JPH0518395B2 - - Google Patents

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JPH0518395B2
JPH0518395B2 JP61153017A JP15301786A JPH0518395B2 JP H0518395 B2 JPH0518395 B2 JP H0518395B2 JP 61153017 A JP61153017 A JP 61153017A JP 15301786 A JP15301786 A JP 15301786A JP H0518395 B2 JPH0518395 B2 JP H0518395B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
alarm
output
flip
frequency dividing
Prior art date
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JP61153017A
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English (en)
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JPS638587A (ja
Inventor
Juji Ishita
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Seikosha KK
Original Assignee
Seikosha KK
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Publication date
Application filed by Seikosha KK filed Critical Seikosha KK
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Publication of JPS638587A publication Critical patent/JPS638587A/ja
Publication of JPH0518395B2 publication Critical patent/JPH0518395B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はテスト機能付集積回路に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
例えば水晶時計用の集積回路においては、高い
精度と信頼性が要求される。そのため製造時に
は、分周回路が正常に動作するかどうか集積回路
の一つ一つをテストする必要があり、このテスト
に要する時間が大きな問題となる。
従来はこのテストを行うために、集積回路にテ
スト用の端子を設け、この端子から分周回路の途
中段にテスト用の高速の外部クロツクパルスを供
給してテストを行つている。このテストの際には
前段の分周段を停止させておく必要があるため、
上記テスト用の端子の他にストツプ用の端子も設
けていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のものでは、テスト用およびストツプ用の
端子を必要とし、そのために集積回路のチツプサ
イズが大きくなり、コストアツプにつながるもの
であつた。
本発明は、テスト専用の端子を付加することな
く機能回路のテストが行えるようにしたテスト機
能付集積回路を提供するものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、アラーム端子に外部からテスト用ク
ロツクパルスを供給することにより所望の分周段
をリセツトするとともに機能回路に上記テスト用
クロツクパルスを供給してテストを行うとともに
アラーム制御回路のテストも同時に行うようにし
たものである。
〔実施例〕
第1図において、1は発振器、2,3は分周
段、4はモータの駆動回路である。この駆動回路
4および分周段3がテストを受ける機能回路を構
成するものである。5はアラーム制御回路で、そ
の入力端子が“1”の間アラーム信号を発生する
ものである。6はアラーム端子、7,8はフリツ
プフロツプ回路、9,10,11はゲート回路で
ある。
以上の構成において、通常時は、アラーム端子
6が“0”になつており、フリツプフロツプ回路
7の出力Qが“0”保持されている。したがつて
アラーム制御回路5は不動作状態に保持され、ゲ
ート回路9,10の出力が“0”に保持されて分
周段2が動作し、分周段3からの出力によつて駆
動回路4からモータの駆動パルスが発生する。
そしてアラーム時刻にアラームスイツチが動作
して第2図Aのようにアラーム端子6が“1”
になると、その後の分周段3の出力Q3からの出
力の立下り(第2図F3図示)によつてフリツプ
フロツプ回路7の出力Q,Qがそれぞれ第2図
PA,PRのように“1”,“0”になり、アラーム
制御回路5が動作してアラーム信号が発生する。
一方、ゲート回路9の出力が第2図Pcのように
“1”になるが、フリツプフロツプ回路8の出力
Qは第2図PEのように“0”に保持されたまま
であり、ゲート回路10の出力が第2図PTのよ
うに“0”に保持される。したがつて分周段2,
3の動作はそのまま保持される。
鳴止めを行うと、アラーム端子6が“0”に反
転し、ゲート回路9の出力が第2図PCのように
“0”に反転し、フリツプフロツプ回路8の出力
Qが第2図PEのように“1”に反転する。とこ
ろがこのときゲート回路10は閉じているため、
ゲート回路10の出力は“0”に保持されたまま
