JPH0519029A - 遮断器の合成等価試験回路 - Google Patents
遮断器の合成等価試験回路Info
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- JPH0519029A JPH0519029A JP3172158A JP17215891A JPH0519029A JP H0519029 A JPH0519029 A JP H0519029A JP 3172158 A JP3172158 A JP 3172158A JP 17215891 A JP17215891 A JP 17215891A JP H0519029 A JPH0519029 A JP H0519029A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】供試遮断器の遮断性能をより精度良く検証する
ことができ、ＴＲＶが供試遮断器に印加されないなど性
能検証試験の失敗の無い効率の良い試験回路を提供す
る。 【構成】供試遮断器１に短絡大電流を供給する電流源回
路と、コンデンサ９から電圧源電流を短絡大電流に重畳
する電圧源回路と、第一の補助スイッチ，第二の補助ス
イッチ２１，供試遮断器１を介して短絡小電流を供給す
る第二の電流源回路と、第二の電流源回路に、電流注入
回路とを備えた四パラメータＴＲＶ発生合成等価試験回
路。
ことができ、ＴＲＶが供試遮断器に印加されないなど性
能検証試験の失敗の無い効率の良い試験回路を提供す
る。 【構成】供試遮断器１に短絡大電流を供給する電流源回
路と、コンデンサ９から電圧源電流を短絡大電流に重畳
する電圧源回路と、第一の補助スイッチ，第二の補助ス
イッチ２１，供試遮断器１を介して短絡小電流を供給す
る第二の電流源回路と、第二の電流源回路に、電流注入
回路とを備えた四パラメータＴＲＶ発生合成等価試験回
路。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電力用遮断器の大電流遮
断性能を検証するための合成等価試験回路に係り、特
に、四パラメータ過渡回復電圧（Transient Recovery V
oltage；以下、ＴＲＶと略す。)発生回路に関する。
断性能を検証するための合成等価試験回路に係り、特
に、四パラメータ過渡回復電圧（Transient Recovery V
oltage；以下、ＴＲＶと略す。)発生回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、大容量電力用遮断器の高電圧化が
図られ、定格電圧３６２〜５５０ｋＶの遮断器が一相当
り一遮断点で構成出来るようになってきている。
図られ、定格電圧３６２〜５５０ｋＶの遮断器が一相当
り一遮断点で構成出来るようになってきている。
【０００３】一方、電力用遮断器の遮断試験に関する国
際規格(International Electrotec-hnical Commission)
や、電気規格調査会標準規格（Japanese Electrotechni
calCommittee；以下、ＪＥＣと略す。)では、電流遮断
後に供試遮断器の極間に印加する電圧波形として、電圧
波高値が遅れて現われる、いわゆる、四パラメータＴＲ
Ｖを規定している。これは、ＴＲＶ電圧波形の初期波高
時間と波高時間、及びそのそれぞれの時間に対応する初
期波高値と波高値との四つのパラメータを規定し、この
四パラメータＴＲＶに耐圧すれば供試遮断器は所望の遮
断性能をもつと判定するものである。これに対して、従
来から遮断性能の検証に広く用いられてきたワイル（Ｗ
ｅｉｌ）合成等価試験回路では、回路の発生するＴＲＶ
波形が単一周波の振動であって、波高時間と波高値で規
定する二パラメータＴＲＶと呼ばれているものであるた
め、これを四パラメータＴＲＶが発生出来るように改善
する多くの提案がなされた。しかし、遮断器の一遮断点
当りの高電圧化に伴う試験回路設備の経済性や技術的な
課題があって、一般的に広く普及するには至っていな
い。このため、波高時間の長い四パラメータＴＲＶをよ
