JPH05136202A - 半導体パツケージ及びその製造方法 - Google Patents
半導体パツケージ及びその製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体チップの各パッドにフレームの各イン
ナーリードを夫々ソルダーリングして固定し、その半導
体チップの厚さを薄型化し、製造工程を簡便化し得るよ
うにした半導体パッケージ及びその製造方法を提供しよ
うとする。 【構成】 半導体チップの各パッド上にソルダーを夫々
形成し、それらソルダーでフレームの各インナーリード
をソルダーリングし、半導体チップとインナーリードと
を電気的に接続させて半導体パッケージを製造すること
により達成される。
ナーリードを夫々ソルダーリングして固定し、その半導
体チップの厚さを薄型化し、製造工程を簡便化し得るよ
うにした半導体パッケージ及びその製造方法を提供しよ
うとする。 【構成】 半導体チップの各パッド上にソルダーを夫々
形成し、それらソルダーでフレームの各インナーリード
をソルダーリングし、半導体チップとインナーリードと
を電気的に接続させて半導体パッケージを製造すること
により達成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体パッケージ及び
その製造方法に係るもので、詳しくは、リードフレーム
のインナーリードを半導体チップにソルダーリングして
固定し、素子の薄型化を図謀し得るようにした半導体パ
ッケージ及びその製造方法に関するものである。
その製造方法に係るもので、詳しくは、リードフレーム
のインナーリードを半導体チップにソルダーリングして
固定し、素子の薄型化を図謀し得るようにした半導体パ
ッケージ及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近来、半導体の製造技術が急速に発展
し、メモリチップの容量が大きくなるに従い半導体パッ
ケージに内蔵するベアーチップの大きさも漸次大きくな
って、該ベアーチップが半導体パッケージ内で占める面
積も漸次大きくなりつつある。そこで、半導体パッケー
ジの薄型化に違反し、容積も増大するので、これを解決
すべく、半導体チップにリードを直接電気的に接続する
LOC(Lead-on-chip)技術が開発され、SOJ(Smal
l Outline J-Le-ad Package)型の半導体パッケージが実
用化されるようになった。即ち、このようなLOC−S
OJ型半導体パッケージにおいては、図5及び図6に示
したように、半導体チップ1の上方面両方側に絶縁物質
のポリイミド2が所定厚さに夫々塗布され、その半導体
チップ1の各パッド3とフレーム4の各インナーリード
5とは夫々各ワイヤー6により電気的に接続され、それ
ら半導体チップ1とフレーム4のインナーリード5とを
包含する所定面積がエポキシ樹脂7によりモールディン
グされて構成されていた。図中、未説明符号5′はアウ
トリードを示し、8はダンバーを示し、9はサポートバ
ーを示したものである。
し、メモリチップの容量が大きくなるに従い半導体パッ
ケージに内蔵するベアーチップの大きさも漸次大きくな
って、該ベアーチップが半導体パッケージ内で占める面
積も漸次大きくなりつつある。そこで、半導体パッケー
ジの薄型化に違反し、容積も増大するので、これを解決
すべく、半導体チップにリードを直接電気的に接続する
LOC(Lead-on-chip)技術が開発され、SOJ(Smal
l Outline J-Le-ad Package)型の半導体パッケージが実
用化されるようになった。即ち、このようなLOC−S
OJ型半導体パッケージにおいては、図5及び図6に示
したように、半導体チップ1の上方面両方側に絶縁物質
のポリイミド2が所定厚さに夫々塗布され、その半導体
チップ1の各パッド3とフレーム4の各インナーリード
5とは夫々各ワイヤー6により電気的に接続され、それ
ら半導体チップ1とフレーム4のインナーリード5とを
包含する所定面積がエポキシ樹脂7によりモールディン
グされて構成されていた。図中、未説明符号5′はアウ
トリードを示し、8はダンバーを示し、9はサポートバ
ーを示したものである。
【0003】そして、このような従来LOC−SOJ型
半導体パッケージにおいては、フレーム4のインナーリ
ード5を半導体チップ1のアクチーブセル(active cel
l)まで引き上げ、そのフレーム4のインナーリード5が
半導体パッケージ内方側で占める範囲を大きくしている
という長点を有している反面、半導体チップ1とフレー
ム4のインナーリード5とをワイヤー6で電気的に接続
しているので、半導体パッケージの薄型化を図謀し得な
いという短点があった。即ち、ワイヤーボンディングを
している半導体パッケージにおいては、そのワイヤール
ープの高さを如何にすれば低くさせるかということが大
きな課題になっていた。
半導体パッケージにおいては、フレーム4のインナーリ
ード5を半導体チップ1のアクチーブセル(active cel
l)まで引き上げ、そのフレーム4のインナーリード5が
半導体パッケージ内方側で占める範囲を大きくしている
という長点を有している反面、半導体チップ1とフレー
ム4のインナーリード5とをワイヤー6で電気的に接続
しているので、半導体パッケージの薄型化を図謀し得な
いという短点があった。即ち、ワイヤーボンディングを
している半導体パッケージにおいては、そのワイヤール
ープの高さを如何にすれば低くさせるかということが大
きな課題になっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】然るに、従来LOC−
SOJ型半導体パッケージにおいては、ワイヤーループ
の高さを低くすればワイヤーが切断される憂れいがあ
り、如何なる材質のワイヤーを使用しても、そのワイヤ
ーループの高さがフレームのインナーリードの高さより
も高くなるので半導体パッケージの厚さが厚くなり、素
子の薄型化を図謀し得ないという不都合な点があった。
それで、このような問題点を解決するため本発明者達は
研究を重ねた結果、次のような半導体パッケージ及びそ
の製造方法を提供しようとするものである。
SOJ型半導体パッケージにおいては、ワイヤーループ
の高さを低くすればワイヤーが切断される憂れいがあ
り、如何なる材質のワイヤーを使用しても、そのワイヤ
ーループの高さがフレームのインナーリードの高さより
も高くなるので半導体パッケージの厚さが厚くなり、素
子の薄型化を図謀し得ないという不都合な点があった。
それで、このような問題点を解決するため本発明者達は
研究を重ねた結果、次のような半導体パッケージ及びそ
の製造方法を提供しようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、半導体
チップの各パッドにフレームの各インナーリードを夫々
ソルダーリングして固定し、その半導体チップの厚さを
薄型化し得るようにした半導体パッケージ及びその製造
方法を提供しようとするものである。
チップの各パッドにフレームの各インナーリードを夫々
ソルダーリングして固定し、その半導体チップの厚さを
薄型化し得るようにした半導体パッケージ及びその製造
方法を提供しようとするものである。
【0006】又、本発明の他の目的は、半導体パッケー
ジの製造工程中、ワイヤーボンディング工程を排除し、
半導体パッケージ製造工程を簡便化し得るようにした半
導体パッケージ及びその製造工程を提供しようとするも
のである。
ジの製造工程中、ワイヤーボンディング工程を排除し、
半導体パッケージ製造工程を簡便化し得るようにした半
導体パッケージ及びその製造工程を提供しようとするも
のである。
【0007】そして、このような本発明の目的は、半導
体チップにポリイミドを塗布するポリイミド塗布工程
と、半導体チップの各パッドに夫々ソルダーを形成する
ソルダー形成工程と、それらソルダーでフレームの各イ
ンナーリードをソルダーリングし半導体チップとインナ
ーリードとを電気的に接続させるソルダーリング工程
と、半導体チップとインナーリードとを包含する所定面
積をモールディングするモールディング工程と、トリミ
ング及びフォーミングを行う工程とにより半導体パッケ
ージを製造することにより達成される。
体チップにポリイミドを塗布するポリイミド塗布工程
と、半導体チップの各パッドに夫々ソルダーを形成する
ソルダー形成工程と、それらソルダーでフレームの各イ
ンナーリードをソルダーリングし半導体チップとインナ
ーリードとを電気的に接続させるソルダーリング工程
と、半導体チップとインナーリードとを包含する所定面
積をモールディングするモールディング工程と、トリミ
ング及びフォーミングを行う工程とにより半導体パッケ
ージを製造することにより達成される。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例に対し図面を用いて詳
細に説明する。図1に示したように、本発明に係る半導
体パッケージにおいては、半導体チップ11の上方面両
方側に絶縁物質のポリイミド12が所定厚さに夫々塗布
され、その半導体チップ11の各パッド13上にソルダ
ー14が夫々形成され、それらソルダー14でフレーム
の各インナーリード15が夫々ソルダーリング(Solder
ing )されて半導体チップ11とインナーリード15と
が電気的に接続され、それら半導体チップ11とフレー
ムのインナーリード15とを包含する所定面積がエポキ
シ樹脂16によりモールディングされて構成されてい
る。
細に説明する。図1に示したように、本発明に係る半導
体パッケージにおいては、半導体チップ11の上方面両
方側に絶縁物質のポリイミド12が所定厚さに夫々塗布
され、その半導体チップ11の各パッド13上にソルダ
ー14が夫々形成され、それらソルダー14でフレーム
の各インナーリード15が夫々ソルダーリング(Solder
ing )されて半導体チップ11とインナーリード15と
が電気的に接続され、それら半導体チップ11とフレー
ムのインナーリード15とを包含する所定面積がエポキ
シ樹脂16によりモールディングされて構成されてい
る。
【0009】このように構成された本発明に係る半導体
パッケージにおいては、従来のワイヤーボンディングを
することなく、半導体チップ11にフレームのインナー
リードをソルダーリングして電気的に接続するようにな
っているため、従来のようにワイヤーループの高さが高
くなってチップの厚さが厚くならず、よって、半導体パ
ッケージの薄型化を図謀し得るようになる。
パッケージにおいては、従来のワイヤーボンディングを
することなく、半導体チップ11にフレームのインナー
リードをソルダーリングして電気的に接続するようにな
っているため、従来のようにワイヤーループの高さが高
くなってチップの厚さが厚くならず、よって、半導体パ
ッケージの薄型化を図謀し得るようになる。
【0010】そして、このような本発明に係る半導体パ
ッケージの製造工程においては、印刷回路基板にチップ
を覆してソルダーリングするフリップチップ(flip-chi
p)概念のソルダーリング方式を適用したものであって、
半導体チップ11にポリイミド12を塗布するポリイミ
ド塗布工程と、半導体チップ11の各パッド13上にソ
ルダー14を形成するソルダー形成工程と、それらソル
ダー14でフレームの各インナーリード15をソルダー
リングし半導体チップ11とインナーリード15とを電
気的に接続させるソルダーリング工程と、前記半導体チ
ップ11とフレームのインナーリード15とを包含する
所定面積をエポキシ樹脂によりモールディングするモー
ルディング工程と、通常のトリミング及びフォーミング
工程とを行うようになっている。且つ、前記の工程中、
ポリイミド塗布工程とモールディング工程とトリミング
及びフォーミング工程とは従来の方式とほぼ同様である
が、本発明の重要技術の一つであるソルダー形成工程と
ソルダーリング工程とにおいて、半導体チップ11のパ
ッド13が1列に形成された場合を説明すると次のよう
である。図2(A)及び(B)に示したように、チップ
パッド金属化(chippad metallization) 工程中にCr/Cu
/Au層(layer)を載置し、Pb-Sn合金(alloy)を蒸着(ev
apo-ration) 又はスパッタリング(sputtering) により
コーティング(coating)した後、温度をソルダー溶融温
度(solder melting temperature)以上に暫時、上昇し
て表面張力現象によりボール型(ball-type)のソルダー
14をそのパッド13上方面に夫々形成することにより
ソルダー形成工程が行われる。その後、半導体チップ1
1のパッド13上に形成された各ソルダー14とフレー
ムの各インナーリード15とを大概整列(align)した
後、接合炉(Joining furnance) に挿入して該接合炉の
内部温度を上昇すると、通常のブリップ−チップパッケ
ージの場合と同様に精密な整列作業を実施することなく
自己整列(self-align) が行われ、ソルダー14とフレ
ームの各インナーリード15とが夫々接合されて、半導
体チップ11とインナーリード15との電気的接続を可
能にするソルダーリング工程が行われる。
ッケージの製造工程においては、印刷回路基板にチップ
を覆してソルダーリングするフリップチップ(flip-chi
p)概念のソルダーリング方式を適用したものであって、
半導体チップ11にポリイミド12を塗布するポリイミ
ド塗布工程と、半導体チップ11の各パッド13上にソ
ルダー14を形成するソルダー形成工程と、それらソル
ダー14でフレームの各インナーリード15をソルダー
リングし半導体チップ11とインナーリード15とを電
気的に接続させるソルダーリング工程と、前記半導体チ
ップ11とフレームのインナーリード15とを包含する
