JPH0518387B2 - - Google Patents

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JPH0518387B2
JPH0518387B2 JP26780386A JP26780386A JPH0518387B2 JP H0518387 B2 JPH0518387 B2 JP H0518387B2 JP 26780386 A JP26780386 A JP 26780386A JP 26780386 A JP26780386 A JP 26780386A JP H0518387 B2 JPH0518387 B2 JP H0518387B2
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JP
Japan
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sampling
flow rate
line
dust
bypass
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP26780386A
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English (en)
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JPS63122984A (ja
Inventor
Mitsuo Ishibashi
Yukinori Sakamoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP26780386A priority Critical patent/JPS63122984A/ja
Publication of JPS63122984A publication Critical patent/JPS63122984A/ja
Publication of JPH0518387B2 publication Critical patent/JPH0518387B2/ja
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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、並列集塵型ダスト放射線モニタに
関する。
(従来の技術) 共通の1台のポンプで並列集塵し、複数のサン
プリングポイントの放射能濃度を並行して測定す
る並列集塵型ダスト放射線モニタとして、従来、
第6図に示すようなものが知られている。これ
は、1台のポンプ1に各々並列にサンプリングラ
イン2a,2b,…,2nが接続されている。各
サンプリングライン2a,2b,…,2nにはろ
紙3a,3b,…,3n、集塵部4a,4b,
…,4n、流量調整弁5a,5b,…,5nが設
けられている。そして、各サンプリングライン2
a,2b,…,2nの流量は予め所定のものとな
るように調整されている。
そして、複数ポイントの放射能濃度を測定する
場合には、ポンプ1を駆動して各サンプリングラ
イン2a,2b,…,2nでサンプリングガスを
吸込み、吸塵部4a,4b,…,4nにおいて各
ろ紙3a,3b,…,3nにサンプリングガス中
の放射性ダストを吸着させ、その放射性ダスト中
の放射能を連続的に測定するものである。
このような従来の並列集塵型ダスト放射線モニ
タでは、一つのサンプリングラインのろ紙の交換
が必要となつたような場合、そのサンプリングラ
インの集塵部を大気開放とし、必要な交換作業を
行なうようにしている。
そこでこのような交換作業を行うならば、一つ
のサンプリングラインの交換時にそのラインが大
気開放となつて系全体の圧力変化が生じ、他のサ
ンプリングラインの流量が変化してしまうことに
なる。
ところが、ダスト放射線モニタでは、各サンプ
リングラインの流量が一定であることを前提にし
てろ紙に吸着されたダストの放射性物質の放射線
を計数し、サンプリングガス中の放射能濃度を演
算で求めるものであるため、流量誤差がそのまま
測定結果の測定誤差になつてしまい、正確な放射
能濃度の測定ができなくなる問題があつた。
(発明が解決しようとする問題点) この発明は、このような従来の問題に鑑みてな
されたものであつて、一つのサンプリングライン
のダスト吸着手段の交換が必要になつたような場
合でも、各サンプリングラインでの流量に変化を
来たすことなく、作業ができる並列集塵型ダスト
放射線モニタを提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) この発明の並列集塵型ダスト放射線モニタは、
各サンプリングラインに流路切換弁を設け、各サ
ンプリングラインに通ずるサンプリングガスの流
量と等しい流量のサンプリングガスまたは大気の
通るバイパスラインを各流路切換弁に接続し、サ
ンプリングラインとバイパスラインとの切換えが
できるようにしたものである。
(作用) この発明の並列集塵型ダスト放射線モニタで
は、各流路切換弁によりサンプリングラインとバ
イパスラインとの切換えができるようにし、一つ
のサンプリングラインを流れるサンプリングガス
の流量が変化するような場合は、流路切換弁にて
バイパスラインに切換え、残りの他のサンプリン
グラインに流量変化が起きないようにする。
(実施例) 以下、この発明の実施例を図に基づいて詳説す
る。第1図はこの発明の一実施例を示している。
この実施例の場合、共通の1台のポンプ11に対
して、n本のサンプリングライン12a,12
