JPH05223905A - 遮断器の合成試験装置 - Google Patents
遮断器の合成試験装置Info
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- JPH05223905A JPH05223905A JP3036992A JP3036992A JPH05223905A JP H05223905 A JPH05223905 A JP H05223905A JP 3036992 A JP3036992 A JP 3036992A JP 3036992 A JP3036992 A JP 3036992A JP H05223905 A JPH05223905 A JP H05223905A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】経済性に優れ、技術的に容易な４パラメータＴ
ＲＶ波形を発生する合成試験回路と、従来の２パラメー
タＴＲＶ波形を発生する合成試験回路とを用いて遮断器
の遮断性能を総合的に判定することにより、経済的，時
間的効率の向上を図る。 【構成】熱破壊現象に対する性能検証は、電圧源電流遮
断時点の電流零における電流変化率と、電流遮断後の初
期上昇率を規格値と一致させた２パラメータＴＲＶ発生
合成試験回路により、誘導破壊現象に対する性能検証
は、少なくともＴＲＶ波形を規格波形と一致させた４パ
ラメータＴＲＶ波形発生合成試験回路により試験するよ
うにした。
ＲＶ波形を発生する合成試験回路と、従来の２パラメー
タＴＲＶ波形を発生する合成試験回路とを用いて遮断器
の遮断性能を総合的に判定することにより、経済的，時
間的効率の向上を図る。 【構成】熱破壊現象に対する性能検証は、電圧源電流遮
断時点の電流零における電流変化率と、電流遮断後の初
期上昇率を規格値と一致させた２パラメータＴＲＶ発生
合成試験回路により、誘導破壊現象に対する性能検証
は、少なくともＴＲＶ波形を規格波形と一致させた４パ
ラメータＴＲＶ波形発生合成試験回路により試験するよ
うにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電力用遮断器の遮断性能
を検証するための合成試験装置に係る。
を検証するための合成試験装置に係る。
【０００２】
【従来の技術】近年、大容量電力用遮断器の高電圧化が
図られ、定格電圧５５０kV級の遮断器が一相当り一遮断
点で構成出来るようになってきている。これらの電力用
遮断器の遮断性能を検証する遮断試験に関する国際規格
(International Electrotechn-ical Commission；略称
ＩＥＣ)や、電気規格調査会標準規格(Japanese Electro
-technical Committee；略称ＪＥＣ)では、電流遮断後
に供試遮断器の極間に印加される過渡回復電圧(Transie
nt recovery voltage；以下、ＴＲＶと略す。)波形とし
て、電圧波高値が遅れて現われる、いわゆる、４パラメ
ータＴＲＶを規定している。これは、ＴＲＶ波形の初期
波高時間と波高時間、及びそれぞれの時間に対応する初
期波高値と波高値との四つのパラメータを規定し、この
４パラメータＴＲＶに耐圧すれば供試遮断器は所望の遮
断性能を有すると判定するものである。これに対して、
従来から遮断性能の検証に広く用いられてきたワイルー
ドプケ法の合成試験回路では、回路の発生するＴＲＶ波
形が単一周波の振動であって、波高時間と波高値で規定
する２パラメータＴＲＶ波形と呼ばれているものであ
り、これを４パラメータＴＲＶ波形が発生出来るように
改善する多くの提案がなされた。しかし、遮断器の一遮
断点当りの高電圧化に伴う試験回路設備増強に対する経
済性や試験法の技術的な課題があって、一般に広く普及
するには至っていない。このため、その経済性に優れ、
技術的に容易な４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成
試験回路の開発が望まれている。
図られ、定格電圧５５０kV級の遮断器が一相当り一遮断
点で構成出来るようになってきている。これらの電力用
遮断器の遮断性能を検証する遮断試験に関する国際規格