である。その後の分周段3の出力Q3の立下りに
よつてフリツプフロツプ回路7からの出力Q,Q
がそれぞれ第2図PA,PRのように“0”,“1”
に反転する。そのためアラーム制御回路5からの
アラーム信号が停止してアラーム音が停止する。
またフリツプフロツプ回路8がリセツトされて通
常状態に復帰する。
つぎにテスト動作について説明する。この場合
には、アラーム端子6を一旦“1”にしたのち、
第3図Aのようにテスト用クロツクパルスを供
給する。このクロツクパルスが“0”の状態で分
周段3の出力Q3からのパルスが立下がらなけれ
ば、フリツプフロツプ回路7の出力Q,Qはそれ
ぞれ“1”,“0”に保持され、アラーム制御回路
5からアラーム信号が発生するとともにゲート回
路9から上記クロツクパルスが通過する。このク
ロツクパルスによつてフリツプフロツプ回路8の
出力Qが“1”に保持される。そのため上記クロ
ツクパルスが第3図PTのようにゲート回路10
を通過し、さらにゲート回路11を通過して分周
段3に供給される。
一方、上記クロツクパルスは分周段2のリセツ
ト端子に供給され、リセツトがかけられる。上記
クロツクパルスの“0”レベルのパルス幅は分周
段2からの出力パルスのパルス幅の1/2より短
く設定しておくことにより、上記クロツクパルス
の周波数によらず、分周段2から出力が発生する
ことはない。
したがつて上記クロツクパルスによつて分周段
3および駆動回路4がテストされる。
またフリツプフロツプ回路7の出力Qによつて
アラーム制御回路5が動作し、そのテストも同時
に行われる。
なお上記の実施例では、機能回路として分周段
およびモータの駆動回路をテストする場合につい
て説明したが、これに限らず、例えばスヌーズ用
のカウンタ等をテストするようにしてもよい。
〔発明の効果〕
本発明によれば、専用のテスト端子を設けるこ
となく、極めて簡単な構成で機能回路のテストが
行え、集積回路のチツプサイズが小さくてすみコ
ストダウンを図ることができる。しかも同時にア
ラーム音を発生させてアラーム制御回路のテスト
も行うことができる。
特に、機能回路として分周段をテストする場合
には、分周段の途中段からテスト用クロツクパル
スを供給でき、高速でテストが行えるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示した論理回路
図、第2図および第3図は動作説明のためのタイ
ムチヤートである。 2,3……分周段、4……駆動回路、5……ア
ラーム制御回路、6……アラーム端子、7,8…
…フリツプフロツプ回路、9,10,11……ゲ
ート回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 基準周波数信号を分周する分周回路と、この
    分周回路からの出力を受けて動作する機能回路
    と、アラームスイツチの動作によつて所望の電位
    レベルになるアラーム端子と、このアラーム端子
    が上記所望の電位レベルになつたときに一出力を
    生じるフリツプフロツプ回路と、このフリツプフ
    ロツプ回路から上記一出力が生じたときにアラー
    ム信号を発生するアラーム制御回路と、上記フリ
    ツプフロツプ回路から上記一出力が発生した状態
    で上記アラーム端子にテスト用クロツクパルスを
    供給することによつて上記分周回路の所望の分周
    段をリセツトするとともに上記機能回路に上記テ
    スト用クロツクパルスを供給する制御回路とから
    なるテスト機能付集積回路。
JP15301786A 1986-06-30 1986-06-30 テスト機能付集積回路 Granted JPS638587A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15301786A JPS638587A (ja) 1986-06-30 1986-06-30 テスト機能付集積回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15301786A JPS638587A (ja) 1986-06-30 1986-06-30 テスト機能付集積回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS638587A JPS638587A (ja) 1988-01-14
JPH0518395B2 true JPH0518395B2 (ja) 1993-03-11

Family

ID=15553142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15301786A Granted JPS638587A (ja) 1986-06-30 1986-06-30 テスト機能付集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS638587A (ja)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57201885A (en) * 1981-06-08 1982-12-10 Seiko Instr & Electronics Ltd Electronic circuit
JPS58154688A (ja) * 1982-03-09 1983-09-14 Sanyo Electric Co Ltd 電子時計用集積回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPS638587A (ja) 1988-01-14

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