JPH0516214Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0516214Y2 JPH0516214Y2 JP18184186U JP18184186U JPH0516214Y2 JP H0516214 Y2 JPH0516214 Y2 JP H0516214Y2 JP 18184186 U JP18184186 U JP 18184186U JP 18184186 U JP18184186 U JP 18184186U JP H0516214 Y2 JPH0516214 Y2 JP H0516214Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crucible
- thin film
- lid
- partition wall
- high vacuum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 9
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 15
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
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- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は、薄膜形成装置に関し、とりわけ、
蒸着により基板に薄膜を形成するための薄膜形成
装置に関するものである。
蒸着により基板に薄膜を形成するための薄膜形成
装置に関するものである。
第2図、第3図は、たとえば特公昭54−9592号
公報に示された従来の薄膜形成装置を示し、第2
図において、真空槽1に設けられた真空排気口2
に真空排気口バルブ3が設けられている。蒸着物
質4は真空槽1内に配置されたるつぼ5に収容さ
れている。6はるつぼ支持台、7はるつぼ5を加
熱するために電子を放出する電子ボンバード用フ
イラメントである。るつぼ5を囲んで設けられた
るつぼ熱シールド板8はるつぼ5および電子ボン
バード用フイラメント7からの熱放射を遮るため
のものである。9,10はるつぼ5およびるつぼ
熱シールド板8をそれぞれ支える絶縁物である。
クラスターをイオン化するために電子を放出する
イオン化フイラメント11およびイオン化フイラ
メント11から電子を引出す電子引出グリツド1
2は、イオン化フイラメント11からの熱放射を
遮るイオン化熱シールド板13内に配置されてい
る。14はイオン化熱シールド板13を支える絶
縁物である。イオン化フイラメント11からは電
子15が電子引出グリツド12で引出される。1
6は加速電極で絶縁物17で支えられている。1
8はるつぼ5から噴出した蒸着物質4の中性クラ
スター、19はイオン化電子15によりイオン化
された蒸着物質4のイオン化クラスターを示し、
中性クラスター18とイオン化クラスター19を
含むクラスタービーム20が形成される。クラス
タービーム20を遮るシヤツター21はシヤツタ
ー支持棒22により支持回転される。真空槽1を
シヤツター支持棒22が貫通する部位にはシヤツ
ター支持棒シール部23が設けられている。基板
24は基板ホルダー25に保持される。26は基
板ホルダーシール部である。
公報に示された従来の薄膜形成装置を示し、第2
図において、真空槽1に設けられた真空排気口2
に真空排気口バルブ3が設けられている。蒸着物
質4は真空槽1内に配置されたるつぼ5に収容さ
れている。6はるつぼ支持台、7はるつぼ5を加
熱するために電子を放出する電子ボンバード用フ
イラメントである。るつぼ5を囲んで設けられた
るつぼ熱シールド板8はるつぼ5および電子ボン
バード用フイラメント7からの熱放射を遮るため
のものである。9,10はるつぼ5およびるつぼ
熱シールド板8をそれぞれ支える絶縁物である。
クラスターをイオン化するために電子を放出する
イオン化フイラメント11およびイオン化フイラ
メント11から電子を引出す電子引出グリツド1
2は、イオン化フイラメント11からの熱放射を
遮るイオン化熱シールド板13内に配置されてい
る。14はイオン化熱シールド板13を支える絶
縁物である。イオン化フイラメント11からは電
子15が電子引出グリツド12で引出される。1
6は加速電極で絶縁物17で支えられている。1
8はるつぼ5から噴出した蒸着物質4の中性クラ
スター、19はイオン化電子15によりイオン化
された蒸着物質4のイオン化クラスターを示し、
中性クラスター18とイオン化クラスター19を
含むクラスタービーム20が形成される。クラス
タービーム20を遮るシヤツター21はシヤツタ
ー支持棒22により支持回転される。真空槽1を
シヤツター支持棒22が貫通する部位にはシヤツ
ター支持棒シール部23が設けられている。基板
24は基板ホルダー25に保持される。26は基
板ホルダーシール部である。
るつぼ5には、第3図に示すように、多数の小