(International Electrotechn-ical Commission；略称
ＩＥＣ)や、電気規格調査会標準規格(Japanese Electro
-technical Committee；略称ＪＥＣ)では、電流遮断後
に供試遮断器の極間に印加される過渡回復電圧(Transie
nt recovery voltage；以下、ＴＲＶと略す。)波形とし
て、電圧波高値が遅れて現われる、いわゆる、４パラメ
ータＴＲＶを規定している。これは、ＴＲＶ波形の初期
波高時間と波高時間、及びそれぞれの時間に対応する初
期波高値と波高値との四つのパラメータを規定し、この
４パラメータＴＲＶに耐圧すれば供試遮断器は所望の遮
断性能を有すると判定するものである。これに対して、
従来から遮断性能の検証に広く用いられてきたワイルー
ドプケ法の合成試験回路では、回路の発生するＴＲＶ波
形が単一周波の振動であって、波高時間と波高値で規定
する２パラメータＴＲＶ波形と呼ばれているものであ
り、これを４パラメータＴＲＶ波形が発生出来るように
改善する多くの提案がなされた。しかし、遮断器の一遮
断点当りの高電圧化に伴う試験回路設備増強に対する経
済性や試験法の技術的な課題があって、一般に広く普及
するには至っていない。このため、その経済性に優れ、
技術的に容易な４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成
試験回路の開発が望まれている。
【０００３】一方、例えば、ＪＥＣ規格では、試験での
ＴＲＶ波形が規格の４パラメータＴＲＶ波形をカバー出
来ない場合は、連続した複数の試験によるマルチパート
試験法を規定している。これは、第１の試験でのＴＲＶ
が初期波高値に至るまでの条件を満たし、第２の試験で
のＴＲＶが波高値に至るまでの条件を満たすこととし、
この二つの試験でＴＲＶの中間の値が十分にカバーされ
ない場合は第３の試験を行うこととしている。一般的に
用いられている２パラメータＴＲＶ波形によるマルチパ
ート試験法では、遮断性能検証項目の１条件に対して実
際には少なくとも３回以上の試験が必要であり、遮断器
として要求される総ての性能検証項目について検証する
ためには、多くの試験回数を要していた。遮断試験で
は、電流を遮断することによって遮断器極間がアークに
より損傷するため、その部品交換が必要であること、ま
た、遮断試験自体に多くの時間を必要とし、出来るだけ
試験回数の低減による経済的，時間的効率の向上が望ま
れていた。
ＴＲＶ波形が規格の４パラメータＴＲＶ波形をカバー出
来ない場合は、連続した複数の試験によるマルチパート
試験法を規定している。これは、第１の試験でのＴＲＶ
が初期波高値に至るまでの条件を満たし、第２の試験で
のＴＲＶが波高値に至るまでの条件を満たすこととし、
この二つの試験でＴＲＶの中間の値が十分にカバーされ
ない場合は第３の試験を行うこととしている。一般的に
用いられている２パラメータＴＲＶ波形によるマルチパ
ート試験法では、遮断性能検証項目の１条件に対して実
際には少なくとも３回以上の試験が必要であり、遮断器
として要求される総ての性能検証項目について検証する
ためには、多くの試験回数を要していた。遮断試験で
は、電流を遮断することによって遮断器極間がアークに
より損傷するため、その部品交換が必要であること、ま
た、遮断試験自体に多くの時間を必要とし、出来るだけ
試験回数の低減による経済的，時間的効率の向上が望ま
れていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】以上に述べたように、
遮断器の一遮断点当りの高電圧化に伴う試験回路設備増
強に対する経済性に優れ、技術的に容易な４パラメータ
ＴＲＶ波形を発生する合成試験回路の開発が望まれてい
ること、また、従来から用いられているマルチパート試
験法での試験回数の低減によって、遮断試験に対する経
済的，時間的効率の向上が必要とされていた。
遮断器の一遮断点当りの高電圧化に伴う試験回路設備増
強に対する経済性に優れ、技術的に容易な４パラメータ
ＴＲＶ波形を発生する合成試験回路の開発が望まれてい
ること、また、従来から用いられているマルチパート試
験法での試験回数の低減によって、遮断試験に対する経
済的，時間的効率の向上が必要とされていた。
