JPH0519012A - バーンインテスト装置 - Google Patents
バーンインテスト装置Info
- Publication number
- JPH0519012A JPH0519012A JP3170808A JP17080891A JPH0519012A JP H0519012 A JPH0519012 A JP H0519012A JP 3170808 A JP3170808 A JP 3170808A JP 17080891 A JP17080891 A JP 17080891A JP H0519012 A JPH0519012 A JP H0519012A
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- Japan
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- burn
- furnace
- board
- terminals
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- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】より多くのＬＳＩ５を試験処理し、安価で簡便
なＬＳＩ駆動用の信号発生器で済む。 【構成】ＬＳＩ５を搭載するＢＴ板４とは別に、信号発
生器３ａ、３ｂを搭載する信号発生板６をＢＴ炉１内に
設け、互いに共通に接続する電源端子Ａ及び信号端子
Ｂ、ＣをＢＴ炉１内に取り付け、ＢＴ炉外からの信号線
を無くし、ＢＴ炉内で接続して配線を短かくしている。
なＬＳＩ駆動用の信号発生器で済む。 【構成】ＬＳＩ５を搭載するＢＴ板４とは別に、信号発
生器３ａ、３ｂを搭載する信号発生板６をＢＴ炉１内に
設け、互いに共通に接続する電源端子Ａ及び信号端子
Ｂ、ＣをＢＴ炉１内に取り付け、ＢＴ炉外からの信号線
を無くし、ＢＴ炉内で接続して配線を短かくしている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、固有欠陥および潜在的
不良要因をもつ集積回路装置を除去するためのバーンイ
ンテスト装置に関し、特に実動作状態に近い動作させる
信号発生器を備えるバーンインテスト装置に関する。
不良要因をもつ集積回路装置を除去するためのバーンイ
ンテスト装置に関し、特に実動作状態に近い動作させる
信号発生器を備えるバーンインテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のバーンインテスト装置は
ダイナミックバーンインテスト装置と呼ばれるもので、
高温に設定されたバーンインテスト炉（以下単にＢＴ炉
と呼ぶ）内に多数の集積回路装置（以下単にＬＳＩと呼
ぶ）が搭載されたバーンインボード（以下単にＢＴ板と
呼ぶ）を収納し、ＬＳＩを実状態で動作させ、早期に欠
陥のあるＬＳＩ路装置を発見し取り除くものである。
ダイナミックバーンインテスト装置と呼ばれるもので、
高温に設定されたバーンインテスト炉（以下単にＢＴ炉
と呼ぶ）内に多数の集積回路装置（以下単にＬＳＩと呼
ぶ）が搭載されたバーンインボード（以下単にＢＴ板と
呼ぶ）を収納し、ＬＳＩを実状態で動作させ、早期に欠
陥のあるＬＳＩ路装置を発見し取り除くものである。
【０００３】図２は従来の一例を示すバーンインテスト
装置のブロック図である。このバーンインテスト装置
は、図２に示すように、ＬＳＩが複数個取り付けられた
ＢＴ板４ａと、このＢＴ板４ａを収納するＢＴ炉１ａ
と、ＢＴ炉１ａの外にあって、ＢＴ炉１ａの共通電源端
子Ａ、信号共通端子Ｂ、Ｃと配線で接続される定電圧電
源２、信号発生器７ａ及び７ｂとを有していた。また、
ＢＴ板４ａはアース端子Ｄで接続され、それぞれＬＳＩ
は接地されていた。
装置のブロック図である。このバーンインテスト装置
は、図２に示すように、ＬＳＩが複数個取り付けられた
ＢＴ板４ａと、このＢＴ板４ａを収納するＢＴ炉１ａ
と、ＢＴ炉１ａの外にあって、ＢＴ炉１ａの共通電源端
子Ａ、信号共通端子Ｂ、Ｃと配線で接続される定電圧電
源２、信号発生器７ａ及び７ｂとを有していた。また、
ＢＴ板４ａはアース端子Ｄで接続され、それぞれＬＳＩ
は接地されていた。
【０００４】図３（ａ）及び（ｂ）は従来の他の例を示
し、（ａ）はバーンインテスト装置の全体のブロック
図、（ｂ）はＢＴ板の回路図である。また、別の例とし
て、例えば、図２（ａ）及び（ｂ）に示すように、信号
発生器３ａ及び３ｂがＬＳＩ５ａが取り付けられている
ＢＴ板４ｂにある場合がある。
し、（ａ）はバーンインテスト装置の全体のブロック
図、（ｂ）はＢＴ板の回路図である。また、別の例とし
て、例えば、図２（ａ）及び（ｂ）に示すように、信号
発生器３ａ及び３ｂがＬＳＩ５ａが取り付けられている
ＢＴ板４ｂにある場合がある。
【０００５】いずれのバーンインテスト装置でも、信号
発生器によりＬＳＩが実際の動作を行ない、その稼働の
状態を検査することによって不良のＬＳＩを抽出してい
た。
発生器によりＬＳＩが実際の動作を行ない、その稼働の
状態を検査することによって不良のＬＳＩを抽出してい
た。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述した
従来のバーンインテスト装置では、前者の場合は、電源
及び信号の入出力をＢＴ炉外より長い配線を介して行な
われ、抵抗損失だけではなくクロストークあるいは容量