り経済的に、且つ、技術的に容易に発生出来る合成等価
試験回路の開発が望まれている。
際規格(International Electrotec-hnical Commission)
や、電気規格調査会標準規格（Japanese Electrotechni
calCommittee；以下、ＪＥＣと略す。)では、電流遮断
後に供試遮断器の極間に印加する電圧波形として、電圧
波高値が遅れて現われる、いわゆる、四パラメータＴＲ
Ｖを規定している。これは、ＴＲＶ電圧波形の初期波高
時間と波高時間、及びそのそれぞれの時間に対応する初
期波高値と波高値との四つのパラメータを規定し、この
四パラメータＴＲＶに耐圧すれば供試遮断器は所望の遮
断性能をもつと判定するものである。これに対して、従
来から遮断性能の検証に広く用いられてきたワイル（Ｗ
ｅｉｌ）合成等価試験回路では、回路の発生するＴＲＶ
波形が単一周波の振動であって、波高時間と波高値で規
定する二パラメータＴＲＶと呼ばれているものであるた
め、これを四パラメータＴＲＶが発生出来るように改善
する多くの提案がなされた。しかし、遮断器の一遮断点
当りの高電圧化に伴う試験回路設備の経済性や技術的な
課題があって、一般的に広く普及するには至っていな
い。このため、波高時間の長い四パラメータＴＲＶをよ
り経済的に、且つ、技術的に容易に発生出来る合成等価
試験回路の開発が望まれている。
【０００４】図３は従来の四パラメータＴＲＶ発生回路
の一実施例で、図４は図３の回路現象説明図である。こ
の四パラメータＴＲＶ発生回路は、１９８８年１月発行
の文献アイ・イー・イー，トランザクション，オン，パ
ワー，デリベリー，３巻１号（IEEE Transaction on Po
wer Delivery,Vol.3,No.1）に開示されている。
の一実施例で、図４は図３の回路現象説明図である。こ
の四パラメータＴＲＶ発生回路は、１９８８年１月発行
の文献アイ・イー・イー，トランザクション，オン，パ
ワー，デリベリー，３巻１号（IEEE Transaction on Po
wer Delivery,Vol.3,No.1）に開示されている。
【０００５】図３において、図示の供試遮断器１より右
側は高電圧の電圧源回路、左側は低電圧の電流源回路で
ある。商用周波数の電源２から電流調整用のリアクトル
３，短絡変圧器４，補助遮断器５，補助スイッチ６、及
び供試遮断器１を通して電流源電流ｉｃを供給する。こ
こで、サージアブソーバ７が電流源の保護用として図示
の位置に接続されることが多い。
側は高電圧の電圧源回路、左側は低電圧の電流源回路で
ある。商用周波数の電源２から電流調整用のリアクトル
３，短絡変圧器４，補助遮断器５，補助スイッチ６、及
び供試遮断器１を通して電流源電流ｉｃを供給する。こ
こで、サージアブソーバ７が電流源の保護用として図示
の位置に接続されることが多い。
【０００６】電流源電流ｉｃを通電後、例えば、ほぼ同
時に供試遮断器１，補助遮断器５、及び補助スイッチ６
を開極する。図４に示すように、電流源電流ｉｃの最終
零点直前で制御ギャップ８を放電して、予め充電してあ
るコンデンサ９から制御ギャップ８，リアクトル１０，
補助スイッチ６、及び供試遮断器１を介して電圧源電流
ｉｖを電流源電流ｉｃに重畳する。例えば、ＪＥＣ規格
によれば、電流重畳法による電圧源電流ｉｖの重畳時点
は、電流源電流ｉｃの零時点より前であり、且つ、ｉｖ
のみの期間ｔ0 は、電圧源電流ｉｖの周期Ｔの１／８〜
１／４の範囲になければならないと規定されている。
時に供試遮断器１，補助遮断器５、及び補助スイッチ６
を開極する。図４に示すように、電流源電流ｉｃの最終
零点直前で制御ギャップ８を放電して、予め充電してあ
るコンデンサ９から制御ギャップ８，リアクトル１０，
補助スイッチ６、及び供試遮断器１を介して電圧源電流
ｉｖを電流源電流ｉｃに重畳する。例えば、ＪＥＣ規格
によれば、電流重畳法による電圧源電流ｉｖの重畳時点
は、電流源電流ｉｃの零時点より前であり、且つ、ｉｖ
のみの期間ｔ0 は、電圧源電流ｉｖの周期Ｔの１／８〜
１／４の範囲になければならないと規定されている。
