JPH0515612B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0515612B2
JPH0515612B2 JP21053285A JP21053285A JPH0515612B2 JP H0515612 B2 JPH0515612 B2 JP H0515612B2 JP 21053285 A JP21053285 A JP 21053285A JP 21053285 A JP21053285 A JP 21053285A JP H0515612 B2 JPH0515612 B2 JP H0515612B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
board
extraction
socket
blade
ics
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP21053285A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6270114A (ja
Inventor
Mitsugi Kurihara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daito KK
Original Assignee
Daito KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daito KK filed Critical Daito KK
Priority to JP21053285A priority Critical patent/JPS6270114A/ja
Publication of JPS6270114A publication Critical patent/JPS6270114A/ja
Publication of JPH0515612B2 publication Critical patent/JPH0515612B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • De-Stacking Of Articles (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、ICのエージング検査のためエージ
ングボードの各ソケツトに嵌合しているICを自
動的に抜取るIC抜取り装置用抜取り刃構造に関
する。
〔従来技術〕
今日、ICの需要は飛躍的に増大しており、こ
れに対処するため各メーカーは生産ラインを自動
化してICを量産している。一方、量産されたIC
の中には若干の不良品が生ずることから、各IC
は、熱、湿度、強度等の検査に付される。
しかし、これらの検査を長期間に亘つて行なう
ことは効率が悪いため、実際には悪条件を加速し
て短期間で処理し、これは加速試験と呼ばれてい
る。このうち、熱や温度に関するものを熱加速試
験又はエージングといい、複数のソケツト付きボ
ードに多数のICを挿入し、これを炉の中で72時
間125℃で加熱した後、所定の特性試験が行なわ
れる。
ICのエージング検査工程も自動化はある程度
なされているが、ボードのソケツトへ各ICを挿
入する工程とICを抜取る工程は、まだ各作業員
の手仕事に頼る現状にある。ICは所定のマガジ
ンに複数個収容され、作業員はマガジンから1個
ずつICを取出してソケツトに嵌入させ、抜取る
際は刃形状の治工具にて一列毎連続的にICを抜
取れるようになつている。これらの作業は慣れれ
ば早くはなるが、省力化の観点からやはり自動化
するのが望まれている。
ICの抜取りを自動的に行なうには、現在手動
で行なつている抜取り治工具を複数並列に設置し
てこれを抜取り方向へ移動させれば可能に思え
る。
ところが、ソケツトとICの隙間はわずか3
m/m程度であり、しかも各ICによつてその隙
間位置も上下3m/m程度のばらつきがある。従
つて、IC抜取り治工具をこの隙間へ確実に挿入
するのは、手動であれば問題はないが、自動化す
る場合の大きなネツクとなつている。
〔発明の目的〕
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、ソケツト内のICの高さにば
らつきがあつても確実にICを抜取れるようなIC
抜取り装置用抜取り刃構造を提供することにあ
る。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するため、本発明では、抜取り
刃の上方へICの厚さよりもやや大きい間隔をお
いてローラを取付け、抜取り刃がソケツトへ侵入
する直前にこのローラがICの上面に当接するよ
うに構成している。
従つて、ソケツト内のICの高さが相違しても、
ローラが一旦ICに乗つてからこの当接位置を基
準に抜取り刃がIC下面に入り込むこととなり、
刃先がICに衝突してミスを生ずるのを防止する
ことができる。
〔発明の実施例〕
第1図には、最も一般的なDIP型(デユアル・
インライン・パツケージ)のIC10が示されて
いる。このIC10は、所定のシリコンチツプに
リードフレームを接続し、周囲をモールド加工し
て形成される。また、IC10の両側には多数の
端子12が百足状に突出しており、これらの端子
12はリードフレームの枠部分を切除した後、下
方へ折曲げて形成される。
第2図には、熱加速試験、即ちエージングに用
いられるボード14が示されている。このボード
14は長方形状の平板で、その上面には多数のソ
ケツト16が設けられている。各ソケツト16の
