JPH052055A - Emitter follower type output circuit - Google Patents

Emitter follower type output circuit

Info

Publication number
JPH052055A
JPH052055A JP3180358A JP18035891A JPH052055A JP H052055 A JPH052055 A JP H052055A JP 3180358 A JP3180358 A JP 3180358A JP 18035891 A JP18035891 A JP 18035891A JP H052055 A JPH052055 A JP H052055A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
output
output circuit
emitter
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3180358A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazutsugu Futatsuka
一継 二塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3180358A priority Critical patent/JPH052055A/en
Publication of JPH052055A publication Critical patent/JPH052055A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain an emitter follower type output circuit by preventing an output current from being changed, malfunction and oscillation from being generated, and preventing other tests from being affected in testing a semiconductor integrated circuit even if an inside of a chip is terminated as in an emitter follower output circuit using a constant-current source. CONSTITUTION:A title item is provided with an output constant-current source transistor 2 which generates an output current, a transistor 3 for switching mode where it is emitter-coupled to this transistor 2, and an input terminal 4 for switching mode. At the time of test, the transistor 3 for switching mode is turned on and an output constant current source transistor 2 is cut off, thus enabling operation as an output circuit to be stopped and enabling a poor influence to other tests to be excluded.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はエミッタ・ホロワ型出力
回路に関し、特にそのテスト方法を改善したエミッタ・
ホロア型出力回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an emitter follower type output circuit, and more particularly to an emitter follower type output circuit having an improved test method.
The present invention relates to a follower type output circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は従来の定電流源を使用したエミッ
タ・ホロア出力回路を示す。電源46と電源48との間
に、トランジスタ51及び抵抗が直列接続されており、
トランジスタ51のベースには入力端子41が接続され
ている。また、電源46と電源48との間にはトランジ
スタ55及び抵抗が直列接続されており、トランジスタ
55のベースには定電圧源が接続されている。更に、電
源48には抵抗を介してトランジスタ54が接続され、
このトランジスタ54と電源46との間には、トランジ
スタ52とトランジスタ53及び抵抗との並列接続体が
接続されている。一方、電源47と電源48との間に
は、エミッタホロア用トランジスタ39と出力定電流源
用トランジスタ40が直列接続されている。そして、エ
ミッタホロア用トランジスタ39のエミッタには抵抗を
介して出力端子42が接続されており、出力定電流源用
トランジスタ40のベースには、定電圧源45が接続さ
れている。また、トランジスタ52のベースはトランジ
スタ51のエミッタに、トランジスタ53のベースはト
ランジスタ43のエミッタに、トランジスタ39のベー
スはトランジスタ53のコレクタに接続されている。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows an emitter-follower output circuit using a conventional constant current source. A transistor 51 and a resistor are connected in series between the power source 46 and the power source 48,
The input terminal 41 is connected to the base of the transistor 51. A transistor 55 and a resistor are connected in series between the power source 46 and the power source 48, and a constant voltage source is connected to the base of the transistor 55. Further, the transistor 54 is connected to the power source 48 via a resistor,
A parallel connection body of the transistor 52, the transistor 53 and the resistor is connected between the transistor 54 and the power supply 46. On the other hand, an emitter follower transistor 39 and an output constant current source transistor 40 are connected in series between the power source 47 and the power source 48. An output terminal 42 is connected to the emitter of the emitter follower transistor 39 via a resistor, and a constant voltage source 45 is connected to the base of the output constant current source transistor 40. The base of the transistor 52 is connected to the emitter of the transistor 51, the base of the transistor 53 is connected to the emitter of the transistor 43, and the base of the transistor 39 is connected to the collector of the transistor 53.