【０００７】供試遮断器１が最終的に電圧源電流ｉｖの
遮断に成功すると、コンデンサ９の残留電圧によって図
３，図４に示すように、電流i1は抵抗１１，コンデンサ
12b、電流ｉ2は抵抗１３，コンデンサ１４、さらに電流
ｉ3はリアクトル１５，抵抗１６の直列回路をそれぞれ
流れる。結局、コンデンサ１２aには（ｉ1−ｉ3)、コン
デンサ１７には（ｉ2＋ｉ3）の電流が流れる。ここで、
コンデンサ１４の静電容量はコンデンサ１２と１７に比
べてかなり小さく設定している。このため、電圧源電流
ｉｖが供試遮断器１により遮断されると、電流ｉ2とコ
ンデンサ１４，１７の電圧降下として、図４に示される
ような目標ＴＲＶの初期部分であるTRV1が発生する。回
路条件を適切に選ぶと電流ｉ2 の零点ｔ20を電流ｉ1の
零点ｔ10より早い時点に発生することが出来る。補助ス
イッチ６が電流ｉ2 を零点ｔ20で遮断すると、もし、リ
アクトル１５と抵抗１６の直列回路が無ければ、図４に
一点鎖線で示すように供試遮断器１の端子電圧は初期波
高値Ｕ1 に近い一定値を保ち続ける。電圧の大部分はコ
ンデンサ１４の端子間で分担されており、コンデンサ１
７の端子間電圧は十分低い。電流ｉ2 の遮断後に、引き
続き電流 ｉ3によってコンデンサ１７が充電されるた
め、ＴＲＶ2 で示すように電圧が遅れて高められる。こ
の結果、供試遮断器１には（ＴＲＶ1＋ＴＲＶ2）で示さ
れる四パラメータ表示に適したＴＲＶ波形を印加するこ
とが出来る。
遮断に成功すると、コンデンサ９の残留電圧によって図
３，図４に示すように、電流i1は抵抗１１，コンデンサ
12b、電流ｉ2は抵抗１３，コンデンサ１４、さらに電流
ｉ3はリアクトル１５，抵抗１６の直列回路をそれぞれ
流れる。結局、コンデンサ１２aには（ｉ1−ｉ3)、コン
デンサ１７には（ｉ2＋ｉ3）の電流が流れる。ここで、
コンデンサ１４の静電容量はコンデンサ１２と１７に比
べてかなり小さく設定している。このため、電圧源電流
ｉｖが供試遮断器１により遮断されると、電流ｉ2とコ
ンデンサ１４，１７の電圧降下として、図４に示される
ような目標ＴＲＶの初期部分であるTRV1が発生する。回
路条件を適切に選ぶと電流ｉ2 の零点ｔ20を電流ｉ1の
零点ｔ10より早い時点に発生することが出来る。補助ス
イッチ６が電流ｉ2 を零点ｔ20で遮断すると、もし、リ
アクトル１５と抵抗１６の直列回路が無ければ、図４に
一点鎖線で示すように供試遮断器１の端子電圧は初期波
高値Ｕ1 に近い一定値を保ち続ける。電圧の大部分はコ
ンデンサ１４の端子間で分担されており、コンデンサ１
７の端子間電圧は十分低い。電流ｉ2 の遮断後に、引き
続き電流 ｉ3によってコンデンサ１７が充電されるた
め、ＴＲＶ2 で示すように電圧が遅れて高められる。こ
の結果、供試遮断器１には（ＴＲＶ1＋ＴＲＶ2）で示さ
れる四パラメータ表示に適したＴＲＶ波形を印加するこ
とが出来る。
【０００８】以上のような四パラメータＴＲＶ発生回路
を実用化する際に最も問題になるのは補助スイッチ６で
あり、以下に述べる経済性の点，供試遮断器１の遮断性
能評価の点から、さらに改善が望まれていた。
を実用化する際に最も問題になるのは補助スイッチ６で
あり、以下に述べる経済性の点，供試遮断器１の遮断性
能評価の点から、さらに改善が望まれていた。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術例は、補
助スイッチ６にも電流源電流ｉｃが通電する方式であ
り、補助スイッチ６の遮断部は大電流アークによって損
傷を受ける。このため、試験ごとに遮断部の部品交換等
の保守点検が必要であり、設備運用上の経済性の点で改
善が必要であった。また、補助スイッチ６は大電流アー
クの処理を必要とするため比較的大きな遮断性能が要求
される。補助スイッチ６でも電流源電流ｉｃを遮断する
ため、電流源電流ｉｃの減少や電流零点近傍の変歪等の
増大の原因となる。このため、直列に遮断する供試遮断
器１の遮断を助勢して遮断性能を過大に評価してしまう
懸念もあった。
助スイッチ６にも電流源電流ｉｃが通電する方式であ
り、補助スイッチ６の遮断部は大電流アークによって損
