JPH052048U - 濃縮分析装置 - Google Patents
濃縮分析装置Info
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- JPH052048U JPH052048U JP1752891U JP1752891U JPH052048U JP H052048 U JPH052048 U JP H052048U JP 1752891 U JP1752891 U JP 1752891U JP 1752891 U JP1752891 U JP 1752891U JP H052048 U JPH052048 U JP H052048U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ガス中の微量成分を濃縮した後に分析する濃
縮分析装置において、該濃縮分析装置に従来用いられて
いた積算流量計を省略して装置コストを低減するととも
に、試料ガスの無駄も低減できる濃縮分析装置を提供す
る。 【構成】 試料ガス導入管3を介して導入される試料ガ
スを、濃縮管7に供給して被分析成分を濃縮した後、試
料ガス排気管5を介して排気するよう構成した濃縮分析
装置の、前記試料ガス導入管3に二次側保圧弁21を設
けて試料ガス量を試料ガス源の圧力によらず一定に保持
するとともに、試料ガス排気管5に開閉弁22と抵抗体
23とを並列に設け、濃縮時は、試料ガスを前記開閉弁
22を介して、また濃縮時以外は前記抵抗体23を介し
て排出するよう構成する。
縮分析装置において、該濃縮分析装置に従来用いられて
いた積算流量計を省略して装置コストを低減するととも
に、試料ガスの無駄も低減できる濃縮分析装置を提供す
る。 【構成】 試料ガス導入管3を介して導入される試料ガ
スを、濃縮管7に供給して被分析成分を濃縮した後、試
料ガス排気管5を介して排気するよう構成した濃縮分析
装置の、前記試料ガス導入管3に二次側保圧弁21を設
けて試料ガス量を試料ガス源の圧力によらず一定に保持
するとともに、試料ガス排気管5に開閉弁22と抵抗体
23とを並列に設け、濃縮時は、試料ガスを前記開閉弁
22を介して、また濃縮時以外は前記抵抗体23を介し
て排出するよう構成する。
Description
【0001】
本考案は、ガス中の微量成分を濃縮して分析する濃縮分析装置に関する。
【0002】
例えば、半導体工場では多量の高純度ガスを消費する。高純度ガスは、一般に 高圧容器に充填されてガス製造工場から供給されるが、高純度ガスは所定の純度 を保証するガスであるから、ガス製造工場では、不純物量が所定濃度以下である ことを確認してから供給する。この場合、通常、ガスクロマトグラフによりガス 分析を行うが、より微量を検出するには濃縮分析法を用いる。
【0003】 図2は、従来の一般的な濃縮分析装置を示すもので、複数の流路を同時に切換 可能な六方コック1と四方コック2とを備えている。六方コック1の各ポートに は、ニードル弁3aを有する試料ガス導入管3を介して分析対象となる高純度ガ スを充填した容器(試料ガス源)Sと、二次側保圧弁4を介して窒素ガス等のキ ャリヤーガスを充填した容器(キャリヤーガス源)Cと、積算流量計Mを介して 排気管5と、メインカラム6を介して検出器Aが図のように接続されている。ま た、四方コック2には、冷却手段7aと加熱手段7bとを有する短管の内部に被 分析成分の吸着に適した吸着剤を充填してなる濃縮管7の両端の管8a,8bと 、前記六方コック1との連絡管1a,1bが図のように接続されている。
【0004】 この濃縮分析装置は、前記両コック1,2を切換えることにより、高純度ガス (試料ガス)中の不純物(被分析成分)を濃縮管7に濃縮した後、脱着させて検 出器Aで分析するものである。
【0005】 即ち、まず両コック1,2を図の実線側に切換え、試料ガス源Sからの試料ガ スを積算流量計Mを介して排気するとともに、キャリヤーガス源Cからのキャリ ヤーガスを濃縮管7に流した後、メインカラム6を介して検出器Aに導入するパ ージ工程を行い、次いで、六方コック1を破線側に切換え、試料ガスを所定の温 度に冷却した濃縮管7に所定量流して被分析成分を濃縮管7内の吸着剤に低温吸 着させた後、積算流量計Mを介して排気する濃縮工程を行う。
【0006】 次に、四方コック2を破線側に切換え、濃縮管7に閉回路を形成して該管7を 加熱し、濃縮管7内に濃縮された被分析成分を脱着するとともに、六方コック1 を実線側に切換えて濃縮管7前後の配管をパージした後、四方コック2を実線側 に切換え、濃縮管7から脱着した濃縮状態の被分析成分をキャリヤーガスに同伴 させてメインカラム6に導入して単成分に分離した後、検出器Aに導入し、検出 器Aでの検出値と前記濃縮工程時の試料ガス量とから被分析成分の量を定量する 定量工程を行う。
