JPH05163095A - 単結晶引上装置 - Google Patents

単結晶引上装置

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JPH05163095A
JPH05163095A JP35063891A JP35063891A JPH05163095A JP H05163095 A JPH05163095 A JP H05163095A JP 35063891 A JP35063891 A JP 35063891A JP 35063891 A JP35063891 A JP 35063891A JP H05163095 A JPH05163095 A JP H05163095A
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清隆 高野
Izumi Fusegawa
泉 布施川
Hirotoshi Yamagishi
浩利 山岸
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Abstract

(57)【要約】 [目的] 単結晶の多結晶化を抑制して低酸素濃度の高
品位な単結晶を得ることができるとともに、ルツボの耐
久性向上とコストダウンを図ることができる単結晶引上
装置を提供すること。 [構成] 単結晶引上装置のパージチューブの下端に保
持された筒状の石英隔壁10の下端部周に凹凸を形成
し、単結晶引上げ時において、石英隔壁10の凹凸の凸
部10cの先端を深さd=5mm以下の範囲でメルト1
2Aに部分的に浸漬させる。本発明によれば、石英隔壁
10のメルト12Aへの浸漬深さdは非常に浅く、該石
英隔壁10のメルト12Aとの接触面積が小さく抑えら
れるため、メルト12A中の酸素濃度が低く抑えられ、
低酸素濃度の高品位な単結晶が得られる。又、石英隔壁
10には連通孔16が開口するため、メルト12A表面
から蒸発したSiOは連通孔16を通って速やかに排出
され、SiOによる単結晶の多結晶化が防がれる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、CZ法(Czochr
alski法)によって多結晶融液から単結晶を引き上
げるための単結晶引上装置に関する。
【0002】
【従来の技術】斯かる単結晶引上装置はチャンバー内に
石英ルツボ、ヒーター等を収納して構成され、該単結晶
引上装置においては、石英ルツボに供給されたシリコン
等の多結晶原料はヒーターによって加熱されて溶融し、
石英ルツボ内には多結晶融液(以下、メルトと称す)が
収容される。そして、このメルトに、ワイヤー等の上軸
の下端に取り付けられた種結晶を浸漬し、該上軸を回転
させながらこれを所定の速度で引き上げれば、種結晶の
先に単結晶を成長させることができる。
【0003】ところで、上述のCZ法による単結晶の育
成においては、ドーパントの偏析現象によって単結晶中
の抵抗率が単結晶の引き上げと共に次第に低下して歩留
りが悪くなるため、単結晶育成中に粒状原料とドーパン
トを連続的に供給する連続チャージ法が採用されてい
る。そして、この連続チャージ法においては、石英ルツ
ボ内のメルトに単結晶育成領域と原料供給部とが共存す
ると、メルトの温度分布が不均一となる他、粒状原料の
単結晶への付着によって単結晶が多結晶化するため、石
英ルツボ内に石英製の円筒状内ルツボを設けて二重構造
とし、内ルツボの外側に適当量の粒状原料を供給する二
重ルツボ方式が採られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記二
重ルツボ方式においては、石英製の内ルツボは石英ルツ
ボに溶着等されて固定され、常にメルト中に浸っている
ため、該内ルツボのメルトとの接触面積が大きくなり、
石英に含まれる酸素のメルト中への溶出量が多くなって
単結晶中の格子間酸素濃度が増加し、低酸素濃度の単結
晶を得ることが困難であるという問題があった。
【0005】又、内ルツボはメルト深さ以上の高さを要
するため、その熱変形量が大きく、材料費及び加工費も
高くなるという問題があった。
【0006】更に、メルト表面から蒸発するSiOがチ
ャンバーに付着して単結晶の多結晶化を引き起こすとい
う問題もあった。
【0007】本発明は上記問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とする処は、単結晶の多結晶化を抑制して
