JPH0515103Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0515103Y2 JPH0515103Y2 JP1986092296U JP9229686U JPH0515103Y2 JP H0515103 Y2 JPH0515103 Y2 JP H0515103Y2 JP 1986092296 U JP1986092296 U JP 1986092296U JP 9229686 U JP9229686 U JP 9229686U JP H0515103 Y2 JPH0515103 Y2 JP H0515103Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- shaped
- tip
- stake
- petal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔概要〕
本考案はプローブピンの先端形状を中央部分の
杭状ピンとその周囲の花びら状ピンとしたことに
より、プリント板の自動試験時にスルーホールに
挿入半田付けされた部品リードの先端に接触させ
ること、または小径のビアスルーホールに接触さ
せることのいずれのに対しても、一種類のプロー
ブピンで接触し得ることを可能とした。
杭状ピンとその周囲の花びら状ピンとしたことに
より、プリント板の自動試験時にスルーホールに
挿入半田付けされた部品リードの先端に接触させ
ること、または小径のビアスルーホールに接触さ
せることのいずれのに対しても、一種類のプロー
ブピンで接触し得ることを可能とした。
本考案はプリント板回路の自動試験装置などに
用いられるプローブピンの改良に関する。
用いられるプローブピンの改良に関する。
最近のプリント板回路パターンの半導体装置を
取り付けるためのスルーホールランドには、その
形状寸法に2種類のものがある。すなわち、通常
のピツチの2.54mm(100ミルピツチ)のものと、
実装密度を高めたハーフピツチの1.27mm(50ミル
ピツチ)のもの、または、それ以下のピツチのも
のとがある。
取り付けるためのスルーホールランドには、その
形状寸法に2種類のものがある。すなわち、通常
のピツチの2.54mm(100ミルピツチ)のものと、
実装密度を高めたハーフピツチの1.27mm(50ミル
ピツチ)のもの、または、それ以下のピツチのも
のとがある。
2種類のスルーホールランドの形状を有するプ
リント板回路を自動試験装置で試験するためのプ
ローブピンは、1種類のプローブピンで接触試験
することが従来のプローブピンの形状では不可能
であることから、2種類のプローブピンを用意
し、これらを組み合わせて試験をしていた。
リント板回路を自動試験装置で試験するためのプ
ローブピンは、1種類のプローブピンで接触試験
することが従来のプローブピンの形状では不可能
であることから、2種類のプローブピンを用意
し、これらを組み合わせて試験をしていた。
これらの事情を鑑み、1種類のプローブピンで
試験可能なことが望ましい。
試験可能なことが望ましい。
第3図に従来のプローブの断面図が示される。
第3図において、スリーブ1の内部にプローブピ
ン2の軸部分に嵌められて軸方向に摺動移動可能
であり、内部のバネ3によつて突出方向に賦勢さ
れ、被測定部分への接触圧力を与えることと被測
定部分の高さのバタツキに対応可能なように構成
されている。
第3図において、スリーブ1の内部にプローブピ
ン2の軸部分に嵌められて軸方向に摺動移動可能
であり、内部のバネ3によつて突出方向に賦勢さ
れ、被測定部分への接触圧力を与えることと被測
定部分の高さのバタツキに対応可能なように構成
されている。
スリーブ1はプローブソケツト4に保持され、
プローブソケツト4はコード5で図示されない測
定器に接続されている。
プローブソケツト4はコード5で図示されない測
定器に接続されている。
上記従来のプローブピン2の先端形状は、花び
ら状ピン6、あるいは、第4図イに示されるよう
な花びら状ピンの中心に針状突起7′を有するプ
ローブピン7、または第4図ロに示されるような
円柱形状の先端を山形とした杭状ピン8などがあ
る。なお、第4図イのものは、米国特許第
4105970号(TEST PIN)に示されているもので
ある。
ら状ピン6、あるいは、第4図イに示されるよう
な花びら状ピンの中心に針状突起7′を有するプ
ローブピン7、または第4図ロに示されるような
円柱形状の先端を山形とした杭状ピン8などがあ
る。なお、第4図イのものは、米国特許第
4105970号(TEST PIN)に示されているもので
ある。
プリント板の部品リード挿入用スルーホールラ
ンドの形状寸法の一例を第5図の平面図に示す。
第5図において、Aは従来からの100ミルピツチ
のスルーホールランドであり、代表的なスルーホ
ールの内径は0.9φmm、ランドAは一辺1.4mmの大
きさの正方形である。Bは最近の実装密度を高く
するための50ミルピツチ、あるいは、それ以下の
小径のビアスルーホールランドで、スルーホール