傷を受ける。このため、試験ごとに遮断部の部品交換等
の保守点検が必要であり、設備運用上の経済性の点で改
善が必要であった。また、補助スイッチ６は大電流アー
クの処理を必要とするため比較的大きな遮断性能が要求
される。補助スイッチ６でも電流源電流ｉｃを遮断する
ため、電流源電流ｉｃの減少や電流零点近傍の変歪等の
増大の原因となる。このため、直列に遮断する供試遮断
器１の遮断を助勢して遮断性能を過大に評価してしまう
懸念もあった。
【００１０】本発明の目的は、補助スイッチ６の遮断部
の部品交換等の保守点検作業を大幅に軽減することにあ
る。本発明の他の目的は、電流源電流ｉｃが通電する補
助スイッチの数を最小限とし、電流源電流ｉｃの減少や
電流零点近傍の変歪等の増大を抑制することによって供
試遮断器１の遮断性能をより精度良く検証出来るように
することにある。さらに、本発明の他の目的は、四パラ
メータＴＲＶが供試遮断器１に印加されないといった遮
断性能検証試験の失敗の無い効率の良い合成等価試験回
路を提供することにある。
の部品交換等の保守点検作業を大幅に軽減することにあ
る。本発明の他の目的は、電流源電流ｉｃが通電する補
助スイッチの数を最小限とし、電流源電流ｉｃの減少や
電流零点近傍の変歪等の増大を抑制することによって供
試遮断器１の遮断性能をより精度良く検証出来るように
することにある。さらに、本発明の他の目的は、四パラ
メータＴＲＶが供試遮断器１に印加されないといった遮
断性能検証試験の失敗の無い効率の良い合成等価試験回
路を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、電流源電流ｉｃは供試遮断器１と補助遮断器５のみ
に通電し、補助スイッチ６には別電源から少なくとも電
流源電流ｉｃの１／１０〜１／１００程度の小さい短絡
小電流ｉaを供給するようにしたものである。さらに、
回路条件、遮断器で生じるアーク電圧等で発生する電流
遮断零点近傍での電流源電流ｉｃと短絡小電流ｉａの零
点の位相差の制御を目的として、短絡小電流ｉａ回路側
に予め充電したコンデンサ，制御ギャップ，抵抗からな
る電流重畳回路とを備えたものである。
に、電流源電流ｉｃは供試遮断器１と補助遮断器５のみ
に通電し、補助スイッチ６には別電源から少なくとも電
流源電流ｉｃの１／１０〜１／１００程度の小さい短絡
小電流ｉaを供給するようにしたものである。さらに、
回路条件、遮断器で生じるアーク電圧等で発生する電流
遮断零点近傍での電流源電流ｉｃと短絡小電流ｉａの零
点の位相差の制御を目的として、短絡小電流ｉａ回路側
に予め充電したコンデンサ，制御ギャップ，抵抗からな
る電流重畳回路とを備えたものである。
【００１２】
【作用】補助スイッチ６には大電流の電流源電流ｉｃを
通電せず、補助スイッチ６のアークを維持する微小電流
を遮断するだけなので、遮断部はアークによって受ける
損傷がほとんど無く、試験ごとの遮断部の部品交換等の
保守点検が不要になる。また、補助スイッチ６は小電流
アークの処理をすれば良く、比較的遮断性能の低い遮断
器が使用可能になる。補助スイッチ６には電流源電流ｉ
ｃは流れないので、電流源電流ｉｃの減少や電流零点近
傍の変歪等の発生を抑制出来る。よって、供試遮断器１
の遮断性能をより精度良く検証出来る。さらに、電流重
畳回路を備えて電流源電流ｉｃと短絡小電流ｉａの零点
の位相差制御を行うことにより、供試遮断器１へのＴＲ
Ｖ印加を確実なものとすることが出来る。
通電せず、補助スイッチ６のアークを維持する微小電流
を遮断するだけなので、遮断部はアークによって受ける
損傷がほとんど無く、試験ごとの遮断部の部品交換等の
保守点検が不要になる。また、補助スイッチ６は小電流
アークの処理をすれば良く、比較的遮断性能の低い遮断
器が使用可能になる。補助スイッチ６には電流源電流ｉ
ｃは流れないので、電流源電流ｉｃの減少や電流零点近
傍の変歪等の発生を抑制出来る。よって、供試遮断器１
の遮断性能をより精度良く検証出来る。さらに、電流重
畳回路を備えて電流源電流ｉｃと短絡小電流ｉａの零点
の位相差制御を行うことにより、供試遮断器１へのＴＲ