【0007】 上記操作により高純度ガスは分析されるが、上記ガス分析では、正確な定量を 行うため、通常、分析値が連続して2回とも同一の値になったときを分析完了と している。このため、同一の試料ガスに対して普通3回、場合によっては6回以 上連続して分析することがある。この場合、前記ガス分析は、1回目が終了した ら引き続き2回目,3回目を連続的に行ってガス分析に要する時間を短縮してい る。この間、試料ガスはガス分析が終了するまでパージ用として流し、大気の侵 入を防止する。即ち、試料ガス源Sの試料ガスは、常時、前記ニードル弁3aを 介して供給された後、積算流量計Mを介して排気されている。
【0008】
ところで、前記従来装置では、試料ガス量を制御するために、試料ガス導入管 3にニードル弁3aを設けているが、ニードル弁3aの1次側圧力(容器内の高 純度ガスの圧力)が試料ガスの供給に伴い低下するため、ニードル弁3aで試料 ガスの供給量を一定にすることはできず、濃縮工程時の試料ガス量は、高価な積 算流量計Mを設けて測定するしか方法がなかった。また、濃縮工程以外のときも 、前記ニードル弁3aを介して供給された試料ガスが積算流量計Mを介して排気 されているため、必要以上に試料ガスが多量に流れ、経済的でなかった。
【0009】 本考案は、前記に鑑み、試料ガスの消費量を従来より低減するとともに、高価 な積算流量計を用いずに従来と同等のガス分析を行える濃縮分析装置を提供する ことを目的とする。
【0010】
前記目的を達成するため、本考案の濃縮分析装置は、試料ガス導入管を介して 導入される試料ガスを、濃縮管に供給した後、試料ガス排気管を介して排気する 濃縮工程を備えた濃縮分析装置において、前記試料ガス導入管に二次側保圧弁を 設けるとともに、前記試料ガス排気管を二分し、一方に、前記濃縮工程時のみに 開く開閉弁を、他方に所望の通気抵抗を有する抵抗体を設けたことを特徴として いる。
【0011】 ここで、上記開閉弁とは、全開または全閉の状態で使用される弁で通気抵抗の 少ない弁を意味する。また、抵抗体とは、例えば、内部に適宜な充填剤を充填し た短管、オリフィス等の通気抵抗が一定の固定抵抗体、または、僅かな開度に設 定したニードル弁等の通気抵抗を可変できる可変抵抗体を意味する。
【0012】
上記構成によれば、試料ガスの供給圧力は、試料ガス源の圧力によらず、二次 側保圧弁により一定に保持される。また、試料ガスの排気は、濃縮工程時には開 閉弁を介して、また、濃縮工程以外の時には、抵抗体を介して排気される。
【0013】 これによって、濃縮工程時の試料ガスは、試料ガスの供給圧力が一定なので濃 縮管を含む配管系統の流路抵抗に応じた一定流量となり、濃縮工程時に濃縮管に 流通させた試料ガス量を、濃縮工程の時間により算出することができる。即ち、 濃縮量を時間で管理することが可能になる。また、濃縮工程以外の時は、試料ガ スは抵抗体を介して排気されるので、試料ガス量をパージに必要な最小限の流量 とすることができる。
【0014】
以下、本考案の一実施例を図面に基づいて説明する。 図1は本考案の実施例装置で、図中前記図2と同一要素のものには同一符号を 付して説明する。
【0015】 本実施例の濃縮分析装置が前記従来装置と異なるのは、試料ガス導入管3に前 記ニードル弁3aに代えて二次側保圧弁21を設けたことと、試料ガス排気管5 を二分し、一方に濃縮工程時に開く開閉弁22を、他方に所望の通気抵抗を有す る抵抗体23を設けて前記積算流量計Mを省略したことである。これにより、試 料ガス源Sからの試料ガスは、二次側保圧弁21によって、試料ガス源Sの圧力 に無関係に一定の圧力で供給される。
【0016】 操作方法は、前記従来装置と同様とするが、試料ガスは、濃縮工程では前記開 閉弁22を介して排出され、また、濃縮工程以外のときは開閉弁22は閉められ るので、抵抗体23を介して排出される。なお、濃縮工程時の試料ガスは、開閉 弁22および抵抗体23の両方から排出可能であるが、開閉弁22の方が通気抵 抗が少ないので殆ど全量が開閉弁22を介して排出される。
【0017】 これにより、濃縮工程時の試料ガスは、前記二次側保圧弁21により供給圧力 が一定に保持されるので、濃縮管7,前記開閉弁22を含む配管系の流路抵抗に 応じた一定流量となり、濃縮工程時の濃縮管7への導入量を時間で管理すること が可能になる。例えば、図示しないタイマーによって前記コック1,2および前 記開閉弁21を作動させれば、全自動で濃縮分析を行うことができる。また、濃 縮工程以外の時、試料ガスは、抵抗体23を介して排気されるので、濃縮工程以 外の時の試料ガス量をパージに必要な最小限の流量とすることができる。
【0018】 なお、濃縮工程以外の時に前記開閉弁22を開けると、試料ガスは濃縮管7を 通らないので通気抵抗が少ない状態で開閉弁22から排気されるが、このとき試 料ガスの二次側の圧力は、二次側保圧弁21によって一定に保たれ、しかも二次 側保圧弁21自体の通気抵抗は前記ニードル弁3aより小さいので、従来より遥 かに多量の試料ガスが無駄に流れてしまう。