b,…,12nが並列に接続されている。各サン
プリングライン12a,12b,…,12nには
それぞれろ紙13a,13b,…,13n、集塵
部14a,14b,…,14n、流量量調整弁1
5a,15b,…,15n、さらに流量計16
a,16b,…,16nが設けられている。そし
て、放射能濃度を測定する場合には、ポンプ11
を駆動して各サンプリングライン12a,12
b,…,12nでサンプリングガスを吸込み、吸
塵部14a,14b,…,14nにおいて連続的
に供給されて来る各ろ紙13a,13b,…,1
3nにサンプリングガス中の放射性ダストを吸着
させ、その放射性ダスト中の放射能を連続的に測
定する。
サンプリングライン12a,12b,…,12
nの流量調整弁15a,15b,…,15nと流
量計16a,16b,…,16nとの間には、そ
れぞれ、流路切換弁17a,17b,…,17n
が設けられている。
各サンプリングライン12a,12b,…,1
2nには、それぞれの集塵部14a,14b,
…,14nより上流側にバイパスライン18a,
18b,…,18nが接続されている。このバイ
パスライン18a,18b,…,18nには、バ
イパス流量調整弁19a,19b,…,19nが
設けられている。そして各バイパスライン18
a,18b,…,18nの出口側端部は、前記各
流路切換弁17a,17b,…,17nに接続さ
れている。
尚、前記ポンプ11にはポンプバイパス弁20
が設けられている。
上記構成の並列集塵型ダスト放射線モニの動作
について次に説明する。各サンプリングライン1
2a,12b,…,12nに流れるサンプリング
ガスの流量は、流量計16a,16b,…,16
nによつて計測され、各ラインのサンプリングガ
スの流量が所定量になるように流量調整弁15
a,15b,…,15nを調整する。またバイパ
スライン18a,18b,…,18nの流量調整
のためにバイパス流量調整弁19a,19b,
…,19nを調整する。
通常、各流路切換弁17a,17b,…,17
nは第1図に示すようにサンプリングライン12
a,12b,…,12n側に設定されており、ポ
ンプ11を作動させることによつて、各サンプリ
ングライン12a,12b,…,12nから集塵
部14a,14b,…,14n、流量調整弁15
a,15b,…,15n、流路切換弁17a,1
7b,…,17nを通じてサンプリングガスが一
定流量で通ぜられる。
この動作時には、集塵部14a,14b,…,
14nにおいて、ろ紙13a,13b,…,13
nがサンプリングガス中の放射性ダストを吸着す
る。そこでこの各ろ紙13a,13b,…,13
nに吸着されたダストの放射能濃度を連続的に測
定し、各サンプリングポイントの放射能濃度が異
常に高くなつていないかどうかを常時監視する。
連続モニタリングにおいては、例えば1つのサ
ンプリングライン12aにおけるろ紙13aが使
いきられたために交換を必要とするような場合が
起こりうる。そのような場合、第2図に示すよう
に、流路切換弁17aをバイパスライン18a側
に切換え、このサンプリングライン12aにおい
ては、集塵部14a、流量調整弁15a部分を通
すかわりに、バイパスライン18aを通してサン
プリングガスを流すようにする。
このように流路切換弁17aにより流路切換え
を行なうならば、特定のサンプリングライン12
aにおけるろ紙13a、集塵部14aの交換作業
や調整のために大気開放を行なう必要が生じて
も、バイパスライン18aを通して予め設定され
た流量のサンプリングガスを、このサンプリング
ライン12aにも通じることができることにな
る。
従つて、他のサンプリングライン12b,…,
12nについては、そこを流れる流量に影響を及
ぼすことがない。
特定のサンプリングライン12aにおける作業
が終了した後は、再び流路切換弁17aをサンプ
リングライン12a側に切換えることにより、バ
イパスライン18aを閉塞し、元のサンプリング
ライン12aを通じてサンプリングガスを所定量
流すようにする。
このように各サンプリング12a,12b,
…,12nに対しバイパスライン18a,18
b,…,18nを設け、流路切換弁17a,17
b,…,17nにより流路切換えが自在にできる
ようにすることにより、特定のサンプリングライ
ンについて、その集塵部14a,14b,…,1
4nの部分の大気開放が必要となつたような場合
でも、バイパスライン18a,18b,…,18
nを通じて一定の流量でサンプリングガスを流す
ことができ、他のサンプリングラインの流量を常
に一定量に保つたままで調整や交換作業ができる
ことになる。
第3図はこの発明の他の実施例を示している。
この実施例の特徴はバイパスライン21a,21
b,…,21nにあり、各バイパスラインの一端
に外気取入用フイルタ22a,22b,…,22
nを設け大気開放とし、外気取入流量をバイパス
流量調整弁を19a,19b,…,19nにより
調整するようにしたものである。なお、第1実施
例と同一部分は同一の符号を付して示してある。
この実施例においても、例えばサンプリングラ
イン12aのろ紙13aの交換や集塵部14aの
調整が必要となつた場合、流路切換弁17aによ
り、バイパスライン21a側に流路を切換え、バ
イパスライン21aを通じてサンプリングライン
12aにも、切換前のサンプリングガス流量と等
しい流量で外気を通じるようにし、他のサンプリ
ングライン12b,…,12nの流量に影響を与
えないで必要な作業ができる。
第4図はこの発明のさらに他の実施例を示して
おり、第1実施例または第2実施例における流量
計16a,16b,…,16nに換えて、流量指