Ｖ印加を確実なものとすることが出来る。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の実施例を図１，図２により説
明する。図１は本発明の合成等価試験回路の実施例で、
図２は、図１の回路の電流零点現象の説明図である。
明する。図１は本発明の合成等価試験回路の実施例で、
図２は、図１の回路の電流零点現象の説明図である。
【００１４】図１に示した本発明の実施例と図３の従来
例との相違点は、電流源電流ｉｃを補助スイッチ６には
通電せず、供試遮断器１と補助遮断器５の直列回路にの
みに流すようにしたところにある。さらに、電源２に結
線した第二の短絡変圧器１８、第二のリアクトル１９か
らなる第二の電流源回路を新たに設け、第二の短絡変圧
器１８の二次側の電流制限用リアクトル２０，第二の補
助スイッチ２１を介して少なくとも電流源電流ｉｃの１
／１０〜１／１００程度の小さい短絡小電流ｉａを補助
スイッチ６に供給するようにしたものである。短絡小電
流ｉａは、補助スイッチ６からさらに供試遮断器１と短
絡変圧器４のアース側を通って第二の短絡変圧器１８に
帰るように流れる。第二の補助スイッチ２１は、補助遮
断器５と同様に、電流を通電した後に電圧源回路側から
第二の電流源回路を切り離すためのものである。さら
に、第二の電流源回路には、供試遮断器１，補助スイッ
チ６，第二の補助スイッチ２１の直列回路と閉回路を構
成するように設けた第二の制御ギャップ２２，抵抗２３
及び、図示していない充電装置を備えた第二のコンデン
サ２４から成る電流重畳回路を設けている。ここで、短
絡変圧器４側のサージアブソーバ７と同様に、短絡変圧
器１８側にもサージアブソーバ２５を設けている。
例との相違点は、電流源電流ｉｃを補助スイッチ６には
通電せず、供試遮断器１と補助遮断器５の直列回路にの
みに流すようにしたところにある。さらに、電源２に結
線した第二の短絡変圧器１８、第二のリアクトル１９か
らなる第二の電流源回路を新たに設け、第二の短絡変圧
器１８の二次側の電流制限用リアクトル２０，第二の補
助スイッチ２１を介して少なくとも電流源電流ｉｃの１
／１０〜１／１００程度の小さい短絡小電流ｉａを補助
スイッチ６に供給するようにしたものである。短絡小電
流ｉａは、補助スイッチ６からさらに供試遮断器１と短
絡変圧器４のアース側を通って第二の短絡変圧器１８に
帰るように流れる。第二の補助スイッチ２１は、補助遮
断器５と同様に、電流を通電した後に電圧源回路側から
第二の電流源回路を切り離すためのものである。さら
に、第二の電流源回路には、供試遮断器１，補助スイッ
チ６，第二の補助スイッチ２１の直列回路と閉回路を構
成するように設けた第二の制御ギャップ２２，抵抗２３
及び、図示していない充電装置を備えた第二のコンデン
サ２４から成る電流重畳回路を設けている。ここで、短
絡変圧器４側のサージアブソーバ７と同様に、短絡変圧
器１８側にもサージアブソーバ２５を設けている。
【００１５】試験時は、まず供試遮断器１，補助遮断器
５及び補助スイッチ６，第二の補助スイッチ２１を閉じ
ている。第一の電流源回路からの電流源電流ｉｃを供試
遮断器１と補助遮断器５に、一方、第二の電流源回路か
らの短絡小電流ｉａを第二の補助スイッチ２１，補助ス
イッチ６及び供試遮断器１に通電する。その後、例え
ば、ほぼ同時に供試遮断器１と補助遮断器５とを開き、
引き続き補助スイッチ６，第二の補助スイッチ２１を開
く。そのときの電流零点近傍の各電流の関係を図２に示
している。各部の電流ｉｃ，ｉｖ，ｉb，(ｉａ＋ｉ
ｂ)，(ｉｃ+ｉｖ+ｉａ＋ｉｂ）は、それぞれ図１に示し
た分流器２６，２７，２８，２９，３０によって測定さ
れる。電流源電流ｉｃの最終零点直前で制御ギャップ８
を放電して、予め充電してあるコンデンサ９から制御ギ
ャップ８，リアクトル１０，補助スイッチ６及び供試遮
断器１を介して電圧源電流ｉｖを供給する。この時、短
絡小電流ｉａの零点は、供試遮断器１と補助遮断器５で
大電流の電流源電流ｉｃを遮断することによって生じる
アーク電圧が短絡変圧器４の一次側を介して短絡変圧器