両側内面には、多数の小孔17(一部のみ図示)
が穿設されており、矢印で示すようにIC10の
両側端子12をこれらの小孔17へ差込めるよう
になつている。ボード14は多数のIC10を受
容した後、所定の炉(図示せず)に入れて加熱さ
れる。
また、ボード14の内部には所定の配線が組込
まれ、炉から取出したボード14上の各IC特性
を一度に検査することができる。この状態では、
まだIC10はボード14のソケツト16へ嵌合
したままであり、ソケツト16からIC10を抜
取る必要がある。
第3図には、本発明の抜取り刃構造が採用され
たIC抜取り装置18が示されている。このIC抜
取り装置18では、図中左側にボツクス形状のラ
ツク20が設置され、ラツク20内にはIC10
の挿入されたボード14が多数積上げられてい
る。
ボード14の最下端は、支持台22によつて支
持され、支持台22の下面中央にはエアシリンダ
24が連結されている。従つて、ラツク20内の
ボード14は、エアシリンダ24によつて一段ず
つ押上げられ、最上位置のボード14から順次外
部へ送り出される。ボード14の上昇が円滑に行
なわれるように、この実施例ではラツク200内
に上方へ延びるガイドロツド26を設けてある。
更に、ラツク20の下面には、複数の車輪28を
取付けて床30上を移動できるように構成してい
る。
最上のボード14の出口側(図中右側)には、
ボード搬送用のベルト32が配置され、ボード1
4をIC抜取り位置まで搬送するようになつてい
る。ベルト32はエンドレス形状で6個のプーリ
34に巻掛けられ、モータ(図示せず)により矢
印方向へ移動する。また、ベルト32は、第4図
から判るように一対設けられ、ボード14の両側
を支持しながらこれを搬送する。ボード14のベ
ルト32への送り出しは、所定のアーム(図示せ
ず)によつて行なわれる。
ベルト32による搬送システムは、実際には所
定のカバー(省略)にて被覆され、カバーはフレ
ーム36へ取付けられるようになつている。フレ
ーム36の下面には、複数の支持脚38と移動用
の車輪40とが取付けられている。
ベルト32のIC抜取り位置には、第3図及び
第4図に示すようにボード14の位置決め機構4
2が設置されている。この位置決め機構42で
は、ベルト32間にテーブル44が配置され、テ
ーブル44の前端中央には、ボード14を検出す
るためのセンサ46が取付けられている。また、
テーブル44の下面には、エアシリンダ48が連
結されていて、センサ46からの信号によりテー
ブル44が上昇するようになつている。
テーブル44の一方の側(第4図上方)には、
2枚のストツパ50,52が配置され、他方側に
は2個のエアシリンダ54,56が設けられてい
る。これらのストツパ50,52及びエアシリン
ダ54,56は、テーブル44上のボード14を
両側から挾持するもので、ストツパ50,52
は、ボード14の側面ではなくソケツト16の側
面に当接するようになつている。これは、ボード
14の側面よりもソケツト16を基準とした方
が、IC抜取り位置が正確になるからである。
また、テーブル44の後方(第4図左側)に
は、3個のエアシリンダ58,60,62が、ベ
ルト32より若干低い位置に設けられている。エ
アシリンダ58は、第3図からも判るように上下
方向に位置し、その先端にブラケツト64を介し
て2個のエアシリンダ60,62が並列に取付け
られている。このため、エアシリンダ58が作動
すると各エアシリンダ60,62はベルト32の
上方へ突出し、ボード14の後端に対応するよう
になつている。
エアシリンダ60,62は、突出してボード1
4の後端に当接し、IC抜取り時にボード14へ
加わる力を支持する役割を果たす。ボード14を
完全に固定したい場合には、ボード14の前端側
にも所定のストツパを設ければよい。
テーブル44の前方上方には、IC抜取り用の
抜取り刃64がやや傾斜して対応している。抜取
り刃64は、先端64aがIC10の下面に侵入
してこれをソケツト16から抜取る点で従来の抜
取り治具と類似しているが、第5図に示すように
その先端にローラ66が取付けられ、長手方向に
は複数のIC10を受容する細長い溝68を有し
ている。
ローラ66と抜取り刃先端64aとの隙間寸法
は、IC10の厚さtよりも稍大きく形成され、
また先端64aがIC10の下面へ侵入する前に
ローラ66がIC10の上面へ当接するように構
成されている。
このためIC10の高さ即ち隙間寸法Sにバラ
ツキがあつても、一旦ローラ66がIC10の上
面に当接してから先端64aが隙間に侵入し、従
つて先端64aがIC10の前端に衝突すること
はない。
更に、抜取り刃64の上下方向にはロツド70
が内挿され、ロツド70の先端にもローラ72が
取付けられている。ローラ72は、ばね74によ
つて常時下方へ付勢され、溝68に入り込んだ
IC10が自重によつて抜出るのを防止する。IC
抜取り時には、抜取り刃64の移動により、IC
10はローラ72を押上げて溝68へと侵入す
る。また、図示してないが、ロツド70はエアシ
リンダにより上下動が可能である。
抜取り刃64は、横方向に複数配列され、これ
らがボード14の全長に亘つて移動するから一度
に全IC10をソケツト16から抜取ることがで
きる。
各抜取り刃64の後端は、第3図に示すように
ブラケツト76に連結され、ブラケツト76は支
持板78へピン80により旋回可能に取付けられ
ている。また、ブラケツト76と支持板78との
間には、エアシリンダ82と引張コイルばね84
とが介装されている。
引張コイルばね84は、抜取り刃64の先端6
4a及びローラ66を常時下方向へと付勢し、