【0019】
上記のように、本考案の濃縮分析装置は、試料ガス導入管に二次側保圧弁を設 けて試料ガスの供給圧力を一定に保持するとともに、試料ガス排気管の一方に濃 縮時のみに開く開閉弁を、他方に抵抗体を設けたので、試料ガスは、濃縮時には 前記開閉弁を介して、非濃縮時には前記抵抗体を介して排出され、濃縮工程時の 濃縮管への導入量を時間で管理することが可能となり、高価な積算流量計を省略 して装置コストの低減を図れるとともに、濃縮工程以外の時の試料ガス量をパー ジに必要な最小限の流量にでき、試料ガスの無駄を防止することができる。
【図1】 本考案の濃縮分析装置の一実施例を示す系統
図である。
図である。
【図2】 従来の濃縮分析装置の一例を示す系統図であ
る。
る。
1…六方コック 2…四方コック 3…試料ガス導
入管 5…試料ガス排気管 6…メインカラム
7…濃縮管 21…二次側保圧弁 22…開閉弁
23…抵抗体 C…キャリヤーガス源 S…試料
ガス源
入管 5…試料ガス排気管 6…メインカラム
7…濃縮管 21…二次側保圧弁 22…開閉弁
23…抵抗体 C…キャリヤーガス源 S…試料
ガス源
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項1】 試料ガス導入管を介して導入される試料
ガスを、濃縮管に供給した後、試料ガス排気管を介して
排気する濃縮工程を備えた濃縮分析装置において、前記
試料ガス導入管に二次側保圧弁を設けるとともに、前記
試料ガス排気管を二分し、一方に、前記濃縮工程時のみ
に開く開閉弁を、他方に所望の通気抵抗を有する抵抗体
を設けたことを特徴とする濃縮分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991017528U JP2538067Y2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 濃縮分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991017528U JP2538067Y2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 濃縮分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH052048U true JPH052048U (ja) | 1993-01-14 |
| JP2538067Y2 JP2538067Y2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=11946427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991017528U Expired - Fee Related JP2538067Y2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 濃縮分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2538067Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100782207B1 (ko) * | 2006-05-03 | 2007-12-05 | 이강웅 | 시료 전처리 방법 및 이를 이용한 전처리 장치 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS583095U (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-10 | 株式会社東芝 | 高周波用シ−ルドケ−ス |
-
1991
- 1991-03-22 JP JP1991017528U patent/JP2538067Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS583095U (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-10 | 株式会社東芝 | 高周波用シ−ルドケ−ス |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100782207B1 (ko) * | 2006-05-03 | 2007-12-05 | 이강웅 | 시료 전처리 방법 및 이를 이용한 전처리 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2538067Y2 (ja) | 1997-06-04 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |