JPH0517507B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0517507B2 JPH0517507B2 JP80683A JP80683A JPH0517507B2 JP H0517507 B2 JPH0517507 B2 JP H0517507B2 JP 80683 A JP80683 A JP 80683A JP 80683 A JP80683 A JP 80683A JP H0517507 B2 JPH0517507 B2 JP H0517507B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cable
- cross
- fluorocarbon gas
- deterioration
- linked polyethylene
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Gas Or Oil Filled Cable Accessories (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は、架橋ポリエチレン絶縁ケーブルの絶
縁体劣化を非電気的に判定しうる場合に有用な架
橋ポリエチレン絶縁ケーブルの絶縁劣化判定法に
関する。
縁体劣化を非電気的に判定しうる場合に有用な架
橋ポリエチレン絶縁ケーブルの絶縁劣化判定法に
関する。
(発明の技術的背景とその問題点)
一般に、架橋ポリエチレン絶縁ケーブル(以下
CVケーブルという)の絶縁体の劣化は主として
水トリーによるものと考えられている。
CVケーブルという)の絶縁体の劣化は主として
水トリーによるものと考えられている。
ところで、この水トリーは、電気的には若干導
電性を帯びており、その発生数や大きさが著しい
と、ケーブル絶縁体の誘電正接や絶縁抵抗等の値
に影響することが知られている。従つて、この水
トリーを検出することによりCVケーブルの絶縁
体劣化を判定できる訳であるが、微量な水トリー
を電気的に検出することは殆んど不可能である。
電性を帯びており、その発生数や大きさが著しい
と、ケーブル絶縁体の誘電正接や絶縁抵抗等の値
に影響することが知られている。従つて、この水
トリーを検出することによりCVケーブルの絶縁
体劣化を判定できる訳であるが、微量な水トリー
を電気的に検出することは殆んど不可能である。
(発明の目的)
本発明は、このような点に着目してなされたも
ので、CVケーブルの絶縁体劣化を非電気的に判
定しうる架橋ポリエチレン絶縁ケーブルの劣化判
定法を提供せんとするものである。
ので、CVケーブルの絶縁体劣化を非電気的に判
定しうる架橋ポリエチレン絶縁ケーブルの劣化判
定法を提供せんとするものである。
(発明の概要)
本発明においては、水トリーの発生による酸化
生成物をケーブル導体端末から圧入したフルオ
ロ・カーボンガスにより溶出し、これの成分を分
析することにより前記目的を達成している。
生成物をケーブル導体端末から圧入したフルオ
ロ・カーボンガスにより溶出し、これの成分を分
析することにより前記目的を達成している。
(発明の実施例)
以下、本発明を一実施例の図面に基づいて説明
する。図において、CVケーブル1は、より線導
体2と、この上に必要により内部半導電層(図示
せず)を介して設けられた架橋ポリエチレン絶縁
体3と、この上に必要により外部半導電層(図示
せず)およびしやへい層(図示せず)を介して設
けられたビニル等のシース4とで構成され、この
ケーブルの一端側は常套手段によりシール(図示
せず)されている。一方、ケーブル他端側のより
線導体2からは、フルオロ・カーボンガス5が圧
入され、このケーブル内が大気圧以上に加圧され
る。
する。図において、CVケーブル1は、より線導
体2と、この上に必要により内部半導電層(図示
せず)を介して設けられた架橋ポリエチレン絶縁
体3と、この上に必要により外部半導電層(図示
せず)およびしやへい層(図示せず)を介して設
けられたビニル等のシース4とで構成され、この
ケーブルの一端側は常套手段によりシール(図示
せず)されている。一方、ケーブル他端側のより
線導体2からは、フルオロ・カーボンガス5が圧
入され、このケーブル内が大気圧以上に加圧され
る。
圧入されたフルオロ・カーボンガス5は、架橋
ポリエチレン絶縁体3中の酸化物等の不純物や水
分等を溶解してシース4下に拡散する。
ポリエチレン絶縁体3中の酸化物等の不純物や水
分等を溶解してシース4下に拡散する。
しかして、不純物や水分等を溶解したフルオ
ロ・カーボンガス5をケーブル他端側端末部のシ
ース4下に備え付けたサンプリング器6により採
取し、これをガスクロマトグライー等により成分
分析する。
ロ・カーボンガス5をケーブル他端側端末部のシ
ース4下に備え付けたサンプリング器6により採
取し、これをガスクロマトグライー等により成分
分析する。
この成分分析により例えば窒素酸化物が所定値
以上あつた場合に絶縁体が劣化していると判定