【0003】このように構成された従来のエミッタ・ホ
ロワ型出力回路は、LSIテスターで半導体集積回路の
試験を行う場合、大きな出力電流又は過度電流のために
誤動作を引き起こしたり、発振を誘発して他のテストへ
悪影響を及ぼしやすいものとなっていた。半導体集積回
路チップの外から50Ωの抵抗で−2Vに終端するEC
L出力においては、終端電圧を上げたり、出力端子にあ
たるLSIテスターピンの接続及び解除により、出力電
流及び過度電流の影響を軽減することが可能である。し
かし、図4に示すような定電流源を用いたエミッタ・ホ
ロワ型出力回路では、半導体集積回路チップ内部ですで
に終端が行われており、LSIテスターピンの終端方法
の変更及び出力端子にあたるLSIテスターピンの接続
・解除に関係なく、出力はハイレベルとローレベルとの
間を動き、常に出力電流が変化し、過度電流の影響で誤
動作や発振を引き起こし、他のテストへの悪影響を排除
できないものとなっている。
In the conventional emitter-follower type output circuit having such a structure, when a semiconductor integrated circuit is tested by an LSI tester, a large output current or excessive current causes a malfunction or induces oscillation. It was likely to adversely affect other tests. EC that terminates at -2V with a resistance of 50Ω from outside the semiconductor integrated circuit chip
In the L output, it is possible to reduce the influence of the output current and the transient current by increasing the termination voltage or connecting and disconnecting the LSI tester pin corresponding to the output terminal. However, in the emitter-follower type output circuit using the constant current source as shown in FIG. 4, the termination is already performed inside the semiconductor integrated circuit chip, and the termination method of the LSI tester pin is changed and the LSI which is the output terminal is changed. The output moves between high level and low level regardless of whether the tester pin is connected or disconnected, and the output current constantly changes, which causes malfunction or oscillation due to the effect of excessive current, and cannot adversely affect other tests. It has become a thing.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述の如く、従来のエ
ミッタ・ホロワ型出力回路は、LSIテスターで半導体
集積回路の試験を行う場合、チップの外から50Ωの抵
抗で−2V終端で使用するECL出力回路の場合のよう
に、終端電圧の変更及びLSIテスターピンの解除等に
より、出力電流及び過度電流を低減し、他のテストへの
影響を排除する対策がとれないという問題点があった。
As described above, in the conventional emitter-follower type output circuit, when a semiconductor integrated circuit is tested by the LSI tester, the ECL is used at the -2V termination with a resistance of 50Ω from the outside of the chip. As in the case of the output circuit, there is a problem that it is not possible to take measures to reduce the output current and the transient current by changing the termination voltage and releasing the LSI tester pin, and to eliminate the influence on other tests.

【0005】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、チップ内部で終端された回路においても出
力電流を0にすることが可能であり、出力電流の変化に
よる誤動作及び発振等の他のテストへの悪影響を防止で
きるエミッタ・ホロワ型出力回路を提供することを目的
とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to reduce the output current to 0 even in a circuit terminated inside the chip, which causes malfunctions and oscillations due to changes in the output current. It is an object of the present invention to provide an emitter-follower type output circuit capable of preventing adverse effects on other tests.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明に係るエミッタ・
ホロワ型出力回路は、定電流源を用いたエミッタ・ホロ
ワ型出力回路において、エミッタホロワ用トランジスタ
と、出力定電流源用トランジスタと、この出力定電流源
用トランジスタにエミッタ結合したモード切換え用トラ
ンジスタと、このモード切換え用トランジスタのオンオ
フを切り換える信号が入力されるモード切換え入力端子
とを有することを特徴とする。
Means for Solving the Problems The emitter according to the present invention
The follower type output circuit is an emitter-follower type output circuit using a constant current source, an emitter follower transistor, an output constant current source transistor, and a mode switching transistor emitter-coupled to the output constant current source transistor. It has a mode switching input terminal to which a signal for switching on / off of the mode switching transistor is input.

【0007】[0007]

【作用】本発明においては、試験時には、モード切り換
え入力端子に信号を入力し、モード切換え用トランジス
タをオンにする。これにより、出力定電流源用トランジ
スタがカットオフされ、出力電流が0になり、エミッタ
・ホロワ型出力回路の動作が停止する。
In the present invention, during the test, a signal is input to the mode switching input terminal to turn on the mode switching transistor. As a result, the output constant current source transistor is cut off, the output current becomes 0, and the operation of the emitter-follower type output circuit is stopped.

【0008】[0008]

【実施例】次に、本発明の実施例について添付の図面を
参照して説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the accompanying drawings.

【0009】図1は本発明の実施例に係るエミッタ・ホ
ロア出力回路を示す回路図である。図1において、図4
と同一物には同一符号を付してその詳細な説明は省略す
る。但し、符号5は入力端子、6は出力端子、10,1
1,12は電源、7,8,9は定電圧源である。本実施
例においては、エミッタ・ホロワ用トランジスタ1と出
力定電流源用トランジスタと抵抗とが電源11と電源1
2との間に直列接続されている。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an emitter-follower output circuit according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, FIG.
The same parts as those in FIG. However, reference numeral 5 is an input terminal, 6 is an output terminal, 10, 1
Reference numerals 1 and 12 are power supplies and reference numerals 7, 8 and 9 are constant voltage sources. In this embodiment, the emitter / follower transistor 1, the output constant current source transistor, and the resistor are the power source 11 and the power source 1.
2 and 2 are connected in series.

