JPH052055A

JPH052055A - エミツタ・ホロワ型出力回路

Info

Publication number: JPH052055A
Application number: JP3180358A
Authority: JP
Inventors: Kazutsugu Futatsuka; 一継二塚
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1991-06-24
Filing date: 1991-06-24
Publication date: 1993-01-08

Abstract

(57)【要約】【目的】定電流源を用いたエミッタホロワ出力回路の
ように、チップ内部で終端している場合も、半導体集積
回路の試験を行うときに、出力電流が変化せず、誤動作
及び発振の発生が防止され、他の試験に悪影響を与える
ことがないエミッタ・ホロワ型出力回路を提供する。【構成】出力電流を発生する出力定電流源トランジス
タ２と、このトランジスタ２とエミッタ結合したモード
切換え用トランジスタ３と、モード切換え入力端子４と
を有している。【効果】試験時には、モード切り換え用トランジスタ
３をオンさせ、出力定電流源トランジスタ２をカットオ
フすることにより、出力回路としての動作を止め、他の
テストへの悪影響を排除することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はエミッタ・ホロワ型出力
回路に関し、特にそのテスト方法を改善したエミッタ・
ホロア型出力回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】図４は従来の定電流源を使用したエミッ
タ・ホロア出力回路を示す。電源４６と電源４８との間
に、トランジスタ５１及び抵抗が直列接続されており、
トランジスタ５１のベースには入力端子４１が接続され
ている。また、電源４６と電源４８との間にはトランジ
スタ５５及び抵抗が直列接続されており、トランジスタ
５５のベースには定電圧源が接続されている。更に、電
源４８には抵抗を介してトランジスタ５４が接続され、
このトランジスタ５４と電源４６との間には、トランジ
スタ５２とトランジスタ５３及び抵抗との並列接続体が
接続されている。一方、電源４７と電源４８との間に
は、エミッタホロア用トランジスタ３９と出力定電流源
用トランジスタ４０が直列接続されている。そして、エ
ミッタホロア用トランジスタ３９のエミッタには抵抗を
介して出力端子４２が接続されており、出力定電流源用
トランジスタ４０のベースには、定電圧源４５が接続さ
れている。また、トランジスタ５２のベースはトランジ
スタ５１のエミッタに、トランジスタ５３のベースはト
ランジスタ４３のエミッタに、トランジスタ３９のベー
スはトランジスタ５３のコレクタに接続されている。

【０００３】このように構成された従来のエミッタ・ホ
ロワ型出力回路は、ＬＳＩテスターで半導体集積回路の
試験を行う場合、大きな出力電流又は過度電流のために
誤動作を引き起こしたり、発振を誘発して他のテストへ
悪影響を及ぼしやすいものとなっていた。半導体集積回
路チップの外から５０Ωの抵抗で−２Ｖに終端するＥＣ
Ｌ出力においては、終端電圧を上げたり、出力端子にあ
たるＬＳＩテスターピンの接続及び解除により、出力電
流及び過度電流の影響を軽減することが可能である。し
かし、図４に示すような定電流源を用いたエミッタ・ホ
ロワ型出力回路では、半導体集積回路チップ内部ですで
に終端が行われており、ＬＳＩテスターピンの終端方法
の変更及び出力端子にあたるＬＳＩテスターピンの接続
・解除に関係なく、出力はハイレベルとローレベルとの
間を動き、常に出力電流が変化し、過度電流の影響で誤
動作や発振を引き起こし、他のテストへの悪影響を排除
できないものとなっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述の如く、従来のエ
ミッタ・ホロワ型出力回路は、ＬＳＩテスターで半導体
集積回路の試験を行う場合、チップの外から５０Ωの抵
抗で−２Ｖ終端で使用するＥＣＬ出力回路の場合のよう
に、終端電圧の変更及びＬＳＩテスターピンの解除等に
より、出力電流及び過度電流を低減し、他のテストへの
影響を排除する対策がとれないという問題点があった。

【０００５】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、チップ内部で終端された回路においても出
力電流を０にすることが可能であり、出力電流の変化に
よる誤動作及び発振等の他のテストへの悪影響を防止で
きるエミッタ・ホロワ型出力回路を提供することを目的
とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明に係るエミッタ・
ホロワ型出力回路は、定電流源を用いたエミッタ・ホロ
ワ型出力回路において、エミッタホロワ用トランジスタ
と、出力定電流源用トランジスタと、この出力定電流源
用トランジスタにエミッタ結合したモード切換え用トラ
ンジスタと、このモード切換え用トランジスタのオンオ
フを切り換える信号が入力されるモード切換え入力端子
とを有することを特徴とする。

【０００７】

【作用】本発明においては、試験時には、モード切り換
え入力端子に信号を入力し、モード切換え用トランジス
タをオンにする。これにより、出力定電流源用トランジ
スタがカットオフされ、出力電流が０になり、エミッタ
・ホロワ型出力回路の動作が停止する。

【０００８】

【実施例】次に、本発明の実施例について添付の図面を
参照して説明する。

【０００９】図１は本発明の実施例に係るエミッタ・ホ
ロア出力回路を示す回路図である。図１において、図４
と同一物には同一符号を付してその詳細な説明は省略す
る。但し、符号５は入力端子、６は出力端子、１０，１
１，１２は電源、７，８，９は定電圧源である。本実施
例においては、エミッタ・ホロワ用トランジスタ１と出
力定電流源用トランジスタと抵抗とが電源１１と電源１
２との間に直列接続されている。

【００１０】また、トランジスタ１，２にはモード切替
トランジスタ３が並列接続されており、このトランジス
タ３のベースと電源１０との間には、トランジスタ６０
及びダイオード６１が直列接続されている。そして、ト
ランジスタ６０のベースには、モード切換入力端子４が
接続されている。

【００１１】このように構成されたエミッタ・ホロア型
出力回路においては、モード切換え入力端子４にロウレ
ベルが入力されている場合は、モード切換え用トランジ
スタ３がカットオフし、図４に示す従来のエミッタ・ホ
ロア出力回路と同一の出力回路として動作する。一方、
モード切換え入力端子４にハイレベルが印加されると、
モード切換え用トランジスタ３はオン状態になり、出力
定電流源用トランジスタ２はカットオフとなり、出力回
路として動作しなくなる。

【００１２】図２は図１の回路を使用して実際に半導体
集積回路の試験を行う場合の例を示す。半導体集積回路
チップ１３には図１に示す内部終端型出力回路１５と通
常のオープンエミッタ出力回路１６とが装備されてい
る。各出力回路１５の入力端子１７は入力端子５に相当
し、モード切換え入力端子１８はモード切換え入力端子
４に相当する。更に、チップ１３には、内部終端型出力
回路１５の出力端子１９及び通常のオープンエミッタ出
力回路１６の出力端子２０が設けられている。一方、１
４はＬＳＩテスター、２１はＬＳＩテスターピン、２２
は終端抵抗を示す。

【００１３】従って、図１の回路のモード切換え入力端
子４は１本の信号線にまとめられて１つのモード切換え
端子１８で制御される。通常のオープンエミッタ出力回
路１６の動作を停止させる場合は、ＬＳＩテスターピン
２１を出力端子２０から切り離すことで実現できる。

【００１４】一方、図１の回路にあたる内部終端出力回
路１５については、モード切換え入力端子１８にハイレ
ベルの信号を印加すると、出力回路１５は動作を停止
し、他のテストへの悪影響を排除することが可能であ
る。