１８を励磁することが主な原因で、電流源電流ｉｃの零
点に対して時間ｔａだけ遅れる。例えば、ＪＥＣ規格に
よれば、電圧源電流ｉｖのみの期間ｔ0 は、電圧源電流
ｉｖの周期Ｔの１／８〜１／４の範囲になければならな
いと規定されている。この時間ｔａが時間ｔ0 より大き
くなった場合には、電圧源電流ｉｖの零点で第二の補助
スイッチ２１が短絡小電流ｉａにより導通しているた
め、電圧源電流ｉｖは、第二の補助スイッチ２１，短絡
変圧器１８及び短絡変圧器４のアース側を介してさらに
半波流れる。この場合には、電圧源電流ｉｖの零点で供
試遮断器１にＴＲＶが印加されないため、遮断性能検証
試験は失敗する。これを防止するため本実施例では、電
流重畳回路の第二の放電ギャップ２２を電圧源電流ｉｖ
が重畳した直後の時間ｔｂに放電させ、予め充電された
第二のコンデンサ２４からの放電電流ｉｂを短絡小電流
ｉａに対して逆方向に重畳して短絡小電流ｉａの零点を
強制的に進めるようにしたものである。電流（ｉａ＋ｉ
ｂ）は、ｉｂの重畳直後に迎える零点で第二の補助スイ
ッチ２１により遮断される。電流（ｉａ＋ｉｂ）遮断後
ｉｂは、電流制限用リアクトル２０，短絡変圧器１８を
介して引き続き流れる。その後、補助遮断器５によって
電流ｉｃが遮断され、さらに供試遮断器１が電流ｉｖを
遮断した後は、図３で示した従来例と同様に四パラメー
タ表示に適したＴＲＶ波形を供試遮断器１に印加するこ
とが出来る。ここで、第二の放電ギャップ２２の放電時
期ｔｂは、電圧源電流ｉｖが短絡大電流ｉｃに重畳した
時点からｉｖが遮断される時点の直前としなければなら
ない。しかし、電流重畳法による合成等価試験では、電
流零点に至る電流傾斜と、その後、印加されるＴＲＶの
電圧上昇率を実系統での条件と一致させることが要求さ
れる。遮断性能を左右するｉｖの電流零点に至る電流傾
斜に影響を与えないないようにするためには、その放電
時期ｔｂは、ｉｖがｉｃに重畳した時点からｉｃが遮断
される時点の範囲内とすることが望ましい。
５及び補助スイッチ６，第二の補助スイッチ２１を閉じ
ている。第一の電流源回路からの電流源電流ｉｃを供試
遮断器１と補助遮断器５に、一方、第二の電流源回路か
らの短絡小電流ｉａを第二の補助スイッチ２１，補助ス
イッチ６及び供試遮断器１に通電する。その後、例え
ば、ほぼ同時に供試遮断器１と補助遮断器５とを開き、
引き続き補助スイッチ６，第二の補助スイッチ２１を開
く。そのときの電流零点近傍の各電流の関係を図２に示
している。各部の電流ｉｃ，ｉｖ，ｉb，(ｉａ＋ｉ
ｂ)，(ｉｃ+ｉｖ+ｉａ＋ｉｂ）は、それぞれ図１に示し
た分流器２６，２７，２８，２９，３０によって測定さ
れる。電流源電流ｉｃの最終零点直前で制御ギャップ８
を放電して、予め充電してあるコンデンサ９から制御ギ
ャップ８，リアクトル１０，補助スイッチ６及び供試遮
断器１を介して電圧源電流ｉｖを供給する。この時、短
絡小電流ｉａの零点は、供試遮断器１と補助遮断器５で
大電流の電流源電流ｉｃを遮断することによって生じる
アーク電圧が短絡変圧器４の一次側を介して短絡変圧器
１８を励磁することが主な原因で、電流源電流ｉｃの零
点に対して時間ｔａだけ遅れる。例えば、ＪＥＣ規格に
よれば、電圧源電流ｉｖのみの期間ｔ0 は、電圧源電流
ｉｖの周期Ｔの１／８〜１／４の範囲になければならな
いと規定されている。この時間ｔａが時間ｔ0 より大き
くなった場合には、電圧源電流ｉｖの零点で第二の補助
スイッチ２１が短絡小電流ｉａにより導通しているた
め、電圧源電流ｉｖは、第二の補助スイッチ２１，短絡
変圧器１８及び短絡変圧器４のアース側を介してさらに
半波流れる。この場合には、電圧源電流ｉｖの零点で供
試遮断器１にＴＲＶが印加されないため、遮断性能検証
試験は失敗する。これを防止するため本実施例では、電
流重畳回路の第二の放電ギャップ２２を電圧源電流ｉｖ
が重畳した直後の時間ｔｂに放電させ、予め充電された
第二のコンデンサ２４からの放電電流ｉｂを短絡小電流
ｉａに対して逆方向に重畳して短絡小電流ｉａの零点を
強制的に進めるようにしたものである。電流（ｉａ＋ｉ
ｂ）は、ｉｂの重畳直後に迎える零点で第二の補助スイ