【0010】また、トランジスタ1,2にはモード切替
トランジスタ3が並列接続されており、このトランジス
タ3のベースと電源10との間には、トランジスタ60
及びダイオード61が直列接続されている。そして、ト
ランジスタ60のベースには、モード切換入力端子4が
接続されている。
A mode switching transistor 3 is connected in parallel to the transistors 1 and 2, and a transistor 60 is provided between the base of the transistor 3 and the power supply 10.
And the diode 61 are connected in series. The mode switching input terminal 4 is connected to the base of the transistor 60.

【0011】このように構成されたエミッタ・ホロア型
出力回路においては、モード切換え入力端子4にロウレ
ベルが入力されている場合は、モード切換え用トランジ
スタ3がカットオフし、図4に示す従来のエミッタ・ホ
ロア出力回路と同一の出力回路として動作する。一方、
モード切換え入力端子4にハイレベルが印加されると、
モード切換え用トランジスタ3はオン状態になり、出力
定電流源用トランジスタ2はカットオフとなり、出力回
路として動作しなくなる。
In the emitter-follower type output circuit configured as described above, when a low level is input to the mode switching input terminal 4, the mode switching transistor 3 is cut off, and the conventional emitter shown in FIG. -Operates as the same output circuit as the follower output circuit. on the other hand,
When a high level is applied to the mode switching input terminal 4,
The mode switching transistor 3 is turned on, the output constant current source transistor 2 is cut off, and the output circuit does not operate.

【0012】図2は図1の回路を使用して実際に半導体
集積回路の試験を行う場合の例を示す。半導体集積回路
チップ13には図1に示す内部終端型出力回路15と通
常のオープンエミッタ出力回路16とが装備されてい
る。各出力回路15の入力端子17は入力端子5に相当
し、モード切換え入力端子18はモード切換え入力端子
4に相当する。更に、チップ13には、内部終端型出力
回路15の出力端子19及び通常のオープンエミッタ出
力回路16の出力端子20が設けられている。一方、1
4はLSIテスター、21はLSIテスターピン、22
は終端抵抗を示す。
FIG. 2 shows an example in which a semiconductor integrated circuit is actually tested using the circuit of FIG. The semiconductor integrated circuit chip 13 is equipped with an internal termination type output circuit 15 and a normal open emitter output circuit 16 shown in FIG. The input terminal 17 of each output circuit 15 corresponds to the input terminal 5, and the mode switching input terminal 18 corresponds to the mode switching input terminal 4. Further, the chip 13 is provided with the output terminal 19 of the internal termination type output circuit 15 and the output terminal 20 of the normal open emitter output circuit 16. On the other hand, 1
4 is an LSI tester, 21 is an LSI tester pin, 22
Indicates a terminating resistance.

【0013】従って、図1の回路のモード切換え入力端
子4は1本の信号線にまとめられて1つのモード切換え
端子18で制御される。通常のオープンエミッタ出力回
路16の動作を停止させる場合は、LSIテスターピン
21を出力端子20から切り離すことで実現できる。
Therefore, the mode switching input terminal 4 of the circuit of FIG. 1 is grouped into one signal line and controlled by one mode switching terminal 18. The normal operation of the open emitter output circuit 16 can be stopped by disconnecting the LSI tester pin 21 from the output terminal 20.

【0014】一方、図1の回路にあたる内部終端出力回
路15については、モード切換え入力端子18にハイレ
ベルの信号を印加すると、出力回路15は動作を停止
し、他のテストへの悪影響を排除することが可能であ
る。
On the other hand, regarding the internal termination output circuit 15 corresponding to the circuit of FIG. 1, when a high level signal is applied to the mode switching input terminal 18, the output circuit 15 stops its operation and eliminates adverse effects on other tests. It is possible.

