JPH0516676B2 - - Google Patents
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- JPH0516676B2 JPH0516676B2 JP15317786A JP15317786A JPH0516676B2 JP H0516676 B2 JPH0516676 B2 JP H0516676B2 JP 15317786 A JP15317786 A JP 15317786A JP 15317786 A JP15317786 A JP 15317786A JP H0516676 B2 JPH0516676 B2 JP H0516676B2
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- JP
- Japan
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- semiconductor laser
- laser device
- circuit
- pin photodiode
- laser element
- Prior art date
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 62
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、サーマルシヤツトオフ機能を改善し
た半導体レーザ素子駆動回路に関するものであ
る。
た半導体レーザ素子駆動回路に関するものであ
る。
(従来の技術)
半導体レーザ素子の光出力は、素子温度の変動
により容易に変化する。そこで、温度が変化して
も一定の光出力が得られるようにするために、半
導体レーザ素子の光出力に応じて駆動電流を自動
調整するAPC(Automatic Poweu Control)機
能が駆動回路に設けられている。また、半導体レ
ーザ素子は温度上昇により光出力が低下し、これ
を補正すべくAPC機能により駆動電流を増加さ
せるとより一層温度が上昇する。そして、周囲温
度が異常に上昇する等により、半導体レーザ素子
が配置される放熱フインの発散熱量が半導体レー
ザ素子の発熱熱量より低下すると、半導体レーザ
素子は熱暴走を生じて破壊に至る。そこで、放熱
フインにサーミスタ等を付設し、周囲温度が所定
値以上となると半導体レーザ素子の駆動電流回路
を遮断して半導体レーザ素子の駆動を停止するサ
ーマルシヤツトオフ機能が駆動回路に設けられて
いる。
により容易に変化する。そこで、温度が変化して
も一定の光出力が得られるようにするために、半
導体レーザ素子の光出力に応じて駆動電流を自動
調整するAPC(Automatic Poweu Control)機
能が駆動回路に設けられている。また、半導体レ
ーザ素子は温度上昇により光出力が低下し、これ
を補正すべくAPC機能により駆動電流を増加さ
せるとより一層温度が上昇する。そして、周囲温
度が異常に上昇する等により、半導体レーザ素子
が配置される放熱フインの発散熱量が半導体レー
ザ素子の発熱熱量より低下すると、半導体レーザ
素子は熱暴走を生じて破壊に至る。そこで、放熱
フインにサーミスタ等を付設し、周囲温度が所定
値以上となると半導体レーザ素子の駆動電流回路
を遮断して半導体レーザ素子の駆動を停止するサ
ーマルシヤツトオフ機能が駆動回路に設けられて
いる。
ここで、第2図の従来の半導体レーザ素子駆動
回路の一例の回路図を示す。第2図において、半
導体レーザ素子1とPINフオトダイオード2とが
近接して一対に配置され、半導体素子レーザ素子
1のアノードは接地されカソードはインビーダン
ス可変素子たる第1のトランジスタ3のコレクタ
に接続されている。PINフオトダイオード2のカ
ソードは接地されるとともに電流電圧変換回路た
る第1の比較増幅器4のプラス入力端子に接続さ
れ、アノードは第1の比較増幅器4のマイナス入
力端子に接続されている。この第1の比較増幅回
路4の出力端子は、第2の比較増幅器5のプラス
入力端子に接続されている。そして、この第2の
比較増幅器5のマイナス入力端子は第1の基準電
圧設定回路6を介してマイナス電源7に接続さ
れ、出力端子は第1のトランジスタ3のベースに
接続されている。さらに、この第1のトランジス
タ3のエミツタはスイツチング素子たる第2のト