低酸素濃度の高品位な単結晶を得ることができるととも
に、ルツボの耐久性向上及びコストダウンを図ることが
できる単結晶引上装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく本
発明は、石英ルツボ、ヒーター等を収納して成るチャン
バー内の上部からカーボン筒を上下動自在に吊り下げ、
該カーボン筒の下端に筒状の石英隔壁を保持せしめて構
成される単結晶引上装置において、前記石英隔壁の下端
部周に凹凸を形成したことを特徴とする。
【0009】又、本発明は、単結晶引上げ時において、
前記石英隔壁の下端部周に形成された前記凹凸の凸部の
先端が深さ5mm以下の範囲で石英ルツボ内のメルトに
部分的に浸漬され、前記カーボン筒内には不活性ガスが
供給され、前記石英ルツボ内の石英隔壁の外部には粒状
原料が連続的に供給されるようにしたことを特徴とす
る。
【0010】
【作用】本発明によれば、石英隔壁は、その下端部周に
形成された凹凸の凸部がメルト中に部分的に浸漬される
のみであるため、該石英隔壁のメルトへの浸漬深さは非
常に浅く、メルトとの接触面積が小さく抑えられる。こ
のため、メルト中の酸素濃度が低く抑えられ、低酸素濃
度の高品位な単結晶が得られる。尚、この場合、メルト
表面の流速は石英隔壁によって抑制され、固液界面下で
の酸素の撹拌層が厚くなるため、単結晶断面内の酸素濃
度分布が均一化される。そして、メルトの表面対流によ
る粒状原料の単結晶方向への漂流が石英隔壁によって抑
制されるため、粒状原料の単結晶への付着による単結晶
の多結晶化が防がれる。
【0011】又、前述のように、石英隔壁の凹凸の凸部
がメルト中に部分的に浸漬されるため、石英隔壁の下端
部周には凹部とメルト表面で区画される連通孔が開口す
ることとなり、石英隔壁の内側のメルト表面から蒸発す
るSiOは連通孔を介して速やかにチャンバー内に流出
した後、チャンバー外に排出される。従って、SiOに
よる単結晶の多結晶化が防がれ、このことによっても単
結晶の品質が高められる。
【0012】更に、内ルツボを構成する石英隔壁はメル
ト中にその一部が部分的に浸漬されるのみであるため、
その長さは短くて済み、これの熱変形が小さく抑えられ
て耐久性が高められるとともに、その材料費及び加工費
が低減される。
【0013】
【実施例】以下に本発明の一実施例を添付図面に基づい
て説明する。
【0014】図1は本発明に係る単結晶引上装置要部の
縦断面図、図2は図1のA部拡大詳細図、図3は同単結
晶引上装置要部の分解斜視図、図4は石英隔壁のメルト
への浸漬状態を示す側面図である。
【0015】図1に示す単結晶引上装置1おいて、2は
ステンレス製のチャンバーであって、これの内部には石
英ルツボ3がシャフト4上に取り付けられて収納されて
いる。尚、シャフト4は、不図示の駆動手段によってそ
の中心軸回りに所定の速度で回転駆動される。
【0016】又、上記チャンバー2内の前記石英ルツボ
3の周囲には、カーボン製の円筒状ヒーター5が配さ
れ、該ヒーター5の周囲には同じくカーボン製の断熱材
6が配されている。
【0017】ところで、チャンバー2内の上部からはカ
ーボン製のパージチューブ7が上下動自在に吊り下げら
れており、該パージチューブ7のチャンバー2内に臨む
下端にはカーボン製の熱遮蔽リング8が保持されてい
る。又、この熱遮蔽リング8にはカーボン製の筒状保持
具9が螺着されており、この筒状保持具9には円筒状の
石英隔壁10が保持されている。尚、パージチューブ7
は、これの上部に設けられた不図示の駆動手段によって
上下動せしめられる。
【0018】ここで、前記熱遮蔽リング8、筒状保持具
9及び石英隔壁10の取付構造を図2及び図3に基づい
て説明する。
【0019】図3に示すように、前記パージチューブ7
には大小2つの覗き窓7a,7bが形成されており、そ
の下部外周には3つの鍵状溝7cが形成されている。
尚、小さい覗き窓7bは単結晶の直径計測用イメージセ
ンサーのためのものである。
【0020】熱遮蔽リング8は漏斗状の内リング8Aと
外リング8Bとを組み合わせて構成され、外リング8B
の内周部に突設された3つの突起8a(図3参照)がパ
ージチューブ7に形成された前記鍵状溝7cに係合する
ことによって、該熱遮蔽リング8がパージチューブ7の
下端に保持される。
【0021】ところで、外リング8Bの外周には、上方
に向かって広がる傾斜面8bが形成されており、該傾斜
面8bは水平に対して所定角度θ(=30°〜45°)
だけ傾斜している(図2参照)。そして、この傾斜面8