ッチ２１により遮断される。電流（ｉａ＋ｉｂ）遮断後
ｉｂは、電流制限用リアクトル２０，短絡変圧器１８を
介して引き続き流れる。その後、補助遮断器５によって
電流ｉｃが遮断され、さらに供試遮断器１が電流ｉｖを
遮断した後は、図３で示した従来例と同様に四パラメー
タ表示に適したＴＲＶ波形を供試遮断器１に印加するこ
とが出来る。ここで、第二の放電ギャップ２２の放電時
期ｔｂは、電圧源電流ｉｖが短絡大電流ｉｃに重畳した
時点からｉｖが遮断される時点の直前としなければなら
ない。しかし、電流重畳法による合成等価試験では、電
流零点に至る電流傾斜と、その後、印加されるＴＲＶの
電圧上昇率を実系統での条件と一致させることが要求さ
れる。遮断性能を左右するｉｖの電流零点に至る電流傾
斜に影響を与えないないようにするためには、その放電
時期ｔｂは、ｉｖがｉｃに重畳した時点からｉｃが遮断
される時点の範囲内とすることが望ましい。
【００１６】
【発明の効果】本実施例によれば、補助スイッチ６と第
二の補助スイッチ２１には大電流の電流源電流ｉｃを通
電しないため、遮断部はアークによって受ける損傷がほ
とんど無く、試験ごとの遮断部の部品交換等の保守点検
が不要になる。よって設備運用上の経済性の点での改善
出来る効果がある。また、補助スイッチ６は小電流アー
クの処理をすれば良く、比較的遮断性能の低い遮断器が
使用可能になる。補助スイッチ６には電流源電流ｉｃは
流れないので、電流源電流ｉｃの減少や電流零点近傍の
変歪等の発生を抑制して供試遮断器１の遮断性能をより
精度良く検証出来る効果がある。さらに、電流重畳回路
を備えて電流源電流ｉｃと短絡小電流ｉａの零点の位相
差制御を行うことにより、供試遮断器１へのＴＲＶ印加
を確実なものとすることが出来る。
二の補助スイッチ２１には大電流の電流源電流ｉｃを通
電しないため、遮断部はアークによって受ける損傷がほ
とんど無く、試験ごとの遮断部の部品交換等の保守点検
が不要になる。よって設備運用上の経済性の点での改善
出来る効果がある。また、補助スイッチ６は小電流アー
クの処理をすれば良く、比較的遮断性能の低い遮断器が
使用可能になる。補助スイッチ６には電流源電流ｉｃは
流れないので、電流源電流ｉｃの減少や電流零点近傍の
変歪等の発生を抑制して供試遮断器１の遮断性能をより
精度良く検証出来る効果がある。さらに、電流重畳回路
を備えて電流源電流ｉｃと短絡小電流ｉａの零点の位相
差制御を行うことにより、供試遮断器１へのＴＲＶ印加
を確実なものとすることが出来る。
【図１】本発明の実施例による遮断器の合成等価試験回
路図。
路図。
【図２】図１の実施例の電流零点現象の説明図。
【図３】従来の遮断器の合成等価試験回路図。
【図４】図３の従来例の電流現象の説明図。
１…供試遮断器、２…電源、３，１９…リアクトル、４
…短絡変圧器、５…補助遮断器、６…補助スイッチ、８
…制御ギャップ、９…コンデンサ、１８…短絡変圧器、
２０…電流制限用リアクトル、２１…第二の補助スイッ
チ、２２…第二の制御ギャップ、２３…抵抗、２４…第
二のコンデンサ。
…短絡変圧器、５…補助遮断器、６…補助スイッチ、８
…制御ギャップ、９…コンデンサ、１８…短絡変圧器、
２０…電流制限用リアクトル、２１…第二の補助スイッ
チ、２２…第二の制御ギャップ、２３…抵抗、２４…第
二のコンデンサ。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 黒沢 幸夫
茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日
立製作所日立研究所内
(72)発明者 佐藤 稔
茨城県日立市国分町一丁目１番１号 株式
会社日立製作所国分工場内
Claims (2)
- 【請求項１】第一の電流源回路と、第一のコンデンサか
ら第一の放電ギャップ，第一のリアクトル，第一の補助
スイッチ，供試遮断器を介して電流源電流の零点直前に
電圧源電流を重畳する電圧源回路と、第二の補助スイッ
チを介し、さらに前記第一の補助スイッチ、前記供試遮
断器を経由して帰路する小電流を供給する第二の電流源