孔27が形成されたるつぼふた28が装着されて
いる。
孔27が形成されたるつぼふた28が装着されて
いる。
以上の構成により、真空槽1の真空排気口2か
ら真空排気口バルブ3を介して真空排気された高
真空領域内で、蒸着物質4を入れたるつぼ5を電
子ボンバード用フイラメント7から出た電子によ
り電子衝撃を行い、るつぼ5内の蒸着物質4を蒸
着圧が数Torrになる温度に加熱する。この蒸着
物質4の蒸気はるつぼふた28に設けられた小孔
27から高真空領域内へ噴出する。このとき、断
熱膨張による過冷却状態になり、中性クラスター
18が形成される。この中性クラスター18にイ
オン化フイラメント11から電子引出グリツド1
2により引出されたイオン化電子15を衝突させ
ることにより、クラスターをイオン化させイオン
化クラスター19を形成させる。一部のクラスタ
ーはイオン化電子15と衝突せず、中性クラスタ
ー18として、るつぼ5からの噴出速度で基板2
4へ蒸着される。イオン化クラスター19は、電
子引出グリツド12およびイオン化熱シールド板
13と加速電極16の間に、前者が正、後者が負
となるよう電位差を与え、加速されて基板24に
蒸着される。シヤツター21は、クラスタービー
ム20を制御する開閉装置である。かようにして
基板24に必要な厚さの薄膜が形成される。
ら真空排気口バルブ3を介して真空排気された高
真空領域内で、蒸着物質4を入れたるつぼ5を電
子ボンバード用フイラメント7から出た電子によ
り電子衝撃を行い、るつぼ5内の蒸着物質4を蒸
着圧が数Torrになる温度に加熱する。この蒸着
物質4の蒸気はるつぼふた28に設けられた小孔
27から高真空領域内へ噴出する。このとき、断
熱膨張による過冷却状態になり、中性クラスター
18が形成される。この中性クラスター18にイ
オン化フイラメント11から電子引出グリツド1
2により引出されたイオン化電子15を衝突させ
ることにより、クラスターをイオン化させイオン
化クラスター19を形成させる。一部のクラスタ
ーはイオン化電子15と衝突せず、中性クラスタ
ー18として、るつぼ5からの噴出速度で基板2
4へ蒸着される。イオン化クラスター19は、電
子引出グリツド12およびイオン化熱シールド板
13と加速電極16の間に、前者が正、後者が負
となるよう電位差を与え、加速されて基板24に
蒸着される。シヤツター21は、クラスタービー
ム20を制御する開閉装置である。かようにして
基板24に必要な厚さの薄膜が形成される。
従来の薄膜形成装置は以上のように構成されて
いるので、蒸着後、蒸着物質の種類によつては、
蒸着物質がるつぼおよびるつぼふたと反応して、
るつぼとるつぼふたとを癒着させてしまい、るつ
ぼふたを開けて蒸着材料を新たに充填することが
できなくなるという問題点があつた。
いるので、蒸着後、蒸着物質の種類によつては、
蒸着物質がるつぼおよびるつぼふたと反応して、
るつぼとるつぼふたとを癒着させてしまい、るつ
ぼふたを開けて蒸着材料を新たに充填することが
できなくなるという問題点があつた。
この考案は上記のような問題点を解消するため
になされたもので、どんな蒸着材料を使用して蒸
着しても、蒸着後、るつぼとるつぼふたとの癒着
を軽減し、同一るつぼの使用時間を延長した薄膜
形成装置を得ることを目的とする。
になされたもので、どんな蒸着材料を使用して蒸
着しても、蒸着後、るつぼとるつぼふたとの癒着
を軽減し、同一るつぼの使用時間を延長した薄膜
形成装置を得ることを目的とする。
この考案に係る薄膜形成装置は、るつぼ本体の
中に、蒸着材料を入れるに十分な開口を設けた隔
壁を備えたものである。
中に、蒸着材料を入れるに十分な開口を設けた隔
壁を備えたものである。
この考案においては、開口を設けた隔壁が、る
つぼとるつぼふたとの境目に蒸気化した蒸着材料
が到達するのを軽減する。
つぼとるつぼふたとの境目に蒸気化した蒸着材料
が到達するのを軽減する。
第1図はこの考案の一実施例を示し、図におい
て、円筒状のるつぼ5内に円筒状のるつぼ内隔壁
29が同軸的に設けられており、るつぼ内隔壁2
9の上壁には開口30が形成されている。るつぼ
ふた28とるつぼ内隔壁との間には狭くて比較的
長い円筒状の〓間31が形成されている。
て、円筒状のるつぼ5内に円筒状のるつぼ内隔壁
29が同軸的に設けられており、るつぼ内隔壁2
9の上壁には開口30が形成されている。るつぼ
ふた28とるつぼ内隔壁との間には狭くて比較的
長い円筒状の〓間31が形成されている。
32はクラスターになる前の蒸気化した個別の
原子または分子を示している。
原子または分子を示している。
その他の構成は、第2図および第3図に示した
と同様であり、説明を省略する。
と同様であり、説明を省略する。
以上の構成により、るつぼ5が加熱され、蒸着
材料4が蒸気化する。蒸気化した原子または分子
32はるつぼ5内と、るつぼ内隔壁29とるつぼ
ふた28との間の〓間31の圧力差により、空間
内に飛び出す。このとき、蒸気はるつぼ内隔壁2
9に設けた開口30より飛び出し、大部分の蒸気
はるつぼふた28に設けた小孔27の下に達す
る。そうして、るつぼふた28内と真空槽1内の
