JPH05219443A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPH05219443A
JPH05219443A JP4019337A JP1933792A JPH05219443A JP H05219443 A JPH05219443 A JP H05219443A JP 4019337 A JP4019337 A JP 4019337A JP 1933792 A JP1933792 A JP 1933792A JP H05219443 A JPH05219443 A JP H05219443A
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JP
Japan
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drain
gate
mos transistor
voltage
current
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JP4019337A
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English (en)
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Shigehiro Miyatake
茂博 宮武
Kenji Takada
謙二 高田
Koichi Ishida
耕一 石田
Koichi Samejima
幸一 鮫島
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Minolta Co Ltd
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Minolta Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/04Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
    • H03F3/08Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
    • H03F3/082Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light with FET's

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】光量の急激な変化時においても、出力電圧の追
随性がよく、従ってダイナミックレンジが広く、高輝度
から低輝度までを高精度に撮像することのできる固体撮
像装置を提供する。 【構成】ゲ−トとドレインを接続した対数圧縮用のMO
Sトランジスタ2aのドレインに光電変換手段1を接続
し、ゲ−ト又はドレインから出力電圧を得るようにした
固体撮像装置において、前記ドレインとゲ−トを抵抗性
インピ−ダンス8を介して接続した構成。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光信号を電気信号に変
換する固体撮像装置に関し、特に対数変換機能を内蔵す
ることによりダイナミックレンジを拡大した固体撮像装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】固体撮像装置は、小型、軽量で低消費電
力であるのみならず、画像歪や焼き付きがなく、振動や
磁界などの環境条件に強い。また、LSIと共通あるい
は類似の工程で製造できることから、信頼性が高く、量
産にも適している。このため現在、1次元固体撮像装置
はファクシミリなどに、2次元固体撮像装置はビデオカ
メラなどに幅広く用いられている。
【0003】ところで、多くの固体撮像装置は、銀塩フ
ィルムと比較してダイナミックレンジが狭く、このため
露光量を精密に制御する必要があり、また露光量を精密
に制御しても、暗い部分が黒くつぶれたり、明るい部分
が飽和したりすることが生じやすいという欠点がある。
これらの問題を解決し、ダイナミックレンジが広く、高
輝度から低輝度までを撮像することのできる固体撮像装
置が提案されている。それによれば、入射した光量に応
じた光電流を発生しうる感光手段と、光電流を入力する
MOSトランジスタと、MOSトランジスタを閾値電圧
以下で且つサブスレッショールド電流が流れうる状態に
バイアスするバイアス手段とを用意し、前記MOSトラ
ンジスタをサブスレッショールド電流特性域で使うこと
により光電流を対数圧縮変換できるというものである。
【0004】図6は、本願出願人が先に出願した(特願
平1−334472号)固体撮像装置の1画素の回路構
成を示したものである。本回路によると、t=0のとき
O=VOIとすれば、MOSトランジスタの基板バイア
ス効果を無視すると、次式が得られる。 VO=VSS1+(nkT/q)ln〔(q/nkTC)∫IPdt +exp{(q/nkT)(VOI−VSS1)}〕 ・・・・・・(1) 但し、 q;電子電荷量 k;ボルツマン定数 T;絶対温度 n;MOSトランジスタ2a、2bの形状などで決まる
定数 C;コンデンサ3の容量 (1)式は、光電流IPの積分値と、VOI−VSS1で決ま
る一定値との和が電圧VOに対数変換されることを示し
ている。即ち、VO1−VSS1が充分小さければ、(1)
式は次のようになり、正確に対数変換できることにな
る。 VO=VSS1+(nkT/q)ln〔(q/nkTC)∫IPdt〕 ・・・・・・(2)
【0005】以上のようにして先の出願(特願平1−3
34472号)によれば、光電流IPの積分値が対数変
換される。すなわち、積分期間中にフォトダイオード1
に入射する光の強度が変化し、これに伴って光電流IP
が変化しても、その積分値が対数変換されることになる
(対数変換機能を持たない通常の固体撮像装置において
は、光電流IPの積分値に比例した信号が得られる)。