の増加による信号波形のなまり等を起すことから、それ
に応じた高価な信号発生器を必要とする欠点がある。
従来のバーンインテスト装置では、前者の場合は、電源
及び信号の入出力をＢＴ炉外より長い配線を介して行な
われ、抵抗損失だけではなくクロストークあるいは容量
の増加による信号波形のなまり等を起すことから、それ
に応じた高価な信号発生器を必要とする欠点がある。
【０００７】一方、後者のバーンインテスト装置では、
ＢＴ板に信号発生器を組込むため、それだけ搭載される
ＬＳＩの個数が少なくなり、処理数が減るという欠点が
ある。 本発明の目的は、かかる問題を解消すべくより
多くの数のＬＳＩを処理し、安価で簡便なバーンインテ
スト装置を提供することである。
ＢＴ板に信号発生器を組込むため、それだけ搭載される
ＬＳＩの個数が少なくなり、処理数が減るという欠点が
ある。 本発明の目的は、かかる問題を解消すべくより
多くの数のＬＳＩを処理し、安価で簡便なバーンインテ
スト装置を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のバーンインテス
ト装置は、内部を試験温度にするとともに複数の共通電
源端子及び複数の共通信号端子とを内壁に取り付けられ
るバーンインテスト炉と、このバーンインテスト炉の外
にあって前記共通電源端子と配線を介して接続される定
電圧電源と、信号発生器が取り付けられるとともに前記
共通電源端子及び共通信号端子と接続される端子を有
し、前記バーンインテスト炉に収納される第１のバーン
インボードと、複数の集積回路装置が取り付けられると
ともに前記共通電源端子及び共通信号端子と前記集積回
路装置の入出力線を介して接続され、前記バーンインテ
スト炉に収納される第２のバーンインボードとを備えて
いる。
ト装置は、内部を試験温度にするとともに複数の共通電
源端子及び複数の共通信号端子とを内壁に取り付けられ
るバーンインテスト炉と、このバーンインテスト炉の外
にあって前記共通電源端子と配線を介して接続される定
電圧電源と、信号発生器が取り付けられるとともに前記
共通電源端子及び共通信号端子と接続される端子を有
し、前記バーンインテスト炉に収納される第１のバーン
インボードと、複数の集積回路装置が取り付けられると
ともに前記共通電源端子及び共通信号端子と前記集積回
路装置の入出力線を介して接続され、前記バーンインテ
スト炉に収納される第２のバーンインボードとを備えて
いる。
【０００９】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【００１０】図１（ａ）及び（ｂ）は本発明の一実施例
を示し、（ａ）は装置のブロック図、（ｂ）はＢＴ板の
回路図である。このバーンインテスト装置は、同図に示
すように、内部を試験温度にするとともに複数の共通電
電源端子Ａ及び複数の共通信号端子Ｂ、Ｃとを内壁に取
り付けられるＢＴ炉１と、このＢＴ炉１の外にあって共
通電源端子Ａと配線を介して接続される定電圧電源２
と、信号発生器３ａ、３ｂが取り付けられるとともに共
通電源端子Ａ及び共通信号端子Ｂ、Ｃと接続される端子
を有し、ＢＴ炉１に収納されるＢＴ板である信号発生板
６と、複数のＬＳＩ５が取り付けられるとともに共通電
源端子Ａ及び共通信号端子Ｂ、ＣとＬＳＩの入出力線を
介して接続され、ＢＴ炉に収納されるＢＴ板４とを備え
ている。
を示し、（ａ）は装置のブロック図、（ｂ）はＢＴ板の
回路図である。このバーンインテスト装置は、同図に示
すように、内部を試験温度にするとともに複数の共通電
電源端子Ａ及び複数の共通信号端子Ｂ、Ｃとを内壁に取
り付けられるＢＴ炉１と、このＢＴ炉１の外にあって共
通電源端子Ａと配線を介して接続される定電圧電源２
と、信号発生器３ａ、３ｂが取り付けられるとともに共
通電源端子Ａ及び共通信号端子Ｂ、Ｃと接続される端子
を有し、ＢＴ炉１に収納されるＢＴ板である信号発生板
６と、複数のＬＳＩ５が取り付けられるとともに共通電
源端子Ａ及び共通信号端子Ｂ、ＣとＬＳＩの入出力線を
介して接続され、ＢＴ炉に収納されるＢＴ板４とを備え
ている。
【００１１】また、図面には示していないが、この共通
信号端子Ｂ、Ｃ及び共通電源端子Ａは、各ＢＴ板４のプ
ラグインされる端子列ソケットにそれぞれ共通して設け
られており、この端子列ソケットはＢＴ炉の内壁に取付
けられており、ＢＴ板４は並列に接続されている。
信号端子Ｂ、Ｃ及び共通電源端子Ａは、各ＢＴ板４のプ
ラグインされる端子列ソケットにそれぞれ共通して設け
られており、この端子列ソケットはＢＴ炉の内壁に取付
けられており、ＢＴ板４は並列に接続されている。
【００１２】このように、信号発生器を一つのＢＴ板に
搭載し、ＢＴ炉１内で配線してやれば、ＢＴ炉１の外と
内との複雑な配線が不用になり、抵抗損失や不要な容量
の増大による信号波形のなまりを考慮しなくて済み、き
わめて簡便な信号発生器で済むことになる。
搭載し、ＢＴ炉１内で配線してやれば、ＢＴ炉１の外と
内との複雑な配線が不用になり、抵抗損失や不要な容量
の増大による信号波形のなまりを考慮しなくて済み、き
わめて簡便な信号発生器で済むことになる。
【００１３】また、この実施例では一枚の信号発生板で
複数枚のＢＴ板のＬＳＩを駆動しているが、二枚あるい
は三枚の信号発生板でＢＴ板郡を駆動しても良い。さら
に、一枚の信号発生板に搭載される信号発生器の個数に
ついても、特に限定するもではない。
複数枚のＢＴ板のＬＳＩを駆動しているが、二枚あるい