の内径は0.35φmm、ランドBは一辺0.7mmの大きさ
の正方形で小さいものである。
ンドの形状寸法の一例を第5図の平面図に示す。
第5図において、Aは従来からの100ミルピツチ
のスルーホールランドであり、代表的なスルーホ
ールの内径は0.9φmm、ランドAは一辺1.4mmの大
きさの正方形である。Bは最近の実装密度を高く
するための50ミルピツチ、あるいは、それ以下の
小径のビアスルーホールランドで、スルーホール
の内径は0.35φmm、ランドBは一辺0.7mmの大きさ
の正方形で小さいものである。
プリント板回路を試験するためのプローブピン
は、第6図イの花びら状ピン6の場合では、図a
の100ミルピツチの大径のスルーホールの場合、
花びら状ピン6を部品9のリード10の半田付け
された部分に接触させるのは可能であるが、50ミ
ルピツチの小径のスルーホールランドBの場合、
図bのように花びら状ピン6の先端がランドB周
囲外のプリント板面に接触しランドBには接触し
ない。プロービングミスの場合には図cのように
隣接ランドB間とシヨートさせるおそれがある。
は、第6図イの花びら状ピン6の場合では、図a
の100ミルピツチの大径のスルーホールの場合、
花びら状ピン6を部品9のリード10の半田付け
された部分に接触させるのは可能であるが、50ミ
ルピツチの小径のスルーホールランドBの場合、
図bのように花びら状ピン6の先端がランドB周
囲外のプリント板面に接触しランドBには接触し
ない。プロービングミスの場合には図cのように
隣接ランドB間とシヨートさせるおそれがある。
杭状ピン8の場合は第6図ロに示されるよう
に、小径のスルーホールランドBには図bのよう
に先端が嵌まり合つて接触可能であるが、部品9
のリード10の半田付け13された部分に接触さ
せようとすると、図aのようにリード10周囲の
半田13のスロープによつて杭状ピン8の先端が
滑り、確実な接触状態が得られない。
に、小径のスルーホールランドBには図bのよう
に先端が嵌まり合つて接触可能であるが、部品9
のリード10の半田付け13された部分に接触さ
せようとすると、図aのようにリード10周囲の
半田13のスロープによつて杭状ピン8の先端が
滑り、確実な接触状態が得られない。
花びら状ピンの中心に針状突起7′を有するプ
ローブピン7の場合は第6図ハに示されるよう
に、中心突起7′の大きさがスルーホールBの内
径よりも小さいために図bのようにスルーホール
に接触することができず、花びら状ピンの部分は
ランドBの外側となつて第6図イの図bと同じよ
うな結果となる。
ローブピン7の場合は第6図ハに示されるよう
に、中心突起7′の大きさがスルーホールBの内
径よりも小さいために図bのようにスルーホール
に接触することができず、花びら状ピンの部分は
ランドBの外側となつて第6図イの図bと同じよ
うな結果となる。
以上のようであつて、2種類のスルーホールラ
ンド形状を有するプリント板回路を、従来の1種
類のプローブピンのみで接触試験することは不可
能であるという問題点があつた。
ンド形状を有するプリント板回路を、従来の1種
類のプローブピンのみで接触試験することは不可
能であるという問題点があつた。
上記従来の問題点を解決するための本考案の手
段の構成要旨とするところは、先端中央部分に突
出されその先端が山形をなす円柱形状の杭状ピン
と、該杭状ピンの円柱形部分の周囲に形成された
花びら状ピンとからなり、上記杭状ピンの円柱形
部分の直径は被測定プリント板におけるスルーホ
ールの内径よりも大きく、該杭状ピンの先端と花
びら状ピンの先端との間隔は該プリント板におけ
る被測定部分の該プリント板表面からの高さより
も小となし、該杭状ピンの山形部分を該スルーホ
ールに嵌めた場合に該花びら状ピンの先端部分は
該プリント板の表面に接触しないプローブピンで
ある。
段の構成要旨とするところは、先端中央部分に突
出されその先端が山形をなす円柱形状の杭状ピン
と、該杭状ピンの円柱形部分の周囲に形成された
花びら状ピンとからなり、上記杭状ピンの円柱形
部分の直径は被測定プリント板におけるスルーホ
ールの内径よりも大きく、該杭状ピンの先端と花
びら状ピンの先端との間隔は該プリント板におけ
る被測定部分の該プリント板表面からの高さより
も小となし、該杭状ピンの山形部分を該スルーホ
ールに嵌めた場合に該花びら状ピンの先端部分は
該プリント板の表面に接触しないプローブピンで
ある。
花びら状ピンと杭状ピンとの部分で協働して大
径のスルーホールに挿入半田付けされた部品のリ
ード部分に接触させ、中心の杭状ピンの部分で小
径のスルーホール部分に接触させることができる
から、2種類のスルーホールランド形状を有する
プリント板回路のパターン面を、1種類のプロー
ブピンでプロービングすることが可能である。
径のスルーホールに挿入半田付けされた部品のリ
ード部分に接触させ、中心の杭状ピンの部分で小
径のスルーホール部分に接触させることができる
から、2種類のスルーホールランド形状を有する
プリント板回路のパターン面を、1種類のプロー
ブピンでプロービングすることが可能である。
以下、本考案の構成要旨にもとづいた実施例に
ついて図面を参照しながら具体的かつ詳細に説明
する。なお、全図を通じて同一部分には同一の符
号を付して示される。
ついて図面を参照しながら具体的かつ詳細に説明
する。なお、全図を通じて同一部分には同一の符
号を付して示される。
第1図は本考案の一実施例であり、第2図はプ
リント板回路の測定箇所への接触状態を示す断面
図である。第1図において、プローブピン14は
先端中央部分に突出された山形部分と円柱形部分
とで形成された杭状ピン8と、この杭状ピン8の
円柱形部分の周囲に形成された花びら状ピン6と
で一体構成されている。
リント板回路の測定箇所への接触状態を示す断面
図である。第1図において、プローブピン14は
先端中央部分に突出された山形部分と円柱形部分
とで形成された杭状ピン8と、この杭状ピン8の
円柱形部分の周囲に形成された花びら状ピン6と
で一体構成されている。
プローブピン14は、第3図と同様に軸部分が
スリーブ1の内部に嵌められて軸方向に摺動移動
可能であり、内部のバネ3によつて突出する方向
に賦勢されており、被測定部分への接触圧力を与
えることと被測定部分の高さのバラツキに対応可
能なように構成されている。
スリーブ1の内部に嵌められて軸方向に摺動移動
可能であり、内部のバネ3によつて突出する方向
に賦勢されており、被測定部分への接触圧力を与
えることと被測定部分の高さのバラツキに対応可
能なように構成されている。
同様に、スリーブ1は図示省略のプローブソケ
ツトに保持され、コードによつて測定器に接続さ
れている。
ツトに保持され、コードによつて測定器に接続さ
れている。
プローブピン14の花びら状ピン6の部分は、
たとえば高さD=1.0mm、外径E=1.37φmm。杭状
ピン8の部分の部分は、たとえば円柱形部分の直
径F=0.6mmφ、先端の山形部分の山形の角度を
60°。杭状ピン8先端と花びら状ピン先端との間
隔G=1.0mmとしてある。
たとえば高さD=1.0mm、外径E=1.37φmm。杭状
ピン8の部分の部分は、たとえば円柱形部分の直
径F=0.6mmφ、先端の山形部分の山形の角度を
60°。杭状ピン8先端と花びら状ピン先端との間
隔G=1.0mmとしてある。
プリント板回路の試験のプロービング接触は、
100ミルピツチのスルーホールに挿入半田付け接
続された部品のリード10の部分には、第2図イ
のように花びら状ピン6と杭状ピン8とが協働し
て円柱形部分と花びら状部分との谷間に嵌まり込
ませるようにして接触される。杭状ピン8先端と
花びら状ピン先端との間隔Gは、プリント板11
から花びら状ピン6先端までの高さLよりも小と
なるように設定されているから、上述のようにし
て確実に部品リード10の部分に花びら状部分と
杭状部分とが接触する。
100ミルピツチのスルーホールに挿入半田付け接
続された部品のリード10の部分には、第2図イ
のように花びら状ピン6と杭状ピン8とが協働し
て円柱形部分と花びら状部分との谷間に嵌まり込
ませるようにして接触される。杭状ピン8先端と
花びら状ピン先端との間隔Gは、プリント板11
から花びら状ピン6先端までの高さLよりも小と
なるように設定されているから、上述のようにし
て確実に部品リード10の部分に花びら状部分と
杭状部分とが接触する。
50ミルピツチの小径のスルーホールランドBへ
は、第2図ロのように杭状ピン8の山形の部分が
接触される。杭状ピン8は花びら状ピンの先端よ
りも突出しており、杭状ピン8の円柱形部分の直
径F(0.6mm)を、小径のスルーホールの内径H
(0.35mm)よりも大きく設定させていることによ
り、スルーホールランドBに確実に嵌まり合つて
接触される。このとき、花びら状ピン6の先端は
プリント板面11に接触することがないように設
定されている。
は、第2図ロのように杭状ピン8の山形の部分が
接触される。杭状ピン8は花びら状ピンの先端よ
りも突出しており、杭状ピン8の円柱形部分の直
径F(0.6mm)を、小径のスルーホールの内径H
(0.35mm)よりも大きく設定させていることによ
り、スルーホールランドBに確実に嵌まり合つて
接触される。このとき、花びら状ピン6の先端は
プリント板面11に接触することがないように設
定されている。
以上のように、2種類のスルーホールランドの
寸法形状の形成されたプリント板回路のパターン
面を、1種類のプローブピンで接触試験すること
ができ得るので、フアンクシヨンテスタにおける
故障診断用プロービング時などに、異なる対称部
分によつて従来のようにプローブピンを交換する
といつたような必要がなくなり、能率的である。
寸法形状の形成されたプリント板回路のパターン
面を、1種類のプローブピンで接触試験すること
ができ得るので、フアンクシヨンテスタにおける
故障診断用プロービング時などに、異なる対称部
分によつて従来のようにプローブピンを交換する
といつたような必要がなくなり、能率的である。
プリント板回路を直接検査するようなインサー
キツトテスタにおいては、ネイルベツト(ピン
(針)が部品のピンに対応して植え込まれたもの)
作成時に、従来は接触すべきポイントによつてプ