このため、ダイナミックレンジが広く、高輝度から低輝
度までを撮像することのできる固体撮像装置を実現する
ことができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記発明
においては、フォトダイオードに入射する光の強度が急
激に変化する場合には、出力電圧V0が光の強度の変化
に充分に追随できないという問題がある。これは、図6
に点線で示すように、MOSトランジスタ2aと2bの
接続点4に浮遊容量5が存在することに起因する。すな
わち、(1)または(2)式を得るためには、先の出願
の明細書にも記載したように、第1及び第2MOSトラ
ンジスタ2a、2bのゲート電圧VGが、光電流IPに対
応して、次式のように変化することが必要である。 VG=VSS1+VT+{(nkT/q)ln(IP/IDO)}・・・・(3) ここで、 VT;第1MOSトランジスタ2aの閾値電圧 IDO;第1MOSトランジスタ2aの形状などによって
決まる定数
【0007】定常状態では(3)式によって、VGが定
まり、浮遊容量5には電流が流れない。しかし、IP
変化したときには、浮遊容量5の充電または放電のため
の電流が浮遊容量5に流れ、充電または放電が完了した
ときにその電流が0となって、VGが(3)式で与えら
れる値となる。このため、IPの変化に対してVGの追随
が遅れる(浮遊容量5の充電または放電に要する時間だ
け遅れる)ことになる。それ故、IPが変化したときに
は、(1)または(2)式に基づいた対数変換が正確に
行われないことになる。
【0008】この追随性が悪くなる点を、より詳しく説
明すると、まず、光量が減少してIPが小さくなった場
合について述べる。このときは、浮遊容量5に蓄積した
電荷が放電し、VGの電位が降下して行くが、この放電
は第1MOSトランジスタ2aのドレイン電流を介して
行われる。該ドレイン電流はゲート電圧の低下と共に減
少する。それ故、浮遊容量5に蓄積した電荷の放電が進
み、ドレイン電圧、すなわちゲート電圧の低下と共に、
ドレイン電流が減少し、放電の効率も低下することにな
って放電時間が長くかかる。よってVGのIPの変化に対
する追随性が悪いことになる。
【0009】一方、光量が増加してIPが大きくなった
場合には、浮遊容量5に電荷が充電されていくことによ
り、VGの電位が上昇して行く。この充電電流はフォト
ダイオード1より供給される。しかしながら、フォトダ
イオード1を流れる電流IPは浮遊容量5と第1MOS
トランジスタ2aを流れる電流に分けられるため、第1
MOSトランジスタ2aを流れる電流が多ければ多いほ
ど、充電の効率も低下する。しかるに、第1MOSトラ
ンジスタ2aのゲートはドレインと直結されているた
め、ドレイン電圧の上昇と共にゲート電圧も上昇し、第
1MOSトランジスタ2aを流れる電流が多くなり、充
電の効率も低下することになる。よって、この場合も、
GのIPの変化に対する追随性が悪いことになる。
【0010】本発明は上記問題を解決し、光量の急激な
変化時においても、出力電圧の追随性がよく、従ってダ
イナミックレンジが広く、高輝度から低輝度までを高精
度に撮像することのできる固体撮像装置を提供すること
を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明では、ゲ−トとドレインを接続した対数圧縮用の
MOSトランジスタのドレインに光電変換手段を接続
し、ゲ−ト又はドレインから出力電圧を得るようにした
固体撮像装置において、前記ドレインとゲ−トを抵抗性
インピ−ダンスを介して接続した構成としている。
【0012】
【作用】このような構成によれば、光電流IPが減少
し、ドレイン電圧が降下する場合には、ゲート電圧の降
下が遅れて、ドレイン電流が大きく保たれる。一方、I
Pが増加し、ドレイン電圧が上昇する場合には、ゲート
電圧の上昇が遅れて、ドレイン電流が小さく保たれる。
このため、浮遊容量に対する充電又は放電が早く行なわ
れ、光電流IPの変化に対する第1MOSトランジスタ
2aのゲ−ト電圧Vの変化が早くなり、その追随性が
飛躍的に改善される。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
具体的に説明する。図1は、本発明を適用した固体撮像
装置の1画素の回路構成を示したものである。ここで
は、第1MOSトランジスタ2aのドレインとゲートの
間に抵抗8が挿入され、第2MOSトランジスタ2bの
ゲートは第1MOSトランジスタ2aのゲートと接続さ
れている。このとき、浮遊容量6及び7が第1MOSト
ランジスタ2aのゲート及びドレインにそれぞれ存在す
る。
【0014】以下、光量が急激に変化した場合につい
て、本回路の動作を説明する。まず、光量が減少してI
が小さくなった場合について述べる。このときは、浮
遊容量6及び7に蓄積した電荷が放電し、第1MOSト
ランジスタ2aのゲート電圧VG及び第1MOSトラン
ジスタ2aのドレイン電圧VDが低下して行く。この放
電は浮遊容量7については第1MOSトランジスタ2a
のドレイン電流を介して行われ、一方、浮遊容量6につ
いては抵抗8及び第1MOSトランジスタ2aのドレイ
ン電流を介して行われる。
【0015】このため、浮遊容量7の放電電流i7が流
れることにより第1MOSトランジスタ2aのドレイン
電圧VDは下がる。一方、抵抗8に浮遊容量6からの放
電電流i6が流れている間はゲ−ト電圧VGがドレイン電
圧VDよりも高くなっており、その放電電流i6が0にな
ると、VGはVDと等しくなる。換言すれば、VDの低下
よりもVGの低下が遅れることになる。前記ドレイン電
流はゲート電圧VGが高いほど大きいため、浮遊容量7
の放電が進んでもドレイン電流はあまり低下しないこと
になる。このため、抵抗8を介して放電が行われる浮遊
容量6についても、放電が速やかに行われることにな
る。
【0016】一方、光量が増加してIPが大きくなった
場合には、浮遊容量6及び7に電荷が充電されることに