回路と、前記供試遮断器，前記第一の補助スイッチ，前
記第二の補助スイッチと直列に閉回路を構成する第二の
放電ギャップと第二のコンデンサから成る電流重畳回路
とを備えたことを特徴とする遮断器の合成等価試験回
路。 - 【請求項２】請求項１において、前記第二の放電ギャッ
プの放電時期を、前記電圧源電流が前記電流源電流に重
畳した時点から前記電圧源電流が遮断される時点までの
範囲内とした遮断器の合成等価試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3172158A JPH0519029A (ja) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | 遮断器の合成等価試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3172158A JPH0519029A (ja) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | 遮断器の合成等価試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0519029A true JPH0519029A (ja) | 1993-01-26 |
Family
ID=15936650
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3172158A Pending JPH0519029A (ja) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | 遮断器の合成等価試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0519029A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012106953A1 (zh) * | 2011-02-12 | 2012-08-16 | 中兴通讯股份有限公司 | 负载过流保护器状态检测装置及方法 |
| CN104062579A (zh) * | 2014-06-20 | 2014-09-24 | 中国船舶重工集团公司第七一二研究所 | 断路器电弧电压特性试验装置及试验方法 |
| JP2022532577A (ja) * | 2019-07-10 | 2022-07-15 | 中国南方電网有限責任公司超高圧輸電公司検修試験中心 | 直流高速スイッチの総合性能を評価する方法 |
-
1991
- 1991-07-12 JP JP3172158A patent/JPH0519029A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012106953A1 (zh) * | 2011-02-12 | 2012-08-16 | 中兴通讯股份有限公司 | 负载过流保护器状态检测装置及方法 |
| US9116211B2 (en) | 2011-02-12 | 2015-08-25 | Zte Corporation | Device and method for detecting state of overload and overcurrent protector |
| CN104062579A (zh) * | 2014-06-20 | 2014-09-24 | 中国船舶重工集团公司第七一二研究所 | 断路器电弧电压特性试验装置及试验方法 |
| CN104062579B (zh) * | 2014-06-20 | 2016-11-02 | 中国船舶重工集团公司第七一二研究所 | 断路器电弧电压特性试验装置及试验方法 |
| JP2022532577A (ja) * | 2019-07-10 | 2022-07-15 | 中国南方電网有限責任公司超高圧輸電公司検修試験中心 | 直流高速スイッチの総合性能を評価する方法 |
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