bの一部には突起8cが全周に亘って形成されており、
この突起8cに前記筒状保持具9が逆ネジの関係(石英
ルツボ3の回転方向に締まる関係)で螺着されている。
【0022】又、筒状保持具9の周壁には計6つのガス
抜き孔9aと鍵状溝9bが形成されている。尚、本実施
例では、前記熱遮蔽リング8と筒状保持具9の全表面に
SiCコート処理が施されている。
【0023】更に、前記石英隔壁10の上部外周には6
つの突起10aが突設されており、下端部周には波状の
凹凸が形成されている。即ち、該石英隔壁10の下端部
周には深さDの凹部10bが形成されており、該凹部1
0bを除く部分が凸部10cを形成している(図4参
照)。尚、本実施例では、凹部10bの深さDは、10
mm以下に設定されている。
【0024】而して、石英隔壁10は、これに形成され
た前記突起10aを筒状保持具9に形成された前記鍵状
溝9bに係合させることによって、筒状保持具9に保持
される。
【0025】次に、本発明に係る単結晶引上装置1の作
用を説明する。
【0026】例えば、シリコン単結晶の引上げに際して
は、チャンバー2内がArガス雰囲気下の減圧状態(例
えば、30mbar)に保たれ、石英ルツボ3内には原
料供給管11から粒状のポリシリコン12が供給され、
石英ルツボ3内に供給されたポリシリコン12はヒータ
ー5によって加熱されて溶融し、石英ルツボ3内にはメ
ルト12Aが収容される。
【0027】次に、パージチューブ7が石英隔壁10等
と共に一体的に下げられ、図1、図2及び図4に示すよ
うに、石英隔壁10はその下端部周に形成された前記凹
凸の凸部10cの一部が石英ルツボ3内のメルト12A
の上部に深さd=5mm以下の範囲で部分的に浸漬され
る。すると、図2及び図4に示すように、石英隔壁10
の下端部周には、石英隔壁10の凹部10bとメルト1
2Aの表面で区画される連通孔16が開口する。
【0028】その後、パージチューブ7内に吊り下げら
れたワイヤー13の下端に結着された種結晶14が石英
ルツボ3内のメルト12Aに浸漬され、石英ルツボ3が
シャフト4によって図示矢印CR(時計方向)に回転駆
動されると同時に、種結晶14も図示矢印SR方向(反
時計方向)に回転されながら所定の速度SEで引き上げ
られると、種結晶14には図示のように単結晶15が成
長する。このとき、パージチューブ7内にはArガスが
下方に向かって流され、Arガスは、図2に矢印にて示
すように、筒状保持具9に形成されたガス抜き孔9aと
石英隔壁10に開口する前記連通孔16からチャンバー
2内に流出し、メルト12Aの表面から蒸発したSiO
と共にチャンバー2外へ排出される。このように、パー
ジチューブ7内にArガスを流すと、SiOがガス抜き
孔9aと連通孔16を通過してチャンバー2外へ有効に
排出されるため、SiOによる単結晶15の多結晶化が
防がれる他、単結晶15の成長界面付近はArガスによ
って強制的に冷却されるため、メルト12Aの温度を低
下させることなく単結晶15の育成速度(引上げ速度)
SEを上げることができる。
【0029】又、本実施例によれば、石英隔壁10は、
その下端部周に形成された凹凸の凸部10cがメルト1
2A中に深さd=5mm以下で部分的に浸漬されるのみ
であるため、該石英隔壁10のメルト12Aへの浸漬深
さdは非常に浅く、メルト12Aとの接触面積が小さく
抑えられる。このため、メルト12A中の酸素濃度が低
く抑えられ、低酸素濃度の高品位な単結晶15が得られ
る。尚、この場合、メルト12A表面の流速は石英隔壁
10によって抑制され、固液界面下での酸素の撹拌層が
厚くなるため、単結晶15の断面内の酸素濃度分布が均
一化される。そして、メルト12Aの表面対流によるポ
リシリコン12の単結晶15方向への漂流が石英隔壁1
0によって抑制されるため、ポリシリコン12の単結晶
15への付着による単結晶15の多結晶化が防がれる。
【0030】ここで、石英隔壁10のメルト12Aへの
浸漬深さdが単結晶15の格子間酸素濃度に及ぼす影響
を図5に示す。
【0031】図5は単結晶15の格子間酸素濃度を石英
隔壁10のメルト12Aへの浸漬深さdをパラメータと
して単結晶固化率に対して示した図である。この図によ
れば、石英隔壁10の浸漬深さd=5,10,20mm
の場合の単結晶15の格子間酸素濃度は結晶固化率(引
上げ長さ)に対して略一定に保たれるが、浸漬深さdを
小さく設定する程、単結晶15の格子間酸素濃度を低く
抑えることができることがわかる。