は三枚の信号発生板でＢＴ板郡を駆動しても良い。さら
に、一枚の信号発生板に搭載される信号発生器の個数に
ついても、特に限定するもではない。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＢＴ炉に
収納される複数のＬＳＩのみが搭載されるＢＴ板と、Ｌ
ＳＩを駆動する信号発生器のみを搭載されるＢＴ板と、
各ＢＴ板の電源共通端子及び信号を入出力する共通信号
端子をＢＴ炉内壁に設けることによって、ＢＴ炉内でよ
り短い信号線及び電源線を接続出来るので、より多くの
ＬＳＩが処理できるとともにより安価で簡便なバーンイ
ンテスト装置が得られるという効果がある
収納される複数のＬＳＩのみが搭載されるＢＴ板と、Ｌ
ＳＩを駆動する信号発生器のみを搭載されるＢＴ板と、
各ＢＴ板の電源共通端子及び信号を入出力する共通信号
端子をＢＴ炉内壁に設けることによって、ＢＴ炉内でよ
り短い信号線及び電源線を接続出来るので、より多くの
ＬＳＩが処理できるとともにより安価で簡便なバーンイ
ンテスト装置が得られるという効果がある
【図１】本発明の一実施例を示し、（ａ）は装置のブロ
ック図、（ｂ）はＢＴ板の回路図である。
ック図、（ｂ）はＢＴ板の回路図である。
【図２】従来の一例を示すバーンインテスト装置のブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】従来の他の例を示し、（ａ）はバーンインテス
ト装置の全体のブロック図、（ｂ）はＢＴ板の回路図で
ある。
ト装置の全体のブロック図、（ｂ）はＢＴ板の回路図で
ある。
１、１ａ ＢＴ炉 ２ 定電圧電源 ３ａ、３ｂ、７ａ、７ｂ 信号発生器 ４、４ａ、４ｂ ＢＴ板 ５、５ａ ＬＳＩ ６ 信号発生板
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 内部を試験温度にするとともに複数の共
通電源端子及び複数の共通信号端子とを内壁に取り付け
られるバーンインテスト炉と、 このバーンインテスト炉の外にあって前記共通電源端子
と配線を介して接続される定電圧電源と、 信号発生器が取り付けられるとともに前記共通電源端子
及び共通信号端子と接続される端子を有し、前記バーン
インテスト炉に収納される第１のバーンインボードと、 複数の集積回路装置が取り付けられるとともに前記共通
電源端子及び共通信号端子と前記集積回路装置の入出力
線を介して接続され、前記バーンインテスト炉に収納さ
れる第２のバーンインボードとを備えることを特徴とす
るバーンインテスト装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3170808A JPH0519012A (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | バーンインテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3170808A JPH0519012A (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | バーンインテスト装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0519012A true JPH0519012A (ja) | 1993-01-26 |
Family
ID=15911726
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3170808A Pending JPH0519012A (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | バーンインテスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0519012A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5574384A (en) * | 1995-01-31 | 1996-11-12 | Tabai Espec Corp. | Combined board construction for burn-in and burn-in equipment for use with combined board |
| CN1330971C (zh) * | 2003-06-20 | 2007-08-08 | 统宝光电股份有限公司 | 老化测试系统 |
-
1991
- 1991-07-11 JP JP3170808A patent/JPH0519012A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5574384A (en) * | 1995-01-31 | 1996-11-12 | Tabai Espec Corp. | Combined board construction for burn-in and burn-in equipment for use with combined board |
| CN1330971C (zh) * | 2003-06-20 | 2007-08-08 | 统宝光电股份有限公司 | 老化测试系统 |
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