ランジスタ8を介してマイナス電源7に接続され
ている。そして、第2のトランジスタ8のベース
は第3の比較増幅器9の出力端子に接続され、こ
の第3の比較増幅器9のマイナス入力端子は第2
の基準電圧設定回路10を介してマイナス電源7
に接続され、プラス入力端子は抵抗11とサーミ
スタ12の接続点に接続されている。そして、抵
抗11の他端は接地され、サーミスタ12の他端
はマイナス電源7に接続されている。
回路の一例の回路図を示す。第2図において、半
導体レーザ素子1とPINフオトダイオード2とが
近接して一対に配置され、半導体素子レーザ素子
1のアノードは接地されカソードはインビーダン
ス可変素子たる第1のトランジスタ3のコレクタ
に接続されている。PINフオトダイオード2のカ
ソードは接地されるとともに電流電圧変換回路た
る第1の比較増幅器4のプラス入力端子に接続さ
れ、アノードは第1の比較増幅器4のマイナス入
力端子に接続されている。この第1の比較増幅回
路4の出力端子は、第2の比較増幅器5のプラス
入力端子に接続されている。そして、この第2の
比較増幅器5のマイナス入力端子は第1の基準電
圧設定回路6を介してマイナス電源7に接続さ
れ、出力端子は第1のトランジスタ3のベースに
接続されている。さらに、この第1のトランジス
タ3のエミツタはスイツチング素子たる第2のト
ランジスタ8を介してマイナス電源7に接続され
ている。そして、第2のトランジスタ8のベース
は第3の比較増幅器9の出力端子に接続され、こ
の第3の比較増幅器9のマイナス入力端子は第2
の基準電圧設定回路10を介してマイナス電源7
に接続され、プラス入力端子は抵抗11とサーミ
スタ12の接続点に接続されている。そして、抵
抗11の他端は接地され、サーミスタ12の他端
はマイナス電源7に接続されている。
かかる構成において、半導体レーザ素子1の温
度が何んらかの理由で上昇して光出力が低下する
と、その一部を受光するPINフオトダイオード2
の受光量が低下して起電流が低下する。このため
に、第1の比較増幅器4の出力電圧は上昇し、第
1の基準電圧設定回路6で設定される第1の基準
電圧と比較されて第2の比較増幅器5の出力電圧
も上昇して第1のトランジスタ3のインピーダン
ズが低下する。ここで、第2のトランジスタ8が
導通状態であれば、半導体レーザ素子1に流れる
電流は増加して光出力を上昇させる。このよう
に、PINフオトダイオード2の受光量に応じて、
半導体レーザ素子1の駆動電流回路に直列に介装
された第1とトランジスタ3のインピーダンズを
調整することで、半導体レーザ素子1の光出力が
一定に制御されている。なお、第1の基準電圧設
定回路6で設定される第1の基準電圧によつて光
出力の大きさは調整される。
度が何んらかの理由で上昇して光出力が低下する
と、その一部を受光するPINフオトダイオード2
の受光量が低下して起電流が低下する。このため
に、第1の比較増幅器4の出力電圧は上昇し、第
1の基準電圧設定回路6で設定される第1の基準
電圧と比較されて第2の比較増幅器5の出力電圧
も上昇して第1のトランジスタ3のインピーダン
ズが低下する。ここで、第2のトランジスタ8が
導通状態であれば、半導体レーザ素子1に流れる
電流は増加して光出力を上昇させる。このよう
に、PINフオトダイオード2の受光量に応じて、
半導体レーザ素子1の駆動電流回路に直列に介装
された第1とトランジスタ3のインピーダンズを
調整することで、半導体レーザ素子1の光出力が
一定に制御されている。なお、第1の基準電圧設
定回路6で設定される第1の基準電圧によつて光
出力の大きさは調整される。
また、半導体レーザ素子1の放熱フイン等に付
設されたサーミスタ12と抵抗11によつて分圧
されて第3の比較増幅器9のプラス入力端子に印
加される電圧は、周囲温度が所定値以下であれば
第2の基準電圧設定回路10によりマイナス入力
端子に印加される第2の基準電圧より高くなるよ
うに設定され、通常は第2トランジスタ8を導通
状態とする。そして、周囲温度の上昇に伴ないサ
ーミスタ12の抵抗値は減少し、周囲温度が所定
値以上となると第3の比較増幅器9のプラス入力
端子に印加される電圧はマイナス入力端子に印加
される第2の基準電圧より低下して第2のトラン
ジスタ8は非導通に反転される。このように、周
囲温度の上昇により、半導体レーザ素子1の駆動
電流回路に直列に介装された第2のトランジスタ
