着
される。また探触子15は、回転軸16によりフ
レーム部12に支持されているので板ばね13,
13の作用が探触子15の各面に均一にかかるこ
ととなる。なお検査作業時には、スリツト1cに
超音波伝播媒質として水などが充満されている
か、あるいは水などが塗布してあるものとする。
スリツト1cに挿入したプローブにおいて、第
8図に示すように送信用振動子20から超音波を
発信すると、ウエツジ19を通過した後ボルト1
に入射し、さらにボルト外周面1fでバウンドし
た後フランジ付根部bに達する。ここで仮にフラ
ンジ付根部bに欠陥6があるとすれば、超音波は
欠陥部で反射し、ボルト外周面1fでバウンドし
た後ウエツジ21を通過して、受信用振動子22
に欠陥エコーとして受信される。
一方ボルト外周面1fでバウンドせずに直進し
た一部の超音波は、フランジの角1gで反射され
る。しかし受信用振動子22は、スリツト1cの
頭部側にずれているため、フランジの角1gから
反射された超音波は、フランジ1bにさえぎられ
て消失し、受信用振動子22での受信が防止され
る。
以上の如くスリツト内に超音波探傷プローブを
挿入して、ここから超音波を斜入射させるので、
フランジ付根部の欠陥、欠陥方向に対し、適正な
方向の超音波を入射させることができる。
また送信用振動子と受信用振動子とを独立さ
せ、その配設位置をずらすことにより、フランジ
の角を反射源とする疑似エコーが消失して、フラ
ンジ付根部の欠陥検出が容易となる。
更に板ばねの作用及び探触子を回動自在に支持
したことにより、接触子がスリツト面に均一に密
着し、振動子から発振する超音波が確実に被検物
に伝播し、安定した検査が可能となるなど顕著な
効果を奏する。
なお本考案に係るプローブは、フランジを形成
せずスリツトを形成したボルトに対しても検査可
能であり、又ボルトが埋没していない場合にも適
用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は被検物である特殊形状ボルト及びその
取付状態を示す説明図、第2図はスリツトに挿入
した一般的な超音波探傷プローブの作用説明図、
第3図は本考案の一実施例を示す超音波探傷プロ
ーブの一部欠切平面図、第4図は第3図の−
線に沿う断面図、第5図は第3図の−線に沿
う断面図、第6図及び第7図は超音波探傷プロー
ブをスリツトに挿入する状態を順に示した説明
図、第8図は同プローブでボルトのフランジ付根
部の欠陥を探傷している状態を示す説明図であ
る。 1……ボルト、1a……雄ねじ、1b……フラ
ンジ、1c……スリツト、1d……ボルト頭先
端、1e……スリツト面、1f……ボルト外周
面、1g……フランジの角、2,5……部材、3
……座金、4……ナツト、6……欠陥、7……ウ
エツジ、8……振動子、11……プローブ本体、
12……フレーム部、12a……溝、13……板
ばね、14……探触子ケース、14a……回転ス
トツパー、15……探触子、16……回転軸、1
7……プローブホルダー、18……同軸ケーブ
ル、19……送信用ウエツジ、21……受信用ウ
エツジ、20……送信用振動子、22……受信用
振動子、23……仕切板。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 一端から中央部にかけて軸方向に沿うスリツト
    を形成し、中央部外周にフランジを形成し、他端
    部外周に雄ねじ部を形成してなるボルトの該スリ
    ツト内に挿入されて、該雄ねじ部のフランジ部付
    根部の欠陥を検査する超音波探傷プローブにおい
    て、プローブ本体に形成したフレーム部に、該本
    体から湾曲状に突出した2枚の板ばねと、回転軸
    を介し、かつフレームとの間に回転ストツパを設
    けて特定の範囲において回転自在に設けた探触子
    をそれぞれ取付け、かつ該探触子に超音波の送受
    信方向の前後に送信用振動子と受信用振動子とを
    それぞれウエツジを介して配置し、さらに前記両
    振動子の間に遮音用仕切板を配置してなる超音波
    探傷プローブ。
JP7649488U 1988-06-09 1988-06-09 Expired JPH0328375Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7649488U JPH0328375Y2 (ja) 1988-06-09 1988-06-09

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7649488U JPH0328375Y2 (ja) 1988-06-09 1988-06-09

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Publication Number Publication Date
JPS63200160U JPS63200160U (ja) 1988-12-23
JPH0328375Y2 true JPH0328375Y2 (ja) 1991-06-18

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