JPH05191111A - ストリップ線路デバイス及びそのデバイス使用方法 - Google Patents
ストリップ線路デバイス及びそのデバイス使用方法Info
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- JPH05191111A JPH05191111A JP4004794A JP479492A JPH05191111A JP H05191111 A JPH05191111 A JP H05191111A JP 4004794 A JP4004794 A JP 4004794A JP 479492 A JP479492 A JP 479492A JP H05191111 A JPH05191111 A JP H05191111A
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Abstract
や、マイクロストリップ線路との接続の容易なストリッ
プ線路デバイスを得る。 【構成】 2個の誘電体基板1aおよび1bそれぞれの
一方の面に形成された外導体3aおよび3bと、誘電体
基板1a、1bのうち少なくとも1枚の他方の面に形成
された内導体2と、端子P1、P2とを備え、内導体2
を誘電体基板1aと1bの間に挟み込んでストリップ線
路4を形成する。端子P1、P2付近に、誘電体基板1
bの一部を除去して形成した内導体露出部6と、外導体
3aと3bを導通するためのスルーホール5を設ける。
Description
F 帯、マイクロ波帯、およびミリ波帯で用いられるスト
リップ線路デバイスの入出力手段に関するものである。
報に示された従来のストリップ線路デバイスを示す概略
構成図であり、図において、1a、1bは誘電体基板、
2は誘電体基板1aの一方の面に導体膜を密着して形成
された内導体、3aは誘電体基板1aの他方の面全面に
導体膜を密着して形成された外導体、3bは誘電体基板
1bの片面全面に導体膜を密着して形成された外導体、
4は誘電体基板1a、1bと内導体2と外導体3a、3
bとで構成されるストリップ線路、P1、P2は端子で
ある。誘電体基板1aと1bは略同一形状であり、内導
体2を挟みこむように相互に重ね合わされている。内導
体2は例えばフィルタ等を構成するために、フォトエッ
チング等により成形されている。内導体2は、その端部
が端子P1およびP2まで延在している。
路4は例えば、内導体2が、幅広部と幅狭部を交互に接
続した形状に成形され、低域通過フィルタを構成してい
るものとする。低域通過フィルタの遮断周波数fc は、
これら幅広部と幅狭部の形状と寸法を調整することで設
定される。このとき、端子P1から入射した周波数f1
の波はストリップ線路4を伝搬し、低域通過フィルタの
機能によりf1 <fcであれば端子P2から出力される
が、f1 >fc であれば反射されて端子P2には出力さ
れない。このように、図13に示したストリップ線路4
はフィルタ等のストリップ線路デバイスとしての機能を
有する。
とFET増幅器とマイクロストリップ線路とを相互に接
続した図、図15は図14のAA断面図であり、図にお
いて、7はパッケージ、8はパッケージ上蓋、9はゲー
トリード線、10はドレインリード線、11はソースリ
ード線、12はパッケージ7とパッケージ上蓋8とゲー
トリード線9とドレインリード線10とソースリード線
11とを備えたFET増幅器、13はストリップ導体、
14は誘電体基板、15は金属基台、16はストリップ
導体13と誘電体基板14と金属基台15とから成るマ
イクロストリップ線路、23は接続導体、24は金属
板、25はネジである。金属板24はストリップ線路4
の外導体3b上に密着されている。誘電体基板1a、1
b、および金属板24はネジ25により相互に密着さ
れ、かつ、外導体3aと金属基台15が密着するように
金属基台15に固定されている。
スをパッケージ入りのFET増幅器12のゲート側と接
続する場合には、端子P2の位置の内導体2とFET増
幅器12のゲートリード線9とを接続する必要がある。
図13示す従来のストリップ線デバイスでは、ストリッ
プ線路4は、誘電体基板1aと1bを離した状態で内導
体2とゲートリード線9を接続してから誘電体基板1a
と1bを密着するという手順で組み立てられる。
デバイスは以上のように構成されているので、ストリッ
プ線路4をFET増幅器12のゲート側と接続する場合