8を非導通とすることで、半導体レーザ素子1に
流れる駆動電流が遮断され、半導体レーザ素子1
の駆動が停止されて破壊が防止される。
設されたサーミスタ12と抵抗11によつて分圧
されて第3の比較増幅器9のプラス入力端子に印
加される電圧は、周囲温度が所定値以下であれば
第2の基準電圧設定回路10によりマイナス入力
端子に印加される第2の基準電圧より高くなるよ
うに設定され、通常は第2トランジスタ8を導通
状態とする。そして、周囲温度の上昇に伴ないサ
ーミスタ12の抵抗値は減少し、周囲温度が所定
値以上となると第3の比較増幅器9のプラス入力
端子に印加される電圧はマイナス入力端子に印加
される第2の基準電圧より低下して第2のトラン
ジスタ8は非導通に反転される。このように、周
囲温度の上昇により、半導体レーザ素子1の駆動
電流回路に直列に介装された第2のトランジスタ
8を非導通とすることで、半導体レーザ素子1に
流れる駆動電流が遮断され、半導体レーザ素子1
の駆動が停止されて破壊が防止される。
(発明が解決しようとする問題点)
ところで、上記した従来の半導体レーザ素子駆
動回路は、温度検査素子としてサーミスタ12を
用いこのサーミスタ12を半導体レーザ素子1の
放熱フイン等に付設するものである。このため
に、放熱フインが大きくなり、小型化しにくいと
いう問題点があつた。また、サーミスタ12は半
導体レーザ素子1から離れた位置に取り付けら
れ、半導体レーザ素子1自体の温度を精度良く検
出することができず、周囲温度等の影響を大きく
受け易いという問題点があつた。
動回路は、温度検査素子としてサーミスタ12を
用いこのサーミスタ12を半導体レーザ素子1の
放熱フイン等に付設するものである。このため
に、放熱フインが大きくなり、小型化しにくいと
いう問題点があつた。また、サーミスタ12は半
導体レーザ素子1から離れた位置に取り付けら
れ、半導体レーザ素子1自体の温度を精度良く検
出することができず、周囲温度等の影響を大きく
受け易いという問題点があつた。
本発明の目的は、上記の従来の半導体レーザ素
子駆動回路の問題点を解決すべくなされたもの
で、半導体レーザ素子と近接して一対に配置され
るPINフオトダイオードで半導体レーザ素子の温
度を精度良く検出できて小型化に好適な半導体レ
ーザ素子駆動回路を提供することにある。
子駆動回路の問題点を解決すべくなされたもの
で、半導体レーザ素子と近接して一対に配置され
るPINフオトダイオードで半導体レーザ素子の温
度を精度良く検出できて小型化に好適な半導体レ
ーザ素子駆動回路を提供することにある。
(問題を解決するための手段)
かかる目的を達成するために、本発明の半導体
レーザ素子駆動回路は、半導体レーザ素子とPIN
フオトダイオードが近傍して一対に配置され、こ
のPINフオトダイオードの受光量に応じた起電流
を電流電圧変換回路で電圧信号に変換し、前記半
導体レーザ素子の駆動回路に直列に介装されたイ
ンピーダンス可変素子を前記電圧信号に応じて制
御して前記半導体レーザ素子の光出力が一定とな
るようにした半導体レーザ素子駆動回路におい
て、前記PINフオトダイオードに時分割で短時間
電流を流してこのPINフオトダイオードによる降
下電圧を検出し、この検出信号が基準値より小さ
いときに前記半導体レーザ素子の駆動回路に直列
に介装されたスイツチング素子を開成して前記半
導体レーザ素子の駆動を停止するように構成され
ている。
レーザ素子駆動回路は、半導体レーザ素子とPIN
フオトダイオードが近傍して一対に配置され、こ
のPINフオトダイオードの受光量に応じた起電流
を電流電圧変換回路で電圧信号に変換し、前記半
導体レーザ素子の駆動回路に直列に介装されたイ
ンピーダンス可変素子を前記電圧信号に応じて制
御して前記半導体レーザ素子の光出力が一定とな
るようにした半導体レーザ素子駆動回路におい
て、前記PINフオトダイオードに時分割で短時間
電流を流してこのPINフオトダイオードによる降
下電圧を検出し、この検出信号が基準値より小さ
いときに前記半導体レーザ素子の駆動回路に直列
に介装されたスイツチング素子を開成して前記半
導体レーザ素子の駆動を停止するように構成され
ている。
(作用)
半導体レーザ素子と近接して一対に配置される
PINフオトダイオードに時分割で短時間電流を流
してこのPINフオトダイオードによる降下電圧を
検出し、この検出信号が基準値より小さいときに