より、VG及びVDが上昇することになる。この場合は、
が浮遊容量6及び7への充電電流と第1MOSトラ
ンジスタ2aを流れるドレイン電流に分けられるため、
第1MOSトランジスタ2aを流れる電流が少なければ
少ないほど充電の効率が向上する。本実施例では、第1
MOSトランジスタ2aのゲートは抵抗8を介してドレ
インに接続されているため、Vの上昇に対し、VG
上昇が遅れることになる。このため、VDが上昇しても
ドレイン電流はあまり増加しないことになり、浮遊容量
7の充電効率が向上する。この結果、抵抗8を介して行
われる浮遊容量6の充電も浮遊容量7の充電に追随して
速やかに行われることになる。
【0017】図2は、本発明の第2の実施例を示したも
のである。この実施例は、第2MOSトランジスタ2b
のゲートが第1MOSトランジスタ2aのドレインに直
接接続されるとともに、第1MOSトランジスタ2aの
ゲ−トには抵抗8を介して接続されている点で図1の実
施例と異なっているだけであって、その他の部分は図1
と同一である。そして、本実施例においても、図1の実
施例の説明で述べたように、第1MOSトランジスタ2
aのドレイン電圧が光量の変化に速やかに追随すること
から、出力電圧V0も光量変化に速やかに追随できるこ
とになる。
【0018】図3は、本発明の第3の実施例を示したも
のである。この実施例では、図1の実施例における抵抗
8がMOSトランジスタ9に置き換えられ、MOSトラ
ンジスタ9のゲートには端子10を通して直流電圧VGG
が印加されている。直流電圧VGGを制御することによ
り、MOSトランジスタ9の導電性を制御することがで
きる。これは等価的に、このMOSトランジスタのドレ
イン・ソ−ス間を直流電圧VGGに応じた値の抵抗として
みなすことができることを意味している。従って図1の
実施例と同様の効果、すなわち第1MOSトランジスタ
2aのゲート電圧が光量の変化に速やかに追随し、出力
電圧V0も光量変化に速やかに追随できることになる。
【0019】図4及び図5は、それぞれ本発明の第4、
第5の実施例を示している。これらの実施例では、上記
第3の実施例(図3)におけるMOSトランジスタ9の
ゲートがMOSトランジスタ9自身のドレインまたはソ
ースに接続された構成をとっている。MOSトランジス
タ9の閾値電圧をイオン注入などによって制御すること
により、これらの実施例においても第3の実施例と同様
の効果を得ることができる。しかも、これらの実施例で
は、第3実施例に比しVGGを印加するための端子10を
省略できるという利点を享受できる。
【0020】尚、上記MOSトランジスタ9は、第1及
び第2MOSトランジスタ2bがサブスレッショールド
領域で動作していることから、第1及び第2MOSトラ
ンジスタ2bと同様にサブスレッショールド領域で動作
することが望ましい。図3〜図5の実施例において、M
OSトランジスタ9は第1MOSトランジスタ2aのゲ
−トに接続されている端子と、第1MOSトランジスタ
2aのドレインに接続されている端子のうち、電位の低
い端子がソ−スとして、電位の高い端子がドレインとし
て機能する。このようにMOSトランジスタ9のソース
は第1MOSトランジスタ2aのドレインまたはゲート
に接続されていることから、MOSトランジスタ9の基
板バイアス電圧は第1MOSトランジスタ2aの基板バ
イアス電圧よりも大きくなる。このため、MOSトラン
ジスタ9をサブスレッショールド領域で動作させるため
には、その閾値電圧を第1MOSトランジスタ2aの閾
値電圧よりも小さくなるように作成する必要がある。こ
れは、MOSトランジスタ9のゲート領域に、例えばリ
ンをイオン注入することにより実現できる。
【0021】上記各実施例では第1、第2MOSトラン
ジスタ2a、2bとしてNチャンネルMOSトランジス
タを用いた場合を示しているが、PチャンネルMOSト
ランジスタを用いる(バイアス関係を変える必要はある
が)ことも可能である。また、図3〜図5の実施例では
第2MOSトランジスタ2bのゲ−トは第1MOSトラ
ンジスタ2aのゲ−トに接続されているが、第2MOS
トランジスタ2bのゲ−トを第1MOSトランジスタ2
aのドレインと接続しても同様の効果が得られることは
明かである。
【0022】
【発明の効果】以下説明した通り、本発明によれば、光
電流の変化に対するMOSトランジスタのゲ−ト電圧及
び出力電圧の追従性が飛躍的に向上するので、光電変換
手段に照射される光量の急激な変化に対してもダイナミ
ックレンジが広く、高輝度から低輝度までを高精度に撮
像することのできる固体撮像装置を実現することが可能
となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の固体撮像装置の第1実施例の回路図
【図2】本発明の固体撮像装置の第2実施例の回路図
【図3】本発明の固体撮像装置の第3実施例の回路図
【図4】本発明の固体撮像装置の第4実施例の回路図
【図5】本発明の固体撮像装置の第5実施例の回路図
【図6】従来例の回路図
【符号の説明】
1 フォトダイオ−ド 2a 第1MOSトランジスタ 2b 第2MOSトランジスタ 6 ゲ−トの浮遊容量 7 ドレインの浮遊容量
フロントページの続き (72)発明者 石田 耕一 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者 鮫島 幸一 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタカメラ株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ゲ−トとドレインを接続した対数圧縮用の
    MOSトランジスタのドレインに光電変換手段を接続
    し、ゲ−ト又はドレインから出力電圧を得るようにした
    固体撮像装置において、前記ドレインとゲ−トを抵抗性
    インピ−ダンスを介して接続したことを特徴とする固体
    撮像装置。