【0032】更に、本実施例によれば、内ルツボを構成
する石英隔壁10はメルト12A中にその一部が部分的
に浸漬されるのみであるため、その長さは短くて済み、
これの熱変形が小さく抑えられて耐久性が高められると
ともに、その材料費及び加工費が低減される。
【0033】又、単結晶15の引上げ中はポリシリコン
12が石英ルツボ3に連続的に供給されるが、このポリ
シリコン12は石英隔壁10の外側に供給されるため、
ポリシリコン12のメルト12Aへの落下時にこれが単
結晶15に付着することがなく、又、石英隔壁10のメ
ルト12A内への浸漬によってメルト12A表面の単結
晶15方向へ向かう表面対流が抑制されるため、ポリシ
リコン12の安定した連続的な供給が可能となり、単結
晶15の抵抗率はその成長軸方向に均一なものとなる。
【0034】その他、本実施例によれば、メルト12A
からの輻射熱は熱遮蔽リング8の傾斜面8bで反射され
て石英隔壁10とメルト12Aの界面付近を加熱するた
め、メルト12Aの固化が防がれ、この結果、単結晶1
5の育成速度(引上げ速度)SEを高めて生産効率の向
上を図ることができる。尚、熱遮蔽リング8と筒状保持
具9は常に1400℃以上の超高温に晒されるが、これ
らは前述のようにその全表面がSiCコート処理されて
いるため、超高温での強度が高められ、これらが劣化し
てカーボンが落下することがなく、カーボンによって単
結晶15の育成が阻害されることがない。
【0035】又、本実施例では、前述のように筒状保持
具9は熱遮蔽リング8に対して逆ネジの関係で螺着され
ているため、万一、メルト12Aの固化が生じたとして
も、筒状保持具9と石英隔壁10が外れてこれらが落下
するようなことがなく、安全である。
【0036】
【発明の効果】以上の説明で明らかな如く、本発明によ
れば、石英ルツボ、ヒーター等を収納して成るチャンバ
ー内の上部からカーボン筒を上下動自在に吊り下げ、該
カーボン筒の下端に筒状の石英隔壁を保持せしめて構成
される単結晶引上装置において、前記石英隔壁の下端部
周に凹凸を形成したため、単結晶の多結晶化を抑制して
低酸素濃度の高品位な単結晶を得ることができるととも
に、ルツボの耐久性向上及びコストダウンを図ることが
できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る単結晶引上装置要部の縦断面図で
ある。
【図2】図1のA部拡大詳細図である。
【図3】本発明に係る単結晶引上装置要部の分解斜視図
である。
【図4】石英隔壁のメルトへの浸漬状態を示す側面図で
ある。
【図5】単結晶の格子間酸素濃度を石英隔壁のメルトへ
の浸漬深さをパラメータとして単結晶固化率に対す図で
ある。
【符号の説明】
1 単結晶引上装置 2 チャンバー 3 石英ルツボ 5 ヒーター 7 パージチューブ(カーボン筒) 10 石英隔壁 10b 石英隔壁の凹部 10c 石英隔壁の凸部 12 ポリシリコン(粒状原料) 12A メルト d 石英隔壁のメルトへの浸漬深さ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 石英ルツボ、ヒーター等を収納して成る
    チャンバー内の上部からカーボン筒を上下動自在に吊り
    下げ、該カーボン筒の下端に筒状の石英隔壁を保持せし
    めて構成される単結晶引上装置において、前記石英隔壁
    の下端部周に凹凸を形成したことを特徴とする単結晶引
    上装置。
  2. 【請求項2】 単結晶引上げ時において、前記石英隔壁
    の下端部は、その下端部周に形成された前記凹凸の凸部
    が石英ルツボ内のメルト表面近傍に部分的に浸漬され、
    該石英隔壁のメルト浸漬境界円周に沿って前記凹凸の凹
    部が雰囲気ガス通気用の連通孔を形成することを特徴と
    する請求項1記載の単結晶引上装置。
  3. 【請求項3】 前記石英隔壁の下端部周に形成された前
    記凹凸の凸部の先端が深さ5mm以下の範囲で石英ルツ
    ボ内のメルトに部分的に浸漬されることを特徴とする請
    求項2記載の単結晶引上装置。
  4. 【請求項4】 単結晶引上げ時において、前記カーボン
    筒内には不活性ガスが供給され、前記石英ルツボ内の石
    英隔壁の外部には粒状原料が連続的に供給されることを
    特徴とする請求項1,2又は3記載の単結晶引上装置。
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