には、誘電体基板1aと1bを離した状態で端子P2の
位置の内導体2とゲートリード線9とを接続してから誘
電体基板1aと1bを密着する必要があるため、接続手
順が複雑になり、かつ、誘電体基板1aと1bの位置を
精度よく合わせることが難しいという課題点があった。
15から離した状態で密着させることが困難なため、誘
電体基板1aと1bをボンディングフィルム等より相互
に接着することができない。このため、誘電体基板1a
と1bを密着させるための金属板24やネジ25が必要
となり、ストリップ線路デバイスが大きくなるという課
題点があった。
ためになされたもので、他のデバイスや他のマイクロス
トリップ線路との接続の容易なストリップ線路デバイス
及びその使用方法を得ることを目的とする。
ップ線路デバイスは、第1および第2の誘電体基板それ
ぞれの一方の面に形成された第1および第2の外導体
と、上記誘電体基板のうち少なくとも1枚の他方の面に
形成された内導体と、内導体を接続するための接続端子
(接続部)とを備え、上記内導体を上記第1および第2
の誘電体基板の間に挟み込んでストリップ線路を形成
し、上記端子付近に、上記第1および第2の誘電体基板
のうちのいずれか一方の一部を除去して形成した内導体
露出部と、上記第1および第2の外導体間の導通手段と
を設けたものである。
バイスは、第1および第2の誘電体基板それぞれの一方
の面に形成された第1および第2の外導体と、上記誘電
体基板のうち少なくとも1枚の他方の面に形成された内
導体と、端子(接続部)とを備え、上記内導体を上記第
1および第2の誘電体基板の間に挟み込んでストリップ
線路を形成し、上記端子付近に、上記第1および第2の
誘電体基板のうちのいずれか一方の一部を除去して形成
した内導体露出部と、上記第1および第2の外導体間の
導通手段とを設け、かつ、上記内導体露出部に上記内導
体を覆う誘電体カバーあるいは金属カバーあるいは導体
カバー等のカバーを設けたものである。
バイス使用方法は、まず、上記第1の発明に係るストリ
ップ線路デバイスを形成し、その後、他のデバイスと接
続する接続工程とストリップ線路デバイスを基台に設置
する設置工程を有するものである。
スを構成する第1および第2の誘電体基板のうちのいず
れか一方の端子付近を除去して内導体露出部を形成し、
かつ、上記露出部付近に第1および第2の外導体間の導
通手段を設けた。このため、上記第1および第2の誘電
体基板を金属基台から離した状態でボンディングフィル
ム等により相互に接着してからでも、上記露出部の内導
体と他のデバイスのリード線あるいはマイクロストリッ
プ線路との接続が容易に行える。したがって、上記第1
および第2の誘電体基板を容易に位置精度よく密着でき
るとともに、上記第1および第2の誘電体基板を密着さ
せるための金属板やネジが不要となる。
線路デバイスを構成する第1および第2の誘電体基板の
うちのいずれか一方の端子付近を除去して内導体露出部
を形成し、上記露出部付近に第1および第2の外導体間
の導通手段を設け、かつ、上記内導体露出部に上記内導
体を覆う誘電体カバーを設けた。このため、上記内導体
露出部に誘電体が充填されるので特性インピーダンスを
変化させずに内導体幅の調整が可能となる。また、上記
内導体露出部に上記内導体を覆う金属カバーを設けても
よく、この場合は、上記内導体と上記金属カバーの間隔
を変化させることにより特性インピーダンスを変化させ
ずに内導体幅の調整が可能となり、かつ、上記内導体露
出部から空間への電波の放射を抑制できる。また、導体
カバーを設けるてもよく、この場合は、内導体露出部か
ら空間への電波の放射を抑制することができる。
トップ線路デバイスを先に形成してから他のデバイスと
の接続と基台への設置を行なうようにしたので、マイク
ロストップ線路デバイスの第1および第2の誘電体基板
を容易に位置精度よく密着できるとともに、第1および
第2の誘電体基板を密着させるための金属板やネジが不
要となり、接続作業や設置作業が容易になる。
概略構成図、図2は図1の実施例とFET増幅器とマイ
クロストリップ線路とを相互に接続した図、図3は図2
のAA断面図であり、図において1a、1b、2、3
a、3b、4、7〜16、P1、およびP2は従来の場
合と同じもの、5は外導体3aと3bを導通させるため
のスルーホール、6は端子P1およびP2付近の誘電体
基板3bを除去して形成した内導体露出部である。誘電
体基板1aと1bはこれらの基板と同系材質のボンディ