所定面積をエポキシ樹脂によりモールディングするモー
ルディング工程と、通常のトリミング及びフォーミング
工程とを行うようになっている。且つ、前記の工程中、
ポリイミド塗布工程とモールディング工程とトリミング
及びフォーミング工程とは従来の方式とほぼ同様である
が、本発明の重要技術の一つであるソルダー形成工程と
ソルダーリング工程とにおいて、半導体チップ11のパ
ッド13が1列に形成された場合を説明すると次のよう
である。図2(A)及び(B)に示したように、チップ
パッド金属化(chippad metallization) 工程中にCr/Cu
/Au層(layer)を載置し、Pb-Sn合金(alloy)を蒸着(ev
apo-ration) 又はスパッタリング(sputtering) により
コーティング(coating)した後、温度をソルダー溶融温
度(solder melting temperature)以上に暫時、上昇し
て表面張力現象によりボール型(ball-type)のソルダー
14をそのパッド13上方面に夫々形成することにより
ソルダー形成工程が行われる。その後、半導体チップ1
1のパッド13上に形成された各ソルダー14とフレー
ムの各インナーリード15とを大概整列(align)した
後、接合炉(Joining furnance) に挿入して該接合炉の
内部温度を上昇すると、通常のブリップ−チップパッケ
ージの場合と同様に精密な整列作業を実施することなく
自己整列(self-align) が行われ、ソルダー14とフレ
ームの各インナーリード15とが夫々接合されて、半導
体チップ11とインナーリード15との電気的接続を可
能にするソルダーリング工程が行われる。
【0011】又、本発明の他の実施例として、半導体チ
ップ11のパッド13を2列に夫々形成し、リードピッ
チ(Lead pitch)を大きくして、ソルダー形成工程中ソ
ルダー14のオーバーフローによりインナーリードに及
ぼす影響を排除することができる。即ち、図3(A)・
(B)に示したように、半導体チップ11上にパッド1
3,13′を夫々互いに行き違うように2列に形成し、
それらパッド13、13′上に夫々ソルダー14,1
4′を形成してソルダーリングを行うこともできる。更
に、本発明の又他の実施として、図4に示したように、
各パッド13,13′を夫々2列平行に形成し、それら
パッド13,13′上のソルダー14,14′を夫々形
成してソルダーリングを行うこともできる。以上、SO
Jパッケージについて本発明の実施例を説明したが、本
発明はこれらSOJパッケージに局限されることなく、
SOP(Small Outline Package ),MSP(Mini Square Pack
age),QFP(Quad Flat Package)等のようにソルダーリン
グの可能な如何なる半導体パッケージにおいても適用す
ることができる。
ップ11のパッド13を2列に夫々形成し、リードピッ
チ(Lead pitch)を大きくして、ソルダー形成工程中ソ
ルダー14のオーバーフローによりインナーリードに及
ぼす影響を排除することができる。即ち、図3(A)・
(B)に示したように、半導体チップ11上にパッド1
3,13′を夫々互いに行き違うように2列に形成し、
それらパッド13、13′上に夫々ソルダー14,1
4′を形成してソルダーリングを行うこともできる。更
に、本発明の又他の実施として、図4に示したように、
各パッド13,13′を夫々2列平行に形成し、それら
パッド13,13′上のソルダー14,14′を夫々形
成してソルダーリングを行うこともできる。以上、SO
Jパッケージについて本発明の実施例を説明したが、本
発明はこれらSOJパッケージに局限されることなく、
SOP(Small Outline Package ),MSP(Mini Square Pack
age),QFP(Quad Flat Package)等のようにソルダーリン
グの可能な如何なる半導体パッケージにおいても適用す
ることができる。
【0012】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明に係る半
導体パッケージ及びその製造方法においては、半導体チ
ップの各パッドにフレームの各インナーリードを夫々ソ
ルダーリングして接続し得るようになっているため、半
導体パッケージの厚さを薄型化し、従来のようなワイヤ
ー切断の憂れを排除して製造工程を簡便化し得る効果が
ある。
導体パッケージ及びその製造方法においては、半導体チ
ップの各パッドにフレームの各インナーリードを夫々ソ
ルダーリングして接続し得るようになっているため、半