示トランスミツタ23a,23b,…,23nを
設け、これら各流量指示トランスミツタ23a,
23b,…,23nの出力信号を制御部24に入
力し、この制御部24の出力を流路切換弁17
a,17b,…,17nに接続したものである。
この実施例の場合、第5図に示すように、流量
指示トランスミツタ23a,23b,…,23n
の出力信号により制御部24が流量変動監視を行
ない、サンプリングガス流量に変動が生じた場
合、該当するチヤンネルの流路切換弁17a,1
7b,…,17nの切換え動作を自動的に行な
う。
したがつて、ある特定のサンプリングライン1
2a中のろ紙13aが目づまりを起こし、このサ
ンプリングライン12aに流れるサンプリングガ
スの流量が極端に低下するような場合にも、制御
部24は流量指示トランスミツタ23aからの流
量出力信号を受け、流路切換弁17aをバイパス
ライン18a側に自動的に切換え動作する。
この結果、ろ紙の切換やろ紙の目づまり、破損
といつた予期しない不具合が発生し、流量変動が
発生しても、その異常チヤンネルのみ自動的にバ
イパスラインに切換えられ、残りの他のチヤンネ
ルについてはその流量が変動することなく、連続
かつ自動的に放射線モニタリングを続けることが
できることになるのである。
なお、この発明は上記の実施例に限定されるも
のではなく、特許請求の範囲に記載された技術的
思想の範囲内において種々の変形が可能である。
[発明の効果] この発明は上記の構成を有するため、特定のサ
ンプリングラインについてそのサンプリングガス
流量が大きく変化するような場合、流路切換弁に
よつてバイパスライン側に切換え、元の所定流量
の流れを維持することができる。したがつて、他
のサンプリングラインについてその流量に変化を
与えることがなく、正確な放射線モニタリングを
行なうことができる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の系統図、第2図
は上記実施例の動作を示す系統図、第3図はこの
発明の他の実施例の系統図、第4図はこの発明の
さらに他の実施例の系統図、第5図は上記実施例
の動作を示すフローチヤート、第6図は従来例の
系統図である。 11…ポンプ、12a,12b,…,12n…
サンプリングライン、13a,13b,…,13
n…ろ紙、14a,14b,…,14n…集塵
部、17a,17b,…,17n…流路路切換
弁、18a,18b,…,18n…バイパスライ
ン、21a,21b,…,21n…バイパスライ
ン、23a,23b,…,23n…流量指示トラ
ンスミツタ、24…制御部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数のサンプリングラインでサンプリングガ
    スを共通のポンプにて吸気する並列集塵型ダスト
    放射線モニタにあつて、 各サンプリングラインには集塵部とダスト吸着
    手段と流量計と流路切換弁を設け、 前記切換弁には前記集塵部を通るサンプリング
    ガスの流量と同等の流量のガスを通ずるバイパス
    ラインを接続し、 前記サンプリングラインとバイパスラインとを
    切換え可能にして成る並列集塵型ダスト放射線モ
    ニタ。
JP26780386A 1986-11-12 1986-11-12 並列集塵型ダスト放射線モニタ Granted JPS63122984A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26780386A JPS63122984A (ja) 1986-11-12 1986-11-12 並列集塵型ダスト放射線モニタ

Applications Claiming Priority (1)

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JP26780386A JPS63122984A (ja) 1986-11-12 1986-11-12 並列集塵型ダスト放射線モニタ

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JPS63122984A JPS63122984A (ja) 1988-05-26
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JP26780386A Granted JPS63122984A (ja) 1986-11-12 1986-11-12 並列集塵型ダスト放射線モニタ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11264788A (ja) * 1998-03-17 1999-09-28 Horiba Ltd 希釈ガス流量制御装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5975889B2 (ja) * 2013-01-16 2016-08-23 三菱電機株式会社 ダスト・ヨウ素モニタ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH11264788A (ja) * 1998-03-17 1999-09-28 Horiba Ltd 希釈ガス流量制御装置

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JPS63122984A (ja) 1988-05-26

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