ングフィルムにより相互に密着して接着されている。ス
ルーホール5は内導体露出部6付近の内導体2の両側に
設けられている。内導体露出部6では、誘電体基板3b
の欠如による特性インピーダンスの変化分を補正するた
め、内導体2の幅を広げている。
路4は例えば、内導体2が、幅広部と幅狭部を交互に接
続した形状に成形され、低域通過フィルタを構成してい
るものとする。低域通過フィルタの遮断周波数fc は、
これら幅広部と幅狭部の形状と寸法を調整することで設
定される。このとき、端子P1から入射した周波数f1
の波はストリップ線路4を伝搬し、低域通過フィルタの
機能によりf1 <fcであれば端子P2から出力される
が、f1 >fc であれば反射されて端子P2には出力さ
れない。このように、図1に示したストリップ線路は、
従来の場合と同様にフィルタ等のストリップ線路デバイ
スとしての機能を有する。
導体露出部6でマイクロストリップ線路に変換される。
この不連続部で反射を生じさせないために、外導体3b
を流れる電流をスルーホール5を介して外導体3aに流
れ込ませている。
ップ線路デバイスをパッケージ入りFET増幅器12の
ゲート側と接続する場合には、内導体露出部6により端
子P2の位置の内導体2が露出しているので、誘電体基
板3aと3bを接着した状態で内導体2とFET増幅器
12のゲートリード線9とを接続することができる。ま
た、誘電体基板3aと3bはボンディングフィルムによ
り接着されているので、図1のストリップ線路デバイス
を金属基台15へ固定する場合には、導電性接着剤や半
田等により相互を接着すればよく、金属板24およびネ
ジ25が不要となる。
電体基板と、第2の誘電体基板と、上記第1および第2
の誘電体基板それぞれの一方の面に形成された第1およ
び第2の外導体と、上記誘電体基板のうち少なくとも1
枚の他方の面に形成された内導体と、端子とを備え、上
記内導体を上記第1および第2の誘電体基板の間に挟み
込んでストリップ線路を形成し、上記端子付近に、上記
第1および第2の誘電体基板のうちのいずれか一方の一
部を除去して形成した内導体露出部と、上記第1および
第2の外導体間の導通手段とを設けたことを特徴とする
ストリップ線路デバイスを説明した。
示す概略構成図であり、誘電体基板3bを半円筒状に切
り欠いて半円筒形内導体露出部60を形成した場合で
る。
1の場合と同様の動作原理および利点を有する他、内導
体露出部60を挟み込む位置にスルーホール5を設けら
れるので、ストリップ線路4と内導体露出部60との間
の不連続部の反射を小さくできるという効果を奏する。
示す概略構成図であり、図4の内導体露出部60を覆う
導体カバー17を設けた場合である。導体カバー17は
外導体3bと電気的に導通するように導電性接着剤等に
より外導体3bに接着されている。
同様の動作原理および利点を有する他、導体カバー17
の働きにより内導体露出部60から空間への電波の放射
が抑制され、損失を小さくできるという効果を奏する。
概略構成図、図7は図6の詳細を説明するための図であ
り、内導体露出部60内に、この露出部と略同一形状の
誘電体カバー21を挿入した場合である。誘電体カバー
21は、誘電体基板3bと同一の材料を加工して形成さ
れた半円筒形誘電体ブロック18と、このブロックの外
導体3b側の面に密着された導体膜19とで構成されて
いる。他のデバイス等との接続の際に接続用のリード線
が当たる位置に、誘電体ブロック18の切り込み部20
が設けられている。誘電体カバー21は接着剤および導
体カバー17により固定されている。
原理および利点を有する他、誘電体ブロック18の働き
で内導体露出部60の特性インピーダンスが低くなるの
で、内導体2の幅を拡げないで済むという利点をを有す
る。
電体基板と、第2の誘電体基板と、上記第1および第2
の誘電体基板それぞれの一方の面に形成された第1およ
び第2の外導体と、上記誘電体基板のうち少なくとも1
枚の他方の面に形成された内導体と、端子とを備え、上
記内導体を上記第1および第2の誘電体基板の間に挟み
込んでストリップ線路を形成し、上記端子付近に、上記
第1および第2の誘電体基板のうちのいずれか一方の一
部を除去して形成した内導体露出部と、上記第1および
第2の外導体間の導通手段とを設け、かつ、上記内導体
露出部に上記内導体を覆う誘電体カバーを設けたことを
特徴とするストリップ線路デバイスを説明した。
を示す概略構成図、図9は図8の詳細を説明するための