し、所定値以下の場合には、ケーブルが健全であ
ると判定する。
以上あつた場合に絶縁体が劣化していると判定
し、所定値以下の場合には、ケーブルが健全であ
ると判定する。
なお、より線導体中に圧入するガスをフルオ
ロ・カーボンに限定したのは、フルオロ・カーボ
ン自身が絶縁性であり、水トリーの発生には架橋
ポリエチレンの酸化を伴なうことが知られている
からである。すなわち、水トリーによる架橋ポリ
エチレン絶縁体の酸化生成物を絶縁性のフルオ
ロ・カーボンガスで絶縁体中を通つてシース下に
溶出させるためである。
ロ・カーボンに限定したのは、フルオロ・カーボ
ン自身が絶縁性であり、水トリーの発生には架橋
ポリエチレンの酸化を伴なうことが知られている
からである。すなわち、水トリーによる架橋ポリ
エチレン絶縁体の酸化生成物を絶縁性のフルオ
ロ・カーボンガスで絶縁体中を通つてシース下に
溶出させるためである。
なお、図中7は圧力孔8を有する導体接続スリ
ーブ、9はフルオロ・カーボンガスボンベ、10
はサンプリングチユーブ、11はガス圧入パイ
プ、12はケーブル套管、13はストレスコー
ン、14はシースをそれぞれ示している。
ーブ、9はフルオロ・カーボンガスボンベ、10
はサンプリングチユーブ、11はガス圧入パイ
プ、12はケーブル套管、13はストレスコー
ン、14はシースをそれぞれ示している。
(発明の効果)
以上述べたように本発明においては、CVケー
ブル絶縁体の水トリーによる酸化生成物をフルオ
ロ・カーボンガスにより溶出し、これの成分分析
を行なうことにより水トリーの発生状況を検出し
ているので、従来、電気的な量としては微量なた
めに検出できなかつたケーブル絶縁体の素成変化
すなわち水トリー発生による酸化劣化等を完全に
検出できもつて架橋ポリエチレンケーブルの劣化
程度を判定しうる。
ブル絶縁体の水トリーによる酸化生成物をフルオ
ロ・カーボンガスにより溶出し、これの成分分析
を行なうことにより水トリーの発生状況を検出し
ているので、従来、電気的な量としては微量なた
めに検出できなかつたケーブル絶縁体の素成変化
すなわち水トリー発生による酸化劣化等を完全に
検出できもつて架橋ポリエチレンケーブルの劣化
程度を判定しうる。
図面は、本発明の実施状況を示す説明図であ
る。 1……架橋ポリエチレン絶縁ケーブル、2……
より線導体、3……架橋ポリエチレン絶縁体、4
……シース、5……フルオロ・カーボンガス。
る。 1……架橋ポリエチレン絶縁ケーブル、2……
より線導体、3……架橋ポリエチレン絶縁体、4
……シース、5……フルオロ・カーボンガス。
Claims (1)
- 1 一端シールの架橋ポリエチレン絶縁ケーブル
の他端側のより線導体からフルオロ・カーボンガ
スを圧入して前記ケーブル内を大気圧以上に加圧
し、これによつて前記ケーブルの架橋ポリエチレ
ン絶縁体中の酸化生成物を溶解して前記ケーブル
のシース下に拡散する前記フルオロ・カーボンガ
スを採取し、このフルオロ・カーボンガスの成分
を分析することにより前記ケーブルの架橋ポリエ
チレン絶縁体の劣化程度を判定することを特徴と
する架橋ポリエチレン絶縁ケーブルの劣化判定
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58000806A JPS59126265A (ja) | 1983-01-07 | 1983-01-07 | 架橋ポリエチレン絶縁ケ−ブルの劣化判定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58000806A JPS59126265A (ja) | 1983-01-07 | 1983-01-07 | 架橋ポリエチレン絶縁ケ−ブルの劣化判定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59126265A JPS59126265A (ja) | 1984-07-20 |
| JPH0517507B2 true JPH0517507B2 (ja) | 1993-03-09 |
Family
ID=11483920
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58000806A Granted JPS59126265A (ja) | 1983-01-07 | 1983-01-07 | 架橋ポリエチレン絶縁ケ−ブルの劣化判定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59126265A (ja) |
-
1983
- 1983-01-07 JP JP58000806A patent/JPS59126265A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59126265A (ja) | 1984-07-20 |
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