【0015】即ち、図1の回路において、モード切換え
入力端子4(図2のモード切換え入力端子18)にロー
レベルが印加されている場合、モード切換え用トランジ
スタ3はカットオフし、この回路は従来例の図4と同じ
出力回路として動作する。この状態で半導体集積回路の
試験を行うと、出力端子6にLSIテスター14のテス
ターピン21の接続状態に拘らず、出力回路は動作して
しまう。しかし、モード切換え入力端子4にハイレベル
を印加すると、モード切換え用トランジスタ3はオン状
態、出力定電流源用トランジスタ2はカットオフとな
り、出力回路として動作しなくなる。従って、半導体集
積回路の試験を行う場合は、即ちこの出力回路が不要な
ときは、入力端子4(入力端子18)にハイレベルを印
加して出力回路が動作しない状態とし、他の試験や周囲
への影響を無くすることができる。図3は本発明の第2
の実施例である。符号23はエミッタホロワ用トランジ
スタ、24は出力定電流源用トランジスタ、25はモー
ド切換えトランジスタ、26はモード切換え入力端子、
27は出力回路の入力端子、28は入出力双方向端子、
29〜31、37〜38は定電圧源、32〜34は電
源、35は入力回路の入力トランジスタ、36は入力回
路の出力端子である。
That is, in the circuit of FIG. 1, when a low level is applied to the mode switching input terminal 4 (mode switching input terminal 18 of FIG. 2), the mode switching transistor 3 is cut off, and this circuit is conventional. It operates as the same output circuit as in FIG. 4 of the example. When the semiconductor integrated circuit is tested in this state, the output circuit operates regardless of the connection state of the tester pin 21 of the LSI tester 14 to the output terminal 6. However, when a high level is applied to the mode switching input terminal 4, the mode switching transistor 3 is turned on, the output constant current source transistor 2 is cut off, and the output circuit does not operate. Therefore, when a semiconductor integrated circuit is tested, that is, when this output circuit is unnecessary, a high level is applied to the input terminal 4 (input terminal 18) to make the output circuit inoperative, and other tests and surroundings are performed. Can be eliminated. FIG. 3 shows the second aspect of the present invention.
Is an example of. Reference numeral 23 is an emitter follower transistor, 24 is an output constant current source transistor, 25 is a mode switching transistor, 26 is a mode switching input terminal,
27 is an input terminal of the output circuit, 28 is an input / output bidirectional terminal,
29 to 31, 37 to 38 are constant voltage sources, 32 to 34 are power sources, 35 is an input transistor of the input circuit, and 36 is an output terminal of the input circuit.

【0016】この実施例では図1のモード切換えトラン
ジスタ3のコレクタの接続を電源11からエミッタホロ
ワ用トランジスタ1のベースに変えたものである。即
ち、図3において、モード切換えトランジスタ25のコ
レクタをエミッタホロワ用トランジスタ23のベースに
接続してある。
In this embodiment, the connection of the collector of the mode switching transistor 3 shown in FIG. 1 is changed from the power supply 11 to the base of the emitter follower transistor 1. That is, in FIG. 3, the collector of the mode switching transistor 25 is connected to the base of the emitter follower transistor 23.

【0017】このように、入力回路と組合わせることに
より、入出力双方向回路を形成することが可能である。
また、モード切換え入力端子26は、入出力回路の切換
えと第1の実施例の試験時のモード切換えを兼ねること
ができるという利点がある。
As described above, by combining with the input circuit, it is possible to form an input / output bidirectional circuit.
Further, the mode switching input terminal 26 has an advantage that it can perform both the switching of the input / output circuit and the mode switching during the test of the first embodiment.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、チップ内
部で終端されたエミッタホロワ型出力回路においても、
その出力電流を0にすることが可能であり、テスト時に
は、出力電流の変化による誤動作及び発振等に起因する
他のテストへの悪影響を防止できるという効果がある。
As described above, the present invention can be applied to an emitter follower type output circuit terminated inside the chip.
The output current can be set to 0, and during the test, there is an effect that it is possible to prevent adverse effects on other tests due to malfunction and oscillation due to a change in the output current.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例に係るエミッタ・ホロア
出力回路を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an emitter follower output circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の回路を使用した半導体集積回路の試験方
法を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a method of testing a semiconductor integrated circuit using the circuit of FIG.