IC10の抜取りはこの状態で行なわれる。エア
シリンダ82は、IC抜取りを完了した際に伸長
して抜取り刃64を上方旋回させ、これを水平に
維持する作用を行なう。
支持板78の上端はレール79へスライド可能
に取付けられ、レール79は、門型フレーム86
の内面横方向へ固着されたレール88へ嵌合して
いる。このため抜取り刃34は、2種類のレール
79,88を介して門型フレーム86に垂下支持
されている。
従つて、抜取り刃64は、レール79に沿つて
スライドしながらソケツト16からIC10を全
て抜取つた後、レール88に沿つて横方向へと移
動できるようになつている。
レール88の終端(第4図上方)付近には、
IC搬送用のガイドレール90が傾斜して設置さ
れ、ガイドレール90の終端にはIC集積用のボ
ツクス92が配置されている。このため、抜取り
刃64から解放された各IC10は、各ガイドレ
ール90を滑落してボツクス92へと落下する。
一方、ベルト32の下流側(第3図右側)にも
ラツク94が配置され、空のボード14が積層さ
れている。ボード14の最下端は支持台96によ
つて支持され、支持台96の下面にはエアシリン
ダ98が連結されている。また、ラツク内のガイ
ドロツド100、ラツク下面の車輪102もラツ
ク20と全く同様に設けられている。ただ、ラツ
ク20のボード14が一段ずつ上昇するのに対
し、ラツク94内のボード14は一段ずつ下降す
る点が異なる。
以上のように構成された本実施例のIC抜取り
装置18は、次の順序で作動する。
まず、第3図において上流側のラツク20内か
ら所定のアームにより最上のボード14が、ベル
ト32上へ移送される。このボード14の各ソケ
ツト16にはIC10が嵌入した状態で、ボード
14は矢印方向へと搬送される。このとき、テー
ブル44、エアシリンダ60,62はベルト32
より若干低い位置にあるから、ボード14の搬送
に何ら支障はない。
次に、ボード14がテーブル44上に達すると
センサ46がボード14の前端を検出し、直ちに
エアシリンダ48が作動してボード14はテーブ
ル44と共にベルト32から持上げられる。
続いて第4図に示すように、エアシリンダ5
4,56が作動してボード14をストツパ50,
52へ押しつけ、ボード14の両側を挾持する。
ストツパ50,52は、ボード14の側面ではな
くソケツト16へ当接するから、各ソケツト位置
はストツパ当接点を基準に正確に位置決めされ
る。
次に、エアシリンダ58(第3図)が作動して
一対のエアシリンダ60,62(第4図)を上昇
させ、エアシリンダ60,62は伸長してボード
14の後端に当接する。抜取り刃64は、図上左
方へ充分に移動するから、ボード14の前後方向
位置はそれ程正確である必要がない。
ここで第5図に示すように、抜取り刃64が矢
印方向へ移動すると、まずローラ66がIC10
の上面に乗り上げ、続いて先端64aがIC10
の下面へ入り込む。更に先端64aが移動する
と、IC10はソケツト16から離脱してローラ
72を押上げ、溝68へと侵入し、ローラ72に
よつて戻りを阻止される。
抜取り刃64は、引張コイルばね84の作用に
よつて常時下方へ付勢されているので、先端64
aがIC10の隙間より高くなることはない。ま
た、抜取り刃64が所定位置より低くても、ロー
ラ66がIC10に乗上げると先端64aも同時
に上がるから、IC10の抜取りミスは全く生じ
ない。
抜取り時に加わる押圧力のうち、下方分力はテ
ーブル44が支持し、横方向分力はエアシリンダ
60,62(第4図)が支持する。
ソケツト16の横方向(ベルト32を横切る方
向)位置決めは、前述の如くストツパ50,52
により正確に行なわれるので、抜取り刃64がソ
ケツト16に対して横方向にずれることもない。
各ソケツト16内の全てのIC10が抜取られ
ると、エアシリンダ82が伸長して抜取り刃64
は上方旋回し、水平状態となる。次いで、抜取り
刃64は第4図に示すようにレール88に沿つて
横方向へ移動し、ガイドレール90の入口付近で
停止する。ここで、エアシリンダ82(第3図)
が短縮して抜取り刃64を大きく傾斜させると同
時にロツド70及びローラ72(第5図)が上昇
する。
従つて、溝68内の多数のIC10は滑り出て
ガイドレール90に沿つて落下し、ボツクス92
へ集積することとなる。
一方、空になつたボード14は、エアシリンダ
54,56,60,62から解放されあと、テー
ブル44が下降して再びベルト32上に載置さ
れ、ラツク94側へと搬送される。また、エアシ
リンダ58(第3図)も短縮してエアシリンダ6
0,62は下降する。
空のボード14は、ベルト32の出口付近で所
定のアーム(図示せず)により、ラツク94へ積
上げられる。ボード14が積み上げられると、エ
アシリンダ98が作動して、ボード全体が一段下
降する。
各IC10を送り出した後、抜取り刃64はレ
ール79に沿つて若干後方へ移動し、次いでレー
ル88に沿つて再びIC抜取り位置へと復帰する。
このとき、既に次のボード14がテーブル14上
で位置決めされており、あとは上述の動作が繰返
される。これらの動作は、全てマイクロコンピユ
ータ制御によつて行なわれる。
〔発明の効果〕
叙上の如く、本発明の抜取り刃構造では、抜取
り刃の先端上方にローラを設け、またローラと抜
取り刃先端との間にICを受容する溝を形成した
から、ソケツト内のICの高さや隙間にばらつき
があつても、確実に全てのICを抜取ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図はDIP型のICを示す斜視図、第2図はエ
ージング用ボードの斜視図、第3図は本発明の抜