半導体レーザ素子の駆動電流回路に直列に介装さ
れたスイツチング素子を開成するようにしたの
で、半導体レーザ素子の温度変化に応じて最も精
度良く温度変化するPINフオトダイオードのイン
ピータンス変化によつて、半導体レーザ素子の温
度を検出でき、精度良く半導体レーザ素子の駆動
電流回路を遮断することができる。
PINフオトダイオードに時分割で短時間電流を流
してこのPINフオトダイオードによる降下電圧を
検出し、この検出信号が基準値より小さいときに
半導体レーザ素子の駆動電流回路に直列に介装さ
れたスイツチング素子を開成するようにしたの
で、半導体レーザ素子の温度変化に応じて最も精
度良く温度変化するPINフオトダイオードのイン
ピータンス変化によつて、半導体レーザ素子の温
度を検出でき、精度良く半導体レーザ素子の駆動
電流回路を遮断することができる。
(実施例)
以下、本発明の実施例を第1図を参照して説明
する。第1図は、本発明の半導体レーザ素子駆動
回路の一実施例の回路図である。第1図いおい
て、第2図と同一回路素子には同一符号を付して
重複する説明を省略する。
する。第1図は、本発明の半導体レーザ素子駆動
回路の一実施例の回路図である。第1図いおい
て、第2図と同一回路素子には同一符号を付して
重複する説明を省略する。
第1図において、PINフオトダイオード2のア
ノードは常開接点13を介して定電流源14に接
続され、常閉接点15を介して第1の比較増幅器
4のマイナス入力端子に接続され、さらに常開接
点16を介して第4の比較増幅器17のプラス入
力端子に接続されている。第1の比較増幅器4の
出力端子は常閉接点18を介して第2の比較増幅
器5のプラス入力端子に接続されている。この第
2の比較増幅器5のプラス入力端子は第1のコン
デンサ19を介して接地されている、また、第4
の比較増幅器17のマイナス入力端子は接地さ
れ、出力端子は常開接点20を介して第3の比較
増幅器9のプラス入力端子に接続されている。こ
の第3の比較増幅器9のプラス入力端子は第2の
コンデンサ21を介して接地されている。さら
に、常開接点13,16,20および常閉接点1
5,18は連動して制御回路22によつて周期的
に短時間の切換動作が行われる。例えば、10〜50
msecの周期で1msecの間常開接点13,16,
20が開成されるとともに常閉接点15,18が
開成される。なお、第2図に示したサーミスタ1
2が省かれている。
ノードは常開接点13を介して定電流源14に接
続され、常閉接点15を介して第1の比較増幅器
4のマイナス入力端子に接続され、さらに常開接
点16を介して第4の比較増幅器17のプラス入
力端子に接続されている。第1の比較増幅器4の
出力端子は常閉接点18を介して第2の比較増幅
器5のプラス入力端子に接続されている。この第
2の比較増幅器5のプラス入力端子は第1のコン
デンサ19を介して接地されている、また、第4
の比較増幅器17のマイナス入力端子は接地さ
れ、出力端子は常開接点20を介して第3の比較
増幅器9のプラス入力端子に接続されている。こ
の第3の比較増幅器9のプラス入力端子は第2の
コンデンサ21を介して接地されている。さら
に、常開接点13,16,20および常閉接点1
5,18は連動して制御回路22によつて周期的
に短時間の切換動作が行われる。例えば、10〜50
msecの周期で1msecの間常開接点13,16,
20が開成されるとともに常閉接点15,18が
開成される。なお、第2図に示したサーミスタ1
2が省かれている。
かかる構成において、常開接点13,16,2
0が開成状態で常閉接点15,18が開成状態で
あれば、PINフオトダイオード2の受光量に応じ
た起電流が第1の比較増幅器で電圧信号に変換さ
れ、常閉接点18を介して第2の比較増幅器5の
プラス入力端子に印加されるとともに、第1のコ
ンデンサ19に充電される。そして、第2図に示
す従来回路と同時に、PINフオトダイオード2の
受光量に応じた電圧信号が第1の基準電圧設定回
路6で設定された第1の基準電圧と比較され第1
のトランジスタ3のインピーダンスが制御され
る。そして、半導体レーザ素子1に流れる電流値
が制御されて、半導体レーザ素子1の光出力が一
定となる。なお、第2のコンデンサ21には所定
の電圧が充電されており、第2のトランジスタ8
は導通状態に維持されている。
0が開成状態で常閉接点15,18が開成状態で
あれば、PINフオトダイオード2の受光量に応じ
た起電流が第1の比較増幅器で電圧信号に変換さ
れ、常閉接点18を介して第2の比較増幅器5の
プラス入力端子に印加されるとともに、第1のコ
ンデンサ19に充電される。そして、第2図に示
す従来回路と同時に、PINフオトダイオード2の
受光量に応じた電圧信号が第1の基準電圧設定回
路6で設定された第1の基準電圧と比較され第1
のトランジスタ3のインピーダンスが制御され
る。そして、半導体レーザ素子1に流れる電流値
が制御されて、半導体レーザ素子1の光出力が一
定となる。なお、第2のコンデンサ21には所定
の電圧が充電されており、第2のトランジスタ8
は導通状態に維持されている。
そして、制御回路22により常開接点13,1
6,20が閉成され、常閉接点15,18が開成
されると、定電流源14からPINフオトダイオー
ド2に順方向に所定の定電流が流れる。このPIN
フオトダイオード2は半導体レーザ素子1に近接
して一対に配置されており、半導体レーザ素子1
の温度に連動して温度が変動する。そして、IN
フオトダイオード2は温度上昇によりインピーダ
ンスが低下し、温度に応じた降下電圧を生じる。
このPINフオトダイオード2のアノードに出力さ
れる降下電圧が閉成された常開接点16を介して
第4の比較増幅器17で増幅される。さらに、こ
の増幅出力電圧が閉成された常開接点20を介し
て第3の比較増幅器9で第2の基準電圧と比較さ
れるとともに、第2のコンデンサ21に充電され
る。
6,20が閉成され、常閉接点15,18が開成
されると、定電流源14からPINフオトダイオー
ド2に順方向に所定の定電流が流れる。このPIN
フオトダイオード2は半導体レーザ素子1に近接
して一対に配置されており、半導体レーザ素子1
の温度に連動して温度が変動する。そして、IN
フオトダイオード2は温度上昇によりインピーダ
ンスが低下し、温度に応じた降下電圧を生じる。
このPINフオトダイオード2のアノードに出力さ
れる降下電圧が閉成された常開接点16を介して
第4の比較増幅器17で増幅される。さらに、こ
の増幅出力電圧が閉成された常開接点20を介し
て第3の比較増幅器9で第2の基準電圧と比較さ
れるとともに、第2のコンデンサ21に充電され
る。
ここで、第4の比較増幅器17の増幅出力電圧
が第2の基準電圧より高ければ、半導体レーザ素
子1は所定の温度まで達してしないとして第2の
トランジスタ8を導通状態に維持する。なお、こ
の常閉接点15,18が開成されている間は、第
1のコンデンサ19に充電されて保持された電圧
が第2の比較増幅器5に印加されており、第1の
インピーダンスが変化する等の不都合な動作は生
じない。
が第2の基準電圧より高ければ、半導体レーザ素
子1は所定の温度まで達してしないとして第2の
トランジスタ8を導通状態に維持する。なお、こ
の常閉接点15,18が開成されている間は、第
1のコンデンサ19に充電されて保持された電圧
が第2の比較増幅器5に印加されており、第1の
インピーダンスが変化する等の不都合な動作は生
じない。
また、第4の比較増幅器17の増幅出力電圧が
第2の基準電圧より低くなければ、半導体レーザ
素子1は所定の温度以上に達しており、第2のト
ランジスタ8を非導通として、半導体レーザ素子
1の駆動電流回路を遮断して半導体レーザ素子1
の駆動が停止される。
第2の基準電圧より低くなければ、半導体レーザ
素子1は所定の温度以上に達しており、第2のト
ランジスタ8を非導通として、半導体レーザ素子
1の駆動電流回路を遮断して半導体レーザ素子1
の駆動が停止される。
なお、第1と第2のコンデンサ19,21はそ
れぞれ動作開始時に適宜な電圧で充電されてい
る。また、常開接点13,16,20および常閉
接点15,18はアナログスイツチまたは電界効
果トランジスタ等を用いて構成し、制御回路22
はロジツク回路やマイクロコンピユータ等を用い
て構成すれば良い。
れぞれ動作開始時に適宜な電圧で充電されてい
る。また、常開接点13,16,20および常閉
接点15,18はアナログスイツチまたは電界効
果トランジスタ等を用いて構成し、制御回路22
はロジツク回路やマイクロコンピユータ等を用い
て構成すれば良い。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明の半導体レーザ素
子駆動回路によれば、半導体レーザ素子に近接し