【０００５】本発明の目的は、経済性に優れ、技術的に
容易な４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験回路
と、従来の２パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験
回路とを用いて遮断器の遮断性能を総合的に判定するこ
とにより、経済的，時間的効率の向上を図ることにあ
る。
容易な４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験回路
と、従来の２パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験
回路とを用いて遮断器の遮断性能を総合的に判定するこ
とにより、経済的，時間的効率の向上を図ることにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明はＴＲＶ初期部の熱破壊現象に対する性能検
証は、少なくとも電圧源電流遮断時点の電流零における
電流変化率と、電流遮断後のＴＲＶの初期上昇率を規格
値と一致させた２パラメータＴＲＶ波形を発生する合成
試験回路により、ＴＲＶ初期部以降の誘導破壊現象に対
する性能検証は、少なくともＴＲＶ波形を規格波形と一
致させた４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験回
路により、試験するようにした。
に、本発明はＴＲＶ初期部の熱破壊現象に対する性能検
証は、少なくとも電圧源電流遮断時点の電流零における
電流変化率と、電流遮断後のＴＲＶの初期上昇率を規格
値と一致させた２パラメータＴＲＶ波形を発生する合成
試験回路により、ＴＲＶ初期部以降の誘導破壊現象に対
する性能検証は、少なくともＴＲＶ波形を規格波形と一
致させた４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験回
路により、試験するようにした。
【０００７】
【作用】４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験回
路において、ＴＲＶ波形のみを規格波形と一致させ、電
圧源電流遮断時点の電流零における電流変化率、すなわ
ち、電圧源電流値を規格値より小さく設定することで、
電圧源回路に必要なコンデンサ容量を小さく構成するこ
とが出来る。このため、遮断器の一遮断点当りの高電圧
化に伴う試験回路設備の増強を最小限として回路構成が
可能となる。この４パラメータＴＲＶ波形を発生する合
成試験回路と、少なくとも、電圧源電流遮断時点の電流
零における電流変化率と、電流遮断後のＴＲＶの初期上
昇率とを規格値と一致させた２パラメータＴＲＶ波形を
発生する合成試験回路とにより遮断試験を行うことによ
り、性能検証項目の１条件に対して２回の試験で検証が
可能となる。
路において、ＴＲＶ波形のみを規格波形と一致させ、電
圧源電流遮断時点の電流零における電流変化率、すなわ
ち、電圧源電流値を規格値より小さく設定することで、
電圧源回路に必要なコンデンサ容量を小さく構成するこ
とが出来る。このため、遮断器の一遮断点当りの高電圧
化に伴う試験回路設備の増強を最小限として回路構成が
可能となる。この４パラメータＴＲＶ波形を発生する合
成試験回路と、少なくとも、電圧源電流遮断時点の電流
零における電流変化率と、電流遮断後のＴＲＶの初期上
昇率とを規格値と一致させた２パラメータＴＲＶ波形を
発生する合成試験回路とにより遮断試験を行うことによ
り、性能検証項目の１条件に対して２回の試験で検証が
可能となる。
【０００８】
【実施例】図１は、電流重畳法による４パラメータＴＲ
Ｖ波形発生回路の一実施例で、図２は図１の回路現象説
明図である。この４パラメータＴＲＶ波形発生回路の電
圧１９８８年１月発行の文献アイ・イー・イー・イー，
トランザクション，オン，パワー，デリベリー「「IEEE
Transaction on Power Delivery」の第３巻第１号第２
３３頁の図３，図４に開示されており、この実施例は、
その回路の改良案として特願平2−242369 号明細書で新
たに提案されている。
Ｖ波形発生回路の一実施例で、図２は図１の回路現象説