【００１５】即ち、図１の回路において、モード切換え
入力端子４（図２のモード切換え入力端子１８）にロー
レベルが印加されている場合、モード切換え用トランジ
スタ３はカットオフし、この回路は従来例の図４と同じ
出力回路として動作する。この状態で半導体集積回路の
試験を行うと、出力端子６にＬＳＩテスター１４のテス
ターピン２１の接続状態に拘らず、出力回路は動作して
しまう。しかし、モード切換え入力端子４にハイレベル
を印加すると、モード切換え用トランジスタ３はオン状
態、出力定電流源用トランジスタ２はカットオフとな
り、出力回路として動作しなくなる。従って、半導体集
積回路の試験を行う場合は、即ちこの出力回路が不要な
ときは、入力端子４（入力端子１８）にハイレベルを印
加して出力回路が動作しない状態とし、他の試験や周囲
への影響を無くすることができる。図３は本発明の第２
の実施例である。符号２３はエミッタホロワ用トランジ
スタ、２４は出力定電流源用トランジスタ、２５はモー
ド切換えトランジスタ、２６はモード切換え入力端子、
２７は出力回路の入力端子、２８は入出力双方向端子、
２９〜３１、３７〜３８は定電圧源、３２〜３４は電
源、３５は入力回路の入力トランジスタ、３６は入力回
路の出力端子である。

【００１６】この実施例では図１のモード切換えトラン
ジスタ３のコレクタの接続を電源１１からエミッタホロ
ワ用トランジスタ１のベースに変えたものである。即
ち、図３において、モード切換えトランジスタ２５のコ
レクタをエミッタホロワ用トランジスタ２３のベースに
接続してある。

【００１７】このように、入力回路と組合わせることに
より、入出力双方向回路を形成することが可能である。
また、モード切換え入力端子２６は、入出力回路の切換
えと第１の実施例の試験時のモード切換えを兼ねること
ができるという利点がある。

【００１８】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、チップ内
部で終端されたエミッタホロワ型出力回路においても、
その出力電流を０にすることが可能であり、テスト時に
は、出力電流の変化による誤動作及び発振等に起因する
他のテストへの悪影響を防止できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例に係るエミッタ・ホロア
出力回路を示す回路図である。

【図２】図１の回路を使用した半導体集積回路の試験方
法を示す図である。

【図３】本発明の第２の実施例に係る入出力回路を示す
回路図である。

【図４】従来のエミッタ・ホロア出力回路を示す回路図
である。

【符号の説明】

１；エミッタ・ホロワ用トランジスタ２；出力定電流源用トランジスタ３；モード切換えトランジスタ４；モード切換え入力端子５；入力端子６；出力端子７〜９；定電圧源１０〜１２；電源１３；半導体集積回路チップ１４；ＬＳＩテスター１５；内部終端型出力回路１６；通常のオープンエミッタ出力回路１７；出力回路の入力端子１８；モード切換え入力端子１９；内部終端型出力回路の出力端子２０；通常のオープンエミッタ出力回路の出力端子２１；ＬＳＩテスターピン２２；終端抵抗２３；エミッタホロワ用トランジスタ２４；出力定電流源用トランジスタ２５；モード切換えトランジスタ２６；モード切換え入力端子２７；出力回路の入力端子２８；入出力双方向端子２９〜３１，３７〜３８；定電圧源３２〜３４；電源３５；入力回路の入力トランジスタ３６；入力回路の出力端子３９；エミッタホロワ用トランジスタ４０；出力定電流源用トランジスタ４１；入力端子４２；出力端子４３〜４５；定電圧源４６〜４８；電源

Claims

【特許請求の範囲】【請求項１】定電流源を用いたエミッタ・ホロワ型出
力回路において、エミッタホロワ用トランジスタと、出
力定電流源用トランジスタと、この出力定電流源用トラ
ンジスタにエミッタ結合したモード切換え用トランジス
タと、このモード切換え用トランジスタのオンオフを切
り換える信号が入力されるモード切換え入力端子とを有
することを特徴とするエミッタ・ホロワ型出力回路。