【図3】本発明の第2の実施例に係る入出力回路を示す
回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing an input / output circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図4】従来のエミッタ・ホロア出力回路を示す回路図
である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a conventional emitter-follower output circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1;エミッタ・ホロワ用トランジスタ 2;出力定電流源用トランジスタ 3;モード切換えトランジスタ 4;モード切換え入力端子 5;入力端子 6;出力端子 7〜9;定電圧源 10〜12;電源 13;半導体集積回路チップ 14;LSIテスター 15;内部終端型出力回路 16;通常のオープンエミッタ出力回路 17;出力回路の入力端子 18;モード切換え入力端子 19;内部終端型出力回路の出力端子 20;通常のオープンエミッタ出力回路の出力端子 21;LSIテスターピン 22;終端抵抗 23;エミッタホロワ用トランジスタ 24;出力定電流源用トランジスタ 25;モード切換えトランジスタ 26;モード切換え入力端子 27;出力回路の入力端子 28;入出力双方向端子 29〜31,37〜38;定電圧源 32〜34;電源 35;入力回路の入力トランジスタ 36;入力回路の出力端子 39;エミッタホロワ用トランジスタ 40;出力定電流源用トランジスタ 41;入力端子 42;出力端子 43〜45;定電圧源 46〜48;電源 1; Transistor for emitter / follower 2; Transistor for output constant current source 3; Mode switching transistor 4; Mode switching input terminal 5; Input terminal 6; Output terminal 7-9; Constant voltage source 10-12; Power supply 13; Semiconductor integrated Circuit chip 14; LSI tester 15; Internal termination type output circuit 16; Normal open emitter output circuit 17; Output circuit input terminal 18; Mode switching input terminal 19; Internal termination type output circuit output terminal 20; Normal open emitter Output circuit output terminal 21; LSI tester pin 22; terminating resistor 23; emitter follower transistor 24; output constant current source transistor 25; mode switching transistor 26; mode switching input terminal 27; output circuit input terminal 28; both input and output Terminals 29 to 31, 37 to 38; constant voltage source 32 -34; power supply 35; input transistor of input circuit 36; output terminal 39 of input circuit; transistor for emitter follower 40; output constant current source transistor 41; input terminal 42; output terminal 43 to 45; constant voltage source 46 to 48; Power supply

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 定電流源を用いたエミッタ・ホロワ型出
力回路において、エミッタホロワ用トランジスタと、出
力定電流源用トランジスタと、この出力定電流源用トラ
ンジスタにエミッタ結合したモード切換え用トランジス
タと、このモード切換え用トランジスタのオンオフを切
り換える信号が入力されるモード切換え入力端子とを有
することを特徴とするエミッタ・ホロワ型出力回路。
Claim: What is claimed is: 1. An emitter follower type output circuit using a constant current source, an emitter follower transistor, an output constant current source transistor, and a mode in which an emitter is coupled to the output constant current source transistor. An emitter-follower type output circuit comprising a switching transistor and a mode switching input terminal to which a signal for switching on / off of the mode switching transistor is input.
JP3180358A 1991-06-24 1991-06-24 Emitter follower type output circuit Pending JPH052055A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3180358A JPH052055A (en) 1991-06-24 1991-06-24 Emitter follower type output circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3180358A JPH052055A (en) 1991-06-24 1991-06-24 Emitter follower type output circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH052055A true JPH052055A (en) 1993-01-08

Family

ID=16081850

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3180358A Pending JPH052055A (en) 1991-06-24 1991-06-24 Emitter follower type output circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH052055A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2647014B2 (en) BiCMOS logic circuit
US4517476A (en) ECL Gate having emitter bias current switched by input signal
US20030012046A1 (en) Apparatus for controlling input termination of semiconductor memory device and method for the same
US4912344A (en) TTL output stage having auxiliary drive to pull-down transistor
US5760626A (en) BICMOS latch circuit for latching differential signals
JPS62501391A (en) Tri-state driver circuit
US5136189A (en) Bicmos input circuit for detecting signals out of ecl range
JPS6010815A (en) Logic circuit
CN223348647U (en) A switching signal providing circuit
US5130573A (en) Semiconductor integrated circuit having ecl circuits and a circuit for compensating a capacitive load
US11770151B2 (en) Signal receiver and signal transceiver
TW569533B (en) High speed, high current and low power consumption output circuit
JPS5926684Y2 (en) switch driver receiver circuit
JP3577106B2 (en) Differential emitter coupled logic circuit
JP2778067B2 (en) Current switching type logic circuit
JPH03201809A (en) Differential output circuit
JPH04309009A (en) Data storage latch circuit
JPH0247921A (en) Current switching type logic circuit
JP3344878B2 (en) Interface circuit for bidirectional communication
JPH0756502B2 (en) Electronic device drive circuit
JPS61217906A (en) Writing circuit of magnetic storage device
JP2002537708A (en) Series switch driver structure for automatic inspection equipment
JPH01127979A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH04273615A (en) Driver circuit
JPH05268046A (en) Semiconductor integrated circuit and its test method