明図である。この４パラメータＴＲＶ波形発生回路の電
圧１９８８年１月発行の文献アイ・イー・イー・イー，
トランザクション，オン，パワー，デリベリー「「IEEE
Transaction on Power Delivery」の第３巻第１号第２
３３頁の図３，図４に開示されており、この実施例は、
その回路の改良案として特願平2−242369 号明細書で新
たに提案されている。
【０００９】図１において、図示の供試遮断器１より右
側は高電圧の電圧源回路、左側は低電圧の電流源回路で
ある。商用周波数の電源２から電流調整用のリアクトル
３，短絡変圧器４，第一補助遮断器５、及び供試遮断器
１を通して電流源電流icを供給する。同時に、電源２に
電流調整用のリアクトル６を介して並列結線した第２の
短絡変圧器７から、２次側の電流制限用リアクトル８、
第２の補助遮断器９を介して少なくとも電流源電流icの
１／１０〜１／１００程度の小さい短絡小電流iaを補助
スイッチ１０に供給するようにしたものである。短絡小
電流iaは、補助スイッチ１０からさらに供試遮断器１と
短絡変圧器４のアース側を通って第２の短絡変圧器７に
帰るように流れる。第２の補助遮断器９は、補助遮断器
５と同様に、電流を通電した後に電圧源回路側から第２
の短絡変圧器７の回路を切り離すためのものである。こ
こで、サージアブソーバ１１，１２が電流源の保護用と
して図示の位置に接続されることが多い。また、１３
は、それぞれの電流を測定するための分流器である。
側は高電圧の電圧源回路、左側は低電圧の電流源回路で
ある。商用周波数の電源２から電流調整用のリアクトル
３，短絡変圧器４，第一補助遮断器５、及び供試遮断器
１を通して電流源電流icを供給する。同時に、電源２に
電流調整用のリアクトル６を介して並列結線した第２の
短絡変圧器７から、２次側の電流制限用リアクトル８、
第２の補助遮断器９を介して少なくとも電流源電流icの
１／１０〜１／１００程度の小さい短絡小電流iaを補助
スイッチ１０に供給するようにしたものである。短絡小
電流iaは、補助スイッチ１０からさらに供試遮断器１と
短絡変圧器４のアース側を通って第２の短絡変圧器７に
帰るように流れる。第２の補助遮断器９は、補助遮断器
５と同様に、電流を通電した後に電圧源回路側から第２
の短絡変圧器７の回路を切り離すためのものである。こ
こで、サージアブソーバ１１，１２が電流源の保護用と
して図示の位置に接続されることが多い。また、１３
は、それぞれの電流を測定するための分流器である。
【００１０】電流源電流icと短絡小電流iaを通電後、例
えば、ほぼ同時に供試遮断器１，補助遮断器５、及び第
二の補助遮断器９を開極する。図２に示すように、電流
源電流icと短絡小電流iaの最終零点直前で制御ギャップ
１４を放電して、予め充電してあるコンデンサ１５から
制御ギャップ１４，リアクトル１６，補助スイッチ１
０、及び供試遮断器１を介して電圧源電流ivを電流源電
流icに重畳する。例えば、ＪＥＣ規格によれば、電流重
畳法による電圧源電流ivの重畳時点は、電流源電流icの
零時点より前であり、且つ、ivのみの期間t0は、電圧源
電流ivの周期の１／８〜１／４の範囲になければならな
いと規定されている。また、電圧源電流ivの周波数は、
商用周波数の１０倍程度に選ばれるのが普通である。
えば、ほぼ同時に供試遮断器１，補助遮断器５、及び第
二の補助遮断器９を開極する。図２に示すように、電流
源電流icと短絡小電流iaの最終零点直前で制御ギャップ
１４を放電して、予め充電してあるコンデンサ１５から
制御ギャップ１４，リアクトル１６，補助スイッチ１
０、及び供試遮断器１を介して電圧源電流ivを電流源電
流icに重畳する。例えば、ＪＥＣ規格によれば、電流重
畳法による電圧源電流ivの重畳時点は、電流源電流icの
零時点より前であり、且つ、ivのみの期間t0は、電圧源
電流ivの周期の１／８〜１／４の範囲になければならな
いと規定されている。また、電圧源電流ivの周波数は、
商用周波数の１０倍程度に選ばれるのが普通である。
【００１１】まず、補助遮断器５と第二の補助遮断器９
がそれぞれ電流源電流icと短絡小電流iaを遮断し、その
後、供試遮断器１が最終的に電圧源電流ivの遮断に成功
すると、コンデンサ１５の残留電圧によって図１，図２