JP4019337A 1992-02-05 1992-02-05 固体撮像装置 Pending JPH05219443A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4019337A JPH05219443A (ja) 1992-02-05 1992-02-05 固体撮像装置
US08/012,575 US5363000A (en) 1992-02-05 1993-02-03 Solid-state image sensing apparatus

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JP4019337A JPH05219443A (ja) 1992-02-05 1992-02-05 固体撮像装置

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001036822A (ja) * 1999-07-22 2001-02-09 Minolta Co Ltd 固体撮像装置
DE10116827B4 (de) * 2000-10-05 2005-02-17 Honda Giken Kogyo K.K. Bildsensor
WO2005090935A1 (ja) 2004-03-18 2005-09-29 Hamamatsu Photonics K.K. 光検出装置
JP2007149940A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Nec Electronics Corp 電流スイッチ回路
US7358995B2 (en) 2002-05-30 2008-04-15 Sony Corporation Captured-image-signal processing method and apparatus and imaging apparatus
US7486322B2 (en) 2001-03-09 2009-02-03 Sukeyuki Shinotsuka Light sensor circuit having source/drain voltage changing-over circuit to minimize afterglow
US7679654B2 (en) 2002-09-09 2010-03-16 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Detecting phase and frequency of light source flicker and driving image sensor in phase when light source flicker is brightest

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3576715B2 (ja) * 1996-09-10 2004-10-13 本田技研工業株式会社 光センサ回路
GB2326784A (en) * 1997-06-16 1998-12-30 Secr Defence A temperature-insensitive imaging array of phototransistors and subthreshold MOS loads
US5929434A (en) * 1997-08-13 1999-07-27 Rockwell Science Center, Llc Ultra-low noise high bandwidth interface circuit for single-photon readout of photodetectors
US6999122B1 (en) 1999-07-22 2006-02-14 Minolta Co., Ltd. Solid-state logarithmic image sensing device
US6680468B1 (en) * 2002-08-15 2004-01-20 Valorbec, Limited Partnership Electrical-supply-free MOS integrated circuit
US7123426B2 (en) 2003-12-05 2006-10-17 3M Innovative Properties Company Projection lens and display device
JP4198047B2 (ja) * 2003-12-26 2008-12-17 シャープ株式会社 光検出装置、固体撮像装置およびカメラシステム
US7247898B2 (en) * 2004-06-15 2007-07-24 Dialog Imaging Systems Gmbh Self adjusting transfer gate APS
US8476567B2 (en) 2008-09-22 2013-07-02 Semiconductor Components Industries, Llc Active pixel with precharging circuit

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3240944A (en) * 1962-05-11 1966-03-15 Bendix Corp Circuit for improving the frequency response of photoelectric devices
US4085411A (en) * 1976-04-16 1978-04-18 Sprague Electric Company Light detector system with photo diode and current-mirror amplifier
FR2392392A1 (fr) * 1977-05-27 1978-12-22 Commissariat Energie Atomique Circuit de mesure de charge stockee dans un d.t.c.