図、図10は図8の実施例とFET増幅器12とマイク
ロストリップ線路16とを相互に接続した図、図11は
図10のAA断面図であり、図1の実施例における内導
体露出部6に内導体2を覆う金属カバー22を設けた場
合である。外導体3bと金属カバー22は接続導体23
により接続されている。金属カバー22が接触する位置
の誘電体基板1aには、金属カバー22と外導体3aを
導通させるためのスルーホール5が設けられている。図
8のストリップ線路デバイスとFET増幅器12との接
続では、まず金属カバー22を設けない状態で図1の場
合と同様に内導体2とゲートリード線9を接続し、それ
から金属カバー22を装着すればよい。
原理および利点を有する他、金属カバー22の働きによ
り内導体露出部6から空間への電波の放射が抑制され、
損失を小さくできるという効果を奏する。また、内導体
露出部6の内導体2を挟み込む位置にスルーホール5を
設けられるので、ストリップ線路4と内導体露出部6と
の間の不連続部の反射を小さくできるという効果を奏す
る。さらに、内導体2と金属カバー22の間隔を変化さ
せることにより、所定の特性インピーダンス値を保った
ままで内導体2の幅を調整できるという利点を有する。
電体基板と、第2の誘電体基板と、上記第1および第2
の誘電体基板それぞれの一方の面に形成された第1およ
び第2の外導体と、上記誘電体基板のうち少なくとも1
枚の他方の面に形成された内導体と、端子とを備え、上
記内導体を上記第1および第2の誘電体基板の間に挟み
込んでストリップ線路を形成し、上記端子付近に、上記
第1および第2の誘電体基板のうちのいずれか一方の一
部を除去して形成した内導体露出部と、上記第1および
第2の外導体間の導通手段とを設け、かつ、上記内導体
露出部に上記内導体を覆う金属カバーを設けたことを特
徴とするストリップ線路デバイスを説明した。
の端子P1とP2を有するばあいを示したが、図12
(a)に示すように2以上の端子を有するばあいでもよ
い。あるいは、図12(b)に示すように、ひとつの端
子P1のみが露出している場合でもよい。また、図12
(c)に示すように、それぞれの端子P1とP2の露出
方向が異なるようにしてもよい。また、図12(d)、
(e)に示すように、この発明に係るストリップ線路デ
バイスを互いに連結することにより、所望の長さ、ある
いは、所望の方向へのストリップ線路を自由に形成する
ことも可能である。
バイスが低域通過フィルタの場合について説明したが、
ストリップ線路構造の他の回路デバイスであってもよ
く、上記実施例と同様の利点および効果を奏する。
の誘電体基板と第2の誘電体基板を密着してからでも内
導体と他のデバイスのリード線あるいはマイクロストリ
ップ線路との接続が可能となり、上記第1および第2の
誘電体基板を容易に位置精度よく密着でき、かつ、スト
リップ線路に接続可能な他のデバイスや、マイクロスト
リップ線路との接続の容易なストリップ線路デバイスが
得られるという効果がある。さらに、上記第1および第
2の誘電体基板を金属基台から離した状態でボンディン
グフィルム等により相互に接着させることが可能とな
り、上記第1および第2の誘電体基板を密着させるため
の金属板やネジが不要となるので、ストリップ線路デバ
イスを小形に構成できるという効果がある。
出部に上記内導体を覆うカバーを設けたので、特性イン
ピーダンスを変化させずに内導体幅の調整が可能なスト
リップ線路デバイスが得られ、あるいは、上記内導体露
出部から空間への電波の放射が抑制されて損失の小さな
ストリップ線路デバイスが得られるという効果がある。
路デバイスの接続や設置がストリップ線路デバイスの形
成と完全に分離できるので、それぞれの作業が正確にか
つ容易に実行できるという効果がある。
ップ線路とを相互に接続した図である。
る。
る。
る。
る。
リップ線路とを相互に接続した図である。
成図である。
器とマイクロストリップ線路とを相互に接続した図であ
る。
ップ線路デバイスは、第1および第2の誘電体基板それ
ぞれの一方の面に形成された第1および第2の外導体
と、上記誘電体基板のうち少なくとも1枚の他方の面に
形成された内導体と、内導体を接続するための接続端子
(接続部)とを備え、上記内導体を上記第1および第2
の誘電体基板の間に挟み込んでストリップ線路を形成
し、上記端子付近に、上記第1および第2の誘電体基板
のうちのいずれか一方の一部を除去して形成した内導体