に示すように、電流ｉ1 は抵抗１７，コンデンサ１８
b，電流ｉ2は抵抗１９，コンデンサ２０、さらに電流ｉ
3 はリアクトル２１，抵抗２２の直列回路をそれぞれ流
れる。結局、コンデンサ１８ａには（ｉ1−ｉ3）、コン
デンサ２３には（ｉ2＋ｉ3）の電流が流れる。ここで、
コンデンサ２０の静電容量はコンデンサ２３と１８に比
べてかなり小さく設定している。このため、電圧源電流
ivが供試遮断器１により遮断されると、電流ｉ2 とコン
デンサ２０，２３の電圧降下として、図２に示されるよ
うな目標ＴＲＶの初期部分であるＴＲＶ1が発生する。
補助スイッチ１０が電流ｉ2を遮断し、もし、リアクト
ル２１と抵抗２２の直列回路が無ければ、図２に一点斜
線で示すように供試遮断器１の端子電圧は初期波高値Ｕ
1 に近い一定値を保ち続ける。電圧の大部分はコンデン
サ２０の端子間で分担されており、コンデンサ２３の端
子間電圧は十分低い。電流ｉ2遮断後に、引き続き電流
ｉ3によってコンデンサ２３が充電されるため、ＴＲＶ
2 で示すように電圧が遅れて高められる。この結果、供
試遮断器１には(ＴＲＶ1＋ＴＲＶ2)で示される４パラメ
ータＴＲＶ表示に適したＴＲＶ波形を印加することが出
来る。この回路は、回路を切り替える補助スイッチ１０
としては通常用いられているパッファ式ガス遮断器等の
構造簡単な遮断器が使用可能で、技術的に容易に４パラ
メータＴＲＶ波形を発生出来る特徴が有る。
がそれぞれ電流源電流icと短絡小電流iaを遮断し、その
後、供試遮断器１が最終的に電圧源電流ivの遮断に成功
すると、コンデンサ１５の残留電圧によって図１，図２
に示すように、電流ｉ1 は抵抗１７，コンデンサ１８
b，電流ｉ2は抵抗１９，コンデンサ２０、さらに電流ｉ
3 はリアクトル２１，抵抗２２の直列回路をそれぞれ流
れる。結局、コンデンサ１８ａには（ｉ1−ｉ3）、コン
デンサ２３には（ｉ2＋ｉ3）の電流が流れる。ここで、
コンデンサ２０の静電容量はコンデンサ２３と１８に比
べてかなり小さく設定している。このため、電圧源電流
ivが供試遮断器１により遮断されると、電流ｉ2 とコン
デンサ２０，２３の電圧降下として、図２に示されるよ
うな目標ＴＲＶの初期部分であるＴＲＶ1が発生する。
補助スイッチ１０が電流ｉ2を遮断し、もし、リアクト
ル２１と抵抗２２の直列回路が無ければ、図２に一点斜
線で示すように供試遮断器１の端子電圧は初期波高値Ｕ
1 に近い一定値を保ち続ける。電圧の大部分はコンデン
サ２０の端子間で分担されており、コンデンサ２３の端
子間電圧は十分低い。電流ｉ2遮断後に、引き続き電流
ｉ3によってコンデンサ２３が充電されるため、ＴＲＶ
2 で示すように電圧が遅れて高められる。この結果、供
試遮断器１には(ＴＲＶ1＋ＴＲＶ2)で示される４パラメ
ータＴＲＶ表示に適したＴＲＶ波形を印加することが出
来る。この回路は、回路を切り替える補助スイッチ１０
としては通常用いられているパッファ式ガス遮断器等の
構造簡単な遮断器が使用可能で、技術的に容易に４パラ
メータＴＲＶ波形を発生出来る特徴が有る。
【００１２】以上の４パラメータＴＲＶ波形発生回路に
おいて、ＴＲＶ波形を変えずに、例えば、電圧源電流iv
を規格値の１／３に設定すれば、コンデンサ１５，１８
の容量をそれぞれ約１／３に低減することが可能であ
る。遮断器の一遮断点当りの高電圧化に伴う電圧源回路
設備増強に対する経済性を考慮すると、コンデンサ容量
の低減は、その効果が最も大きい。しかし、電圧源電流
ivすなわち、電圧源電流遮断時点の電流零における電流
変化率が規格値以下となるため、ＴＲＶ初期部の熱破壊
現象の領域での性能検証に対しては規格で定めた条件を
満たすことが出来なくなる欠点が有る。そこで、その熱
破壊現象の領域での性能検証に対しては、従来から用い
られているワイルードプケ法の合成試験回路による試験
を追加することでその問題を解決することが出来る。
おいて、ＴＲＶ波形を変えずに、例えば、電圧源電流iv
を規格値の１／３に設定すれば、コンデンサ１５，１８
の容量をそれぞれ約１／３に低減することが可能であ
る。遮断器の一遮断点当りの高電圧化に伴う電圧源回路
設備増強に対する経済性を考慮すると、コンデンサ容量
の低減は、その効果が最も大きい。しかし、電圧源電流