導体パッケージの厚さを薄型化し、従来のようなワイヤ
ー切断の憂れを排除して製造工程を簡便化し得る効果が
ある。
【図1】本発明に係る半導体パッケージの構造を示した
断面図である。
断面図である。
【図2】本発明に係るソルダー形成工程におけるチップ
パッドアレイの実施例を示した図面で、(A)は平面
図、(B)は断面図である。
パッドアレイの実施例を示した図面で、(A)は平面
図、(B)は断面図である。
【図3】本発明に係るソルダー形成工程におけるチップ
パッドアレイの他の実施例を示した図面で(A)は平面
図、(B)は断面図である。
パッドアレイの他の実施例を示した図面で(A)は平面
図、(B)は断面図である。
【図4】本発明に係るチップパッドアレイの又他の実施
例を示した平面図である。
例を示した平面図である。
【図5】従来半導体パッケージのワイヤーボンディング
工程を示した平面図である。
工程を示した平面図である。
【図6】従来半導体パッケージの構造を示した断面図で
ある。
ある。
11 半導体チップ 12 ポリイミド 13,13′ パッド 14,14′ ソルダー 15 インナーリード
Claims (11)
- 【請求項1】 半導体パッケージであって、半導体チッ
プ(11)の各パッド(13)上にソルダー(14)を
夫々形成し、それらソルダー(14)で半導体チップ
(11)にフレームの各インナーリードを夫々ソルダー
リングして固定し、素子の薄型化を図謀し得るようにし
た半導体パッケージ。 - 【請求項2】 前記ソルダー(14)は、Pb-Sn 合金で
形成された請求項1記載の半導体パッケージ。 - 【請求項3】 前記ソルダー(14)は、ボール型でな
る請求項1記載の半導体パッケージ。 - 【請求項4】 前記半導体チップ(11)のパッド(1
3)は夫々1列直線状に形成され、それらパッド(1
3)上方面に夫々ソルダー(14)が形成されてなる請
求項1記載の半導体パッケージ。 - 【請求項5】 前記半導体チップ(11)のパッド(1
3,13′)は、2列直線状に形成され、それらパッド
上方面にソルダー(14,14′)が夫々形成されてな
る請求項1記載の半導体パッケージ。 - 【請求項6】 前記パッド(13,13′)は、夫々互
いに行き違うように2列に形成され、それらパッド(1
3,13′)上方面に夫々ソルダー(14,14′)が
形成されてなる請求項5記載の半導体パッケージ。 - 【請求項7】 前記パッド(13,13′)は、夫々2
列平行に形成され、それらパッド上方面に夫々ソルダー
(14,14′)が形成されてなる請求項5記載の半導
体パッケージ。 - 【請求項8】 半導体パッケージ製造方法であって、半
導体チップ(11)上にポリイミド(12)を塗布する
ポリイミド塗布工程と、半導体チップ(11)の各パッ
ド(13)上に夫々ソルダー(14)を形成するソルダ
ー形成工程と、それらソルダー(14)でフレームの各
インナーリード(15)をソルダーリングし半導体チッ
プ(11)とインナーリード(15)とを電気的に接続
するソルダーリング工程と、半導体チップ(11)とイ
ンナーリード(15)とを包含する所定面積をモールデ
ィングするモールディング工程と、トリミング及びフォ
ーミング工程とを順次行うようになる半導体パッケージ
製造方法。 - 【請求項9】 前記ソルダー形成工程は、チップパッド
金属化工程中に Cr/Cu/Au 層を載置してPb-Sn 合金をコ
ーティングした後、温度を上昇して各パッド(13)の
上方面にソルダー(14)を夫々形成させるようになる
請求項8記載の半導体パッケージ製造方法。 - 【請求項10】 前記Pb-Sn 合金は、蒸着又はスパッタ
リングによりコーティングされるようになる請求項9記
載の半導体パッケージ製造方法。 - 【請求項11】 前記ソルダーリング工程は、半導体チ
ップ(11)上に形成した各ソルダー(14)にフレー
ムのインナーリード(15)を夫々整列した後、接合炉
内にその半導体チップを挿入してその接合炉の内部温度
を上昇し、各ソルダー(14)と各インナーリード(1
5)とを夫々接合させるようになる請求項8記載の半導
体パッケージ製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
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|---|---|
| JPH05136202A true JPH05136202A (ja) | 1993-06-01 |
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