ローブピンを選択して植え込むことが必要であつ
たが、本考案のプローブピンを用いることにより
そのような必要がなくなつた。
キツトテスタにおいては、ネイルベツト(ピン
(針)が部品のピンに対応して植え込まれたもの)
作成時に、従来は接触すべきポイントによつてプ
ローブピンを選択して植え込むことが必要であつ
たが、本考案のプローブピンを用いることにより
そのような必要がなくなつた。
以上説明のように、本考案のプローブピンによ
れば、先端中央部分に突出され山形部分と円柱形
部分とで形成された杭状ピンと、この杭状ピンの
円柱形部分の周囲に形成された花びら状ピンとを
一体に有する形状としたことにより、大径のスル
ーホールランドに挿入半田付けされた部品のリー
ド部分と、小径のスルーホールランドの部分、の
両方の部分を1種類のプローブピンでそれぞれ接
触することが可能となつた実用的効果はきわめて
著しいものである。
れば、先端中央部分に突出され山形部分と円柱形
部分とで形成された杭状ピンと、この杭状ピンの
円柱形部分の周囲に形成された花びら状ピンとを
一体に有する形状としたことにより、大径のスル
ーホールランドに挿入半田付けされた部品のリー
ド部分と、小径のスルーホールランドの部分、の
両方の部分を1種類のプローブピンでそれぞれ接
触することが可能となつた実用的効果はきわめて
著しいものである。
第1図は本考案のプローブピンの構成を示す正
面図、第2図イ,ロは本構成によるプロービング
を説明する図、第3図は従来のプローブを説明す
る図、第4図イ,ロは従来の他のプローブピンの
形状を説明する図、第5図はスルーホールランド
の形状寸法の1例を示す図、第6図イ〜ハは従来
のプローブピンを説明する図、である。 各図面において、1はスリーブ、3はバネ、6
は花びら状ピン、8は杭状ピン、14はプローブ
ピン、をそれぞれ示す。
面図、第2図イ,ロは本構成によるプロービング
を説明する図、第3図は従来のプローブを説明す
る図、第4図イ,ロは従来の他のプローブピンの
形状を説明する図、第5図はスルーホールランド
の形状寸法の1例を示す図、第6図イ〜ハは従来
のプローブピンを説明する図、である。 各図面において、1はスリーブ、3はバネ、6
は花びら状ピン、8は杭状ピン、14はプローブ
ピン、をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 先端中央部分に突出されその先端が山形をなす
円柱形状の杭状ピン8と、該杭状ピン8の円柱形
部分の周囲に形成された花びら状ピン6とからな
り、 上記杭状ピン8の円柱形部分の直径Fは被測定
プリント板11におけるスルーホールの内径Hよ
りも大きく、該杭状ピン8の先端と花びら状ピン
6の先端との間隔Gは該プリント板における被測
定部分の該プリント板表面からの高さLよりも小
となし、該杭状ピン8の山形部分を該スルーホー
ルHに嵌めた場合に該花びら状ピン6の先端部分
は該プリント板11の表面に接触しないことを特
徴とするプローブピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986092296U JPH0515103Y2 (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986092296U JPH0515103Y2 (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62203462U JPS62203462U (ja) | 1987-12-25 |
| JPH0515103Y2 true JPH0515103Y2 (ja) | 1993-04-21 |
Family
ID=30953876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986092296U Expired - Lifetime JPH0515103Y2 (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0515103Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7703895B2 (ja) * | 2021-05-17 | 2025-07-08 | 日本電気株式会社 | 超伝導デバイス |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4105970A (en) * | 1976-12-27 | 1978-08-08 | Teradyne, Inc. | Test pin |
-
1986
- 1986-06-17 JP JP1986092296U patent/JPH0515103Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62203462U (ja) | 1987-12-25 |
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