ivすなわち、電圧源電流遮断時点の電流零における電流
変化率が規格値以下となるため、ＴＲＶ初期部の熱破壊
現象の領域での性能検証に対しては規格で定めた条件を
満たすことが出来なくなる欠点が有る。そこで、その熱
破壊現象の領域での性能検証に対しては、従来から用い
られているワイルードプケ法の合成試験回路による試験
を追加することでその問題を解決することが出来る。
【００１３】次に、そのワイルードプケ法の合成試験回
路を図３，図４を用いて簡単に説明する。図３は、２パ
ラメータＴＲＶ波形発生回路であるワイルードプケ法の
合成試験回路の実施例で、図４は図３の回路現象説明図
である。
路を図３，図４を用いて簡単に説明する。図３は、２パ
ラメータＴＲＶ波形発生回路であるワイルードプケ法の
合成試験回路の実施例で、図４は図３の回路現象説明図
である。
【００１４】図３において、図示の供試遮断器２４より
右側は高電圧の電圧源回路、左側は低電圧の電流源回路
である。商用周波数の電源２５から電流調整用のリアク
トル２６，短絡変圧器２７，補助遮断器２８、及び供試
遮断器２４を通して電流源電流icを供給する。ここで、
２９はサージアブソーバ、３０はそれぞれの電流を測定
するための分流器である。
右側は高電圧の電圧源回路、左側は低電圧の電流源回路
である。商用周波数の電源２５から電流調整用のリアク
トル２６，短絡変圧器２７，補助遮断器２８、及び供試
遮断器２４を通して電流源電流icを供給する。ここで、
２９はサージアブソーバ、３０はそれぞれの電流を測定
するための分流器である。
【００１５】電流源電流icを通電後、例えば、ほぼ同時
に供試遮断器２４，補助遮断器２８を開極する。図４に
示すように、電流源電流icの最終零点直前で制御ギャッ
プ３１を放電して、予め充電してあるコンデンサ３２か
ら制御ギャップ３１，リアクトル３３を介して電圧源電
流ivを電流源電流icに重畳する。電圧源電流iv遮断後、
供試遮断器２４には、ＴＲＶ調整用抵抗３４とコンデン
サ３５、及びコンデンサ３２とリアクトル３３とで決ま
る単一振動のＴＲＶが印加される。このTRVの例は、初
期波高時間ｔ1 までの領域をカバーする波形で示してい
る。
に供試遮断器２４，補助遮断器２８を開極する。図４に
示すように、電流源電流icの最終零点直前で制御ギャッ
プ３１を放電して、予め充電してあるコンデンサ３２か
ら制御ギャップ３１，リアクトル３３を介して電圧源電
流ivを電流源電流icに重畳する。電圧源電流iv遮断後、
供試遮断器２４には、ＴＲＶ調整用抵抗３４とコンデン
サ３５、及びコンデンサ３２とリアクトル３３とで決ま
る単一振動のＴＲＶが印加される。このTRVの例は、初
期波高時間ｔ1 までの領域をカバーする波形で示してい
る。
【００１６】このように、遮断性能検証項目の１条件に
対して、コンデンサ容量を低減した経済的な４パラメー
タＴＲＶ波形を発生する合成試験回路と、従来の２パラ
メータＴＲＶ波形を発生する合成試験回路とによる２回
の試験により性能検証が可能となる。
対して、コンデンサ容量を低減した経済的な４パラメー
タＴＲＶ波形を発生する合成試験回路と、従来の２パラ
メータＴＲＶ波形を発生する合成試験回路とによる２回
の試験により性能検証が可能となる。
【００１７】
【発明の効果】本実施例によれば、経済性に優れ、技術
的に容易な４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験
回路と、従来の２パラメータＴＲＶ波形を発生する合成
試験回路とを用いて遮断器の遮断性能を総合的に判定す
ることにより、経済的，時間的な効率の向上を図れる。
的に容易な４パラメータＴＲＶ波形を発生する合成試験
回路と、従来の２パラメータＴＲＶ波形を発生する合成
試験回路とを用いて遮断器の遮断性能を総合的に判定す
ることにより、経済的，時間的な効率の向上を図れる。
【図１】本発明の実施例を使用した遮断器の合成試験の
回路図。
回路図。
【図２】図１の実施例の電流零点現象の説明図。
【図３】従来例を適用した遮断器の合成試験の回路図。
【図４】図３の従来例の電流零点現象の説明図。
１，２４…供試遮断器、２，２５…電源、４，７，２７
…短絡変圧器、３，６，８，１６，２１，２６，３３…
リアクトル、１３，３０…分流器、５，２８…補助遮断