露出部を設け、上記内導体露出部に近接して上記第1お
よび第2の外導体間の導通手段を設けたものである。
バイスは、第1および第2の誘電体基板それぞれの一方
の面に形成された第1および第2の外導体と、上記誘電
体基板のうち少なくとも1枚の他方の面に形成された内
導体と、端子(接続部)とを備え、上記内導体を上記第
1および第2の誘電体基板の間に挟み込んでストリップ
線路を形成し、上記端子付近に、上記第1および第2の
誘電体基板のうちのいずれか一方の一部を除去して形成
した内導体露出部を設け、上記内導体露出部に近接して
上記第1および第2の外導体間の導通手段を設け、か
つ、上記内導体露出部に上記内導体を覆う誘電体カバー
あるいは金属カバーあるいは導体カバー等のカバーを設
けたものである。
スを構成する第1および第2の誘電体基板のうちのいず
れか一方の端子付近を除去して内導体露出部を形成し、
かつ、上記露出部に近接して第1および第2の外導体間
の導通手段を設けた。このため、上記第1および第2の
誘電体基板を金属基台から離した状態でボンディングフ
ィルム等により相互に接着してからでも、上記露出部の
内導体と他のデバイスのリード線あるいはマイクロスト
リップ線路との接続が容易に行える。したがって、上記
第1および第2の誘電体基板を容易に位置精度よく密着
できるとともに、上記第1および第2の誘電体基板を密
着させるための金属板やネジが不要となる。
線路デバイスを構成する第1および第2の誘電体基板の
うちのいずれか一方の端子付近を除去して内導体露出部
を形成し、上記露出部に近接して第1および第2の外導
体間の導通手段を設け、かつ、上記内導体露出部に上記
内導体を覆う誘電体カバーを設けた。このため、上記内
導体露出部に誘電体が充填されるので特性インピーダン
スを変化させずに内導体幅の調整が可能となる。また、
上記内導体露出部に上記内導体を覆う金属カバーを設け
てもよく、この場合は、上記内導体と上記金属カバーの
間隔を変化させることにより特性インピーダンスを変化
させずに内導体幅の調整が可能となり、かつ、上記内導
体露出部から空間への電波の放射を抑制できる。また、
導体カバーを設けるてもよく、この場合は、内導体露出
部から空間への電波の放射を抑制することができる。
電体基板と、第2の誘電体基板と、上記第1および第2
の誘電体基板それぞれの一方の面に形成された第1およ
び第2の外導体と、上記誘電体基板のうち少なくとも1
枚の他方の面に形成された内導体と、端子とを備え、上
記内導体を上記第1および第2の誘電体基板の間に挟み
込んでストリップ線路を形成し、上記端子付近に、上記
第1および第2の誘電体基板のうちのいずれか一方の一
部を除去して形成した内導体露出部を設け、上記内導体
露出部に近接して上記第1および第2の外導体間の導通
手段を設けたことを特徴とするストリップ線路デバイス
を説明した。
電体基板と、第2の誘電体基板と、上記第1および第2
の誘電体基板それぞれの一方の面に形成された第1およ
び第2の外導体と、上記誘電体基板のうち少なくとも1
枚の他方の面に形成された内導体と、端子とを備え、上
記内導体を上記第1および第2の誘電体基板の間に挟み
込んでストリップ線路を形成し、上記端子付近に、上記
第1および第2の誘電体基板のうちのいずれか一方の一
部を除去して形成した内導体露出部を設け、上記内導体
露出部に近接して上記第1および第2の外導体間の導通
手段を設け、かつ、上記内導体露出部に上記内導体を覆
う誘電体カバーを設けたことを特徴とするストリップ線
路デバイスを説明した。
を示す概略構成図、図9は図8の詳細を説明するための
図、図10は図8の実施例とFET増幅器12とマイク
ロストリップ線路16とを相互に接続した図、図11は
図10のAA断面図であり、図1の実施例における内導
体露出部6に内導体2を覆い、上記内導体との間隔が上
記第1あるいは第2の誘電体基板の厚み以下である金属
カバー22を設けた場合である。外導体3bと金属カバ
ー22は接続導体23により接続されている。金属カバ
ー22が接触する位置の誘電体基板1aには、金属カバ
ー22と外導体3aを導通させるためのスルーホール5
が設けられている。図8のストリップ線路デバイスとF
ET増幅器12との接続では、まず金属カバー22を設
けない状態で図1の場合と同様に内導体2とゲートリー
ド線9を接続し、それから金属カバー22を装着すれば
よい。
電体基板と、第2の誘電体基板と、上記第1および第2