US4384300A (en) * 1978-06-21 1983-05-17 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Negative resistance device
US4598414A (en) * 1981-12-18 1986-07-01 Honeywell Inc. Input compression apparatus for charge coupled devices
US4447746A (en) * 1981-12-31 1984-05-08 International Business Machines Corporation Digital photodetectors
US4467191A (en) * 1982-01-13 1984-08-21 Sprague Electric Company Photo diode with auxiliary photo diode regulator
US4742380A (en) * 1982-02-09 1988-05-03 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Switch utilizing solid-state relay
JPS58172721A (ja) * 1982-04-05 1983-10-11 Toshiba Corp トランジスタ回路
US4473836A (en) * 1982-05-03 1984-09-25 Dalsa Inc. Integrable large dynamic range photodetector element for linear and area integrated circuit imaging arrays
JPS5979496A (ja) * 1982-10-29 1984-05-08 Nec Corp サンプルド・デ−タ回路
US4584606A (en) * 1983-09-01 1986-04-22 Olympus Optical Co., Ltd. Image pickup means
JPS60143668A (ja) * 1983-12-29 1985-07-29 Res Dev Corp Of Japan カラ−用イメ−ジセンサ
JPS61120466A (ja) * 1984-11-16 1986-06-07 Fujitsu Ltd 半導体光検出素子
US4745446A (en) * 1985-02-11 1988-05-17 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Photodetector and amplifier integration
US4742238A (en) * 1985-10-02 1988-05-03 Canon Kabushiki Kaisha Non-linear photoelectric converting apparatus with means for changing drainage performance
JPH07120765B2 (ja) * 1985-12-20 1995-12-20 キヤノン株式会社 センサ装置、光導電型センサの駆動方法及び駆動装置
US4769619A (en) * 1986-08-21 1988-09-06 Tektronix, Inc. Compensated current mirror
US4901129A (en) * 1987-04-10 1990-02-13 Texas Instruments Incorporated Bulk charge modulated transistor threshold image sensor elements and method of making
JP2542623B2 (ja) * 1987-07-17 1996-10-09 株式会社東芝 カレントミラ−回路
US4990981A (en) * 1988-01-29 1991-02-05 Hitachi, Ltd. Thin film transistor and a liquid crystal display device using same
US4857725A (en) * 1988-07-06 1989-08-15 Santa Barbara Research Center Differential offset corrected current mirror
US4973833A (en) * 1988-09-28 1990-11-27 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Image sensor including logarithmic converters
KR910004737B1 (ko) * 1988-12-19 1991-07-10 삼성전자 주식회사 백바이어스전압 발생회로
US5136184A (en) * 1991-05-24 1992-08-04 Analog Devices, Incorporated Fast-acting current comparator

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001036822A (ja) * 1999-07-22 2001-02-09 Minolta Co Ltd 固体撮像装置
DE10116827B4 (de) * 2000-10-05 2005-02-17 Honda Giken Kogyo K.K. Bildsensor
US7176435B2 (en) 2000-10-05 2007-02-13 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Image sensor with a voltage switching circuit for low afterglow
US7486322B2 (en) 2001-03-09 2009-02-03 Sukeyuki Shinotsuka Light sensor circuit having source/drain voltage changing-over circuit to minimize afterglow
US7358995B2 (en) 2002-05-30 2008-04-15 Sony Corporation Captured-image-signal processing method and apparatus and imaging apparatus
US7679654B2 (en) 2002-09-09 2010-03-16 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Detecting phase and frequency of light source flicker and driving image sensor in phase when light source flicker is brightest
WO2005090935A1 (ja) 2004-03-18 2005-09-29 Hamamatsu Photonics K.K. 光検出装置
US7989753B2 (en) 2004-03-18 2011-08-02 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector having wide dynamic range and low temperature dependence
JP2007149940A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Nec Electronics Corp 電流スイッチ回路

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Publication number Publication date
US5363000A (en) 1994-11-08

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