さらに大きな圧力差により、蒸気化した原子また
は分子32は小孔27より飛び出し、中性クラス
ター18を形成する。るつぼふた28とるつぼ内
隔壁29間の〓間31に残つた蒸気の一部は境目
に流れるが、るつぼふた28とるつぼ内隔壁29
で形成された〓間31は細く、かつ、長いため
に、るつぼふた28またはるつぼ内隔壁29に吸
着あるいは反応して、るつぼ5とるつぼふた28
の境目に到達する蒸気はわずかとなり、るつぼ5
とるつぼふた28とが癒着されるまでの時間が延
長される。
材料4が蒸気化する。蒸気化した原子または分子
32はるつぼ5内と、るつぼ内隔壁29とるつぼ
ふた28との間の〓間31の圧力差により、空間
内に飛び出す。このとき、蒸気はるつぼ内隔壁2
9に設けた開口30より飛び出し、大部分の蒸気
はるつぼふた28に設けた小孔27の下に達す
る。そうして、るつぼふた28内と真空槽1内の
さらに大きな圧力差により、蒸気化した原子また
は分子32は小孔27より飛び出し、中性クラス
ター18を形成する。るつぼふた28とるつぼ内
隔壁29間の〓間31に残つた蒸気の一部は境目
に流れるが、るつぼふた28とるつぼ内隔壁29
で形成された〓間31は細く、かつ、長いため
に、るつぼふた28またはるつぼ内隔壁29に吸
着あるいは反応して、るつぼ5とるつぼふた28
の境目に到達する蒸気はわずかとなり、るつぼ5
とるつぼふた28とが癒着されるまでの時間が延
長される。
以上のように、この考案によれば、るつぼ内
に、開口を設けたるつぼ内隔壁を設けたので、同
一るつぼの使用可能時間を延長することができる
効果がある。
に、開口を設けたるつぼ内隔壁を設けたので、同
一るつぼの使用可能時間を延長することができる
効果がある。
第1図はこの考案の一実施例の要部正断面図、
第2図は従来の薄膜形成装置の正断面図、第3図
は第2図のものの要部正断面図である。 1……真空槽、4……蒸着物質、5……るつ
ぼ、11……イオン化フイラメント、16……加
速電極、18……中性クラスター、19……イオ
ン化クラスター、27……小孔、28……るつぼ
ふた、29……るつぼ内隔壁、30……開口、3
1……〓間。なお、各図中、同一符号は同一又は
相当部分を示す。
第2図は従来の薄膜形成装置の正断面図、第3図
は第2図のものの要部正断面図である。 1……真空槽、4……蒸着物質、5……るつ
ぼ、11……イオン化フイラメント、16……加
速電極、18……中性クラスター、19……イオ
ン化クラスター、27……小孔、28……るつぼ
ふた、29……るつぼ内隔壁、30……開口、3
1……〓間。なお、各図中、同一符号は同一又は
相当部分を示す。
Claims (1)
- 真空槽内に形成された高真空領域内に、るつ
ぼ、るつぼに被せられる小孔を有するるつぼふ
た、イオン化部、加速電極および薄膜を被着すべ
き基板を配置し、前記るつぼおよび前記イオン化
部と前記加速電極との間に前者が正、後者が負と
なるように加速電圧が印加され、前記るつぼ内の
蒸着物質が加熱により蒸気化されて前記るつぼふ
たの前記小孔より蒸気を前記高真空領域中に噴射
して断熱膨張により過冷却状態によつて発生した
クラスターに対し、前記イオン化部でクラスター
イオンを発生させ、これを加速して前記基板に前
記薄膜を付着させる薄膜形成装置において、前記
るつぼふたの内側に前記るつぼと一体に設けられ
上端に開口を有したるつぼ内隔壁を備え、このる
つぼ内隔壁と前記るつぼふたとの間には〓間が形
成されたことを特徴とする薄膜形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18184186U JPH0516214Y2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18184186U JPH0516214Y2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6389964U JPS6389964U (ja) | 1988-06-10 |
| JPH0516214Y2 true JPH0516214Y2 (ja) | 1993-04-28 |
Family
ID=31127084
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18184186U Expired - Lifetime JPH0516214Y2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0516214Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-11-28 JP JP18184186U patent/JPH0516214Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6389964U (ja) | 1988-06-10 |
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