JPH0518722Y2 - - Google Patents

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JPH0518722Y2
JPH0518722Y2 JP1987161833U JP16183387U JPH0518722Y2 JP H0518722 Y2 JPH0518722 Y2 JP H0518722Y2 JP 1987161833 U JP1987161833 U JP 1987161833U JP 16183387 U JP16183387 U JP 16183387U JP H0518722 Y2 JPH0518722 Y2 JP H0518722Y2
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optical fiber
groove
adhesive
substrate
substrates
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JP1987161833U
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Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は光フアイバを用いて構成した研磨型光
フアイバカプラに関する。
〈従来の技術〉 第4図は従来用いられている光フアイバカプラ
の斜視図を示すものである。図において1は例え
ば溶融シリカガラス等からなる一対の基板であ
り、それぞれの基板にはクラツドおよびコアから
なる光フアイバ2が埋め込まれ、例えばa側から
入射した光がb,c側に所定の分岐比で分岐され
る。
第5図a〜cは上記光フアイバカプラの概略製
作工程を示す図で、aは基板1に曲率半径rで光
フアイバ埋設用溝8を形成し、この溝の曲面に沿
つて光フアイバ2を埋設/固定した状態を示す斜
視図である。なお、埋設用溝8の幅は光フアイバ
2の外径と同様かわずかに大きく、深さは溝8に
沿つて埋め込んだ光フアイバのクラツド3の頂部
が基板1の表面よりわずかに低い程度に加工す
る。bは基板1の表面の点線で示す部分を研磨し
た状態を示す斜視図である。研磨は光フアイバの
クラツドとコア4の距離が数μmとなるまで行う
(なお、この距離は実際には測定困難であるので
最終的な研磨量の決定は透過光量を測定しながら
行なう。cは上記a,bの工程で製作した2つの
基板を固定する前の状態を示す斜視図である。こ
の場合、基板は研磨したクラツドのeで示す部分
が密着するように重ねて固定する。
上記構成によれば2つのコアが数μmの所まで
接近した状態で固定されることになる。この様に
コア同士が接近すると、光はそれぞれのコアを独
立に伝搬せず互いに光パワーの授受を行いながら
伝搬する。このため、一方のコアに光を入射する
と、その光は他方のコアに結合する。従つて2本
のコア間の距離と結合部分の長さを調整すること
により必要な分岐比を得ることが出来る。
〈考案が解決しようとする問題点〉 ところで、上記構成の光フアイバカプラを固定
する場合は基板同士を密着させた状態で、合わせ
面から液体性の接着剤をしみ込ませて固定する
が、その様な接着方法においては第6図に示すよ
うに、接着剤5がクラツド3の間にまで浸透する
(なお、図では隙間を誇張して示している)。
第7図はこの様にして製作した光フアイバカプ
ラの温度変化に対するクロストークと分岐比の変
化を示すもので、図によれば温度が低下するに従
つてクロストークが劣化し、分岐比は低温になる
に従つて上昇している。クロストーク低下の原因
は接着剤の収縮、分岐比の劣化は接着剤の屈折率
の変化によるものである。
本考案は上記従来技術の問題点に鑑みて成され
たもので、温度変化に対してクロストークおよび
分岐比の劣化の改善をはかつた光フアイバカプラ
を提供することを目的とする。
〈問題点を解決するための手段〉 上記問題点を解決するための本考案の構成は、 クラツドとコア部からなる光フアイバと、 基板表面の深さ方向に所定の曲率半径rで形成
された前記光フアイバ埋設用溝を有する基板から
なり、前記曲率半径rを有する溝は光フアイバを
埋設/固定したとき曲面に沿つたクラツドの頂部
が基板の表面よりわずかに低い程度の深さとさ
れ、前記光フアイバを埋設した側の表面を前記ク
ラツドとともに研磨して前記コアが露出する数μ
m手前まで除去し、前記基板の2枚を一組とし、
研磨した側のクラツド同士を接触させて固定した
光フアイバカプラにおいて、前記基板の少なくと
も一方に前記光フアイバ埋設用溝を挟んで接着剤
遮断用溝を設けると共に、前記接着剤遮断用溝の
外側のみに接着剤を付着させて前記2枚の基板を
接着したことを特徴とするものである。