て一対で配置されるPINフオトダイオードにより
温度を検出するようにしたので、半導体レーザ素
子の温度を精度良く検出することができる。ま
た、半導体レーザ素子の光出力の一部を受光する
PINフオトダイオードを時分割で温度検出素子と
して用いるので、従来のサーミスタのごとき他の
温度検出素子を必要とせず、それだけ小型化およ
び軽量化することができるという優れた効果を奏
する。
子駆動回路によれば、半導体レーザ素子に近接し
て一対で配置されるPINフオトダイオードにより
温度を検出するようにしたので、半導体レーザ素
子の温度を精度良く検出することができる。ま
た、半導体レーザ素子の光出力の一部を受光する
PINフオトダイオードを時分割で温度検出素子と
して用いるので、従来のサーミスタのごとき他の
温度検出素子を必要とせず、それだけ小型化およ
び軽量化することができるという優れた効果を奏
する。
第1図は、本発明の半導体レーザ素子駆動回路
の一実施例の回路図であり、第2図は、従来の半
導体レーザ素子駆動回路の一例の回路図である。 1:半導体レーザ素子、2:PINフオトダイオ
ード、3,8:トランジスタ、4,5,9,1
7:比較増幅器、6,10:基準電圧設定回路、
13,16,20:常開接点、14:定電流源、
15,18:常閉接点、22:制御回路。
の一実施例の回路図であり、第2図は、従来の半
導体レーザ素子駆動回路の一例の回路図である。 1:半導体レーザ素子、2:PINフオトダイオ
ード、3,8:トランジスタ、4,5,9,1
7:比較増幅器、6,10:基準電圧設定回路、
13,16,20:常開接点、14:定電流源、
15,18:常閉接点、22:制御回路。
Claims (1)
- 1 半導体レーザ素子とPINフオトダイオードが
近接して一対に配置され、このPINフオトダイオ
ードの受光量に応じた起電流を電流電圧変換回路
で電圧信号に変換し、前記半導体レーザ素子の駆
動電流回路に直列に介装されたインビーダンス可
変素子を前記電圧信号に応じて制御して前記半導
体レーザ素子の光出力が一定となるようにした半
導体レーザ素子駆動回路において、前記PINフオ
トダイオードに時分割で短時間電流を流してこの
PINフオトダイオードによる降下電圧を検出し、
この検出信号が基準値より小さいときに前記半導
体レーザ素子の駆動電流回路に直列に介装された
スイツチング素子を開成して前記半導体レーザ素
子の駆動を停止することを特徴とする半導体レー
ザ素子駆動回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15317786A JPS639181A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 半導体レ−ザ素子駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15317786A JPS639181A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 半導体レ−ザ素子駆動回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS639181A JPS639181A (ja) | 1988-01-14 |
| JPH0516676B2 true JPH0516676B2 (ja) | 1993-03-05 |
Family
ID=15556734
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15317786A Granted JPS639181A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 半導体レ−ザ素子駆動回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS639181A (ja) |
-
1986
- 1986-06-30 JP JP15317786A patent/JPS639181A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS639181A (ja) | 1988-01-14 |
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