JPH05144885A - Ｔａｂテープ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】各インナーリードの断線を電気的に検査が可能
となるＴＡＢテープを提供することを目的とする。 【構成】フィルム２に穿孔された内側透孔２１に延設さ
れる各インナーリード６の先端をそれぞれ環状連結片７
にて連結一体に形成すると共に、該環状連結片７の四隅
から内側透孔２１の中心に向かって四本の吊ピン８が延
設されてその交差位置、つまり、内側透孔２１の略中央
位置に楕円状の導通検査用パッド９を形成してＴＡＢテ
ープ１０を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、各インナーリードの断
線を電気的に検査可能としたＴＡＢ（Tape Automated B
onding）テープに関する。

【０００２】

【従来の技術】液晶表示装置等の駆動用のＩＣとして数
百本ものリードを有するものが製造されるようになって
いる。このようなＩＣには、例えば、図４に一例を示す
ようなＴＡＢテープ１が用いられている。即ち、このＴ
ＡＢテープ１は、半導体ペレット（不図示）が配置され
る内側透孔２１と各内側透孔２１の周囲に外側透孔２２
を穿孔した長尺のポリイミドフィルム２に銅箔３を積層
し、該銅箔３をエッチングしたリードパターンを含む配
線パターンを形成し、内側透孔２１内に延びる多数本の
インナーリード４と各インナーリード４の先端を連接す
る短絡片５を形成して各インナーリード４間の折曲や接
触を防止すると共に、各インナーリード４の他端を外側
透孔２２上を横切って延設してその端部にそれぞれ電気
的な特性検査用パッド２３を形成したものである。

【０００３】しかしながら、ＩＣの多リード化によりＴ
ＡＢテープ１の各インナーリード４の幅が細く、また、
厚みも薄くなると、銅箔３に配線パターンを形成してホ
トエッチング等を施してそれぞれのインナーリード４を
形成した場合、外側透孔２２を横切るリード４の途中が
エッチング過多によって断線を生じる可能性が高くな
り、そのため、エッチング後に各インナーリード４の途
中断線を検出する必要が合った。この途中断線の検出
は、例えば、顕微鏡等を用いた目視検出が一般的である
が、ＩＣの多リード化が進むにつれて従来の目視検査で
インナーリード４の断線箇所をもれなく検出するには限
界を既に越えており、断線箇所を見落としてしまう虞が
あった。

【０００４】上記ＴＡＢテープ１は、各インナーリード
４の先端を連結した短絡片５を切除してから図示してい
ない半導体ペレットの表面に形成されるバンプ電極に対
応させて接合一体とし、外側透孔２２の位置又は内側透
孔２１の位置でそれぞれインナーリード４を切断して別
の配線基板等に配設されるのであり、インナーリード４
の断線箇所を見落としていると、その後工程での検査時
まで不良が検出されないまま工程を流れるといった問題
があり、ＴＡＢテープ１の段階でインナーリード４の断
線箇所を確実に検出したいといった要望が高まってい
る。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】そこで、目視検査に代
わって電気的にインナーリード４の途中断線を検出する
手段が試みられているが、上記ＴＡＢテープ１では、例
えば、一本のインナリード４の特性検査用パッド２３を
基準としてニードルピン等を当接すると共に、その他の
インナーリード４の各特性検査用パッド２３にそれぞれ
同様にニードルピンを当接して両者間を通電して、両者
の非導通を検知することでインナーリード４の途中断線
を検出できるが、この場合、基準とするインナーリード
４自体が断線していると、全く検査できないといった問
題があった。

【０００６】また、各インナーリード４の先端を連結し
た短絡片５を基準としてニードルピン等を当接し、各イ
ンナーリード４の特性検査用パッド２３にそれぞれニー
ドルピン等を当接して両者間の非導通を検知して途中断
線したインナーリード４を検出することもできるが、こ
の場合、ニードルピン等を短絡片５に当接する位置によ
って各インナーリード４に偏った荷重が加えられ、それ
ぞれインナーリード４に変形を生じる虞があるといった
問題があった。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明のＴＡＢテープは、透孔を所定間隔で穿設してな
るフィルム上に積層した銅箔をエッチングして前記透孔
内に延びるインナーリードを形成してなるＴＡＢテープ
であって、上記各インナーリードの先端をそれぞれ環状
短絡片にて一体に連結すると共に、該短絡片から各透孔
の略中央位置に向かって複数本の吊ピンを延設し、各吊
ピンの交差位置に導通検査用パッドを設けたことを特徴
とする。

【０００８】

【作用】上記構成のＴＡＢテープでは、各インナーリー
ドの先端を連結した環状短絡片から透孔の略中央に向か
って延びる複数本の吊ピンの交差位置に設けられる導通
検査用パッドと各インナーリードの他端とにそれぞれ例
えば、ニードルピン等を当接して順次通電し、非導通状
態を検知することで途中断線を生じているインナーリー
ドを電気的に確実に検出できる。この場合、導通検査用
パッドにニードルピン等を当接しても複数本の吊ピンが
応力を吸収し、各インナーリードを変形し折曲する心配
がない。

【０００９】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を説
明する。

【００１０】図１は本発明の一実施例に係るＴＡＢテー
プ１０の要部斜視図である。図に示すＴＡＢテープ１０
は、既述したＴＡＢテープ１に対して各内側透孔２１内
に延びるインナーリードに特徴があるもので、その他の
部分は実質的にＴＡＢテープ１と同一であるので、同一
部材には同一符号を附してここでは説明を省略し、内側
透孔２１内に延びるインナーリードについて説明する。