の誘電体基板それぞれの一方の面に形成された第1およ
び第2の外導体と、上記誘電体基板のうち少なくとも1
枚の他方の面に形成された内導体と、端子とを備え、上
記内導体を上記第1および第2の誘電体基板の間に挟み
込んでストリップ線路を形成し、上記端子付近に、上記
第1および第2の誘電体基板のうちのいずれか一方の一
部を除去して形成した内導体露出部を設け、上記内導体
露出部に近接して上記第1および第2の外導体間の導通
手段を設け、かつ、上記内導体露出部に上記内導体を覆
い、上記内導体との間隔が上記第1あるいは第2の誘電
体基板の厚み以下である金属カバーを設けたことを特徴
とするストリップ線路デバイスを説明した。
Claims (3)
- 【請求項1】 以下の要素を有するストリップ線路デバ
イス (a)他と接続するための接続部を備えた内導体、 (b)少なくとも接続部を一方向に向けて露出させて内
導体をはさむ第1と第2の誘電体、 (c)第1と第2の誘電体の外側に設けられた第1と第
2の外導体、 (d)第1と第2の外導体を導通させる導通手段。 - 【請求項2】 上記ストリップ線路デバイスにおいて、
露出された接続部を覆う、所定の材料で形成されたカバ
ーを設けたことを特徴とする請求項1記載のストリップ
線路デバイス。 - 【請求項3】 以下の要素を有するストリップ線路デバ
イス使用方法 (a)内導体の一部を露出させてストリップ線路デバイ
スを形成するストリップ線路形成工程、 (b)上記ストリップ線路形成工程後、上記ストリップ
線路デバイスの露出された内導体を他のデバイスと接続
する接続工程、 (c)上記ストリップ線路形成工程後、上記ストリップ
線路デバイスを基台へ設置する設置工程。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00479492A JP3267996B2 (ja) | 1992-01-14 | 1992-01-14 | ストリップ線路デバイス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00479492A JP3267996B2 (ja) | 1992-01-14 | 1992-01-14 | ストリップ線路デバイス |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05191111A true JPH05191111A (ja) | 1993-07-30 |
| JP3267996B2 JP3267996B2 (ja) | 2002-03-25 |
Family
ID=11593686
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00479492A Expired - Fee Related JP3267996B2 (ja) | 1992-01-14 | 1992-01-14 | ストリップ線路デバイス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3267996B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0918205A (ja) * | 1995-06-27 | 1997-01-17 | Toshiba Corp | マイクロ波回路 |
| JPH0936612A (ja) * | 1995-07-21 | 1997-02-07 | Mitsubishi Electric Corp | ストリップ線路回路 |
-
1992
- 1992-01-14 JP JP00479492A patent/JP3267996B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0918205A (ja) * | 1995-06-27 | 1997-01-17 | Toshiba Corp | マイクロ波回路 |
| JPH0936612A (ja) * | 1995-07-21 | 1997-02-07 | Mitsubishi Electric Corp | ストリップ線路回路 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3267996B2 (ja) | 2002-03-25 |
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