器、９…第二補助遮断器、１０…補助スイッチ、１１，
１２，１５，１８，２０，２３，２９，３２，３５…コ
ンデンサ、１４，３１…制御ギャップ、１７，１９，２
２，３４…抵抗。
…短絡変圧器、３，６，８，１６，２１，２６，３３…
リアクトル、１３，３０…分流器、５，２８…補助遮断
器、９…第二補助遮断器、１０…補助スイッチ、１１，
１２，１５，１８，２０，２３，２９，３２，３５…コ
ンデンサ、１４，３１…制御ギャップ、１７，１９，２
２，３４…抵抗。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 黒沢 幸夫 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内 (72)発明者 佐藤 稔 茨城県日立市国分町一丁目１番１号 株式 会社日立製作所国分工場内 (72)発明者 高橋 功 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内
Claims (1)
- 【請求項１】電流源回路と電圧源回路とから成る遮断器
の合成試験回路において、２パラメータ過渡回復電圧波
形を発生する合成試験回路と、４パラメータ過渡回復電
圧波形を発生する合成試験回路とを備え、前記２パラメ
ータ過渡回復電圧波形を発生する合成試験回路は、少な
くとも電圧源電流遮断時点の電流零における電流変化率
と、電流遮断後の過渡回復電圧の初期上昇率を規格値で
規定された条件を満足させ、前記４パラメータ過渡回復
電圧波形を発生する合成試験回路は、少なくとも過渡回
復電圧波形を規格波形の条件を満足させたことを特徴と
する遮断器の合成試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3036992A JPH05223905A (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 遮断器の合成試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3036992A JPH05223905A (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 遮断器の合成試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05223905A true JPH05223905A (ja) | 1993-09-03 |
Family
ID=12301959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3036992A Pending JPH05223905A (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 遮断器の合成試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05223905A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012099022A1 (ja) * | 2011-01-17 | 2012-07-26 | 株式会社 東芝 | 過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラム |
| CN116106730A (zh) * | 2022-07-26 | 2023-05-12 | 中国电力科学研究院有限公司 | 用于断路器开断老练和抗冲击穿特性评价的装置及方法 |
-
1992
- 1992-02-18 JP JP3036992A patent/JPH05223905A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2012099022A1 (ja) * | 2011-01-17 | 2012-07-26 | 株式会社 東芝 | 過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラム |
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