【００１１】即ち、ＴＡＢテープ１０の各インナーリー
ド６は、フィルム２に穿孔された内側透孔２１に延設さ
れるもので、各インナーリード６の先端をそれぞれ環状
連結片７にて連結一体に形成すると共に、該環状連結片
７の四隅から内側透孔２１の中心に向かって四本の吊ピ
ン８が延設されてその交差位置、つまり、内側透孔２１
の略中央位置に楕円状の導通検査用パッド９が形成され
たものである。

【００１２】上記導通検査用パッド９及び環状連結片７
から延びる吊ピン８は、何れもポリイミドフィルム２に
銅箔３をラミネートしてインナーリード６を含む配線パ
ターンを形成するときに同時に形成してホトエッチング
等を施して形成できる。

【００１３】この導通検査用パッド９を設けたＴＡＢテ
ープ１０では、エッチング後、外側透孔２２を横切るイ
ンナーリード６の途中などに生じた断線を次のようにし
て電気的に検出することができる。

【００１４】まず、ＴＡＢテープ１０を裏返し、導通検
査用パッド９を基準として、例えば、図２に示すよう
に、外部の電源供給装置１１に接続された一方のニード
ルピン１２を下方より当接すると共に、他方のニードル
ピン１３を各インナーリード６の他端に形成される特性
検査用パッド２３に当接する。

【００１５】そして、ニードルピン１２，１３間を通電
して導通状態を検出する。このとき、ニードルピン１３
が当接されたインナーリード６の途中に断線を生じてい
ると非導通状態を検出する。

【００１６】この場合、他方のニードルピン１３を各イ
ンナーリード６のそれぞれの特性検査用パッド２３に個
々に切り替えながら順次当接してもよく、また、すべて
の特性検査用パッド２３にニードルピン１３を同時に当
接して通電し、非導通のニードルピン１３を検知するな
どその検査手段については特に限定されるものではな
い。

【００１７】このＴＡＢテープ１０では、ニードルピン
１２を導通検査用パッド９に当接して各インナーリード
６の特性検査用パッド２３との導通状態を監視するだけ
で各インナーリード６の途中断線を確実に電気的に検出
でき、ＴＡＢテープ１０の多リード化に対しても充分に
対応してインナーリード６の途中断線を検出できるもの
となる。このとき、導通検査用パッド９には当接される
ニードルピン１２の押圧力が加わるが、この導通検査用
パッド９が内側透孔２１の略中央に位置され、四方を支
持した吊ピン８により略均等にこの応力が分散されるの
で、ニードルピン１２の当接位置によってインナーリー
ド６に偏った応力だ付与される心配もなく、各インナー
リード６が変形して折曲したり、隣接するインナーリー
ド６同士が接触することも防止できる。

【００１８】各インナーリード６に途中断線がないＴＡ
Ｂテープ１０は次の工程で、例えば、図２に一点鎖線で
示す部分で切除して各インナーリード６を環状連結片７
から分離した後、分離された各インナーリード６間の接
触の有無を別途検査してから、図３に示すように、半導
体ペレット１４のバンプ電極１５と対応するインナーリ
ード６とを接合一体とし、更に、例えば、図３に示す一
点鎖線の部分で各インナーリード６を切断して別の配線
基板等に配置される。

【００１９】このように、各インナーリード６の途中断
線を電気的に検出できると、断線したインナーリード６
を含むＴＡＢテープ１０を次の工程に送り出して種々の
組み立て工程を経た後、その検査段階で不良がはじめて
検出されるといったことがなくなる。

【００２０】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のＴＡＢテープでは、導通検査用パッドと各インナーリ
ード間を電気的に接続して両者間の導通・非導通状態を
検出することにより確実にインナーリードの途中断線を
検出することができるので、幅の細い多数本のインナー
リードを有するＴＡＢテープであって各インナーリード
の途中断線を電気的に確実に検出できる。この場合、導
通検査用パッドは透孔の略中心位置に吊ピンにて支持さ
れるので、電気的な導通を取る場合に付与される応力を
吊ピンによって吸収でき、各インナーリードの折れ曲が
り等が防止できるといった効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係るＴＡＢテープの要部斜
視図。

【図２】同実施例のＴＡＢテープにおけるインナーリー
ドの断線検査状態を示す概略側面図。

【図３】同実施例のＴＡＢテープにおけるインナーリー
ドの断線検査後に半導体ペレットを接合した状態を示す
概略側面図。

【図４】従来のＴＡＢテープの一例を示す概略斜視図。

【符号の説明】

６ インナーリード ７ 環状連結片 ９ 導通検査用パッド １０ ＴＡＢテープ ２１ 内側透孔 ２２ 外側透孔

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】透孔を所定間隔で穿設してなるフィルム上
   に積層した銅箔をエッチングして前記透孔内に延びるイ
   ンナーリードを形成してなるＴＡＢテープであって、 上記各インナーリードの先端をそれぞれ環状短絡片にて
   一体に連結すると共に、該短絡片から各透孔の略中央位
   置に向かって複数本の吊ピンを延設し、各吊ピンの交差
   位置に導通検査用パッドを設けたことを特徴とするＴＡ
   Ｂテープ。