取り刃が適用されたIC抜取り装置の簡略側面図、
第4図は第3図の平面図、第5図は抜取り刃の拡
大断面図である。 10…IC、12…端子、14…エージング用
ボード、16…ソケツト、18…IC抜取り装置、
32…ベルト、42…ボード位置決め機構、44
…テーブル、64…抜取り刃、64a…抜取り刃
先端、66…ローラ、68…溝、72…ローラ、
79…レール、80…ピン、82…エアシリン
ダ、84…引張コイルばね、86…門型フレー
ム、88…レール、S…ICの隙間寸法、t…IC
の厚さ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 ICのエージング検査のためエージングボー
    ドの各ソケツトに嵌合しているICを自動的に抜
    取るIC抜取り装置用抜取り刃構造であつて、前
    記ボードの各ソケツトに対応し若干傾斜して設け
    られソケツト内のIC下面へ楔状に入り込んでIC
    を抜取る抜取り刃と、抜取り刃先端の上方へIC
    の厚さより若干大きい間隔をおいて取付けられ抜
    取り刃がソケツトへ侵入する直前にICの上面に
    当接するローラと、抜取り刃先端とローラとの間
    に形成されたIC受容溝と、を具備するIC抜取り
    装置用抜取り刃構造。
JP21053285A 1985-09-24 1985-09-24 Ic抜取り装置用抜取り刃構造 Granted JPS6270114A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21053285A JPS6270114A (ja) 1985-09-24 1985-09-24 Ic抜取り装置用抜取り刃構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21053285A JPS6270114A (ja) 1985-09-24 1985-09-24 Ic抜取り装置用抜取り刃構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6270114A JPS6270114A (ja) 1987-03-31
JPH0515612B2 true JPH0515612B2 (ja) 1993-03-02

Family

ID=16590918

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21053285A Granted JPS6270114A (ja) 1985-09-24 1985-09-24 Ic抜取り装置用抜取り刃構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6270114A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6270114A (ja) 1987-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH10291645A (ja) Ic用トレイ取出装置及びic用トレイ収納装置
US5675957A (en) Device loading/unloading apparatus for semiconductor device handler
US7878336B2 (en) System and method for inspection of chips on tray
JPWO1999001776A1 (ja) 半導体デバイス試験装置及びこの試験装置に使用されるテストトレイ
US4304514A (en) Circuit package loader and extractor
KR101190160B1 (ko) 진단스틱 포장장치
US6469496B1 (en) Electronic memory module handler with direct socket insertion and related output stacker
JPH112657A (ja) 複合ic試験装置
KR101158064B1 (ko) 전자부품 시험장치 및 전자부품의 시험방법
JPH0515612B2 (ja)
US4439917A (en) Method and apparatus for automatically extracting integrated circuit packages from electrical sockets
CN212494036U (zh) 全自动化光纤连接器端面检测装置
JP2940858B2 (ja) Ic試験装置
JPH065259B2 (ja) エ−ジングボ−ドソケツトへのic插入方法
JPH0453389B2 (ja)
KR101104291B1 (ko) 트레이 반송장치 및 이를 구비한 전자부품 시험장치
CN116441193A (zh) 一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其检测方法
CN115102005A (zh) 一种内存条插拔机械手
CN223575665U (zh) 一种轨道式老化房的上料装置
JPH088150A (ja) テーピング電子部品の特性検査装置
CN117599878B (zh) 一种agv小车自动搬运的试样托盘装置及托盘支撑架
JPH0458909B2 (ja)
JPS6139248B2 (ja)
JP2000131384A (ja) 電子部品試験装置用吸着装置
JPH07111395A (ja) Icデバイスの移載装置