〈実施例〉 以下、本考案の一実施例を図面に基づいて説明
する。第3図は基板に埋設/固定した光フアイバ
を挟んで接着剤遮断用の溝9を形成した状態を示
す斜視図である。なお、光フアイバを埋設/固定
するまでは従来例と同様である。また、接着剤遮
断用の溝の位置および幅は、この溝と側面との間
に形成される面積で充分な接着強度が保たれる位
置とするが、溝の底面の形状は任意である。
第1図は本考案の光フアイバカプラの一実施例
を示す断面図で、この例では両方の基板に接着剤
遮断用の溝9を形成してある(なお、図では隙間
を誇張して示している)。
上記構成によれば2つの基板を合せた状態で基
板の側面から接着剤5を流し込んでもその接着剤
は接着剤遮断用溝9に阻止されてクラツド側に進
むことがない。
第2図は他の実施例を示す断面図である。この
実施例では片側の基板のみに接着剤遮断用の溝が
形成されている。ただし、この様な構成のものに
おいては、接着剤遮断用溝9のある基板側を下側
にして接着剤を流し込むようにする必要がある。
〈考案の効果〉 以上、実施例とともに具体的に説明したように
本考案によれば、基板の少なくとも一方の側に接
着剤遮断用の溝を設けたので接着剤がクラツド側
に浸透することがない。その結果、温度変化に基
因するクロストークおよび分岐比の劣化のない光
フアイバカプラを実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す断面図、第2
図は他の実施例を示す断面図、第3図は基板に接
着剤阻止用の溝を形成した状態を示す斜視図、第
4図は従来例を示す斜視図、第5図は従来の概略
製作工程を示す斜視図、第6図は基板間に接着剤
が浸透した従来例を示す図、第7図は光フアイバ
カプラの温度変化に対するクロストークと分岐比
の変化を示すである。 1……基板(溶融石英ガラス等)、2……光フ
アイバ、3……クラツド、4……コア、8……光
フアイバ埋設用溝、9……接着剤阻止用溝。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. クラツドとコア部からなる光フアイバと、基板
    表面の深さ方向に所定の曲率半径rで形成された
    前記光フアイバ埋設用溝を有する基板からなり、
    前記曲率半径rを有する溝は光フアイバを埋設、
    固定したとき曲面に沿つたクラツドの頂部が基板
    の表面よりわずかに低い程度の深さとされ、前記
    光フアイバを埋設した側の表面を前記クラツドと
    ともに研磨して前記コアが露出する数μm手前ま
    で除去し、前記基板の2枚を一組とし、研磨した
    側のクラツド同士を接触させて固定した光フアイ
    バカプラにおいて、前記基板の少なくとも一方に
    前記光フアイバ埋設用溝を挟んで接着剤遮断用溝
    を設けると共に、前記接着剤遮断用溝の外側のみ
    に接着剤を付着させて前記2枚の基板を接着した
    ことを特徴とする光フアイバカプラ。
JP1987161833U 1987-10-22 1987-10-22 Expired - Lifetime JPH0518722Y2 (ja)

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JP1987161833U JPH0518722Y2 (ja) 1987-10-22 1987-10-22

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JPH0167607U JPH0167607U (ja) 1989-05-01
JPH0518722Y2 true JPH0518722Y2 (ja) 1993-05-18

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Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5968715A (ja) * 1982-10-12 1984-04-18 Furukawa Electric Co Ltd:The 分岐用光フアイバ研磨治具及びこれを用いた光分岐器の製造方法
NL8502908A (nl) * 1985-10-24 1987-05-18 Philips Nv Werkwijze voor het vervaardigen van een groot aantal optische componenten.

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JPH0167607U (ja) 1989-05-01

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